一种多通道FLASH芯片测试装置的制作方法

一种多通道flash芯片测试装置
技术领域
1.本发明涉及芯片测试装置领域，尤其涉及一种多通道flash芯片测试装置。


背景技术：

2.简单来说，flash芯片就是最新型的，可进行可快速存储、擦除数据的存储物质，例如固态硬盘。flash芯片生产后需要将进行性能测试。
3.授权公告号为cn209248512u的中国专利公开了一种多通道flash芯片测试装置，包括电源接口、mcu主控模块、至少一个芯片专用夹具和lcd显示模块，电源接口、至少一个芯片专用夹具、lcd显示模块分别与mcu主控模块相连接；电源接口选用带有usb通讯芯片的电源接口；多个芯片专用夹具与mcu主控模块可以实现多路flash芯片同时测试；设置eeprom模块与mcu主控模块连接，可以实现测试数据的存储；设置切换按钮可以实现对多路测试的切换查看。该实用新型的多通道flash芯片测试装置，设计合理，可靠性高，可以提高测试效率并输出具体寿命报告数据。
4.但是上述已公开方案存在如下不足之处：测试人员安装芯片并开启测试装置，等待测试完成后，得到具体的芯片寿命数据，在安装芯片时无法测试，芯片测试结束后拆卸芯片时同样不能进行其他芯片的测试，导致flash芯片测试连续性较差，测试效率低。


