引张线测量装置及其控制方法与流程

1.本技术涉及安全监测技术领域，尤其涉及一种引张线测量装置及其控制方法。


背景技术：

2.引张线测量是大坝安全变形监测的重要项目，主要测量坝体、坝基的水平位移（即变形量）。依据《混凝土坝安全监测技术标准》、《水电站大坝运行安全信息报送办法》等国家规范及行政主管部门要求，针对不同水工建筑物结构及服役期，引张线测量频次为1次/天—1次/季度不等。
3.但是，通过目测引张线的投影在固定于被测物体上的刻度尺上对应的刻度值进行引张线测量的方式，需要人员到达被测点，并且当借助工具（比如放大器）目测读取时，还需要不断调整工具角度，导致引张线测量的效率较低。因此，如何提高引张线测量的效率是目前亟需解决的问题。


技术实现要素：

4.本技术提出一种引张线测量装置及其控制方法。具体方案如下：本技术一方面实施例提供一种引张线测量装置的控制方法，该方法应用于测量装置，该测量装置包括发光组件、电源控制组件、成像屏、放大组件、图像采集组件；图像采集组件位于放大组件正上方，与放大组件连接为一体；放大组件位于成像屏上方，放大组件可移动；发光组件位于成像屏下方；电源控制组件与发光组件连接；引张线位于发光组件与成像屏之间；方法包括：响应于接收到引张线的测量指令，控制电源控制组件为发光组件上电；确定放大组件相对与成像屏的位置；控制放大组件移动至上述位置，并向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像；对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值；根据第一刻度值，确定引张线对应的测量值。
5.本技术另一方面实施例提供一种测量装置，包括发光组件、电源控制组件、成像屏、放大组件、图像采集组件、控制器；图像采集组件位于放大组件正上方，与所述放大组件连接为一体；放大组件位于成像屏上方，放大组件可移动；发光组件位于成像屏下方；电源控制组件与发光组件连接；引张线位于所述发光组件与所述成像屏之间；发光组件，用于为生成测读图像提供光线；成像屏包含参考标尺，用于接收引张线在发光组件的照射下生成的投影；放大组件，用于对成像屏进行放大；电源控制组件，用于为发光组件上电；
控制器，用于响应于接收到引张线的测量指令，控制电源控制组件为发光组件上电；确定放大组件相对与成像屏的位置；控制放大组件移动至上述位置，并向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像；对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值；根据第一刻度值，确定引张线对应的测量值。
6.本技术另一方面实施例提供一种计算机设备，包括处理器和存储器；其中，处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，以用于实现如上述实施例的方法。
7.本技术另一方面实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如上述实施例的方法。
8.本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
9.本技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1为本技术实施例提供的一种测量装置的结构示意图;图2为本技术实施例提供的一种引张线测量装置的控制方法的流程示意图；图3为本技术实施例提供的另一种引张线测量装置的控制方法的流程示意图；图4为本技术实施例提供的另一种引张线测量装置的控制方法的流程示意图。
具体实施方式
10.下面详细描述本技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
11.本技术实施例还提出一种测量装置。图1为本技术实施例提供的一种测量装置的结构示意图。
12.如图1所示，该测量装置100包括：发光组件110、成像屏120、放大组件130、图像采集组件（图1中未示出）、电源控制组件（图1中未示出）、控制器（图1中未示出）；图像采集组件位于放大组件130正上方，与放大组件连接为一体；放大组件130位于成像屏120上方，放大组件130可移动；发光组件110位于成像屏120下方；电源控制组件与发光组件110连接；引张线位于所述发光组件与所述成像屏之间；发光组件110，用于为生成测读图像提供光线；成像屏120包含参考标尺，用于接收引张线在发光组件的照射下生成的投影；放大组件130，用于对成像屏进行放大；电源控制组件，用于为发光组件上电；控制器，用于执行本技术中任一实施例公开的引张线测量装置的控制方法。
13.在本技术实施例一种可能的实现方式中，上述发光组件110包含外壳1101、点光源
