DFN未切透不良品检测的治具及使用方法与流程

dfn未切透不良品检测的治具及使用方法
技术领域
1.本发明涉及一种dfn未切透不良品检测的治具及使用方法，属于半导体不良品检测技术领域。


背景技术：

2.dfn封装工艺流程是一种常用的半导体芯片封装方式，工艺流程包括：芯片前处理、内部焊接、外部焊接、填充树脂、粗磨和薄磨，对封装好的芯片进行粗磨和薄磨处理，以便获得所需的封装尺寸和平整度。
3.目前生产的dfn产品中，在条划工序会出现产品未完全切透彻的外观异常(即外形尺寸超标)，由于产品本身体积较小致使异常不易被发现，需要对产品在测试工序上进行测试，测试外观尺寸不合格的批次产品，会退回到上一个工序进行返工处理，对其进行产品外观尺寸管控；目前是直接采用游标卡尺来测量产品的外形尺寸是否超标操作者需要一边夹持固定着dfn产品，一边又要通过游标卡尺来测量，操作难度高，测量效率低，而且由于产品公差范围较小，容易出现测量不准确的情况，导致二次返工测量。
4.针对现有问题，急需在原有的基础上进行创新。


技术实现要素：

5.针对上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种dfn未切透不良品检测的治具及使用方法，通过在滑槽的两端端口分别设置待测尺寸上限和下限，观察dfn产品是否能滑入，并卡在上下限端口之间来判断产品是否合格，解决游标卡尺操作难度高，测量效率低和不准确的问题。
6.为了解决上述技术问题，本发明提供了一种dfn未切透不良品检测的治具，包括基座，所述基座设有用于dfn产品滑动的滑槽；所述滑槽一端的端口宽度设置为待测尺寸上限，另一端的端口宽度设置为待测尺寸下限。
7.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，所述滑槽的两端端口一侧设有标记刻度。
8.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，所述滑槽的一端延伸；所述基座设有缓冲槽，所述缓冲槽的一端与所述滑槽的延伸段连通；所述缓冲槽的宽度大于dfn产品的最大尺寸。
9.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，所述滑槽的一端延伸，且贯穿所述基座；所述所述缓冲槽的方向与所述滑槽的延伸段相垂直。
10.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，还包括拨动组件；所述拨动组件包括支撑板、拨片和滑座；所述支撑板的一端连接滑座，另一端的两侧分别设置有拨片，两侧所述拨片间的距离与所述dfn产品的尺寸相匹配；所述基座设置有与滑槽相互平行的滑轨，所述滑座与所述滑轨滑动连接；所述拨片卡入所述滑槽内，所述拨片的宽度小于待测尺寸的下限。
11.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，所述滑槽和所述缓冲槽的底部均布滚轮组件,设置于所述滑槽底部的滚轮组件的滚动方向与所述滑槽的滑动方向相同；设置于所述缓冲槽底部滚轮组件的滚动方向与所述缓冲槽的滑动方向相同。
12.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，所述滑座的顶部设有竖直设置的支板；所述支板与所述支撑板铰接；所述支板设有用于限位支撑板与支板垂直的卡板。
13.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，所述拨片的内侧设有垫片。
14.进一步地，作为本发明一种更为优选地实施方案，所述滑座的两侧底部均布滑轮；所述滑轨的横截面为凸字形；所述滑轮卡入所述滑轨的凸字形两侧凹槽内。
