指令测试方法、智能终端及其计算机可读存储介质与流程

1.本技术涉及芯片存储
技术领域：
：，特别是涉及一种指令测试方法、智能终端及其计算机可读存储介质。
背景技术：
：：2.主机的命令中一般设置有执行超时时间，当命令的处理时间(即延时时间)达到设定的超时时间时，主机就会出现异常行为。基于此，现有技术中是通过检测主机产生异常行为及其时间节点，进而判断主机的命令中设定的超时时间。3.在目前如emmc固件等储存芯片的研发过程中，当需要其测试出主机(如台式计算机、智能手机或智能平板等)的命令超时时间时，一般测试的方式为更改存储芯片的固件，为该命令增加一定的延迟处理时间，并通过逻辑分析仪或协议分析仪来抓取主机在执行该命令时何时出现的异常行为，从而得到主机命令的超时时间。通过这种方式检测主机命令的超时时间过程比较繁琐，并且不能让储存芯片在正常使用过程中自动检测并记录主机的超时时间。技术实现要素：4.为解决上述问题，本技术提供了一种指令测试方法，能够测试出智能终端因执行延时指令而产生的异常行为及其延时时间，进而判断出测试指令的超时时间。5.本技术采用的一个技术方案是：提供一种指令检测方法，该指令测试方法应用于存储芯片，该方法包括：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。6.其中，对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令，包括：初始化第一指令的延时时间为0；对第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的第二指令。7.其中，对第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的第二指令包括：对第一指令递增至少一次一预设延时时间，以得到对应次数延时后的第二指令；其中，响应于第一指令每递增一次预设延时时间，基于第二指令对智能终端进行一次异常行为检测并记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。8.其中，基于第二指令对智能终端进行异常行为检测，包括：将第二指令返回至智能终端，以使智能终端执行第二指令；基于智能终端执行第二指令，对智能终端进行异常行为检测。9.其中，响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间，包括：响应于智能终端出现异常行为且第二指令的延时时间不大于最大延时时间，停止对第一指令进行延时处理以及停止对智能终端进行异常行为检测；记录当前第一指令、第二指令及其相应的延时时间。10.其中，该方法还包括：响应于智能终端未出现异常行为且第二指令的延时时间等于最大延时时间，停止对第一指令进行延时处理以及停止对智能终端进行异常行为检测；记录第一指令、当前第二指令及其相应的延时时间。11.其中，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间，包括：将当前第一指令、第二指令及其相应的延时时间记录在一数据表中；其中，响应于每对智能终端进行一次异常行为检测，在数据表中记录一次第一指令、第二指令及其相应的延时时间。12.其中，该方法还包括：获取数据读取指令；其中，数据读取指令由智能终端产生；根据数据读取指令，将数据表中的当前记录数据返回至智能终端。13.为解决上述技术问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种智能终端，该智能终端包括一存储芯片，存储芯片内包括处理器以及与处理器连接的存储器；其中，存储器中存储有程序数据，处理器调取存储器存储的程序数据，以执行如上所述的指令测试方法。14.为解决上述技术问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质内部存储有程序指令；其中，程序指令被执行以实现如上所述的指令测试方法。15.本技术的有益效果在于：本技术的方案提供一种指令检测方法，该指令测试方法应用于存储芯片，该包括：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。通过上述的指令测试方法，根据智能终端执行延时后第二指令，而对该智能终端进行异常行为检测，能够测试出智能终端是否产生异常行为及其延时时间，进而判断出该测试指令的超时时间。附图说明16.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本技术附图获得其他的附图。其中：17.图1是本技术提供的指令测试方法第一实施例的流程示意图；18.图2是对第一指令进行延时处理一实施例的流程示意图；19.图3是基于第二指令对智能终端进行异常行为检测一实施例的流程示意图；20.图4是响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间一实施例的流程示意图；21.