一种电子组件水冷老化测试装置及老化测试系统的制作方法

1.本发明涉及电子组件老化测试技术领域，特别涉及一种电子组件水冷老化测试装置及老化测试系统。


背景技术：

2.老化测试可以提高tr组件的可靠性，在老化过程中让tr组件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免tr组件在使用早期发生故障。
3.目前，tr组件在老化测试过程中普遍依靠人工进行测试，需要测试人员将tr组件安装到老化测试架上，再通过测试人员将tr组件与老化测试仪器连接，再通电进行老化测试；但现有的老化测试架上设有的老化测试座一般固定，不便于将tr组件安装到老化测试座上；再者，在现有的老化测试架上将tr组件与老化测试仪器连接，需要逐一将老化测试仪器与tr组件的输入端和输出端进行连接，操作繁琐且效率低。
4.另外，行业内也有一种自动化的老化测试装置，但是其结构比较复杂，并且，在老化测试过程中是通过风机来对电子组件进行冷却。首先，风机冷却的结构装配比较复杂，其次，风机冷却的效果不能满足测试需求。
5.因此，需要研发一种新的老化测试装置。


技术实现要素：

6.本发明所要解决的技术问题是提供一种电子组件水冷老化测试装置及老化测试系统，有效的克服了现有技术的缺陷。
7.本发明解决上述技术问题的技术方案如下：
8.一种电子组件水冷老化测试装置，包括基座；安装座，滑动装配于上述基座上端，上述安装座设有用于装配电子组件的装配区；测试输出对接座，装配于上述基座上部一侧，其靠近上述安装座的一侧设有与上述电子组件输出端适配的输出对接插头；第一伸缩机构，装配于上述基座上，并与上述安装座连接，上述第一伸缩机构用于驱使上述安装座平移至与上述测试输出对接座靠近或远离，并使上述电子组件输出端与上述输出对接插头对接或脱离；测试输入对接座，装配于上述安装座上部远离上述测试输出对接座的一侧；第二伸缩机构，装配于上述测试输入对接座上，并连接有与上述电子组件输入端适配的输入对接插头，上述第二伸缩机构用于驱使上述输入对接插头移动至与上述电子组件输入端对接或分离；水冷机构，装配在上述基座上，并位于上述测试输出对接座的一侧，上述水冷机构用于对上述电子组件冷却。
9.在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。
10.进一步，上述基座上部的两端分别设有朝向其两侧延伸的滑轨，上述基座的两端分别滑动装配在两个上述滑轨上。
11.进一步，上述第一伸缩机构为气缸，其伸缩端与上述安装座相连。
12.进一步，上述第二伸缩机构为气缸，其伸缩端安装有固定板，该固定板上装配有输
入对接插头。
13.进一步，上述水冷机构包括升降机构、水冷板和水冷管，上述升降机构装配于上述基座上端，上述水冷板水平装配于上述升降机构上端，上述水冷板内设有水冷流道，该水冷流道的进口及出口分别连接上述水冷管，上述水冷板设置于上述安装座平移轨迹的下方，上述装配区开设有供上述水冷板穿过的孔位，上述升降机构用于驱使上述水冷板上下移动至与上述电子组件的下端面贴合或分离。
14.进一步，上述升降机构的上端通过弹性浮动件连接上述水冷板。
15.进一步，上述安装座上端一侧设有与上述输出对接插头相连的衰减器。
16.进一步，上述装配区设有多个，并在上述安装座的两端之间间隔分布，相应的上述输出对接插头设有多组，并与上述电子组件一一对应，上述水冷机构设有多组，并与上述电子组件一一对应，上述测试输入对接座设有多组，并与上述电子组件一一对应。
17.进一步，上述装配区设有两个，且两个装配区之间通过隔条分隔，两个装配区相互远离的一端分别设有伸缩顶推装置，上述伸缩顶推装置用于从侧方将上述电子组件顶推至与上述隔条相抵并夹紧。
18.有益效果是：结构设计合理，实现了电子自动上下料、自动水冷、视频射频插头自动插拔，有效降低了测试工作量，提升了测试效率。
19.还提供一种老化测试系统，包括架体和多个如权利要求至任一项上述的电子组件水冷老化测试装置，每个上述电子组件水冷老化测试装置的基座上部的两端分别间隔设有多个支撑立柱，多个上述电子组件水冷老化测试装置上下叠合，且上方的上述基座支撑于下方的上述基座上端的上述支撑立柱上，多个上述电子组件水冷老化测试装置叠合后放置于上述架体上端。
20.有益效果是：可以实现批量化的电子组件老化测试。
附图说明
21.图1为本发明的电子组件水冷老化测试装置的结构示意图；
22.图2为本发明的电子组件水冷老化测试装置的使用效果图；
23.图3为本发明的老化测试系统的结构示意图。