技术实现要素：

5.本发明目的是针对背景技术中存在的安装和拆卸flash芯片时无法进行测试导致测试效率较低的问题，提出一种多通道flash芯片测试装置。
6.一方面，本发明提出一种多通道flash芯片测试装置，包括支撑架a、mcu主控设备、显示设备、工作平台、牵引皮带、夹持测试组件、u型架和升降装置；夹持测试组件包括手动夹具和芯片测试夹具；
7.mcu主控设备设置在支撑架a上，支撑架a上竖直设置支撑架b；显示设备设置在支撑架b顶部；工作平台设置在支撑架a顶部，工作平台两端均设置支撑板，支撑板上转动设置转轴a，转轴a上设置多组皮带轮，工作平台两端相对的皮带轮通过一组牵引皮带传动连接，支撑板上设置有带动转轴a转动的电机a；
8.手动夹具设置在在牵引皮带上；芯片测试夹具设置在手动夹具上，芯片测试夹具上夹持flash芯片，芯片测试夹具上设置电性接口a和警示组件，测试不合格时警示组件工作；u型架设置在支撑架a顶部，u型架上设置有感应手动夹具位置的感应组件；升降装置设置在u型架顶部内壁上，升降装置底部设置平板，平板上设置与电性接口a配合的电性接口b，升降装置数量与牵引皮带数量相等。
9.优选的，mcu主控设备与电机a控制连接，mcu主控设备与感应组件、芯片测试夹具、电性接口b以及显示设备均电性连接。
10.优选的，支撑架a底部设置多组升降调平脚和多组万向轮，工作状态下，万向轮与地面不接触。
11.优选的，工作平台上设置多组条形槽，牵引皮带的上方水平段位于条形槽内，手动夹具与工作平台接触贴合。
12.优选的，警示组件包括内置电源和警示灯；内置电源和警示灯均设置在芯片测试夹具上，mcu主控设备与警示灯控制连接，电性接口a和电性接口b配合接通时，内置电源进入充电状态，flash芯片测试不合格时警示灯亮起。
13.优选的，芯片测试夹具上竖直设置多组导向杆，平板上设置有供导向杆穿过的导向孔。
14.优选的，感应组件包括电机b、转轴b和挡板；转轴b转动设置在u型架内壁上，电机b设置在u型架上并带动转轴b转动，挡板顶部与转轴b连接，挡板底部位于工作平台上方且与手动夹具前侧面接触，挡板朝向手动夹具的端面上设置压力传感器，mcu主控设备与压力传感器信号传输连接，mcu主控设备与电机b控制连接。
15.另一方面，本发明提出一种多通道flash芯片测试装置的测试方法，包括以下步骤：
16.s1、操作人员将未测试的flash芯片通过芯片测试夹具进行固定；
17.s2、电机a工作通过牵引皮带带动手动夹具输送至u型架位置处；
18.s3、感应组件感应手动夹具到位后，电机a停止工作，升降装置带动电性接口b下降与电性接口a完成配对连接；
19.s4、mcu主控设备向芯片测试夹具发送测试信号，芯片测试夹具对flash芯片进行测试，测试不合格的，芯片测试夹具上的警示组件工作；
20.s5、测试完毕后，电机a工作，继续开展测试工作，操作人员将测试好的flash芯片取下，并在牵引皮带的上料端继续将未测试的flash芯片放在芯片测试夹具上。
21.与现有技术相比，本发明具有如下有益的技术效果：flash芯片通过牵引皮带输送，到位后自动测试，测试期间操作人员可以放置未测试的flash芯片，也可以取下测试过的flash芯片，即flash芯片安装和拆卸过程并不占用额外的时间，能提高flash芯片的测试效率。
附图说明
22.图1为本发明一种实施例的结构示意图；
23.图2为图1的后视图；
24.图3为夹持测试组件的结构示意图；
25.图4为图2中的a处放大示意图。
26.附图标记：1、支撑架a；2、升降调平脚；3、万向轮；4、mcu主控设备；5、支撑架b；6、显示设备；7、工作平台；8、支撑板；9、转轴a；10、电机a；11、牵引皮带；12、手动夹具；13、芯片测试夹具；14、flash芯片；15、电性接口a；16、导向杆；17、警示灯；18、u型架；19、电机b；20、转轴b；21、挡板；22、升降装置；23、平板；24、电性接口b。
具体实施方式
27.实施例一
28.本发明提出的一种多通道flash芯片测试装置，包括支撑架a1、mcu主控设备4、显
示设备6、工作平台7、牵引皮带11、夹持测试组件、u型架18和升降装置22；夹持测试组件包括手动夹具12和芯片测试夹具13；
29.如图1所示，支撑架a1底部设置多组升降调平脚2和多组万向轮3，工作状态下，万向轮3与地面不接触，mcu主控设备4设置在支撑架a1上，支撑架a1上竖直设置支撑架b5；显示设备6设置在支撑架b5顶部；工作平台7设置在支撑架a1顶部，工作平台7两端均设置支撑板8，支撑板8上转动设置转轴a9，转轴a9上设置多组皮带轮，工作平台7两端相对的皮带轮通过一组牵引皮带11传动连接，支撑板8上设置有带动转轴a9转动的电机a10，工作平台7上设置多组条形槽，牵引皮带11的上方水平段位于条形槽内，手动夹具12与工作平台7接触贴合；