图5是本技术提供的指令测试方法第二实施例的流程示意图；22.图6是步骤24一实施例的流程示意图；23.图7是储存芯片的数据表一实施例的示意图；24.图8是本技术提供的指令测试方法第三实施例的流程示意图；25.图9是本技术提供的指令测试方法第四实施例的示意图；26.图10是本技术提供的指令测试方法第五实施例的示意图；27.图11为本技术提供的一种智能终端的结构示意图；28.图12为本技术提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。具体实施方式29.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。30.在申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。31.本技术实施例中的步骤并不一定是按照所描述的步骤顺序进行处理，可以按照需求有选择的将步骤打乱重排，或者删除实施例中的步骤，或者增加实施例中的步骤，本技术实施例中的步骤描述只是可选的顺序组合，并不代表本技术实施例的所有步骤顺序组合，实施例中的步骤顺序不能认为是对本技术的限制。32.本技术实施例中的术语“和/或”指的是包括相关联的列举项目中的一个或多个的任何和全部的可能组合。还要说明的是：当用在本说明书中时，“包括/包含”指定所陈述的特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件的存在，但是不排除一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件和/或它们的组群的存在或添加。33.本技术中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。34.另外，本技术中尽管多次采用术语“第一”、“第二”等来描述各种指令(或各种阈值或各种应用或各种元件或各种操作)等，不过这些指令(或阈值或应用或元件或操作)不应受这些术语的限制。这些术语只是用于区分一个指令(或阈值或应用或元件或操作)和另一个指令(或阈值或应用或元件或操作)。例如，第一预设延时时间可以被称为第二预设延时时间，第二预设延时时间也可以被称为第一预设延时时间，而不脱离本技术的范围，第一预设延时时间和第二预设延时时间都是一预设延时时间，只是二者并不是相同的预设延时时间而已。35.为详细说明本技术的技术内容、技术步骤、所实现的目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。36.参阅图1，图1是本技术提供的指令测试方法第一实施例的流程示意图，该方法包括：37.步骤11：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生。38.具体地，储存芯片从一与其连接的智能终端处获取第一指令。该储存芯片可为emmc存储芯片(embeddedmultimediacard)、nm卡(nanomemorycard)、sim卡(subscriberidentificationmodule)、sd卡(securedigitalmemorycard/sdcard)、ufs(universalflashstorage)或内存条等。该第一指令为控制智能终端运行的控制指令，如控制智能终端执行切屏、输入字符等操作，这里不做具体限定。39.可选地，本技术实施例的智能终端(如移动终端)可以以各种形式来实施。例如，本技术实施例中描述的智能终端可以包括诸如移动电话、智能电话、笔记本电脑、数字广播接收器、个人数字助理(pda，personaldigitalassistant)、平板电脑(pad)、便携式多媒体播放器(pmp，portablemediaplayer)、导航装置等等的移动终端以及诸如数字tv、台式计算机等等的固定终端。在本技术实施例中，假设该智能终端是移动终端。然而，本领域技术人员将理解的是，除了特别用于移动目的的元件之外，根据本技术的实施方式的构造也能够应用于固定类型的终端。40.步骤12：对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令。41.具体地，储存芯片通过提前烧录的算法对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令。42.其中，第一指令在智能终端生成时，其本身会带有一定的延时时间，即智能终端执行完成该第一指令时需要一定的处理时间。通过储存芯片对第一指令进行延时处理，将第一指令的延时时间设定在一预设值，进而得到延时后的第二指令。43.具体地，参阅图2，图2是对第一指令进行延时处理一实施例的流程示意图，该步骤12具体包括以下步骤：44.步骤121：初始化第一指令的延时时间为0。45.具体地，储存芯片通过提前烧录的算法将第一指令的延时时间初始化为0毫秒。