1102、菲涅尔透镜1103、窗玻璃1104；外壳为钢质型材，通过螺栓1106固定于引张线对应的被测物体表面；点光源可以为led红色光源，通过卡槽固定与外壳1101内侧底部，可以通过电缆接头与电源控制组件中的移动电源1105连接；菲涅尔透镜1103通过密封胶固定在外壳1101顶部凹槽内，用于将点光源1102发出的光束准直成平行光束；窗玻璃1104可以为光学玻璃，通过密封胶固定于菲涅尔透镜1103上部，用于保护菲涅尔透镜1103。
14.在本技术实施例一种可能的实现方式中，成像屏120通过密封胶固定于成像屏支架140顶部，并通过成像屏支架140与发光组件110连接；成像屏支架140可调节长度；成像屏支架140为钢质型材；成像屏支架140通过滚花小头螺钉与发光组件110中的外壳连接。
15.在本技术实施例一种可能的实现方式中，还包括遮光套150，用于：阻隔外界光线，以避免外部光线对引张线的投影的影响，保证引张线测量的准确性；遮光套150可以为钢质型材，可直接放置在成像屏120上，并可移动，以使在非测量时段或者在引张线所在环境的光线较弱的情况下，可不放置在成像屏上。
16.在本技术实施例一种可能的实现方式中，还包括遮光盖160，用于：阻隔外界光线；遮光盖160为软性材料，可伸缩，可放置在遮光套150上部；遮光盖160中间部位预留用于放置放大组件130的圆形孔口。
17.在本技术实施例一种可能的实现方式中，放大组件130可以包括光学放大镜。
18.在本技术实施例一种可能的实现方式中，还包括保护盖170，用于保护成像屏120；保护盖170可拆卸，在引张线测量时拆掉保护盖170，在引张线测量结束后安装在成像屏120上侧。
19.利用本技术中的测量装置，可以实现自动对引张线的测量，从而提高了引张线测量的效率。
20.下面参考附图描述本技术中测量装置的控制器所执行的引张线测量装置的控制方法。图2为本技术实施例提供的一种引张线测量装置的控制方法的流程示意图。
21.如图2所示，该引张线测量装置的控制方法，包括：步骤201，响应于接收到引张线的测量指令，控制电源控制组件为发光组件上电。
22.其中，发光组件用于为生成测读图像提供光线。其中测读图像中包含引张线在成像屏上投影产生的图像。
23.本技术中，当用户需要获取引张线的测量值时，可以通过部署在其它终端设备上的测量装置对应的客户端与测量装置建立通信连接。之后，即可触发客户端中的引张线测量的启动控件，以通过该客户端向测量装置发送引张线测量的测量指令。
24.测量装置的在接收到测量指令后，可以向测量装置中的电源控制组件发送上电指令，电源控制组件即可连通电源与发光组件间的电路，发光组件上电。
25.可选的，还可以在预设时间点，控制电源控制组件为发光组件上电，并执行之后的引张线测量装置的控制方法步骤。实现自动化的引张线测量。
26.步骤202，确定放大组件相对与成像屏的位置。
27.其中，放大组件相对与成像屏的位置为通过放大组件能够获取清晰的并包含引张线投影的测读图像的位置。成像屏用于接收引张线在发光组件的照射下生成的投影。发光组件固定在引张线对应的被测物体表面。引张线应平行于发光组件中的菲涅尔透镜所属的平面以及成像屏所属的平面，并从连接发光组件与成像屏的成像屏支架间穿过。放大组件
可以为放大器。
28.为了清晰的获取引张线投影在成像屏中所形成的测读图像，放大组件与成像屏之间间隔的距离较小，从而导致放大组件的视野范围有限。而随着被测物体的形变，引张线可能移除放大组件视野范围，导致引张线测量失败。或者，由于其他人员的误操作，导致放大组件距离成像屏间的距离过大或过小，导致无法从测读图像中清晰准确的获取引张线的测量值（即被测物体的变形量），引张线测量失败。
29.本技术中，用户可以在客户端中输入放大组件相对与成像屏的位置，并触发生成放大组件的调节指令的生成控件，此时，客户端即可生成并向测量装置发送包含该位置的调节指令。测量装置在获取到该调节指令后，可解析出放大组件相对与成像屏的位置。以基于该位置，获取清晰有效的测读图像，保障引张线测量成功。
30.可选的，可以向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取第一参考图像。在第一参考图像中包含的参考标尺的量程不属于预设取值区间的情况下，控制放大组件向第一方向多次移动预设距离，并获取放大组件移动至各位置处的第二参考图像。之后，在某一第二参考图像中包含的参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将该第二参考图像对应的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置。
31.可选的，向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取第一参考图像。在第一参考图像中未包含引张线的投影的情况下，控制放大组件向第二方向多次移动预设距离，并获取放大组件移动至各位置处的第二参考图像。之后，在某一第二参考图像中包含引张线的投影，且该第二参考图像中包含的参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将该第二参考图像对应的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置。
