用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备与流程

1.本技术涉及报警感测器测试技术领域，例如涉及一种用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备。


背景技术：

2.芯片报警感测器，是为了保护芯片在正常的外部条件下工作。在超出正常工作条件的情况下，会触发相应的芯片报警感测器，芯片启动自保护，停止工作。例如，当芯片外部施加电压过低，芯片内部部分模块功能可能异常，进而导致芯片工作异常。如果芯片外部施加电压低于低压报警感测器配置的档位值，此时会触发低压报警感测器，使芯片启动自保护，停止工作。
3.在测试芯片报警感测器的极限参数(例如低压报警感测器各个档位的低压报警参数)的过程中，给报警感测器施加期望的不报警极限参数和报警极限参数，按照档位从大到小或从小到大的方式进行遍历测试，通过判断报警感测器的报警和不报警表现，验证报警感测器的各个分布档位是否满足报警要求。
4.在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：
5.在测试芯片报警感测器的极限参数的过程中，直接施加期望的不报警极限参数和报警极限参数来进行测试。当施加的期望不报警参数/报警参数超出芯片报警感测器的正常工作范围时，很容易导致芯片报警感测器测试失效。
6.需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本技术的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。


技术实现要素：

7.为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。
8.本公开实施例提供了一种用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备，以提高芯片报警感测器的测试良率。
9.在一些实施例中，用于测试报警感测器极限参数的方法包括：获得报警感测器的档位分布；根据档位分布计算报警感测器的第一测试参数；其中，第一测试参数为不易触发报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数；基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试。
10.在一些实施例中，用于测试报警感测器极限参数的装置包括：处理器和存储有程序指令的存储器，处理器被配置为在执行程序指令时，执行前述用于测试报警感测器极限参数的方法。
11.在一些实施例中，电子设备，包括：电子设备主体；以及前述用于测试报警感测器极限参数的装置，被安装于电子设备主体。
12.本公开实施例提供的用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备，可以实现以下技术效果：
13.本公开技术方案中，在对报警感测器的极限参数进行测试时，先根据报警感测器的档位分布计算第一测试参数，然后基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试。由于采用的第一测试参数为根据报警感测器的档位分布确定的测试参数，不易触发报警感测器的非正常工作参数范围，因而基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试，可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，有效提高了报警感测器的测试良率。
14.以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本技术。
附图说明
15.一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件，附图不构成比例限制，并且其中：
16.图1是本公开实施例提供的一个用于测试报警感测器极限参数的方法的流程示意图；
17.图2是本公开实施例提供的另一个用于测试报警感测器极限参数的方法的流程示意图；
18.图3是本公开实施例提供的另一个用于测试报警感测器极限参数的方法的流程示意图；
19.图4是本公开实施例提供的一个报警感测器的遍历方式的示意图；
20.图5是本公开实施例提供的一个用于测试报警感测器极限参数的装置的结构示意图；
21.图6是本公开实施例提供的一个电子设备的结构示意图。
具体实施方式
22.为了能够更加详尽地了解本公开实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本公开实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本公开实施例。在以下的技术描述中，为方便解释起见，通过多个细节以提供对所披露实施例的充分理解。然而，在没有这些细节的情况下，一个或多个实施例仍然可以实施。在其它情况下，为简化附图，熟知的结构和装置可以简化展示。
