一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置的制作方法

1.本实用新型涉及粒度在线测量技术领域，具体为一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置。


背景技术：

2.循环流化床锅炉床料中的颗粒通常是粒径由小到大的宽筛分布，由于颗粒的直径不同，其流动工况和规律也各不相同。实践证明，入炉燃料的颗粒度对循环流化床锅炉的点火启动、运行控制、燃烧效率、风帽及水冷壁等部件的运行均有一定程度的影响。例如当颗粒偏大时可能会引发床压降低、床面温度不均匀等问题。循环流化床锅炉通常使用输送带将燃料运至锅炉，因此，对输送带上的入炉燃料颗粒粒度进行准确快速测量对锅炉安全经济运行具有重要意义。
3.循环流化床锅炉，燃料主要通过破煤机进行破碎后利用输送皮带和给料机运送到炉膛，现有的方法难以对堆积在输送皮带上的致密颗粒流进行测量，中国实用新型cn202120632869.3提出了一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，基于光散射原理，工业现场循环流化床床料输送过程中，可以实现宽筛分布颗粒粒度的在线原位测量，测量过程无需人工操作，测量结果准确及时，解决了现有的方法难以对堆积在输送皮带上的致密颗粒流进行测量这一技术问题，但是在实际使用过程中，破碎的煤颗粒在输送过程中灰尘量较大，较大的灰尘容易粘附在设备的透镜底面，不进行经常性清理会造成检测结果不精准的问题，因此，设计实用性强和能够对设备下端透镜底面进行自动清理的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置是很有必要的。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为了解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，包括输送带，所述输送带的上边缘前后两侧固定装配有支腿，前后所述支腿上端固定装配有宽筛分颗粒粒度探测机构，所述宽筛分颗粒粒度探测机构电连接有铠装电缆，且铠装电缆电连接有计算机，且计算机的机箱内集成有采集卡，所述宽筛分颗粒粒度探测机构下端装配有透镜升降调节结构，所述透镜升降调节结构和宽筛分颗粒粒度探测机构下端之间位置装配有透镜底面清洁结构。
6.根据上述技术方案，所述宽筛分颗粒粒度探测机构包括嵌入装配于外壳上表面中部的光纤分束器，所述宽筛分颗粒粒度探测机构的外壳上表面固定装配有激光器，且激光器输出端位于光纤分束器输入端正上方，所述宽筛分颗粒粒度探测机构的外壳内腔上端均匀横向固定装配有准直扩束器，且准直扩束器数量有三个，所述光纤分束器与三个所述准直扩束器之间连接有光纤，所述准直扩束器下方位置从上至下依次固定装配有分束器和透镜，所述分束器侧方位置固定装配有光电探测器，所述计算机与激光器电连接，且光电探测
器与采集卡电连接。
7.根据上述技术方案，所述透镜升降调节结构包括开设于宽筛分颗粒粒度探测机构外壳内腔下端的矩形环状凹槽，所述矩形环状凹槽上端左右两侧均固定装配有电动推杆，左右两侧所述电动推杆下端固定装配有透镜安装板，且透镜安装板滑动装配于矩形环状凹槽内，所述透镜外侧套接有圆筒，且圆筒固定装配于透镜安装板上开设的预留通孔内，所述透镜安装的数量有三个，所述透镜安装板上和宽筛分颗粒粒度探测机构下端之间位置均匀装配有透镜底面清洁结构，且透镜底面清洁结构与透镜一一对应。
8.根据上述技术方案，所述透镜底面清洁结构包括开设于透镜安装板上预留通孔内壁下端的环形槽，所述透镜外侧圆筒左右侧壁中部开设有第一吹气孔，且第一吹气孔内侧端朝向透镜底面边缘处，所述透镜外侧圆筒左右侧壁下端开设有第二吹气孔，且第二吹气孔内侧端朝向透镜底面中部，所述环形槽外壁固定连通有进气波纹管，所述宽筛分颗粒粒度探测机构壳体外壁下端固定装配有风机，且风机输出端与进气波纹管输入端之间相连通。
9.根据上述技术方案，所述宽筛分颗粒粒度探测机构前壁中部横向嵌入装配有光电探测器角度调节结构，且光电探测器角度调节结构的数量有三个，所述光电探测器角度调节结构包括开设于宽筛分颗粒粒度探测机构前壁的矩形窗口，且矩形窗口与光电探测器前后位置对应，所述矩形窗口内壁粘贴固定有玻璃板，所述玻璃板前壁中部开设有圆孔，所述圆孔内转动装配有操作杆，且操作杆后端固定连接于对应所述光电探测器上。
10.与现有技术相比，本实用新型所达到的有益效果是：
11.本实用新型，通过设置有宽筛分颗粒粒度探测机构，通过宽筛分颗粒粒度探测机构对输送带上的颗粒物进行光电探测，通过采集可接收探测得到的光电信号，并将光电信号传递至计算机进行分析计算，进而分析出输送带上颗粒的粒度情况，在使用时，通过透镜底面清洁结构对宽筛分颗粒粒度探测机构下端的透镜底面进行定期自动清理，避免造成检测结果不精准的问题出现。
附图说明
12.附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
13.图1是本实用新型主视结构示意图；
