卷绕张力值确定方法、装置、计算机设备和存储介质与流程

1.本技术涉及卷绕电池技术领域，特别是涉及一种卷绕张力值确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。


背景技术：

2.现有的圆柱电芯张力控制一般是恒张力控制，或者是用恒力矩控制，或者是根据张力的上下限用分段张力控制，或者是根据张力上下限用线性张力控制，或者根据张力上下限用卷径倒数的张力控制。
3.但是，现有的这些方法在来料超过公差要求、厚度发生较大变化时，会由于张力调整不准，使得卷绕的产品质量不达标，导致原料的浪费。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对卷绕张力值不准确的技术问题，提供一种卷绕张力值确定方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
5.第一方面，本技术提供了一种卷绕张力值确定方法。所述方法包括：
6.获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；所述初始卷绕张力值表示所述来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
7.在所述当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径以及更新所述初始卷绕张力值；
8.根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值；所述当前卷绕张力值用于控制所述来料的当前卷绕力度。
9.在其中一个实施例中，所述初始卷绕张力值的更新过程，包括：
10.获取所述当前厚度和所述基准厚度之间的厚度差值；
11.根据所述初始卷绕张力值、所述基准厚度和所述厚度差值，更新所述初始卷绕张力值。
12.在其中一个实施例中，所述根据所述初始卷绕张力值、所述基准厚度和所述厚度差值，更新所述初始卷绕张力值，包括：
13.获取所述厚度差值与所述基准厚度之间的比值，作为对所述初始卷绕张力值的更新率；
14.根据所述更新率，对所述初始卷绕张力值进行更新处理，得到更新后的初始卷绕张力值。
15.在其中一个实施例中，所述根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径，包括：
16.获取所述来料卷绕的当前卷绕角度；
17.根据所述当前卷绕角度和所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径。
18.在其中一个实施例中，所述根据所述当前卷绕角度和所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径，包括：
19.获取所述当前卷绕角度和所述当前厚度之间的乘积，作为卷径变化量；
20.获取卷芯的直径，将所述卷径变化量与所述卷芯的直径相加，得到所述来料的当前卷径；所述卷芯用于卷绕所述来料。
21.在其中一个实施例中，所述根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值，包括：
22.获取所述来料卷绕的卷径范围和卷绕张力系数；
23.根据所述卷径范围、所述卷绕张力系数、所述更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值。
24.第二方面，本技术还提供了一种卷绕张力值确定装置。所述装置包括：
25.信息获取模块，用于获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；所述初始卷绕张力值表示所述来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
26.信息处理模块，用于在所述当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径以及更新所述初始卷绕张力值；
27.张力确定模块，用于根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值；所述当前卷绕张力值用于控制所述来料的当前卷绕力度。
28.第三方面，本技术还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
29.获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；所述初始卷绕张力值表示所述来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
30.在所述当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径以及更新所述初始卷绕张力值；
31.根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值；所述当前卷绕张力值用于控制所述来料的当前卷绕力度。
32.第四方面，本技术还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
33.获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；所述初始卷绕张力值表示所述来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
34.在所述当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径以及更新所述初始卷绕张力值；
35.根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值；所述当前卷绕张力值用于控制所述来料的当前卷绕力度。
36.第五方面，本技术还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
37.获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；所述初始卷绕张力值表示所述来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