46.步骤122：对第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的第二指令。47.具体地，储存芯片对第一指令递增至少一次一预设延时时间，以得到对应次数延时后的第二指令。其中，响应于第一指令每递增一次预设延时时间，储存芯片基于第二指令对智能终端进行一次异常行为检测并记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。48.在一实施例中，储存芯片对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令可以为：第一指令最初由储存芯片从智能终端处获取时的延时时间为50ms，储存芯片将该第一指令初始化，进而第一指令的延时时间为0ms。储存芯片再对初始化后的第一指令进行第一次递增延时处理，以得到第一次延时后的第二指令(具体为：储存芯片将第一指令的延时时间由0ms递增一次90ms的预设延时时间，进而第一次延时后的第二指令的延时时间为90ms)。储存芯片再基于该第一次延时后的第二指令对智能终端进行第一次异常行为检测并记录第一指令、第一次延时后的第二指令及其相应的延时时间(90ms)。可选地，在储存芯片对智能终端进行第一次异常行为检测并记录后，储存芯片还可以再对第一次递增延时处理后的第一指令进行至少一次的递增延时处理，以得到第n次延时后的第二指令。49.以储存芯片再对第一次递增延时处理后的第一指令进行两次的递增延时处理为例：储存芯片对第一次递增延时处理后的第一指令进行第二次递增延时处理，以得到第二次延时后的第二指令(具体为：储存芯片将第一次延时后的第二指令的延时时间由90ms递增一次90ms的预设延时时间，进而第二次延时后的第二指令的延时时间为180ms)。储存芯片再基于该第二次延时后的第二指令对智能终端进行第二次异常行为检测并记录第一指令、第二次延时后的第二指令及其相应的延时时间(180ms)。储存芯片再对第二次递增延时处理后的第一指令进行第三次递增延时处理，以得到第三次延时后的第二指令(具体为：储存芯片将第二次延时后的第二指令的延时时间由180ms递增一次90ms的预设延时时间，进而第三次延时后的第二指令的延时时间为270ms)。储存芯片再基于该第三次延时后的第二指令对智能终端进行第三次异常行为检测并记录第一指令、第三次延时后的第二指令及其相应的延时时间(270ms)。50.步骤13：基于第二指令对智能终端进行异常行为检测。51.具体地，储存芯片基于每一次智能终端执行对应次数延时后的第二指令进行一次异常行为检测。其中，智能终端的异常行为可以为死机、黑屏、蓝屏、出现错误码或执行错误操作指令等，这里不做具体限定。52.参阅图3，图3是基于第二指令对智能终端进行异常行为检测一实施例的流程示意图，该步骤13具体包括以下步骤：53.步骤131：将第二指令返回至智能终端，以使智能终端执行第二指令。54.具体地，储存芯片将每一次对应次数延时后的第二指令返回至智能终端，智能指端每一次根据该第二指令执行相应的功能操作。55.步骤132：基于智能终端执行第二指令，对智能终端进行异常行为检测。56.具体地，当智能指端每一次在根据第二指令执行相应的功能操作时，储存芯片实时检测智能终端在该次中是否出现异常行为。57.步骤14：响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。58.具体地，当储存芯片检测到当前一次智能终端出现异常行为时，储存芯片记录该第一指令以及当前的第二指令及其相应的延时时间。59.参阅图4，图4是响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间一实施例的流程示意图，该步骤14具体包括以下步骤：60.步骤141：响应于智能终端出现异常行为且第二指令的延时时间不大于最大延时时间，停止对第一指令进行延时处理以及停止对智能终端进行异常行为检测。61.具体地，当储存芯片检测到当前一次智能终端出现异常行为时，并且此时经过至少一次延时处理后的第二指令的延时时间不大于最大延时时间，则储存芯片停止对该第一指令进行再一次延时处理的操作以及立即停止对智能终端进行再一次异常行为检测的操作。62.其中，最大延时时间为第一指令的最大延时处理时间，即对第一指令进行至少一次的递增延时处理后，得到的第二指令的延时时间的最大延时值。例如，最大延时时间为900ms，则对第一指令最多进行十次90ms的递增延时处理。即在对第一指令进行第十次90ms的递增延时处理后，得到的第二指令的延时时间刚好为最大延时时间900ms。63.步骤142：记录第一指令、当前第二指令及其相应的延时时间。64.具体地，储存芯片将第一指令、当前经过至少一次延时处理后的第二指令及其相应的延时时间记录在储存芯片中。65.参阅图5，图5是本技术提供的指令测试方法第二实施例的流程示意图，该方法包括：66.