30.如图1和图3所示，手动夹具12设置在在牵引皮带11上；芯片测试夹具13设置在手动夹具12上，芯片测试夹具13上夹持flash芯片14，芯片测试夹具13上设置电性接口a15和警示组件，测试不合格时警示组件工作。u型架18设置在支撑架a1顶部，u型架18上设置有感应手动夹具12位置的感应组件。
31.如图2和图4所示，芯片测试夹具13上竖直设置多组导向杆16，平板23上设置有供导向杆16穿过的导向孔；升降装置22设置在u型架18顶部内壁上，升降装置22底部设置平板23，平板23上设置与电性接口a15配合的电性接口b24，升降装置22数量与牵引皮带11数量相等。mcu主控设备4与电机a10控制连接，mcu主控设备4与感应组件、芯片测试夹具13、电性接口b24以及显示设备6均电性连接。
32.工作原理：操作人员将未测试的flash芯片14通过芯片测试夹具13进行固定，电机a10工作通过牵引皮带11带动手动夹具12输送至u型架18位置处，感应组件感应手动夹具12到位后，电机a10停止工作，升降装置22带动电性接口b24下降与电性接口a15完成配对连接，然后mcu主控设备4向芯片测试夹具13发送测试信号，芯片测试夹具13对flash芯片14进行测试，测试不合格的，芯片测试夹具13上的警示组件工作，测试完毕后，电机a10工作，继续开展测试工作，操作人员将测试好的flash芯片14取下，并在牵引皮带11的上料端继续将未测试的flash芯片14放在芯片测试夹具13上。
33.本实施例中，flash芯片14通过牵引皮带11输送，到位后自动测试，测试期间操作人员可以放置未测试的flash芯片14，也可以取下测试过的flash芯片14，即flash芯片14安装和拆卸过程并不占用额外的时间，能提高flash芯片14的测试效率。
34.实施例二
35.如图3所示，本发明提出的一种多通道flash芯片测试装置，相较于实施例一，警示组件包括内置电源和警示灯17；内置电源和警示灯17均设置在芯片测试夹具13上，mcu主控设备4与警示灯17控制连接，电性接口a15和电性接口b24配合接通时，内置电源进入充电状态，flash芯片14测试不合格时警示灯17亮起。
36.本实施例中，内置电源能保证电性接口a15和电性接口b24断开接触后，警示灯17的工作状态，便于操作人员区分合格与不合格的flash芯片14。
37.实施例三
38.如图1所示，本发明提出的一种多通道flash芯片测试装置，相较于实施例一，感应组件包括电机b19、转轴b20和挡板21；转轴b20转动设置在u型架18内壁上，电机b19设置在u型架18上并带动转轴b20转动，挡板21顶部与转轴b20连接，挡板21底部位于工作平台7上方
且与手动夹具12前侧面接触，挡板21朝向手动夹具12的端面上设置压力传感器，mcu主控设备4与压力传感器信号传输连接，mcu主控设备4与电机b19控制连接。
39.本实施例中，手动夹具12随着牵引皮带11向前移动至与挡板21上的压力传感器接触时，电机a10停止工作，即表示flash芯片14已经到位，后续即可开始测试工作，测试结束后，挡板21向上翻转，手动夹具12继续向前输送后，挡板21再次翻转至水平状态，等下下一组手动夹具12的接触。
40.实施例四
41.基于上述一种多通道flash芯片测试装置实施例的测试方法，包括以下步骤：
42.s1、操作人员将未测试的flash芯片14通过芯片测试夹具13进行固定；
43.s2、电机a10工作通过牵引皮带11带动手动夹具12输送至u型架18位置处；
44.s3、感应组件感应手动夹具12到位后，电机a10停止工作，升降装置22带动电性接口b24下降与电性接口a15完成配对连接；
45.s4、mcu主控设备4向芯片测试夹具13发送测试信号，芯片测试夹具13对flash芯片14进行测试，测试不合格的，芯片测试夹具13上的警示组件工作；
46.s5、测试完毕后，电机a10工作，继续开展测试工作，操作人员将测试好的flash芯片14取下，并在牵引皮带11的上料端继续将未测试的flash芯片14放在芯片测试夹具13上。
47.本实施例中，flash芯片14通过牵引皮带11输送，到位后自动测试，测试期间操作人员可以放置未测试的flash芯片14，也可以取下测试过的flash芯片14，即flash芯片14安装和拆卸过程并不占用额外的时间，能提高flash芯片14的测试效率。
48.上面结合附图对本发明的实施方式作了详细说明，但是本发明并不限于此，在所属技术领域的技术人员所具备的知识范围内，在不脱离本发明宗旨的前提下还可以作出各种变化。