15.基于同样的发明构思，本发明还提供了一种dfn未切透不良品检测治具的使用方法，包括以下步骤：s1:将两拨片间的位置对准缓冲槽的滑入口；s2：通过镊子将dfn产品夹持放入缓冲槽内，推动dfn产品的滑入两拨片间，且使dfn产品一边贴紧滑槽；s3：推动支撑板滑入滑槽，一侧的拨片抵住dfn产品的一端，同时推动dfn产品从滑槽的延伸段滑入滑槽的待测尺寸上限端口；s4：当dfn产品无法从待测尺寸上限端口滑入，则说明dfn产品的尺寸偏大，超出产品尺寸上限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，又能从待测尺寸下限端口滑出，则说明产品尺寸偏小，超出产品尺寸下限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，且卡在待测尺寸上限端口与下限端口之间，则说明dfn产品的尺寸合格；s5：推动支撑板，另一侧的拨片抵住dfn产品的另一端，推动dfn产品从滑槽的待测尺寸上限端口滑出。
16.与现有技术相比，其有益效果为：
17.1、本发明通过在滑槽的两端端口分别设置待测尺寸上限和下限，操作者只需将dfn产品在滑槽内拨动，观察dfn产品是否能滑入待测尺寸上限，是否可以卡在上下限端口之间来判断产品是否合格，拨入过程滑槽宽度尺寸依次递减，直至与dfn产品尺寸相同后卡在，测量结束后再拨出，操作简单而且测量精度高，测量效率高，有效提高dfn产品的返工效率，提升返工良率，降低返工成本，提升产品竞争力。
18.2、本发明增加了拨动组件和缓冲槽，操作者可以将dfn产品夹持放置在缓冲槽上，调整好dfn产品待测边与滑槽滑动方向相垂直，再推入拨动组件的拨动范围内，有效避免直接夹持dfn产品放入滑槽，需要调整dfn产品待测边的方向并对准位置卡入滑槽的难题；通过增加缓冲槽能有效提升dfn产品夹持放入滑槽的效率；
19.通过拨动组件，操作者可以将缓冲槽送入的dfn产品直接拨动滑入滑槽的检测段内，滑轨与滑槽平行，通过滑座滑行，拨片能在滑槽内平稳移动，有效避免手持镊子直接拨动，不稳定易造成产品表面划伤；当dfn产品卡至滑槽内时，采用传统手持镊子拨出，用力过度易造成产品弹射滑出，产品受损；本发明通过将dfn产品放置在两拨片件，送入送出滑槽过程都会有拨片抵住，产品滑动平稳，而且操作者可以提升滑动速度来节约测量时间，达到提升测量效率，而且有两拨片件护住，产品不会弹射滑出，有效保障测量过程产品的质量不受损。
20.3、本发明增加滚轮组件，dfn产品的移动由滑动变成滚动，能有效避免dfn产品的底面直接滑动带来的表面划伤。
附图说明
21.图1为实施例一的结构示意图；
22.图2为实施例二的结构示意图；
23.图3为拨动组件的结构示意图；
24.图4为实施例二使用方法的流程图。
25.附图标记：
26.1-基座，11-滑槽，111-标记刻度，12-缓冲槽，121-滚轮组件，13-滑轨；
27.2-拨动组件，21-支撑板，22-拨片，221-垫片，23-滑座，231-滑轮，232-支板，233-卡板；
28.3-dfn产品。
具体实施方式
29.为了使本领域的技术人员更好地理解本技术中的技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
30.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个部件上，它可以直接在另一个部件上或者间接设置在另一个部件上；当一个部件被称为是“连接于”另一个部件，它可以是直接连接到另一个部件或间接连接至另一个部件上。
31.需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“32.水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或部件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
33.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”、“若干个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
34.须知，本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
35.实施例一
36.参照图1所示，一种dfn未切透不良品检测的治具，包括基座1，基座1设有用于dfn产品滑动的滑槽11；滑槽11一端的端口宽度设置为待测尺寸上限，另一端的端口宽度设置为待测尺寸下限。