24.附图中，各标号所代表的部件列表如下：
25.1、基座；2、安装座；3、测试输出对接座；4、第一伸缩机构；5、测试输入对接座；6、水冷机构；7、电子组件；8、衰减器；9、伸缩顶推装置；10、架体；11、滑轨；12、支撑立柱；20、第二伸缩机构；31、输出对接插头；51、输入对接插头；61、升降机构；62、水冷板；63、水冷管。
具体实施方式
26.以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
27.实施例1
28.如图1和2所示，本实施例的电子组件水冷老化测试装置包括：基座1；安装座2，滑动装配于上述基座1上端，上述安装座2设有用于装配电子组件7的装配区；测试输出对接座3，装配于上述基座1上部一侧，其靠近上述安装座2的一侧设有与上述电子组件7输出端适
配的输出对接插头31；第一伸缩机构4，装配于上述基座1上，并与上述安装座2连接，上述第一伸缩机构4用于驱使上述安装座2平移至与上述测试输出对接座3靠近或远离，并使上述电子组件7输出端与上述输出对接插头31对接或脱离；测试输入对接座5，装配于上述安装座2上部远离上述测试输出对接座3的一侧；第二伸缩机构20，装配于上述测试输入对接座5上，并连接有与上述电子组件7输入端适配的输入对接插头51，上述第二伸缩机构20用于驱使上述输入对接插头51移动至与上述电子组件7输入端对接或分离；水冷机构6，装配在上述基座1上，并位于上述测试输出对接座3的一侧，上述水冷机构6用于对上述电子组件7冷却。
29.本实施例中，第一伸缩机构4、第二伸缩机构20均属于电控设备，整个装置配置有控制器(plc控制器)，整个测试装置配置机器人进行电子组件7的上下料操作，控制器与装置中所有的电器元件连接，控制器与机器人均接入上位机，实现电控操作，测试过程如下：
30.1)设备初始化：由plc控制器进行初始化动作；
31.2)测试台打开上老化：由plc接受上位机指令后进行解析，确定要装配的测试台编号、层数、位置等信息，然后plc控制器打开，首先控制第一伸缩机构4伸出，然后机器人获取电子组件7并放置在安装座2的装配区；
32.3)电子组件7准备就绪后，控制器操作第一伸缩机构4收缩，使得电子组件7随之移动至其输出端与测试输出对接座3上的输出对接插头31对接插紧，然后，操作第二伸缩机构20驱使输入对接插头51移动至与电子组件7的输入端对接插紧，装配完成后，对电子组件7进行上电测试；
33.4)组件下老化：组件测试完成或异常时需进行下老化，第一伸缩机构4伸出，plc回复上位机测试台打开动作完成，由上位机控制机器人将组件取走，完成后plc控制测试台关闭。
34.整个装置结构设计合理，实现了电子自动上下料、自动水冷、视频射频插头自动插拔，有效降低了测试工作量，提升了测试效率。
35.需要补充说明的是：输出对接插头31一般为射频插头，本实施例中每个电子组件7对应4个输出对接插头31，输入对接插头51一般包括三类，具体有两个视频插头和一个射频插头,电子组件7的输入端和输出端的端口位置与输出对接插头31和输入对接插头51的位置一一对应。
36.本实施例中，上述基座1上部的两端分别设有朝向其两侧延伸的滑轨11，上述基座1的两端分别滑动装配在两个上述滑轨11上。第一伸缩机构4分布在两个滑轨11的中间区域，基座1的两端下部分别通过滑块与两个滑轨11滑动连接，实现基座1良好的滑行移动。
37.本实施例中，上述第一伸缩机构4采用气缸，其伸缩端与上述安装座2相连。该气缸适配的电磁阀与控制器连接，实现对气缸伸缩的智能控制。
38.本实施例中，上述第二伸缩机构20为气缸，其伸缩端安装有固定板，该固定板上装配有输入对接插头51。该气缸适配的电磁阀与控制器连接，实现对气缸伸缩的智能控制。
39.作为一种优选的实施方式，上述水冷机构6包括升降机构61、水冷板62和水冷管63，上述升降机构61装配于上述基座1上端，上述水冷板62水平装配于上述升降机构61上端，上述水冷板62内设有水冷流道，该水冷流道的进口及出口分别连接上述水冷管63，上述水冷板62设置于上述安装座2平移轨迹的下方，上述装配区开设有供上述水冷板62穿过的
孔位，上述升降机构61用于驱使上述水冷板62上下移动至与上述电子组件7的下端面贴合或分离。
40.上述实施方案中，水冷板62分布在基座1上端对应安装座2滑行轨迹的下方，当第一伸缩机构4收缩并带动安装座2移动至其上的电子组件7的输出端与输出对接插头31对接时，水冷板62正好位于安装座2上的电子组件7的下方，升降机构61驱使水冷板62向上移动，水冷板62穿过装配区开设的孔位，直至水冷板62与电子组件7下端面贴合，然后通过流过水冷流道的冷却液对电子组件7在老化过程中降温冷却。整体结构布局非常紧凑、合理，空间利用率较高。