32.步骤203，控制放大组件移动至上述位置，并向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像。
33.本技术中，可以向放大组件发送包含放大组件相对于成像屏的位置的位移指令。放大组件在接收到该位移指令后，可解析出放大组件与相对于成像屏的位置。之后，通过调节承载放大组件的滑动组件，带动放大组件移动至该位置。可以理解的是，图像采集组件与放大组件连接，因此，当放大组件位置移动时，图形采集组件同时被带动。
34.在放大组件完成移动后，可以向图像采集组件发送图像采集指令。图像采集组件在接收到该指令后开始采集图像，从而获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像。之后，可以将获取的第一测读图像保存在存储介质中。
35.可以理解的是，使用发光组件提供光源，避免了使用手电筒或者其他的外置光源时的光源位置差异，从而保证了引张线的投影角度的一致性。此外由于引张线的线体与刻度尺不在一个平面上，属于空间测读。将引张线投影至成像屏上，实现了将控件测读转换为图像测读，避免了因测量人员观测角度的差异，导致的测量值不准确的现象。从而提高了测量的准确性。
36.可选的，测量装置在获取调节指令后，可以将调节指令中的位置与预设范围进行匹配，在该位置不在预设范围内时，可以不移动放大组件。从而保证测量装置控制的可靠性。
37.其中，预设范围为放大组件的可移动的位置范围，比如，距离成像屏0-10厘米内的位置等。
38.步骤204，对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值。
39.本技术中，可以通过预设的图像识别算法对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值。
40.步骤205，根据第一刻度值，确定引张线对应的测量值。
41.本技术中，第一刻度值为引张线相对于参考标尺的零点位置的位移量。可以将第一刻度值与测量装置安装在当前被测物体表面之前被测物体已发生的位移量之和，确定为引张线先对应的测量值。
42.可选的，可以将引张线对应的第一测读图像和测量值发送给预设客户端。实现远程对引张线的测量，从而提高引张线的测量的效率。
43.本技术中，在接收到引张线的测量指令时，控制电源控制组件为发光组件上电，并确定放大组件相对与成像屏的位置，之后，控制放大组件移动至上述位置，并向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像，然后，对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值，以根据第一刻度值，确定引张线对应的测量值。由此，实现了自动对引张线的测量，从而提高了引张线测量的效率。
44.图3为本技术实施例提供的一种引张线测量装置的控制方法的流程示意图。
45.如图3所示，该引张线测量装置的控制方法，包括：步骤301，响应于接收到引张线的测量指令，控制电源控制组件为发光组件上电。
46.本技术中，步骤301的具体实现过程，可参见本技术任一实施例的详细描述，在此不再赘述。
47.步骤302，向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取第一参考图像。
48.本技术中，图像采集组件获取第一参考图像的具体过程，可参见本技术任一实施例中图像采集组件获取第一测读图像的详细描述，在此不再赘述。
49.可以理解的是，当放大组件与成像屏之间间隔的距离较小时，放大组件的视野范围较窄，从而导致获取的第一参考图像中包含的参考标尺中的量程较小，无法从第一参考图像中确定投影对应的刻度值。比如，假设参考标尺的量程为0-60毫米（mm），最小测量单位为1mm，在每1厘米（即10mm）处标注对应的刻度值。当第一参考图像中包含的参考标尺中11mm-16mm区间时（即包含的量程为5mm），由于第一参考图像未包含参考标尺中标注的刻度值，因此，无法从第一参考图像中确定投影对应的刻度值。
50.当放大组件与成像屏之间间隔的距离较大时，放大组件的视野范围较广，从而导致获取的第一参考图像中包含的参考标尺上标注的刻度值模糊。因此，无法从第一参考图像中确定投影对应的刻度值。
51.步骤303，在第一参考图像中包含的参考标尺的量程不属于预设取值区间的情况下，控制放大组件向第一方向多次移动预设距离，并获取放大组件移动至各位置处的第二参考图像。