23.本公开实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本公开实施例的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
24.除非另有说明，术语“多个”表示两个或两个以上。本公开实施例中，字符“/”表示前后对象是一种“或”的关系。例如，a/b表示：a或b。术语“和/或”是一种描述对象的关联关系，表示可以存在三种关系。例如，a和/或b，表示：a或b，或，a和b这三种关系。术语“对应”可以指的是一种关联关系或绑定关系，a与b相对应指的是a与b之间是一种关联关系或绑定关
系。
25.在晶圆制造完成之后，晶圆测试是一步非常重要的测试。这步测试是晶圆生产过程的成绩单。在测试过程中，每一个芯片的电性能力和电路机能都被检测到。晶圆测试也就是芯片测试(die sort)或晶圆电测(wafer sort)。测试是为了以下三个目标。第一，在晶圆送到封装工厂之前，鉴别出合格的芯片。第二，器件/电路的电性参数进行特性评估。工程师们需要监测参数的分布状态来保持工艺的质量水平。第三，芯片的合格品与不良品的核算会给晶圆生产人员提供全面业绩的反馈。
26.结合图1所示，本公开实施例提供一种晶圆测试中用于测试报警感测器极限参数的方法，包括以下步骤：
27.s101，获得报警感测器的档位分布。
28.报警感测器为通过感测施加的参数(例如电压、电流、温度等)而进行报警操作的装置，例如低压报警感测器/高压报警感测器、高电流报警感测器/低电流报警感测器、低温报警感测器/高温报警感测器等，在此不作限制。
29.报警感测器的档位分布用于指示报警感测器的各个档位与其相对应的极限参数的对应关系。
30.如下表1示出了一种可选的低压报警感测器的档位分布，在该低压报警感测器的档位分布中，各个档位的设计电压为等差排列，每两个相邻档位之间相差0.05v。
31.表1：低压报警感测器的档位分布
[0032][0033]
低压报警感测器的档位分布示出了低压报警感测器的各个档位与其相对应的极限参数的对应关系。
[0034]
如下表2示出了一种可选的高压报警感测器的档位分布，在该高压报警感测器的档位分布中，各个档位的设计电压为非等差排列，每两个相邻档位之间差值不一定相同。
[0035]
表2：高压报警感测器的档位分布
[0036][0037]
高压报警感测器的档位分布示出了高压报警感测器的各个档位与其相对应的极限参数的对应关系。
[0038]
s102，根据档位分布计算报警感测器的第一测试参数；其中，第一测试参数为不易触发报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数。
[0039]
这里，报警感测器的非正常工作范围参数为报警感测器的芯片容易功能异常，导致测试失效的工作参数范围。例如对于低压报警感测器，如果期望施加的测试参数为不报警电压为1.13v，报警电压为1.08v，而1.08v过低，处于报警感测器的非正常工作电压范围内，超出正常工作电压，可能导致报警感测器的芯片内部模块工作异常，导致测试失效。因此，选取不易触发报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数作为第一测试参数，来进行报警感测器的极限参数的遍历测试。
[0040]
s103，基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试。
[0041]
这里，极限参数为报警感测器的边界报警阈值。报警感测器的极限参数包括上极限参数和下极限参数。上极限参数为报警感测器的上边界报警阈值，下极限参数为报警感测器的下边界报警阈值。例如，对于高压报警感测器，其极限参数为上极限参数，为该高压报警感测器的高压报警阈值；对于低压报警感测器，其极限参数为下极限参数，为该低压报警感测器的低压报警阈值。
[0042]
可选地，基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试，包括：在报警感测器的极限参数为上极限参数的情况下，基于第一测试参数，按照从上限档位到下限档位的顺序对上极限参数进行遍历测试。
[0043]
可选地，基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试，包括：在报警感测器的极限参数为下极限参数的情况下，基于第一测试参数，按照从下限档位到上限档位的顺序对下极限参数进行遍历测试。
[0044]
例如，结合图4所示，对于四字节档位的高压报警感测器，基于第一测试参数，按照从上限档位(高压档位0001)到下限档位(低压档位1111)的顺序进行遍历测试。对于四字节档位的低压报警感测器，基于第一测试参数，按照从下限档位(低压档位0001)到上限档位
(高压档位1111)的顺序进行遍历测试。