37.本实施例的使用方法：操作者通过镊子将dfn产品夹持卡入待测尺寸上限端口；当dfn产品无法从待测尺寸上限端口滑入，则说明dfn产品的尺寸偏大，超出产品尺寸上限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，又能从待测尺寸下限端口滑出，则说明产品尺寸偏小，超出产品尺寸下限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，且卡在待测尺寸上限端
口与下限端口之间，则说明dfn产品的尺寸合格。
38.实施例二
39.操作者通过镊子将dfn产品夹持卡入待测尺寸上限端口，需要调整好dfn产品待测边与滑槽滑动方向相垂直，再对准待测尺寸上限端口滑入，由于dfn产品尺寸较小，操作难度高，经常出现夹持对不准端口，造成产品掉落，测量效率不佳；手持镊子直接拨动，也不稳定易造成产品表面划伤；当dfn产品卡至滑槽内时，采用手持镊子拨出，用力过度也容易造成产品弹射滑出，产品受损；
40.因此，为提高测量效率，减少测量过程产品的损伤；本实施例提供了参照图2-3所示，一种dfn未切透不良品检测的治具，包括基座1，基座1设有用于dfn产品滑动的滑槽11；滑槽11一端的端口宽度设置为待测尺寸上限，另一端的端口宽度设置为待测尺寸下限。
41.为方便操作者观察dfn产品卡入滑槽位置是否超出滑槽11的测量段，本实施例在滑槽11的两端端口一侧设有标记刻度111，即标记刻度111标记的区间就是滑槽11的测量段。操作者可以很好的判断dfn产品是否能完全卡入待测尺寸上限，可以很好的判断dfn产品是否能完全的滑出待测尺寸下限；
42.进一步地，滑槽11的一端延伸，此处所指为待测尺寸上限的端口；基座1设有缓冲槽12，缓冲槽12的一端与滑槽11的延伸段连通；缓冲槽12的宽度大于dfn产品的最大尺寸。滑槽11的一端延伸，且贯穿基座1；缓冲槽12的方向与滑槽11的延伸段相垂直。
43.需要说明的是，设置缓冲槽12以及将滑槽11的一端延伸贯穿基座1，操作方法为：在缓冲槽12内送入dfn产品，测量结束后从贯穿的端口滑出dfn产品，操作者通过贯穿的一端直接可将dfn产品直接拨出，无需操作者再通过镊子将dfn产品夹出，操作更加便捷，测量效率更高。
44.在一些实施例中，在基座1贯穿的端口处设置两个托盘，分别用于承接从贯穿的端口滑出的合格产品和超尺寸的产品，托盘的承托面设置有柔性垫；目的在于，对于测量出合格产品和超尺寸的产品能更好的分类收集，另一个尺寸过小的产品可以直接拨出不用收集。
45.本实施例还包括拨动组件2；拨动组件2包括支撑板21、拨片22和滑座23；支撑板21的一端连接滑座23，另一端的两侧分别设置有拨片22，两侧拨片22间的距离与dfn产品的尺寸相匹配；基座1设置有与滑槽11相互平行的滑轨13，滑座23与滑轨13滑动连接；拨片22卡入滑槽11内，拨片22的宽度小于待测尺寸的下限。
46.需要说明的是：操作者可以直接用手推动滑座23或支撑板21，实现拨片22的移动，实现滑座23在滑轨13上滑动；在一些实施例中两侧拨片22间的距离大于dfn产品的最大尺寸，确保dfn产品能轻松卡入拨片22间；拨片22的宽度要小于待测尺寸的下限，能实现拨片22在滑槽11内全段通行；在一些实施例中拨片22可以设置成杆状，杆状周围套上垫圈。
47.进一步地，滑槽11和缓冲槽12的底部均布滚轮组件121,设置于滑槽11底部的滚轮组件121的滚动方向与滑槽11的滑动方向相同；设置于缓冲槽12底部滚轮组件121的滚动方向与缓冲槽12的滑动方向相同。
48.需要说明的是，滚轮组件121包括与缓冲槽12的两侧壁转动连接的转轴，转轴上均匀布置有多个与转轴固定连接的滚轮，滚轮的外圈可以采用塑料材质或者柔性材质。
49.通过增加滚轮组件121，dfn产品由原来的直接摩擦滑动变成滚轮传动；无需再对
滑槽底面粗糙度有精确要求，而且避免dfn产品因摩擦滑动而产生表面划痕，测量过程对产品质量有所保障。
50.进一步地，滑座23的顶部设有竖直设置的支板232；支板232与支撑板21铰接；支板232设有用于限位支撑板21与支板232垂直的卡板233。本实施中采用支板232与支撑板21铰接，支撑板21可以绕着支板232立起，也可以在dfn产品滑入滑槽卡住滑槽时，立起拨片22，观察dfn产品所在位置。
