一种半导体芯片外观检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及半导体芯片技术领域，具体是一种半导体芯片外观检测装置。


背景技术：

2.在信息时代，半导体其实在我们生活中无处不在，大部分的电子产品，如计算机、移动电话、录音机、电视等的核心单元芯片都与半导体有密切关系，而半导体芯片则是通过半导体材料所制成的，在半导体芯片生产过程中，通常需要用到外观检测设备进行检测。
3.目前的外观检测设置，通常是通过检测架、安装在检测架上的检测器和存放芯片的检测盒等结构构成，即将放置于检测盒内的芯片通过人工或是机械臂将其取出并放置在检测器下方，通过检测器对芯片外观进行检测。
4.芯片的样式各种各样，根据不同的芯片进行机器视觉检测外观时，会需要对机械进行前后位置的调整，而检测器通常是通过定位螺栓安装在检测架上，这就使得在需要调节检测器的时候将检测器整体拆卸，再根据合适的位置与检测架进行组装，调节不便；因此，针对上述问题提出一种半导体芯片外观检测装置。


技术实现要素：

5.为了弥补现有技术的不足，芯片的样式各种各样，根据不同的芯片进行机器视觉检测外观时，会需要对机械进行前后位置的调整，而检测器通常是通过定位螺栓安装在检测架上，这就使得在需要调节检测器的时候将检测器整体拆卸，再根据合适的位置与检测架进行组装，调节不便的问题，本实用新型提出一种半导体芯片外观检测装置。
6.本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：本实用新型所述的一种半导体芯片外观检测装置，包括检测座；所述检测座的顶部固定安装有安装板，所述检测座的顶部固定安装有检测板，所述检测板的顶部开设有检测槽，所述安装板一侧的顶部固定安装有支撑板，所述支撑板通过调节机构连接有检测器，其特征在于；
7.所述调节机构包括开设在支撑板内的驱动槽，所述驱动槽的底部开设有与驱动槽相连通的滑槽，所述滑槽内安装有滑动连接的传动杆，所述传动杆的顶端延伸至驱动槽内并安装有固定连接的齿轮，所述传动杆的底端延伸出滑槽并与检测器的顶部固定连接，所述驱动槽内安装有滑动连接的滑动块，所述滑动块的底部开设有凹槽，所述凹槽内壁的两侧均安装有固定连接的齿条，所述齿条与齿轮啮合连接，所述滑动块的顶部安装有固定连接的调节杆，所述调节杆的顶端贯穿支撑板并与外界连通。
8.优选的，所述调节杆位于外界的一端固定安装有限位块，所述限位块的外壁设置有防滑纹。
9.优选的，所述驱动槽内设置有弹簧所述弹簧的底部与滑动块的顶部固定连接，所述弹簧的顶部与驱动槽的内顶壁固定连接。
10.优选的，所述检测座顶部的一侧设置有待检箱，所述检测座顶部的另一侧设置有合格箱。
11.优选的，所述检测槽内设置有橡胶垫，所述检测槽的内侧壁开设有多个通风孔。
12.优选的，所述检测座的顶部固定安装有照明板，所述照明板靠近检测板的一侧面固定安装有照明灯。
13.优选的，所述检测座的正面开设有收纳槽，所述检测座的正面通过铰链活动安装有检测盖。
14.优选的，所述检测盖的正面固定安装有把手，所述把手的外壁设置有防滑纹。
15.本实用新型的有益之处在于：
16.本实用新型通过调节机构的设置，对检测器的位置进行调节，即拉动调节杆位于外界的一端，使得调节杆带动滑动块上移，继而使得滑动块带动齿条上移，继而使得齿条脱离与齿轮的啮合配合，继而传动杆通过驱动杆带动检测器移动，而当移动完成后，按压调节杆，使得调节杆带动滑动块下移，继而使得齿轮进入凹槽内，使得齿轮与齿条啮合配合，继而使得齿轮的位置被限制无法移动，继而使得驱动杆和检测器无法移动，从而完成调节。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
18.图1为本实用新型的立体结构示意图；
19.图2为本实用新型的仰视的结构示意图；
20.图3为本实用新型支撑板的结构示意图；
21.图4为本实用新型图3的部分剖面结构示意图之一；
22.图5为本实用新型图3的部分剖面结构示意图之二。
23.图中：1、检测座；2、安装板；3、检测板；4、合格箱；5、检测槽；6、支撑板；7、检测器；8、调节机构；81、传动杆；82、驱动槽；83、齿轮；84、凹槽；85、滑动块；86、齿条；87、调节杆；9、限位块；10、弹簧；11、待检箱；12、照明板；13、检测盖；14、把手。
具体实施方式