14.图2是本实用新型的宽筛分颗粒粒度探测机构结构示意图；
15.图3是本实用新型的透镜升降调节结构处的结构示意图；
16.图4是本实用新型图3中b处放大结构示意图；
17.图5是本实用新型图1中a处放大结构示意图。
18.图中：1-输送带、2-支腿、3-宽筛分颗粒粒度探测机构、31-光纤分束器、32-激光器、33-透镜、34-准直扩束器、35-分束器、36-光电探测器、4-铠装电缆、5-计算机、6-采集卡、7-光电探测器角度调节结构、71-矩形窗口、72-玻璃板、73-圆孔、74-操作杆、8-透镜升降调节结构、81-矩形环状凹槽、82-电动推杆、83-透镜安装板、9-透镜底面清洁结构、91-环形槽、92-第一吹气孔、93-第二吹气孔、94-进气波纹管、95-风机。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
20.请参阅图1-5，本实用新型提供技术方案：一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，包括输送带1，输送带1的上边缘前后两侧固定装配有支腿2，前后支腿2上端固定装配有宽筛分颗粒粒度探测机构3，宽筛分颗粒粒度探测机构3电连接有铠装电缆4，且铠装电缆4电连接有计算机5，且计算机5的机箱内集成有采集卡6，宽筛分颗粒粒度探测机构3下端装配有透镜升降调节结构8，透镜升降调节结构8和宽筛分颗粒粒度探测机构3下端之间位置装配有透镜底面清洁结构9。
21.通过设置有宽筛分颗粒粒度探测机构3，通过宽筛分颗粒粒度探测机构3对输送带1上的颗粒物进行光电探测，通过采集可接收探测得到的光电信号，并将光电信号传递至计算机5进行分析计算，进而分析出输送带1上颗粒的粒度情况，在使用时，通过透镜底面清洁结构9对宽筛分颗粒粒度探测机构3下端的透镜33底面进行定期自动清理，避免造成检测结果不精准的问题出现。
22.具体而言，宽筛分颗粒粒度探测机构3包括嵌入装配于外壳上表面中部的光纤分束器31，宽筛分颗粒粒度探测机构3的外壳上表面固定装配有激光器32，且激光器32输出端位于光纤分束器31输入端正上方，宽筛分颗粒粒度探测机构3的外壳内腔上端均匀横向固定装配有准直扩束器34，且准直扩束器34数量有三个，光纤分束器31与三个准直扩束器34之间连接有光纤，准直扩束器34下方位置从上至下依次固定装配有分束器35和透镜33，分束器35侧方位置固定装配有光电探测器36，计算机5与激光器32电连接，且光电探测器36与采集卡6电连接。
23.具体而言，透镜升降调节结构8包括开设于宽筛分颗粒粒度探测机构3外壳内腔下端的矩形环状凹槽81，矩形环状凹槽81上端左右两侧均固定装配有电动推杆82，左右两侧电动推杆82下端固定装配有透镜安装板83，且透镜安装板83滑动装配于矩形环状凹槽81内，透镜33外侧套接有圆筒，且圆筒固定装配于透镜安装板83上开设的预留通孔内，透镜33安装的数量有三个，透镜安装板83上和宽筛分颗粒粒度探测机构3下端之间位置均匀装配有透镜底面清洁结构9，且透镜底面清洁结构9与透镜33一一对应，通过电动推杆82的驱动，左右两侧电动推杆82推动透镜安装板83上下移动，调节透镜33的位置。
24.具体而言，透镜底面清洁结构9包括开设于透镜安装板83上预留通孔内壁下端的环形槽91，透镜33外侧圆筒左右侧壁中部开设有第一吹气孔92，且第一吹气孔92内侧端朝向透镜33底面边缘处，透镜33外侧圆筒左右侧壁下端开设有第二吹气孔93，且第二吹气孔93内侧端朝向透镜33底面中部，环形槽91外壁固定连通有进气波纹管94，宽筛分颗粒粒度探测机构3壳体外壁下端固定装配有风机95，且风机95输出端与进气波纹管94输入端之间相连通。
25.通过风机95通电提供风力，风力沿着进气波纹管94进入到环形槽91内，气流从第一吹气孔92和第二吹气孔93喷出，喷射到透镜33地面，对粘附的灰尘进行风力清理。
26.具体而言，宽筛分颗粒粒度探测机构3前壁中部横向嵌入装配有光电探测器角度
调节结构7，且光电探测器角度调节结构7的数量有三个，光电探测器角度调节结构7包括开设于宽筛分颗粒粒度探测机构3前壁的矩形窗口71，且矩形窗口71与光电探测器36前后位置对应，矩形窗口71内壁粘贴固定有玻璃板72，玻璃板72前壁中部开设有圆孔73，圆孔73内转动装配有操作杆74，且操作杆74后端固定连接于对应光电探测器36上；通过转动操作杆74能够调节光电探测器36的角度。
27.工作原理：
28.本实用新型通过设置有宽筛分颗粒粒度探测机构3，通过宽筛分颗粒粒度探测机构3对输送带1上的颗粒物进行光电探测，通过采集可接收探测得到的光电信号，并将光电信号传递至计算机5进行分析计算，进而分析出输送带1上颗粒的粒度情况，在使用时，通过透镜底面清洁结构9对宽筛分颗粒粒度探测机构3下端的透镜33底面进行定期自动清理，避免造成检测结果不精准的问题出现。
29.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
30.最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