38.在所述当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径以及更新所述初始卷绕张力值；
39.根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值；所述当前卷绕张力值用于控制所述来料的当前卷绕力度。
40.上述卷绕张力值确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，通过实时检测得到卷绕来料的当前厚度，当卷绕来料的厚度变化过大时，根据卷绕来料的当前厚度实时更新调整对应的初始卷绕张力值，进而得到准确的当前卷绕张力。避免了卷绕张力由于来料厚度变化过大导致的不准确问题，从而提高了卷绕产品的合格率。
附图说明
41.图1为一个实施例中卷绕张力值确定方法的应用环境图；
42.图2为一个实施例中卷绕张力值确定方法的流程示意图；
43.图3为一个实施例中初始卷绕张力的更新步骤的流程示意图；
44.图4为一个实施例中当前卷径的确定步骤的流程示意图；
45.图5为另一个实施例中卷绕张力值确定方法的完整流程示意图；
46.图6为一个实施例中卷绕张力值确定装置的结构框图；
47.图7为一个实施例中卷绕控制设备的内部结构图。
具体实施方式
48.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
49.本技术实施例提供的卷绕张力值确定方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，测厚设备102通过网络与卷绕控制设备104进行通信。卷绕控制设备104中包含有数据存储器和微处理器。卷绕控制设备104获取到测厚设备102测量到的针对待卷绕的来料的当前厚度，然后根据当前厚度更新从数据存储器中获取到初始卷绕张力值，最后根据更新后的初始卷绕张力值获取到当前卷绕张力值以控制来料的卷绕。其中，测厚设备102可以包括但不限于是激光测厚设备和超声波测厚设备等。卷绕控制设备104可以用可编程逻辑控制系统(plc控制系统)来实现。
50.在一个实施例中，如图2所示，提供了一种卷绕张力值确定方法，以该方法应用于图1中的卷绕控制设备104为例进行说明，包括以下步骤：
51.步骤201，获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；初始卷绕张力值表示来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值。
52.其中，初始卷绕张力值为来料在卷径最小时的卷绕张力值，即来料刚开始卷绕时的卷绕张力值。进一步地，最小卷径由具体操作中卷芯的直径决定，例如，卷芯的直径为10厘米，则来料刚开始卷绕时的卷径就是10厘米，即为最小卷径。
53.需要说明的是，卷绕张力值为施加于来料上的力，卷绕张力值的大小影响来料卷绕的松紧程度，卷绕张力越大，卷绕得越紧，反之亦然。
54.其中，基准厚度为不存在公差的来料理论厚度。
55.示例性地，卷绕控制设备104从测厚设备102中获取到待卷绕来料的当前厚度信息；并从数据存储器中查询得到用户预设的初始卷绕张力值。
56.步骤202，在当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据当前厚度，确定来料的当前卷径以及更新初始卷绕张力值。
57.其中，当前卷径为来料已经卷绕的卷径，包含了卷芯的直径。
58.示例性地，卷绕控制设备104计算出来料的当前厚度和基准厚度之间的厚度差值，并且判断厚度差值是否超过用户预设的变化阈值。当厚度差值超过变化阈值时，则卷绕控制设备104根据当前厚度，更新初始卷绕张力，同时计算出来料卷绕的当前卷径。
59.步骤203，根据更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值；当前卷绕张力值用于控制来料的当前卷绕力度。
60.其中，卷绕张力可以为锥度卷绕张力，即卷绕张力值应随着卷径的增大而减小，初始卷绕张力值为一次实际操作中的最大卷绕张力值。
61.示例性地，卷绕控制设备104根据更新后的初始卷绕张力和当前卷径，基于锥度卷绕张力的规律，计算得到来料在当前卷径下的当前卷绕张力值，以控制来料的卷绕操作。
62.上述卷绕张力值确定方法中，通过实时检测得到卷绕来料的当前厚度，当卷绕来料的厚度变化过大时，根据卷绕来料的当前厚度实时更新调整对应的初始卷绕张力值，进而得到准确的当前卷绕张力。避免了卷绕张力由于来料厚度变化过大导致的不准确问题，从而提高了卷绕产品的合格率。
63.在一个实施例中，如图3所示，上述步骤202中，初始卷绕张力值的更新过程，还可以通过以下步骤实现：
64.步骤301，获取当前厚度和基准厚度之间的厚度差值；
65.步骤302，根据初始卷绕张力值、基准厚度和厚度差值，更新初始卷绕张力值。
66.其中，厚度差值具体由当前厚度减去基准厚度得到，可以为正数或负数。
67.在同一个实施例中，上述步骤302根据初始卷绕张力值、基准厚度和厚度差值，更新初始卷绕张力值，还可以通过以下步骤实现：
68.步骤一，获取厚度差值与基准厚度之间的比值，作为对初始卷绕张力值的更新率；
69.步骤二，根据更新率，对初始卷绕张力值进行更新处理，得到更新后的初始卷绕张力值。
70.其中，更新率也可以为正数或负数，具体由厚度差值的正负确定。即当厚度差值为正数时，更新率为初始卷绕张力的增大率；当厚度差值为负数时，更新率为初始卷绕张力的减小率。
71.示例性地，通过公式t0’
＝(1+δh/h)*t0对初始卷绕张力的进行更新，其中t0为更新前的初始卷绕张力，t0’
为更新后的初始卷绕张力，δh为厚度差值，h为基准厚度。
72.本实施例中，通过确定的厚度差值，进而确定初始卷绕张力的更新率，实现初始卷绕张力基于来料当前厚度的动态调整，能够达到避免因来料厚度变化过大导致卷绕的产品不合格问题，提高了卷绕的产品的合格率。
73.在一个实施例中，如图4所示，上述步骤202根据当前厚度，确定来料的当前卷径，还可以通过以下步骤实现：
74.步骤401，获取来料卷绕的当前卷绕角度；
75.步骤402，根据当前卷绕角度和当前厚度，确定来料的当前卷径。
76.其中，当前卷绕角度由来料已经卷绕在卷芯上的圈数确定，也是卷芯已经旋转过的角度。
77.示例性地，当前卷绕角度可以通过卷芯控制器检测卷芯旋转过的角度确定。