[0045]
根据报警感测器的极限参数类型的不同，按照不同的顺序进行遍历测试，能够通过较少的次数完成遍历测试，确定多个测试档位中符合预期结果的目标测试档位。
[0046]
采用本公开实施例提供的用于测试报警感测器极限参数的方法，在对报警感测器的极限参数进行测试时，先根据报警感测器的档位分布计算第一测试参数，然后基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试。由于采用的第一测试参数为根据报警感测器的档位分布确定的测试参数，不易触发报警感测器的非正常工作参数范围，因而基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试，可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，有效提高了报警感测器的测试良率。
[0047]
结合图2所示，本公开实施例提供了一种用于测试报警感测器极限参数的方法，其根据档位分布计算报警感测器的第一测试参数包括以下步骤：
[0048]
s201，获得报警感测器的极限报警参数。
[0049]
报警感测器的极限报警参数为报警感测器中芯片的极限报警设计参数值。例如对于低压报警感测器，低压报警感测器中芯片的极限报警设计参数为1.1v，当外部施加的电压低于1.1v时，低压报警感测器进行报警。
[0050]
s202，获得档位分布的档位分布差值。
[0051]
可选地，获得档位分布的档位分布差值，包括按照如下公式计算档位分布差值：
[0052][0053]
其中，δp为档位分布差值，δp1为第一个档位分布差值，δpn为第n个档位分布差值，n为档位分布差值的个数，n≥2。
[0054]
例如，当n＝2时：
[0055][0056]
其中，δp为档位分布差值，δp1为第一个档位分布差值，δp2为第二个档位分布差值。
[0057]
当n＝4时：
[0058][0059]
其中，δp为档位分布差值，δp1为第一个档位分布差值，δp2为第二个档位分布差值，δp3为第三个档位分布差值，δp4为第四个档位分布差值。
[0060]
实际应用中，δp1也可以是多个档位分布差值中与平均档位分布差值的差值小于预设差值的第一个档位分布差值，δpn为多个档位分布差值中与平均档位分布差值的差值小于预设差值的第n个档位分布差值，n为多个档位分布差值中与平均档位分布差值的差值小于预设差值的档位分布差值的个数。
[0061]
通过求取多个档位分布差值的平均值，或者多个档位分布差值中与平均档位分布差值的差值小于预设差值的档位分布差值的平均值，来进一步进行第一测试参数的确定，
能更好地避免报警感测器通过非正常工作参数测试导致跑飞的情况发生，更有效地提高生产测试良率。
[0062]
s203，基于极限报警参数，根据档位分布差值计算第一测试参数。
[0063]
这里，第一测试参数包括第一测试参数上限值和第一测试参数下限值。
[0064]
实际应用中，第一测试参数上限值可以是报警测试参数，第一测试参数下限值可以是不报警测试参数；或者，第一测试参数上限值可以是不报警测试参数，第一测试参数下限值可以是报警测试参数。例如，对于低压报警感测器，电压上限值可以是不报警测试参数，电压下限值可以是报警测试参数；对于高压报警感测器，电压上限值可以是报警测试参数，电压下限值可以是不报警测试参数。
[0065]
可选地，基于极限报警参数，根据档位分布差值计算第一测试参数，包括按照如下公式计算第一测试参数上限值和第一测试参数下限值：
[0066][0067]
其中，p
up1
为第一测试参数上限值，p
down1
为第一测试参数下限值，p
goal
为极限报警参数，δp为档位分布差值，n为划分系数。
[0068]
划分系数n与档位分布差值δp负相关。档位分布差值δp越大，划分系数n越小；档位分布差值δp越小，划分系数n越大。
[0069]
例如，对于低压报警感测器，确定极限报警参数p
goal
为1.1v，档位分布差值δp为0.05v，划分系数n为2，则：
[0070]
第一测试参数上限值
[0071]
第一测试参数下限值
[0072]
本公开实施例中，基于极限报警参数，根据档位分布差值计算第一测试参数，并基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试，可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，避开可能导致报警感测器的芯片工作异常测试失效的风险，有效提高了报警感测器的测试良率，以及量产产能。
[0073]
结合图3所示，本公开实施例提供一种用于测试报警感测器极限参数的方法，包括以下步骤：
[0074]
s301，获得报警感测器的档位分布。
[0075]
s302，根据档位分布计算报警感测器的第一测试参数；其中，第一测试参数为不易触发报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数。
[0076]