24.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
25.请参阅图1-图5所示，一种半导体芯片外观检测装置，包括检测座1；所述检测座1的顶部固定安装有安装板2，所述检测座1的顶部固定安装有检测板3，所述检测板3的顶部开设有检测槽5，所述安装板2一侧的顶部固定安装有支撑板6，所述支撑板6通过调节机构8连接有检测器7；
26.所述调节机构8包括开设在支撑板6内的驱动槽82，所述驱动槽82的底部开设有与驱动槽82相连通的滑槽，所述滑槽内安装有滑动连接的传动杆81，所述传动杆81的顶端延伸至驱动槽82内并安装有固定连接的齿轮83，所述传动杆81的底端延伸出滑槽并与检测器
7的顶部固定连接，所述驱动槽82内安装有滑动连接的滑动块85，所述滑动块85的底部开设有凹槽84，所述凹槽84内壁的两侧均安装有固定连接的齿条86，所述齿条86与齿轮83啮合连接，所述滑动块85的顶部安装有固定连接的调节杆87，所述调节杆87的顶端贯穿支撑板6并与外界连通；工作时，芯片的样式各种各样，根据不同的芯片进行机器视觉检测外观时，会需要对机械进行前后位置的调整，而检测器7通常是通过定位螺栓安装在检测架上，这就使得在需要调节检测器7的时候将检测器7整体拆卸，再根据合适的位置与检测架进行组装，调节不便，故采用本装置，具体为根据实际需要，即芯片大小的不同，通过调节机构8的设置，对检测器7的位置进行调节，即拉动调节杆87位于外界的一端，使得调节杆87带动滑动块85上移，继而使得滑动块85带动齿条86上移，继而使得齿条86脱离与齿轮83的啮合配合，继而传动杆81通过驱动杆带动检测器7移动，而当移动完成后，按压调节杆87，使得调节杆87带动滑动块85下移，继而使得齿轮83进入凹槽84内，使得齿轮83与齿条86啮合配合，继而使得齿轮83的位置被限制无法移动，继而使得驱动杆和检测器7无法移动，从而完成调节，从而解决了芯片的样式各种各样，根据不同的芯片进行机器视觉检测外观时，会需要对机械进行前后位置的调整，而检测器7通常是通过定位螺栓安装在检测架上，这就使得在需要调节检测器7的时候将检测器7整体拆卸，再根据合适的位置与检测架进行组装，调节不便的问题。
27.所述调节杆87位于外界的一端固定安装有限位块9，所述限位块9的外壁设置有防滑纹；工作时，通过限位块9的设置，对调节杆87进行定位和限位，同时便于对调节杆87施加作用力。
28.所述驱动槽82内设置有弹簧10，所述弹簧10的底部与滑动块85的顶部固定连接，所述弹簧10的顶部与驱动槽82的内顶壁固定连接；工作时，通过弹簧10的设置，便于配合滑动块85实现自动复位，降低人力消耗和操作步骤。
29.所述检测座1顶部的一侧设置有待检箱11，所述检测座1顶部的另一侧设置有合格箱4；工作时，将待检箱11和合格箱4与检测板3放置在一起，便于进行检测。
30.所述检测槽5内设置有橡胶垫，所述检测槽5的内侧壁开设有多个通风孔；工作时，检测槽5内设置有橡胶垫便于为待检测的芯片提供防护，检测槽5的内侧壁开设有多个通风孔提升散热性。
31.所述检测座1的顶部固定安装有照明板12，所述照明板12靠近检测板3的一侧面固定安装有照明灯；工作时，提供照明板12与照明灯的设置，便于为检测提供稳定的光源，继而便于将其进行。
32.所述检测座1的正面开设有收纳槽，所述检测座1的正面通过铰链活动安装有检测盖13；工作时，通过收纳槽的设置，便于收纳残次品和其它工具，进而保证检测面的整洁性。
33.所述检测盖13的正面固定安装有把手14，所述把手14的外壁设置有防滑纹；工作时，通过把手14的设置，更加便于操作检测盖13的打开和关闭，把手14的外壁设置有防滑纹增加摩擦力。
34.工作原理，通过调节机构8的设置，对检测器7的位置进行调节，即拉动调节杆87位于外界的一端，使得调节杆87带动滑动块85上移，继而使得滑动块85带动齿条86上移，继而使得齿条86脱离与齿轮83的啮合配合，继而传动杆81通过驱动杆带动检测器7移动，而当移动完成后，按压调节杆87，使得调节杆87带动滑动块85下移，继而使得齿轮83进入凹槽84
内，使得齿轮83与齿条86啮合配合，继而使得齿轮83的位置被限制无法移动，继而使得驱动杆和检测器7无法移动，从而完成调节。
35.以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