51.在一些实施例中滑座23可以设置成上下两层，下层与滑轨13滑动连接，下层与上层可转动连接，上层与下层之间设置有限位扣，上层与支板232固定连接；在基座1上，滑轨13的一侧可以设置用于测量dfn产品第一尺寸的滑槽；滑轨13的另一侧设置有用于测量dfn产品第二尺寸的滑槽，滑轨13两侧的滑槽都设置对应的缓冲槽12；基于该结构的使用方法：将两拨片22间的位置对准第一尺寸对应的缓冲槽12的滑入口，通过镊子将dfn产品夹持放入该缓冲槽12内，推动dfn产品的滑入两拨片22间，且使dfn产品一边贴紧滑槽11；推动支撑板21滑入滑槽11，一侧的拨片22抵住dfn产品的一端，同时推动dfn产品从滑槽11的延伸段滑入滑槽11的待测尺寸上限端口，进行dfn产品第一尺寸的测量；当继续对第二尺寸进行测量时，立起支撑板21，并旋转(滑座23的下层与上层可转动连接)，再放下支撑板21，两拨片22对应卡入到第二尺寸对应的滑槽内，同理再对dfn产品进第二尺寸的测量。实现一个基座完成dfn产品两个尺寸的测量。
52.进一步地，拨片22的内侧设有垫片221。采用垫片221的目的在于拨片22与dfn产品采用柔性接触避免dfn产品表面刮伤。
53.进一步地，滑座23的两侧底部均布滑轮231；滑轨13的横截面为凸字形；滑轮231卡入滑轨13的凸字形两侧凹槽内。
54.本实施例还提供了上述dfn未切透不良品检测治具的使用方法，包括以下步骤：s1:将两拨片22间的位置对准缓冲槽12的滑入口；s2：通过镊子将dfn产品夹持放入缓冲槽12内，推动dfn产品的滑入两拨片22间，且使dfn产品一边贴紧滑槽11；s3：推动支撑板21滑入滑槽11，一侧的拨片22抵住dfn产品的一端，同时推动dfn产品从滑槽11的延伸段滑入滑槽11的待测尺寸上限端口；s4：当dfn产品无法从待测尺寸上限端口滑入，则说明dfn产品的尺寸偏大，超出产品尺寸上限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，又能从待测尺寸下限端口滑出，则说明产品尺寸偏小，超出产品尺寸下限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，且卡在待测尺寸上限端口与下限端口之间，则说明dfn产品的尺寸合格；s5：推动支撑板21，另一侧的拨片22抵住dfn产品的另一端，推动dfn产品从滑槽11的待测尺寸上限端口滑出。
55.如产品dfn3*3的尺寸要求为：3
±
0.05mm，即：产品外观尺寸最小不能小于2.95mm，最大不能大于3.05mm；
56.如产品dfn5*6的尺寸要求为：5
±
0.10mm,6
±
0.10mm，即：5mm这边外观尺寸最小不能小于4.9mm，最大不能大于5.1mm；6mm这边的外观尺寸最小不能小于5.9mm,最大不能大于6.1mm。
57.以dfn3*3产品为例的测量方法，将产品放入治具3.05mm的那头的槽内，使用镊子轻轻拨动产品在槽内滑动，会出现以下三种情况：如果产品在3.05mm的槽内不能滑动，则说明产品尺寸偏大，超出产品尺寸上限；如果产品能从3.05mm那头一直滑到2.95mm这头滑出
来，则说明产品尺寸偏小，超出产品尺寸下限；如果产品能从3.05mm那头滑动，但是在滑槽中间的位置卡住了，则说明产品尺寸合格。
58.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

技术特征：
1.一种dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，包括基座(1)，所述基座(1)设有用于dfn产品滑动的滑槽(11)；所述滑槽(11)一端的端口宽度设置为待测尺寸上限，另一端的端口宽度设置为待测尺寸下限。2.根据权利要求1所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，所述滑槽(11)的两端端口一侧设有标记刻度(111)。3.根据权利要求1所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，所述滑槽(11)的一端延伸；所述基座(1)设有缓冲槽(12)，所述缓冲槽(12)的一端与所述滑槽(11)的延伸段连通；所述缓冲槽(12)的宽度大于dfn产品的最大尺寸。