技术特征：
1.一种多通道flash芯片测试装置，其特征在于，包括支撑架a(1)、mcu主控设备(4)、显示设备(6)、工作平台(7)、牵引皮带(11)、夹持测试组件、u型架(18)和升降装置(22)；夹持测试组件包括手动夹具(12)和芯片测试夹具(13)；mcu主控设备(4)设置在支撑架a(1)上，支撑架a(1)上竖直设置支撑架b(5)；显示设备(6)设置在支撑架b(5)顶部；工作平台(7)设置在支撑架a(1)顶部，工作平台(7)两端均设置支撑板(8)，支撑板(8)上转动设置转轴a(9)，转轴a(9)上设置多组皮带轮，工作平台(7)两端相对的皮带轮通过一组牵引皮带(11)传动连接，支撑板(8)上设置有带动转轴a(9)转动的电机a(10)；手动夹具(12)设置在在牵引皮带(11)上；芯片测试夹具(13)设置在手动夹具(12)上，芯片测试夹具(13)上夹持flash芯片(14)，芯片测试夹具(13)上设置电性接口a(15)和警示组件，测试不合格时警示组件工作；u型架(18)设置在支撑架a(1)顶部，u型架(18)上设置有感应手动夹具(12)位置的感应组件；升降装置(22)设置在u型架(18)顶部内壁上，升降装置(22)底部设置平板(23)，平板(23)上设置与电性接口a(15)配合的电性接口b(24)，升降装置(22)数量与牵引皮带(11)数量相等。2.根据权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于，mcu主控设备(4)与电机a(10)控制连接，mcu主控设备(4)与感应组件、芯片测试夹具(13)、电性接口b(24)以及显示设备(6)均电性连接。3.根据权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于，支撑架a(1)底部设置多组升降调平脚(2)和多组万向轮(3)，工作状态下，万向轮(3)与地面不接触。4.根据权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于，工作平台(7)上设置多组条形槽，牵引皮带(11)的上方水平段位于条形槽内，手动夹具(12)与工作平台(7)接触贴合。5.根据权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于，警示组件包括内置电源和警示灯(17)；内置电源和警示灯(17)均设置在芯片测试夹具(13)上，mcu主控设备(4)与警示灯(17)控制连接，电性接口a(15)和电性接口b(24)配合接通时，内置电源进入充电状态，flash芯片(14)测试不合格时警示灯(17)亮起。6.根据权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于，芯片测试夹具(13)上竖直设置多组导向杆(16)，平板(23)上设置有供导向杆(16)穿过的导向孔。7.根据权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于，感应组件包括电机b(19)、转轴b(20)和挡板(21)；转轴b(20)转动设置在u型架(18)内壁上，电机b(19)设置在u型架(18)上并带动转轴b(20)转动，挡板(21)顶部与转轴b(20)连接，挡板(21)底部位于工作平台(7)上方且与手动夹具(12)前侧面接触，挡板(21)朝向手动夹具(12)的端面上设置压力传感器，mcu主控设备(4)与压力传感器信号传输连接，mcu主控设备(4)与电机b(19)控制连接。8.一种根据权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：s1、操作人员将未测试的flash芯片(14)通过芯片测试夹具(13)进行固定；s2、电机a(10)工作通过牵引皮带(11)带动手动夹具(12)输送至u型架(18)位置处；s3、感应组件感应手动夹具(12)到位后，电机a(10)停止工作，升降装置(22)带动电性
接口b(24)下降与电性接口a(15)完成配对连接；s4、mcu主控设备(4)向芯片测试夹具(13)发送测试信号，芯片测试夹具(13)对flash芯片(14)进行测试，测试不合格的，芯片测试夹具(13)上的警示组件工作；s5、测试完毕后，电机a(10)工作，继续开展测试工作，操作人员将测试好的flash芯片(14)取下，并在牵引皮带(11)的上料端继续将未测试的flash芯片(14)放在芯片测试夹具(13)上。

技术总结
本发明涉及芯片测试装置领域，具体为一种多通道FLASH芯片测试装置，其包括支撑架a、MCU主控设备、显示设备、工作平台、牵引皮带、夹持测试组件、U型架和升降装置；MCU主控设备设置在支撑架a上；显示设备设置在支撑架b顶部；工作平台设置在支撑架a顶部，转轴a上设置多组皮带轮，相对的皮带轮通过牵引皮带传动连接，支撑板上设置电机a；手动夹具设置在在牵引皮带上；芯片测试夹具设置在手动夹具上，芯片测试夹具上设置电性接口a和警示组件；升降装置设置在U型架顶部内壁上，升降装置底部设置平板，平板上设置电性接口b。本发明中，FLASH芯片安装和拆卸过程并不占用额外的时间，能提高FLASH芯片的测试效率。FLASH芯片的测试效率。FLASH芯片的测试效率。


技术研发人员：任军 杨帅 唐伟童
受保护的技术使用者：恒烁半导体（合肥）股份有限公司
技术研发日：2023.02.21
技术公布日：2023/7/13