s303，基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试。
[0077]
s304，对报警感测器的极限参数进行遍历测试后，确定多个测试档位中符合预期结果的目标测试档位。
[0078]
可选地，确定多个测试档位中符合预期结果的目标测试档位，包括：确定多个测试
档位中按照第一测试参数进行报警的测试档位；将按照第一测试参数进行报警的测试档位作为目标测试档位。
[0079]
对于低压报警感测器，给报警感测器(的测试芯片)施加期望的不报警电压，测试报警感测器是否报警，如未报警，证明报警感测器的该测试档位满足不报警要求；给报警感测器施加期望的报警电压，测试报警感测器是否报警，如报警，证明报警感测器的该测试档位满足报警要求。
[0080]
在不同测试档位测试结果分别是：
[0081]
测试档位1：不报警电压1.8v报警，报警电压1.7v报警；
[0082]
测试档位2：不报警电压1.8v报警，报警电压1.7v报警；
[0083]
测试档位3：不报警电压1.8v报警，报警电压1.7v报警；
[0084]
测试档位4：不报警电压1.8v不报警，报警电压1.7v报警；
[0085]
测试档位5：不报警电压1.8v不报警，报警电压1.7v不报警；
[0086]
测试档位6：不报警电压1.8v不报警，报警电压1.7v不报警。
[0087]
则：测试档位4为符合预期的测试档位，测试档位1-3、5-6为不符合预期的测试档位。
[0088]
s305，确定多个测试档位中除目标测试档位之外的其他测试档位的第二测试参数。
[0089]
可选地，多个测试档位为等差排列；确定多个测试档位中除目标测试档位之外的其他测试档位的第二测试参数，包括按照如下公式计算获得第二测试参数：
[0090][0091]
其中，p1为第一测试参数，p
21
为低于目标测试档位且距目标测试档位m1个间隔的测试档位的第二测试参数，p
22
为高于目标测试档位且距目标测试档位m2个间隔的测试档位的第二测试参数，δp为档位分布差值。
[0092]
例如，对于低压报警感测器，确定测试档位4为符合预期的测试档位后，当档位分布差值δp为0.05v时：
[0093]
测试档位6的不报警电压v
21
＝v
1-m1×
δv＝1.8-2
×
0.05＝1.7，报警电压v
21
＝v
1-m1×
δv＝1.7-2
×
0.05＝1.6。
[0094]
测试档位1的不报警电压v
22
＝v1+m1×
δv＝1.8+3
×
0.05＝1.95，报警电压v
22
＝v1+m1×
δv＝1.7+3
×
0.05＝1.85。
[0095]
s306，基于第二测试参数，对其他测试档位的极限参数进行测试。
[0096]
在确定第二测试参数后，利用其他每一测试档位所对应的第二测试参数，对该测试档位相应的极限参数进行测试验证。
[0097]
本公开实施例中，在对报警感测器的极限参数进行测试时，先根据报警感测器的档位分布计算第一测试参数，然后基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试，确定多个测试档位中符合预期结果的目标测试档位。接着，确定多个测试档位中除目标测试档位之外的其他测试档位的第二测试参数后，基于第二测试参数对其他测试档位的极限参数进行测试。由于采用的第一测试参数以及第二测试参数为根据报警感测器的档位分布确定的测试参数，不易触发报警感测器的非正常工作参数范围，因而基于第一测试参数
和第二测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试，可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，有效提高报警感测器的测试良率。
[0098]
在测试芯片报警感测器的极限参数的过程中，采用传统测试方式，直接施加期望的不报警极限参数和报警极限参数来进行测试，施加的期望不报警参数/报警参数超出芯片报警感测器的正常工作范围，导致芯片报警感测器测试失效的失效率高达1.5％-2％。而采用本公开申请实施例提供的测试方法，根据报警感测器的档位分布计算测试参数，然后基于计算获得的测试参数进行测试，能够很好地规避测试过程中超出报警感测器(的芯片)的正常工作范围的情况，芯片报警感测器测试失效的失效率降至0.2％-0.5％，效果十分明显。
[0099]
结合图5所示本公开实施例提供一种用于测试报警感测器极限参数的装置，包括处理器(processor)50和存储器(memory)51，还可以包括通信接口(communication interface)52和总线53。其中，处理器50、通信接口52、存储器51可以通过总线53完成相互间的通信。通信接口52可以用于信息传输。处理器50可以调用存储器51中的逻辑指令，以执行上述实施例的用于测试报警感测器极限参数的方法。
[0100]
此外，上述的存储器51中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