技术特征：
1.一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：包括输送带(1)，所述输送带(1)的上边缘前后两侧固定装配有支腿(2)，前后所述支腿(2)上端固定装配有宽筛分颗粒粒度探测机构(3)，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)电连接有铠装电缆(4)，且铠装电缆(4)电连接有计算机(5)，且计算机(5)的机箱内集成有采集卡(6)，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)下端装配有透镜升降调节结构(8)，所述透镜升降调节结构(8)和宽筛分颗粒粒度探测机构(3)下端之间位置装配有透镜底面清洁结构(9)。2.根据权利要求1所述的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)包括嵌入装配于外壳上表面中部的光纤分束器(31)，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)的外壳上表面固定装配有激光器(32)，且激光器(32)输出端位于光纤分束器(31)输入端正上方，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)的外壳内腔上端均匀横向固定装配有准直扩束器(34)，且准直扩束器(34)数量有三个，所述光纤分束器(31)与三个所述准直扩束器(34)之间连接有光纤，所述准直扩束器(34)下方位置从上至下依次固定装配有分束器(35)和透镜(33)，所述分束器(35)侧方位置固定装配有光电探测器(36)，所述计算机(5)与激光器(32)电连接，且光电探测器(36)与采集卡(6)电连接。3.根据权利要求2所述的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：所述透镜升降调节结构(8)包括开设于宽筛分颗粒粒度探测机构(3)外壳内腔下端的矩形环状凹槽(81)，所述矩形环状凹槽(81)上端左右两侧均固定装配有电动推杆(82)，左右两侧所述电动推杆(82)下端固定装配有透镜安装板(83)，且透镜安装板(83)滑动装配于矩形环状凹槽(81)内，所述透镜(33)外侧套接有圆筒，且圆筒固定装配于透镜安装板(83)上开设的预留通孔内，所述透镜(33)安装的数量有三个，所述透镜安装板(83)上和宽筛分颗粒粒度探测机构(3)下端之间位置均匀装配有透镜底面清洁结构(9)，且透镜底面清洁结构(9)与透镜(33)一一对应。4.根据权利要求3所述的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：所述透镜底面清洁结构(9)包括开设于透镜安装板(83)上预留通孔内壁下端的环形槽(91)，所述透镜(33)外侧圆筒左右侧壁中部开设有第一吹气孔(92)，且第一吹气孔(92)内侧端朝向透镜(33)底面边缘处，所述透镜(33)外侧圆筒左右侧壁下端开设有第二吹气孔(93)，且第二吹气孔(93)内侧端朝向透镜(33)底面中部，所述环形槽(91)外壁固定连通有进气波纹管(94)，所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)壳体外壁下端固定装配有风机(95)，且风机(95)输出端与进气波纹管(94)输入端之间相连通。5.根据权利要求4所述的一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，其特征在于：所述宽筛分颗粒粒度探测机构(3)前壁中部横向嵌入装配有光电探测器角度调节结构(7)，且光电探测器角度调节结构(7)的数量有三个，所述光电探测器角度调节结构(7)包括开设于宽筛分颗粒粒度探测机构(3)前壁的矩形窗口(71)，且矩形窗口(71)与光电探测器(36)前后位置对应，所述矩形窗口(71)内壁粘贴固定有玻璃板(72)，所述玻璃板(72)前壁中部开设有圆孔(73)，所述圆孔(73)内转动装配有操作杆(74)，且操作杆(74)后端固定连接于对应所述光电探测器(36)上。

技术总结
本实用新型公开一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置，通过设置有宽筛分颗粒粒度探测机构，通过宽筛分颗粒粒度探测机构对输送带上的颗粒物进行光电探测，通过采集可接收探测得到的光电信号，并将光电信号传递至计算机进行分析计算，进而分析出输送带上颗粒的粒度情况，在使用时，通过透镜底面清洁结构对宽筛分颗粒粒度探测机构下端的透镜底面进行定期自动清理，避免造成检测结果不精准的问题出现。现。现。


技术研发人员：柳钟丽 杨涛 赵小虎
受保护的技术使用者：苏州胤煌精密仪器科技有限公司
技术研发日：2022.11.30
技术公布日：2023/7/14