78.在同一个实时例中，上述步骤402根据当前卷绕角度和当前厚度，确定来料的当前卷径，还可以通过以下步骤实现：
79.步骤一，获取当前卷绕角度和当前厚度之间的乘积，作为卷径变化量；
80.步骤二，获取卷芯的直径，将卷径变化量与卷芯的直径相加，得到来料的当前卷径。
81.示例性地，通过公式ri＝r0+h*θ计算得到当前卷径，其中ri为当前卷径，r0为卷芯直径，h为当前厚度，θ为当前卷绕角度。需要说明的是，上述公式是基于公开的阿基米德螺旋线的规律得到。
82.本实施例中，根据阿基米德螺旋线的规律确定的卷径计算方法，实时计算得到卷绕中的当前卷径，进而可以根据当前卷径确定对应的当前卷绕张力值。
83.在一个实施例中，上述步骤203根据更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值，还可以通过以下步骤实现：
84.步骤一，获取来料卷绕的卷径范围和卷绕张力系数；
85.步骤二，根据卷径范围、卷绕张力系数、更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值。
86.其中，卷径范围由最大卷径和最小卷径组成。
87.进一步地，最大卷径为实际操作中来料卷绕的产品需要达到的目标卷径；最小卷径为卷芯的直径。
88.其中，卷绕张力系数可以由用户预设，一般设定为0.6至0.8。
89.示例性地，获取到用户预设的产品目标卷径和卷芯的直径，分别作为最大卷径和最小卷径，组成来料卷绕的卷径范围，以及获取到用户预设的卷绕张力系数。然后通过公式ti＝t0’
*[1-k*(a/b)]，a＝r
i-r
min
，b＝r
max-r
min
，计算得到当前卷绕张力值，其中ti为当前卷绕张力值，t0’
为更新后的初始卷绕张力值，k为卷绕张力系数，ri为当前卷径，r
min
为最小卷径，r
max
为最大卷径。
[0090]
本实施例中，根据基于当前厚度更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，计算得到当前卷绕张力值，从而准确得到当前卷径对应的当前卷绕张力值，提升来料卷绕的产品的合格率，减少来料的浪费。
[0091]
在另一个实施例中，如图5所示，提供了一种卷绕张力值确定方法，包括以下步骤：
[0092]
步骤501，获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；初始卷绕张力值表示来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
[0093]
步骤502，在当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，获取当前厚度和基准厚度之间的厚度差值；
[0094]
步骤503，获取厚度差值与基准厚度之间的比值，作为对初始卷绕张力值的更新率；
[0095]
步骤504，根据更新率，对初始卷绕张力值进行更新处理，得到更新后的初始卷绕张力值；
[0096]
步骤505，获取来料卷绕的当前卷绕角度；
[0097]
步骤506，获取当前卷绕角度和当前厚度之间的乘积，作为卷径变化量；
[0098]
步骤507，获取卷芯的直径，将卷径变化量与卷芯的直径相加，得到来料的当前卷
径；卷芯用于卷绕来料；
[0099]
步骤508，获取来料卷绕的卷径范围和卷绕张力系数；
[0100]
步骤509，根据卷径范围、卷绕张力系数、更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值。
[0101]
示例性地，上述方法可以应用于卷绕电池工艺流程中，执行上述方法的卷绕控制设备可以是可编程逻辑控制系统(plc控制系统)，卷绕控制设备通过控制器局域网(canopen)通讯从测厚设备中获取到电极来料的当前厚度，其中测厚设备的重复精度为
±
0.3μm，并且安放在放卷辊后面、激光切割前的位置。卷绕控制设备还获取用户预设的针对于本次电极来料的初始卷绕张力值；当来料的当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值时(变化阈值预设为5μm)，获取到厚度差值和基准厚度之间的比值作为初始卷绕张力值的更新率，并完成初始卷绕张力值的更新处理。卷绕控制系统可以通过卷芯控制设备获取到电极来料卷绕的当前卷绕角度，也可以通过编码器测长辊得到电极来料已经卷绕的长度，间接计算得到当前卷绕角度。获取当前卷绕角度和当前厚度之间的乘积，作为卷径变化量，通过卷芯控制设备获取卷芯的直径，将卷径变化量与卷芯的直径相加，得到来料的当前卷径。将卷芯直径作为电极来料卷绕的最小卷径，卷绕电池的目标卷径作为电极来料卷绕的最大卷径，共同组成电极来料卷绕的卷径范围；以及获取用户预设的针对电极来料的卷绕张力系数；最后根据卷径范围、卷绕张力系数、更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对电极来料当前卷径的当前卷绕张力值，以实现对电极来料的卷绕张力控制。
[0102]
本实施例中，通过从来料源头上就开始实时检测得到卷绕来料的当前厚度，当卷绕来料的厚度变化过大时，根据卷绕来料的当前厚度实时更新调整对应的初始卷绕张力值，进而得到准确的当前卷绕张力。能够解决由于极片来料厚度较大变化导致极耳对齐度等超出公差要求等问题，减少卷绕后人工测量矫正导致的中间电芯材料浪费和卷绕工时浪费，同时提高了产品良率和设备效率。
[0103]
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
[0104]
基于同样的发明构思，本技术实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的卷绕张力值确定方法的卷绕张力值确定装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个卷绕张力值确定装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于卷绕张力值确定方法的限定，在此不再赘述。
[0105]
在一个实施例中，如图6所示，提供了一种卷绕张力值确定装置，包括：信息获取模块601、信息处理模块602和张力确定模块603，其中：
[0106]