52.本技术中，在第一参考图像中包含的参考标尺的量程不在预设取值区间范围内的情况下，说明第一参考图像未包含参考标尺中标注的刻度值。因此，可以控制放大组件向第一方向多次移动预设距离，并在每次移动后，向图像采集组件发送图像采集指令，获取放大组件移动至各位置处的第二参考图像。其中，第一方向为成像屏所在平面的垂直方向。
53.步骤304，在任一第二参考图像中包含的参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将任一第二参考图像对应的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置。
54.本技术中，在某一第二参考图像中包含的参考标尺的量程在预设取值区间范围内的情况下，即可将该第二参考图像对应的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置。以保证基于放大组件在该位置放大成像屏上所生成的第一测读图像，能够确定引张线的投影在参考标尺上对应的刻度值。从而保证第一测读图像的有效性，进而提高了引张线测量的效率和可靠性。
55.可选的，可以向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取第一参考图像。在第一参考图像中未包含引张线的投影的情况下，说明引张线偏移出放大组件的视野范围。因此，可以控制放大组件向第二方向多次移动预设距离，并在每次移动后，向图像采集组件发送图像采集指令，获取放大组件移动至各位置处的第二参考图像，其中，第二方向为与参考标尺平行的方向。在某一第二参考图像中包含引张线的投影，且该第二参考图像中包含的参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将该第二参考图像对应的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置，以保证放大组件在该位置放大成像屏上所生成的第一测读图像包含引张线的投影。从而保证第一测读图像的有效性，进而提高了引张线测量的效率和可靠性。
56.可选的，在第一参考图像中包含的参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将当前放大组件所在的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置。
57.可选的，在第一参考图像中包含的参考标尺的量程属于预设取值区间，且第一参考图像中包含引张线的投影的情况下，将当前放大组件所在的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置。
58.步骤305，控制放大组件移动至上述位置，并向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像。
59.步骤306，对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值。
60.步骤307，根据第一刻度值，确定引张线对应的测量值。
61.本技术中，步骤305-步骤307的具体实现过程，可参见本技术任一实施例的详细描述，在此不再赘述。
62.本技术中，通过向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取第一参考图像，在第一参考图像中包含的参考标尺的量程不属于预设取值区间的情况下，控制放大组件向第一方向多次移动预设距离，并获取放大组件移动至各位置处的第二参考图像，之后在任一第二参考图像中包含的参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将任一第二参考图像对应的位置，确定为放大组件相对于成像屏的位置，并控制放大组件移动至该位置。从而实现自动对放大组件位置的调整，保证第一测读图像的有效性，进而提高了
引张线测量的效率和可靠性。
63.图4为本技术实施例提供的一种引张线测量装置的控制方法的流程示意图。
64.如图4所示，该引张线测量装置的控制方法，包括：步骤401，响应于接收到引张线的测量指令，控制电源控制组件为发光组件上电。
65.步骤402，确定放大组件相对与成像屏的位置。
66.步骤403，控制放大组件移动至上述位置，并向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像。
67.步骤404，对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值。
68.步骤405，根据第一刻度值，确定引张线对应的测量值。
69.本技术中，步骤401-步骤405的具体实现过程，可参见本技术任一实施例的详细描述，在此不再赘述。
70.步骤406，控制放大组件向第三方向移动预设距离，以获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第二测读图像，其中，第二测读图像中包含的参考标尺的量程与第一测读图像中包含的参考标尺的量程不同。