4.根据权利要求3所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，所述滑槽(11)的一端延伸，且贯穿所述基座(1)；所述所述缓冲槽(12)的方向与所述滑槽(11)的延伸段相垂直。5.根据权利要求3所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，还包括拨动组件(2)；所述拨动组件(2)包括支撑板(21)、拨片(22)和滑座(23)；所述支撑板(21)的一端连接滑座(23)，另一端的两侧分别设置有拨片(22)，两侧所述拨片(22)间的距离与所述dfn产品的尺寸相匹配；所述基座(1)设置有与滑槽(11)相互平行的滑轨(13)，所述滑座(23)与所述滑轨(13)滑动连接；所述拨片(22)卡入所述滑槽(11)内，所述拨片(22)的宽度小于待测尺寸的下限。6.根据权利要求3所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，所述滑槽(11)和所述缓冲槽(12)的底部均布滚轮组件(121),设置于所述滑槽(11)底部的滚轮组件(121)的滚动方向与所述滑槽(11)的滑动方向相同；设置于所述缓冲槽(12)底部滚轮组件(121)的滚动方向与所述缓冲槽(12)的滑动方向相同。7.根据权利要求5所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，所述滑座(23)的顶部设有竖直设置的支板(232)；所述支板(232)与所述支撑板(21)铰接；所述支板(232)设有用于限位支撑板(21)与支板(232)垂直的卡板(233)。8.根据权利要求5所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，所述拨片(22)的内侧设有垫片(221)。9.根据权利要求5所述的dfn未切透不良品检测的治具，其特征在于，所述滑座(23)的两侧底部均布滑轮(231)；所述滑轨(13)的横截面为凸字形；所述滑轮(231)卡入所述滑轨(13)的凸字形两侧凹槽内。10.一种dfn未切透不良品检测治具的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：s1:将两拨片(22)间的位置对准缓冲槽(12)的滑入口；s2：通过镊子将dfn产品夹持放入缓冲槽(12)内，推动dfn产品的滑入两拨片(22)间，且使dfn产品一边贴紧滑槽(11)；s3：推动支撑板(21)滑入滑槽(11)，一侧的拨片(22)抵住dfn产品的一端，同时推动dfn产品从滑槽(11)的延伸段滑入滑槽(11)的待测尺寸上限端口；s4：当dfn产品无法从待测尺寸上限端口滑入，则说明dfn产品的尺寸偏大，超出产品尺寸上限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，又能从待测尺寸下限端口滑出，则说明产品尺寸偏小，超出产品尺寸下限；当dfn产品可以从待测尺寸上限端口滑入，且卡在待测尺寸上限端口与下限端口之间，则说明dfn产品的尺寸合格；
s5：推动支撑板(21)，另一侧的拨片(22)抵住dfn产品的另一端，推动dfn产品从滑槽(11)的待测尺寸上限端口滑出。

技术总结
本发明属于半导体不良品检测技术领域，公开了一种DFN未切透不良品检测的治具及使用方法，包括基座，所述基座设有用于DFN产品滑动的滑槽；所述滑槽一端的端口宽度设置为待测尺寸上限，另一端的端口宽度设置为待测尺寸下限。本发明通过在滑槽的两端端口分别设置待测尺寸上限和下限，操作者只需将DFN产品在滑槽内拨动，观察DFN产品是否能滑入待测尺寸上限，是否可以卡在上下限端口之间来判断产品是否合格，拨入过程滑槽宽度尺寸依次递减，直至与DFN产品尺寸相同后卡在，测量结束后再拨出，操作简单而且测量精度高，测量效率高，有效提高DFN产品的返工效率，提升返工良率，降低返工成本，提升产品竞争力。提升产品竞争力。提升产品竞争力。


技术研发人员：蔡远飞 王建国 黄泽军
受保护的技术使用者：深圳市锐骏半导体股份有限公司
技术研发日：2023.06.05
技术公布日：2023/10/15