信息获取模块601，用于获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；初始卷绕张力值表示来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值。
[0107]
信息处理模块602，于在当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况
下，根据当前厚度，确定来料的当前卷径以及更新初始卷绕张力值。
[0108]
张力确定模块603，用于根据更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值；当前卷绕张力值用于控制来料的当前卷绕力度。
[0109]
在一个实施例中，上述信息处理模块602还用于，获取当前厚度和基准厚度之间的厚度差值；根据初始卷绕张力值、基准厚度和厚度差值，更新初始卷绕张力值。
[0110]
在一个实施例中，上述信息处理模块602还用于，获取厚度差值与基准厚度之间的比值，作为对初始卷绕张力值的更新率；根据更新率，对初始卷绕张力值进行更新处理，得到更新后的初始卷绕张力值。
[0111]
在一个实施例中，上述信息处理模块602还用于，获取来料卷绕的当前卷绕角度；根据当前卷绕角度和当前厚度，确定来料的当前卷径。
[0112]
在一个实施例中，上述信息处理模块602还用于，获取当前卷绕角度和当前厚度之间的乘积，作为卷径变化量；获取卷芯的直径，将卷径变化量与卷芯的直径相加，得到来料的当前卷径；卷芯用于卷绕来料。
[0113]
在一个实施例中，上述张力确定模块603还用于，获取来料卷绕的卷径范围和卷绕张力系数；根据卷径范围、卷绕张力系数、更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值。
[0114]
上述卷绕张力值确定装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
[0115]
在一个实施例中，提供了一种卷绕控制设备，该设备可以是终端，其内部结构图可以如图7所示。该设备包括处理器、存储器、输入/输出接口和通信接口。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该设备的处理器用于提供计算和控制能力。该设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过wifi、移动蜂窝网络、nfc(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种卷绕张力值确定方法。
[0116]
本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的卷绕控制设备的限定，具体的卷绕控制设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
[0117]
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
[0118]
获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；初始卷绕张力值表示来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
[0119]
在当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据当前厚度，确定来料的当前卷径以及更新初始卷绕张力值；
[0120]
根据更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值；当
前卷绕张力值用于控制来料的当前卷绕力度。
[0121]
在一个实施例中，还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例中的步骤。
[0122]
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0123]
获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；初始卷绕张力值表示来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
[0124]
在当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据当前厚度，确定来料的当前卷径以及更新初始卷绕张力值；
[0125]
根据更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值；当前卷绕张力值用于控制来料的当前卷绕力度。
[0126]
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
[0127]
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0128]
获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；初始卷绕张力值表示来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；
[0129]
在当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据当前厚度，确定来料的当前卷径以及更新初始卷绕张力值；
[0130]
根据更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值；当前卷绕张力值用于控制来料的当前卷绕力度。
[0131]
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
[0132]
需要说明的是，本技术所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等)，均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据，且相关数据的收集、使用和处理需要遵守相关国家和地区的相关法律法规和标准。