步骤21：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生。67.步骤22：对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令。68.步骤23：基于第二指令对智能终端进行异常行为检测。69.其中，步骤21、步骤22和步骤23与上述实施例中的步骤11、步骤12和步骤13相似，这里不再赘述。70.步骤24：响应于智能终端未出现异常行为且第二指令的延时时间等于最大延时时间，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。71.具体地，当储存芯片对第一指令进行至少一次递增延时处理后，得到对应次数延时后的第二指令的延时时间等于最大延时时间时，储存芯片仍未检测出智能终端出现一次异常行为，则储存芯片记录该第一指令以及当前的第二指令及其相应的延时时间。72.参阅图6，图6是步骤24一实施例的流程示意图，该步骤24具体包括以下步骤：73.步骤241：响应于智能终端未出现异常行为且第一指令的延时时间等于最大延时时间，停止对第一指令进行延时处理以及停止对智能终端进行异常行为检测。74.步骤242：记录第一指令、当前第二指令及其相应的延时时间。75.具体地，当储存芯片检测到当前一次智能终端仍未出现异常行为时，并且此时经过至少一次延时处理后的第二指令的延时时间等于最大延时时间，则储存芯片停止对该第一指令进行再一次延时处理的操作以及立即停止对智能终端进行再一次异常行为检测的操作。76.进一步地，储存芯片将第一指令、当前经过至少一次延时处理后的第二指令及其相应的延时时间记录在储存芯片中。77.在本技术实施例中，储存芯片可将第一指令、经过至少一次延时处理后的第二指令及其相应的延时时间记录在储存芯片的一数据表中。其中，储存芯片响应于每对智能终端进行一次异常行为检测，均在其数据表中记录一次该次异常行为检测对应的第一指令、第二指令及其相应的延时时间。78.参阅图7，图7是储存芯片的数据表一实施例的示意图。其中，该数据表包括第一指令a，及其由第一指令a进行第一次递增延时后的第二指令a1，第二次递增延时后的第二指令a2，第三次递增延时后的第二指令a3，第四次递增延时后的第二指令a4。其中，第一指令a每一次进行递增延时所增加的第一预设延时时间为50ms，第一指令a对应延时后的第二指令的最大延时时间为300ms，储存芯片基于第二指令a1、第二指令a2和第二指令a3对智能终端进行异常行为检测，均未检测出异常行为，基于第二指令a4对智能终端进行异常行为检测，检测出异常行为。该数据表还包括第一指令b，及其由第一指令b进行第一次递增延时后的第二指令b1，第二次递增延时后的第二指令b2，第三次递增延时后的第二指令b3，第四次递增延时后的第二指令b4，第五次递增延时后的第二指令b5。其中，第一指令b每一次进行递增延时所增加的第一预设延时时间为100ms，第一指令b对应延时后的第二指令的最大延时时间为450ms，储存芯片基于第二指令b1、第二指令b2、第二指令b3和第二指令b4对智能终端进行异常行为检测，均未检测出异常行为，在基于第二指令b5对智能终端进行异常行为检测时，检测出智能终端出现异常行为，并且此时第二指令b5的延时时间只能增加到最大延时时间450ms，即第二指令b5的延时时间增加到最大延时时间后，智能终端执行第二指令b5时会出现异常行为。79.参阅图8，图8是本技术提供的指令测试方法第三实施例的流程示意图，该方法包括：80.步骤31：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生。81.步骤32：对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令。82.步骤33：基于第二指令对智能终端进行异常行为检测。83.其中，响应于智能终端未出现异常行为且第二指令的延时时间等于最大延时时间，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。84.其中，响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。85.其中，步骤31、步骤32和步骤33与上述实施例中的步骤11、步骤12、步骤13和步骤23相似，这里不再赘述。86.步骤34：获取数据读取指令；其中，数据读取指令由智能终端产生。87.具体地，智能终端可在任意一时刻产生一数据读取指令，该数据读取指令用于向存储芯片在相应的时刻提取数据表中的测试数据。88.步骤35：根据数据读取指令，将数据表中的当前记录数据返回至智能终端。89.具体地，存储芯片根据智能终端发送的数据读取指令，将其数据表中当前记录的测试数据返回至智能终端。其中，数据表中当前记录的测试数据包括当前已记录的所有第一指令、第二指令及其分别对应的延时时间与最大延时时间，与其分别对应的检测智能终端是否产生异常行为。90.