71.本技术中，第一测读图像所确定的第一刻度值，只能精确到最小测量单元位。比如，假设参考标尺的量程为0-60毫米（mm），最小测量单位为1mm，在每1厘米（即10mm）处标注对应的刻度值。第一测读图像中包含参考标尺上的20mm-30mm区间，对第一测读图像进行识别确定引张线的投影在参考标尺中在对应的第一刻度值为21mm（即只能精确到毫米位）。
72.本技术中，可以控制放大组件向第三方向移动预设距离，以缩小成像屏和放大组件间的距离，使放大组件的视野变小，只针对引张线的投影所在的参考标尺位置处的小范围进行放大，获取第二测读图像。以基于第二测读图像获取更精确的引张线的投影对应的刻度值。
73.其中，第三方向为成像屏在所在平面的垂线，且趋向于成像屏的方向。
74.步骤407，对第二测读图像进行识别，确定第二测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第二刻度值。
75.其中，第二刻度值对应的精度比第一刻度值的精度更高。
76.比如，第二测读图像中包含参考标尺上的21mm-22mm区间。对第二测读图像进行识别确定引张线的投影在参考标尺中在对应的第二刻度值为0.1mm。
77.本技术中，可以对第二测读图像进行识别，确定第二测读图像中投影线与参考刻度线之间的第一距离，以及参考标尺中与投影线相邻的两刻度线之间的第二距离。将第一距离与第二距离的比值与参考标尺中和投影线相邻的两刻度线对应的量程相乘，确定第二刻度值。其中，参考刻度线为参考标尺中与投影线相邻的两刻度线中的一个刻度线。
78.步骤408，基于第二刻度值，对测量值进行修正。
79.本技术中，可以将第二刻度值与测量值之和，确定修正后的测量值。
80.本技术中，确定引张线对应的测量值后，可以控制放大组件向第三方向移动预设距离，以获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第二测读图像，之后，对第二测读图像进行识别，确定第二测读图像中引张线的投影在参考标
尺上对应的第二刻度值，并基于第二刻度值，对测量值进行修正。从而提高了测量值的精度，进而提高了引张线测量的准确性。
81.为了实现上述实施例，本技术实施例还提出一种计算机设备，包括处理器和存储器；其中，处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，以用于实现如上述实施例的引张线测量装置的控制方法。
82.为了实现上述实施例，本技术实施例还提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述实施例的引张线测量装置的控制方法。
83.尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

技术特征：
1.一种引张线测量装置的控制方法，其特征在于，所述方法应用于测量装置，所述测量装置包括发光组件、电源控制组件、成像屏、放大组件、图像采集组件；所述图像采集组件位于所述放大组件正上方，与所述放大组件连接为一体；所述放大组件位于所述成像屏上方，所述放大组件可移动；所述发光组件位于所述成像屏下方；所述电源控制组件与所述发光组件连接；所述引张线位于所述发光组件与所述成像屏之间；所述方法包括：响应于接收到引张线的测量指令，控制所述电源控制组件为所述发光组件上电；确定所述放大组件相对与所述成像屏的位置；控制所述放大组件移动至所述位置，并向所述图像采集组件发送图像采集指令，指示所述图像采集组件获取所述引张线在所述发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像；对所述第一测读图像进行识别，确定所述第一测读图像中所述引张线的投影在所述参考标尺上对应的第一刻度值；根据所述第一刻度值，确定所述引张线对应的测量值。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述放大组件相对与所述成像屏的位置，包括：向所述图像采集组件发送图像采集指令，指示所述图像采集组件获取第一参考图像；在所述第一参考图像中包含的所述参考标尺的量程不属于预设取值区间的情况下，控制所述放大组件向第一方向多次移动预设距离，并获取所述放大组件移动至各位置处的第二参考图像；在任一第二参考图像中包含的所述参考标尺的量程属于所述预设取值区间的情况下，将所述任一第二参考图像对应的位置，确定为所述放大组件相对于所述成像屏的位置。