[0133]
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(read-only memory，rom)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(reram)、磁变存储器(magnetoresistive random access memory，mram)、铁电存储器(ferroelectric random access memory，fram)、相变存储器(phase change memory，pcm)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(random access memory，ram)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，ram可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(static random access memory，sram)或动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)等。本技术所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据
库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本技术所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
[0134]
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0135]
以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术的保护范围应以所附权利要求为准。

技术特征：
1.一种卷绕张力值确定方法，其特征在于，所述方法包括：获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；所述初始卷绕张力值表示所述来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；在所述当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径以及更新所述初始卷绕张力值；根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值；所述当前卷绕张力值用于控制所述来料的当前卷绕力度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始卷绕张力值的更新过程，包括：获取所述当前厚度和所述基准厚度之间的厚度差值；根据所述初始卷绕张力值、所述基准厚度和所述厚度差值，更新所述初始卷绕张力值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始卷绕张力值、所述基准厚度和所述厚度差值，更新所述初始卷绕张力值，包括：获取所述厚度差值与所述基准厚度之间的比值，作为对所述初始卷绕张力值的更新率；根据所述更新率，对所述初始卷绕张力值进行更新处理，得到更新后的初始卷绕张力值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径，包括：获取所述来料卷绕的当前卷绕角度；根据所述当前卷绕角度和所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述当前卷绕角度和所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径，包括：获取所述当前卷绕角度和所述当前厚度之间的乘积，作为卷径变化量；获取卷芯的直径，将所述卷径变化量与所述卷芯的直径相加，得到所述来料的当前卷径；所述卷芯用于卷绕所述来料。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值，包括：获取所述来料卷绕的卷径范围和卷绕张力系数；根据所述卷径范围、所述卷绕张力系数、所述更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值。7.一种卷绕张力值确定装置，其特征在于，所述装置包括：信息获取模块，用于获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；所述初始卷绕张力值表示所述来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；信息处理模块，用于在所述当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据所述当前厚度，确定所述来料的当前卷径以及更新所述初始卷绕张力值；张力确定模块，用于根据更新后的初始卷绕张力值和所述当前卷径，确定针对所述来料的当前卷绕张力值；所述当前卷绕张力值用于控制所述来料的当前卷绕力度。8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

技术总结
本申请涉及一种卷绕张力值确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，涉及卷绕电池技术领域。所述方法包括：获取待卷绕的来料的当前厚度和初始卷绕张力值；初始卷绕张力值表示来料在基准厚度下卷径最小时的卷绕张力值；在当前厚度相对于基准厚度的变化值超过变化阈值的情况下，根据当前厚度，确定来料的当前卷径以及更新初始卷绕张力值；根据更新后的初始卷绕张力值和当前卷径，确定针对来料的当前卷绕张力值。采用本方法能够根据卷绕来料的当前厚度实时更新调整对应的初始卷绕张力值，进而得到准确的当前卷绕张力。避免了卷绕张力由于来料厚度变化过大导致的不准确问题，从而提高了卷绕产品的合格率。从而提高了卷绕产品的合格率。从而提高了卷绕产品的合格率。


技术研发人员：廖事诚 杜建军 蒋宏涛 张续 孙小男
受保护的技术使用者：海目星激光科技集团股份有限公司
技术研发日：2023.03.17
技术公布日：2023/7/12