41.本实施例中，水冷板62一般设计为方形板，其两端的下部分别竖向设有导向柱，在基座1的上端分别设有与导向柱适配的导向套筒，导向柱下端插入对应的导向套筒中，导向柱和导向套筒的配合能够对水冷板62的上下移动提供正确的方向引导，避免其歪斜。
42.本实施例中，升降机构61为电控器件，并与控制器连接，实现电控智能操作。
43.作为一种优选的实施方式，上述升降机构61的上端通过弹性浮动件连接上述水冷板62。
44.上述实施方案中，由于电子组件7是水平装配在安装座2上端的装配区，在升降机构61驱使水冷板62向上移动至与电子组件7下表面贴合时，弹性浮动件能够起到一定的缓冲作用，并且，弹性浮动件还能够利用其弹性性能使得水冷板62与电子组件7的下表面紧密的贴合，有效的对电子组件7进行冷却。
45.本实施例中，弹性浮动件可以是弹簧或是弹簧套筒等弹性伸缩件。
46.本实施例中，上述安装座2上端一侧设有与上述输出对接插头31相连的衰减器8。衰减器8的一端通过电缆与测试输出对接座3上的输出对接插头31电连接，另一端背离测试输出对接座3向外延伸形成延伸端。
47.作为一种优选的实施方式，上述装配区设有多个，并在上述安装座2的两端之间间隔分布，相应的上述输出对接插头31设有多组，并与上述电子组件7一一对应，上述水冷机构6设有多组，并与上述电子组件7一一对应，上述测试输入对接座5设有多组，并与上述电子组件7一一对应。
48.上述实施方案中，装配区设置多个，并且输出对接插头31设有多组、水冷机构6也设有多组，同时，测试输入对接座5也设有多组，这样的设计实现了多工位的电子组件7的装配及老化测试，测试效率得到提升。
49.最佳的，上述装配区设有两个，且两个装配区之间通过隔条a分隔，两个装配区相互远离的一端分别设有伸缩顶推装置9，上述伸缩顶推装置9用于从侧方将上述电子组件7顶推至与上述隔条相抵并夹紧。电子组件7在装配区放置后，其一端边沿沿着隔条的边沿贴靠延伸，另一端通过伸缩顶推装置9的伸长施加朝向隔条的推力，配合隔条，即可将电子组件7夹持在伸缩顶推装置9和隔条之间，从而使得电子组件7在装配区稳定的装配。
50.上述伸缩顶推装置9采用气缸，该气缸的电磁阀与控制器连接，实现智能化的控制操作。
51.本实施例中，当水冷机构6配置多组时，多组水冷板62的水冷流道通过水冷管63串联起来，形成的串联的总流道的一端构成进口，一端构成出口，进口连接冷却液进入主管，出口连接冷却液流出主管，形成冷却液的循环流道。
52.实施例2
53.本实施例的老化测试系统包括架体10和多个实施例1中的电子组件水冷老化测试装置，每个上述电子组件水冷老化测试装置的基座1上部的两端分别间隔设有多个支撑立柱12，多个上述电子组件水冷老化测试装置上下叠合，且上方的上述基座1支撑于下方的上述基座1上端的上述支撑立柱12上，多个上述电子组件水冷老化测试装置叠合后放置于上述架体10上端。
54.本实施例中，多个电子组件水冷老化测试装置的基座1上下叠合，并防止在架体10上端，具体地，上方的基座1支撑在下方相邻的基座1的支撑立柱12上端，每个基座1两端分别设有至少两个支撑立柱12。整个老化测试系统配合机器人对电子组件7的上下料实现大批量、高效的老化测试作业。
55.本实施例中，在多个基座1一侧的两端分别安装有管道固定器，同一端的多个上下分布的管道固定器共同安装冷却液进入主管或是冷却液流出主管，每个基座1的水冷管63形成的总流道的进口及出口分别连接冷却液进入主管和冷却液流出主管。
56.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
57.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
58.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
59.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
60.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
61.尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