参阅图9，图9是本技术提供的指令测试方法第四实施例的示意图。具体地，该方法包括以下步骤：91.第一步，智能终端确定指令测试开始，为存储芯片上电。92.第二步，存储芯片获取智能终端产生的第一指令。93.第三步，存储芯片对第一指令进行递增延时处理，以得到延时后的第二指令。94.第四步，存储芯片基于智能终端执行第二指令，对智能终端进行异常行为检测。其中，存储芯片响应于检测智能终端未出现异常行为且第二指令的延时时间等于最大延时时间，将测试的延时数据记录在一闪存的数据表中。存储芯片响应于检测智能终端出现异常行为，将测试的延时数据记录在一闪存的数据表中。95.第五步，存储芯片确定是否接收到智能终端产生的数据读取指令。其中，若是，则将数据表中的测试数据返回至主机。若否，则存储芯片确定是否全部第二指令已递增至最大延时时间或是否全部第二指令已测试出超时值。其中，第二指令的超时值为智能终端执行第二指令，并检测出智能终端出现异常行为时第二指令的延时时间。96.第六步，若全部第二指令未递增至最大延时时间或全部第二指令未测试出超时值，则返回第三步，对第一指令再次进行递增延时处理，以得到延时后的第二指令。若全部第二指令已递增至最大延时时间或全部第二指令已测试出超时值，则结束指令测试。97.可以理解的是，上述实施例均为存储芯片对第一指令进行递增延时处理，即当智能终端执行进行至少一次递增延时处理的第二指令时，智能终端将会由未出现异常行为状态转变为出现异常行为状态。可选地，在其他实施例中，存储芯片对第一指令进行递减延时处理，即当智能终端执行进行至少一次递减延时处理的第二指令时，智能终端将会由出现异常行为状态转变为未出现异常行为状态。98.参阅图10，图10是本技术提供的指令测试方法第五实施例的示意图。具体地，该方法包括以下步骤：99.第一步，智能终端确定指令测试开始，为存储芯片上电。100.第二步，存储芯片获取智能终端产生的第一指令。101.第三步，存储芯片对第一指令进行递减延时处理，以得到延时后的第二指令。其中，存储芯片初始化第一指令的延时时间为第三预设延时时间。当智能终端执行该第三预设延时时间的第一指令时，智能终端将会出现异常行为。102.第四步，存储芯片基于智能终端执行第二指令，对智能终端进行异常行为检测。其中，存储芯片响应于检测智能终端未出现异常行为，将测试的延时数据记录在一闪存的数据表中。存储芯片响应于检测智能终端出现异常行为，将测试的延时数据记录在一闪存的数据表中。103.第五步，存储芯片确定是否接收到智能终端产生的数据读取指令。其中，若是，则将数据表中的测试数据返回至主机。若否，则存储芯片确定是否全部第二指令已测试出超时值。其中，第二指令的超时值为智能终端执行第二指令，并检测出智能终端未出现异常行为时第二指令的延时时间。104.第六步，若全部第二指令未测试出超时值，则返回第三步，对第一指令再次进行递减延时处理，以得到延时后的第二指令。若全部第二指令已测试出超时值，则结束指令测试。105.区别于现有技术，本实施例提供的指令测试方法包括：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。通过上述方式，一方面，根据智能终端执行延时后第二指令，而对该智能终端进行异常行为检测，能够测试出主机是否产生异常行为及其产生异常行为的延时时间，进而判断出该测试指令的超时时间。另一方面，将每一次对智能终端进行异常行为检测时产生的数据记录在数据表中，使用户能够随时提取每一指令的延时数据和智能终端执行每一指令的异常行为数据，进而便于用户对测试指令和智能终端进行后续相关分析。106.参阅图11，图11为本技术提供的一种智能终端的结构示意图，该智能终端100包括一存储芯片103，存储芯片103内包括处理器101以及与处理器101连接的存储器102；其中，存储器102中存储有程序数据，处理器101调取存储器102存储的程序数据，以执行上述的指令测试方法。107.其中，存储芯片103包括一命令处理时间控制模块，用于对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；主机异常行为检测模块，用于基于第二指令对智能终端100进行异常行为检测；命令超时时间记录模块，用于记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间；超时时间读取模块，用于将存储芯片中的数据表中的当前记录数据返回至智能终端100。108.可选地，在一实施例中，存储芯片103中的处理器101用于执行程序数据以实现如下方法：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。109.其中，处理器101还可以称为cpu(centralprocessingunit，中央处理单元)。处理器101可能是一种电子芯片，具有信号的处理能力。处理器101还可以是通用处理器、数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。