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述放大组件相对与所述成像屏的位置，包括：向所述图像采集组件发送图像采集指令，指示所述图像采集组件获取第一参考图像；在所述第一参考图像中未包含所述引张线的投影的情况下，控制所述放大组件向第二方向多次移动预设距离，并获取所述放大组件移动至各位置处的第二参考图像；在任一第二参考图像中包含所述引张线的投影，且所述任一第二参考图像中包含的所述参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将所述任一第二参考图像对应的位置，确定为所述放大组件相对于所述成像屏的位置。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：控制所述放大组件向第三方向移动预设距离，以获取所述引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第二测读图像，其中，所述第二测读图像中包含的参考标尺的量程与所述第一测读图像中包含的参考标尺的量程不同；对所述第二测读图像进行识别，确定所述第二测读图像中所述引张线的投影在所述参考标尺上对应的第二刻度值；基于所述第二刻度值，对所述测量值进行修正。5.一种测量装置，其特征在于，包括发光组件、电源控制组件、成像屏、放大组件、图像采集组件、控制器；所述图像采集组件位于所述放大组件正上方，与所述放大组件连接为一体；所述放大组件位于所述成像屏上方，所述放大组件可移动；所述发光组件位于所述成像
屏下方；所述电源控制组件与所述发光组件连接；引张线位于所述发光组件与所述成像屏之间；所述发光组件，用于为生成测读图像提供光线；所述成像屏包含参考标尺，用于接收引张线在所述发光组件的照射下生成的投影；所述放大组件，用于对所述成像屏进行放大；所述电源控制组件，用于为所述发光组件上电；所述控制器，用于响应于接收到引张线的测量指令，控制所述电源控制组件为所述发光组件上电；确定所述放大组件相对与所述成像屏的位置；控制所述放大组件移动至所述位置，并向所述图像采集组件发送图像采集指令，指示所述图像采集组件获取所述引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像；对所述第一测读图像进行识别，确定所述第一测读图像中所述引张线的投影在所述参考标尺上对应的第一刻度值；根据所述第一刻度值，确定所述引张线对应的测量值。6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述控制器，用于：向所述图像采集组件发送图像采集指令，指示所述图像采集组件获取第一参考图像；在所述第一参考图像中包含的所述参考标尺的量程不属于预设取值区间的情况下，控制所述放大组件向第一方向多次移动预设距离，并获取所述放大组件移动至各位置处的第二参考图像；在任一第二参考图像中包含的所述参考标尺的量程属于所述预设取值区间的情况下，将所述任一第二参考图像对应的位置，确定为所述放大组件相对于所述成像屏的位置。7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述控制器，用于：向所述图像采集组件发送图像采集指令，指示所述图像采集组件获取第一参考图像；在所述第一参考图像中未包含所述引张线的投影的情况下，控制所述放大组件向第第二方向多次移动预设距离，并获取所述放大组件移动至各位置处的第二参考图像；在任一第二参考图像中包含所述引张线的投影，且所述任一第二参考图像中包含的所述参考标尺的量程属于预设取值区间的情况下，将所述任一第二参考图像对应的位置，确定为所述放大组件相对于所述成像屏的位置。8.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述控制器，还用于：控制所述放大组件向第三方向移动预设距离，以获取所述引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第二测读图像，其中，所述第二测读图像中包含的参考标尺的量程与所述第一测读图像中包含的参考标尺的量程不同；对所述第二测读图像进行识别，确定所述第二测读图像中所述引张线的投影在所述参考标尺上对应的第二刻度值；基于所述第二刻度值，对所述测量值进行修正。

技术总结
本申请提出一种引张线测量装置及其控制方法，其中，方法包括：在接收到引张线的测量指令时，控制电源控制组件为发光组件上电，并确定放大组件相对与成像屏的位置，之后，控制放大组件移动至上述位置，并向图像采集组件发送图像采集指令，指示图像采集组件获取引张线在发光组件的光线照射下，在包含参考标尺的成像屏上投影生成的第一测读图像，然后，对第一测读图像进行识别，确定第一测读图像中引张线的投影在参考标尺上对应的第一刻度值，以根据第一刻度值，确定引张线对应的测量值。由此，实现了自动对引张线的测量，从而提高了引张线测量的效率。的效率。的效率。


技术研发人员：熊成龙 丁玉江 李学胜 简树明 刘卫国 陈琨 张润 赵盛杰 岳宏斌 刘锦 沈凤群 陈宏伟 娄毅博 黎富超 李梓萌 李旭 杨发伟
受保护的技术使用者：南京南瑞水利水电科技有限公司
技术研发日：2023.07.28
技术公布日：2023/9/6