技术特征：
1.一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于，包括：基座(1)；安装座(2)，滑动装配于所述基座(1)上端，所述安装座(2)设有用于装配电子组件(7)的装配区；测试输出对接座(3)，装配于所述基座(1)上部一侧，其靠近所述安装座(2)的一侧设有与所述电子组件(7)输出端适配的输出对接插头(31)；第一伸缩机构(4)，装配于所述基座(1)上，并与所述安装座(2)连接，所述第一伸缩机构(4)用于驱使所述安装座(2)平移至与所述测试输出对接座(3)靠近或远离，并使所述电子组件(7)输出端与所述输出对接插头(31)对接或脱离；测试输入对接座(5)，装配于所述安装座(2)上部远离所述测试输出对接座(3)的一侧；第二伸缩机构(20)，装配于所述测试输入对接座(5)上，并连接有与所述电子组件(7)输入端适配的输入对接插头(51)，所述第二伸缩机构(20)用于驱使所述输入对接插头(51)移动至与所述电子组件(7)输入端对接或分离；水冷机构(6)，装配在所述基座(1)上，并位于所述测试输出对接座(3)的一侧，所述水冷机构(6)用于对所述电子组件(7)冷却。2.根据权利要求1所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述基座(1)上部的两端分别设有朝向其两侧延伸的滑轨(11)，所述基座(1)的两端分别滑动装配在两个所述滑轨(11)上。3.根据权利要求1所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述第一伸缩机构(4)为气缸，其伸缩端与所述安装座(2)相连。4.根据权利要求1所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述第二伸缩机构(20)为气缸，其伸缩端安装有固定板，该固定板上装配有输入对接插头(51)。5.根据权利要求1所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述水冷机构(6)包括升降机构(61)、水冷板(62)和水冷管(63)，所述升降机构(61)装配于所述基座(1)上端，所述水冷板(62)水平装配于所述升降机构(61)上端，所述水冷板(62)内设有水冷流道，该水冷流道的进口及出口分别连接所述水冷管(63)，所述水冷板(62)设置于所述安装座(2)平移轨迹的下方，所述装配区开设有供所述水冷板(62)穿过的孔位，所述升降机构(61)用于驱使所述水冷板(62)上下移动至与所述电子组件(7)的下端面贴合或分离。6.根据权利要求5所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述升降机构(61)的上端通过弹性浮动件连接所述水冷板(62)。7.根据权利要求1所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述安装座(2)上端一侧设有与所述输出对接插头(31)相连的衰减器(8)。8.根据权利要求1至7任一项所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述装配区设有多个，并在所述安装座(2)的两端之间间隔分布，相应的所述输出对接插头(31)设有多组，并与所述电子组件(7)一一对应，所述水冷机构(6)设有多组，并与所述电子组件(7)一一对应，所述测试输入对接座(5)设有多组，并与所述电子组件(7)一一对应。9.根据权利要求8所述的一种电子组件水冷老化测试装置，其特征在于：所述装配区设有两个，且两个装配区之间通过隔条分隔，两个装配区相互远离的一端分别设有伸缩顶推装置(9)，所述伸缩顶推装置(9)用于从侧方将所述电子组件(7)顶推至与所述隔条相抵并
夹紧。10.一种老化测试系统，其特征在于：包括架体(10)和多个如权利要求1至9任一项所述的电子组件水冷老化测试装置，每个所述电子组件水冷老化测试装置的基座(1)上部的两端分别间隔设有多个支撑立柱(12)，多个所述电子组件水冷老化测试装置上下叠合，且上方的所述基座(1)支撑于下方的所述基座(1)上端的所述支撑立柱(12)上，多个所述电子组件水冷老化测试装置叠合后放置于所述架体(10)上端。

技术总结
本发明涉及电子组件水冷老化测试装置及老化测试系统。电子组件水冷老化测试装置包括基座；安装座，滑动装配于基座上端，安装座设有用于装配电子组件的装配区；测试输出对接座，装配于基座上部一侧，其靠近安装座的一侧设有与电子组件输出端适配的输出对接插头；第一伸缩机构，装配于基座上，并与安装座连接；测试输入对接座，装配于安装座上部远离测试输出对接座的一侧；第二伸缩机构，装配于测试输入对接座上，并连接有输入对接插头；水冷机构，装配在基座上，并位于测试输出对接座的一侧。优点：结构设计合理，实现了电子自动上下料、自动水冷、视频射频插头自动插拔，有效降低了测试工作量，提升了测试效率。提升了测试效率。提升了测试效率。


技术研发人员：王智慧 高雷 肖多多 卢子琦 寥魁
受保护的技术使用者：北京无线电测量研究所
技术研发日：2023.07.10
技术公布日：2023/10/15