110.存储器102可以为闪存、内存条、tf卡等，可以存储智能终端100中的全部信息，包括输入的原始数据、计算机程序、中间运行结果和最终运行结果都保存在存储器102中。它根据处理器101指定的位置存入和取出信息。有了存储器102，智能终端100才有记忆功能，才能保证正常工作。智能终端100的存储器102按用途可分为主存储器(内存)和辅助存储器(外存),也有分为外部存储器和内部存储器的分类方法。外存通常是磁性介质或光盘等，能长期保存信息。内存指主板上的存储部件，用来存放当前正在执行的数据和程序，但仅用于暂时存放程序和数据，关闭电源或断电，数据会丢失。111.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法和装置，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的智能终端100的实施方式仅仅是示意性的，例如，初始化第一指令的延时时间为0以及对第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的第二指令，仅仅为一种集合的方式，实际实现时可以有另外的划分方式，例如基于至少一次延时后的第二指令对智能终端进行异常行为检测可以结合或者可以集合到另一个系统中，或一些特征可以忽略，或不执行。112.另外，在本技术各个实施例中的各功能单元(如对第一指令延时模块和对智能终端进行异常行为检测模块等)可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。113.参阅图12，图12为本技术提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图，该计算机可读存储介质110中存储有能够实现上述所有方法的程序指令111。114.在本技术各个实施例中的各功能单元集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在计算机可读存储介质110中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机可读存储介质110在一个程序指令111中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，系统服务器，或者网络设备等)、电子设备(例如mp3、mp4等，也可以是手机、平板电脑、可穿戴设备等移动终端，也可以是台式电脑等)或者处理器(processor)以执行本技术各个实施方式方法的全部或部分步骤。115.可选地，在一实施例中，程序指令111在被处理器执行时，用以实现如下方法：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。116.本领域内的技术人员应明白，本技术的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本技术可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本技术可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可读存储介质110(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。117.本技术是参照根据本技术实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机可读存储介质110实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机可读存储介质110到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的程序指令111产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。118.这些计算机可读存储介质110也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储介质110中的程序指令111产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。119.这些计算机可读存储介质110也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的程序指令111提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。120.在一实施例中，这些可编程数据处理设备上包括处理器和存储器。处理器还可以称为cpu(centralprocessingunit，中央处理单元)。处理器可能是一种电子芯片，具有信号的处理能力。处理器还可以是通用处理器、数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。121.存储器可以为内存条、tf卡等，它根据处理器指定的位置存入和取出信息。存储器按用途可分为主存储器(内存)和辅助存储器(外存),也有分为外部存储器和内部存储器的分类方法。外存通常是磁性介质或光盘等，能长期保存信息。内存指主板上的存储部件，用来存放当前正在执行的数据和程序，但仅用于暂时存放程序和数据，关闭电源或断电，数据会丢失。122.以上所述仅为本技术的实施方式，并非因此限制本技术的专利范围，凡是根据本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的