技术特征：
1.一种半导体芯片外观检测装置，包括检测座(1)；所述检测座(1)的顶部固定安装有安装板(2)，所述检测座(1)的顶部固定安装有检测板(3)，所述检测板(3)的顶部开设有检测槽(5)，所述安装板(2)一侧的顶部固定安装有支撑板(6)，所述支撑板(6)通过调节机构(8)连接有检测器(7)，其特征在于；所述调节机构(8)包括开设在支撑板(6)内的驱动槽(82)，所述驱动槽(82)的底部开设有与驱动槽(82)相连通的滑槽，所述滑槽内安装有滑动连接的传动杆(81)，所述传动杆(81)的顶端延伸至驱动槽(82)内并安装有固定连接的齿轮(83)，所述传动杆(81)的底端延伸出滑槽并与检测器(7)的顶部固定连接，所述驱动槽(82)内安装有滑动连接的滑动块(85)，所述滑动块(85)的底部开设有凹槽(84)，所述凹槽(84)内壁的两侧均安装有固定连接的齿条(86)，所述齿条(86)与齿轮(83)啮合连接，所述滑动块(85)的顶部安装有固定连接的调节杆(87)，所述调节杆(87)的顶端贯穿支撑板(6)并与外界连通。2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片外观检测装置，其特征在于：所述调节杆(87)位于外界的一端固定安装有限位块(9)，所述限位块(9)的外壁设置有防滑纹。3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片外观检测装置，其特征在于：所述驱动槽(82)内设置有弹簧(10)，所述弹簧(10)的底部与滑动块(85)的顶部固定连接，所述弹簧(10)的顶部与驱动槽(82)的内顶壁固定连接。4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片外观检测装置，其特征在于：所述检测座(1)顶部的一侧设置有待检箱(11)，所述检测座(1)顶部的另一侧设置有合格箱(4)。5.根据权利要求1所述的一种半导体芯片外观检测装置，其特征在于：所述检测槽(5)内设置有橡胶垫，所述检测槽(5)的内侧壁开设有多个通风孔。6.根据权利要求1所述的一种半导体芯片外观检测装置，其特征在于：所述检测座(1)的顶部固定安装有照明板(12)，所述照明板(12)靠近检测板(3)的一侧面固定安装有照明灯。7.根据权利要求1所述的一种半导体芯片外观检测装置，其特征在于：所述检测座(1)的正面开设有收纳槽，所述检测座(1)的正面通过铰链活动安装有检测盖(13)。8.根据权利要求7所述的一种半导体芯片外观检测装置，其特征在于：所述检测盖(13)的正面固定安装有把手(14)，所述把手(14)的外壁设置有防滑纹。

技术总结
本实用新型属于半导体芯片技术领域，具体的说是一种半导体芯片外观检测装置，包括检测座；所述检测座的顶部固定安装有安装板，所述检测座的顶部固定安装有检测板，所述检测座的一侧面固定安装有安装块；通过调节机构的设置，对检测器的位置进行调节，即拉动调节杆位于外界的一端，使得调节杆带动滑动块上移，继而使得滑动块带动齿条上移，继而使得齿条脱离与齿轮的啮合配合，继而传动杆通过驱动杆带动检测器移动，而当移动完成后，按压调节杆，使得调节杆带动滑动块下移，继而使得齿轮进入凹槽内，使得齿轮与齿条啮合配合，继而使得齿轮的位置被限制无法移动，继而使得驱动杆和检测器无法移动，从而完成调节。从而完成调节。从而完成调节。


技术研发人员：洪小龙
受保护的技术使用者：苏州领威电子科技有限公司
技术研发日：2022.12.30
技术公布日：2023/9/1