技术领域：
：，均同理包括在本技术的专利保护范围内。当前第1页12当前第1页12
技术特征：
1.一种指令测试方法，其特征在于，所述方法应用于存储芯片，所述方法包括：获取第一指令；其中，所述第一指令由一智能终端产生；对所述第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于所述第二指令对所述智能终端进行异常行为检测；响应于所述智能终端出现异常行为，记录所述第一指令、所述第二指令及其相应的延时时间。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令，包括：初始化所述第一指令的延时时间为0；对所述第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的所述第二指令。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的所述第二指令包括：对所述第一指令递增至少一次一预设延时时间，以得到对应次数延时后的所述第二指令；其中，响应于所述第一指令每递增一次所述预设延时时间，基于所述第二指令对所述智能终端进行一次异常行为检测并记录所述第一指令、所述第二指令及其相应的延时时间。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二指令对所述智能终端进行异常行为检测，包括：将所述第二指令返回至所述智能终端，以使所述智能终端执行所述第二指令；基于所述智能终端执行所述第二指令，对所述智能终端进行异常行为检测。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应于所述智能终端出现异常行为，记录所述第一指令、所述第二指令及其相应的延时时间，包括：响应于所述智能终端出现异常行为且所述第二指令的延时时间不大于最大延时时间，停止对所述第一指令进行延时处理以及停止对所述智能终端进行异常行为检测；记录所述第一指令、当前所述第二指令及其相应的延时时间。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：响应于所述智能终端未出现异常行为且所述第二指令的延时时间等于最大延时时间，停止对所述第一指令进行延时处理以及停止对所述智能终端进行异常行为检测；记录所述第一指令、当前所述第二指令及其相应的延时时间。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述记录所述第一指令、所述第二指令及其相应的延时时间，包括：将当前所述第一指令、所述第二指令及其相应的延时时间记录在一数据表中；其中，响应于每对所述智能终端进行一次异常行为检测，在所述数据表中记录一次所述第一指令、所述第二指令及其相应的延时时间。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取数据读取指令；其中，所述数据读取指令由所述智能终端产生；根据所述数据读取指令，将所述数据表中的当前记录数据返回至所述智能终端。9.一种智能终端，其特征在于，所述智能终端包括一存储芯片，存储芯片内包括处理器以及与所述处理器连接的存储器；其中，所述存储器中存储有程序数据，所述处理器调取所述存储器存储的所述程序数据，以执行如权利要求1-8任意一项所述的指令测试方法。10.一种计算机可读存储介质，内部存储有程序指令，其特征在于，所述程序指令被执行以实现如权利要求1-8任一项所述的指令测试方法。

技术总结
本申请涉及芯片存储技术领域。公开了一种指令测试方法、智能终端及其计算机可读存储介质，该指令测试方法应用于存储芯片，该指令测试方法包括：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。通过上述的指令测试方法，能够测试出智能终端因执行延时指令而产生的异常行为及其延时时间，进而判断出测试指令的超时时间。进而判断出测试指令的超时时间。进而判断出测试指令的超时时间。


技术研发人员：吴巨潮 亢少将
受保护的技术使用者：深圳市江波龙电子股份有限公司
技术研发日：2021.12.31
技术公布日：2023/7/13