[0101]
存储器51作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序，如本公开实施例中的方法对应的程序指令/模块。处理器50通过运行存储在存储器51中的程序指令/模块，从而执行功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的用于测试报警感测器极限参数的方法。
[0102]
存储器51可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端设备的使用所创建的数据等。此外，存储器51可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器。
[0103]
采用本公开实施例提供的用于测试报警感测器极限参数的装置，在对报警感测器的极限参数进行测试时，先根据报警感测器的档位分布计算第一测试参数，然后基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试。由于采用的第一测试参数为根据报警感测器的档位分布确定的测试参数，不易触发报警感测器的非正常工作参数范围，因而基于第一测试参数对报警感测器的极限参数进行遍历测试，可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，有效提高了报警感测器的测试良率。
[0104]
结合图6所示，本公开实施例提供了一种电子设备(例如：计算机、服务器等)，包含电子设备主体60；以及上述的用于测试报警感测器极限参数的装置500，被安装于电子设备主体60。
[0105]
本公开实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令设置为执行上述用于测试报警感测器极限参数的方法。
[0106]
本公开实施例提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，使所述计算机执行上述用于测试报警感测器极限参数的方法。
[0107]
上述的计算机可读存储介质可以是暂态计算机可读存储介质，也可以是非暂态计算机可读存储介质。
[0108]
本公开实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括一个或多个指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本公开实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质可以是非暂态存储介质，包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等多种可以存储程序代码的介质，也可以是暂态存储介质。
[0109]
以上描述和附图充分地示出了本公开的实施例，以使本领域的技术人员能够实践它们。其他实施例可以包括结构的、逻辑的、电气的、过程的以及其他的改变。实施例仅代表可能的变化。除非明确要求，否则单独的部件和功能是可选的，并且操作的顺序可以变化。一些实施例的部分和特征可以被包括在或替换其他实施例的部分和特征。本公开实施例的范围包括权利要求书的整个范围，以及权利要求书的所有可获得的等同物。当用于本技术中时，虽然术语“第一”、“第二”等可能会在本技术中使用以描述各元件，但这些元件不应受到这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件与另一个元件区别开。例如，在不改变描述的含义的情况下，第一元件可以叫做第二元件，并且同样第，第二元件可以叫做第一元件，只要所有出现的“第一元件”一致重命名并且所有出现的“第二元件”一致重命名即可。第一元件和第二元件都是元件，但可以不是相同的元件。而且，本技术中使用的用词仅用于描述实施例并且不用于限制权利要求。如在实施例以及权利要求的描述中使用的，除非上下文清楚地表明，否则单数形式的“一个”(a)、“一个”(an)和“所述”(the)旨在同样包括复数形式。类似地，如在本技术中所使用的术语“和/或”是指包含一个或一个以上相关联的列出的任何以及所有可能的组合。另外，当用于本技术中时，术语“包括”(comprise)及其变型“包括”(comprises)和/或包括(comprising)等指陈述的特征、整体、步骤、操作、元素，和/或组件的存在，但不排除一个或一个以上其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或这些的分组的存在或添加。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法或者设备中还存在另外的相同要素。本文中，每个实施例重点说明的可以是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分可以互相参见。对于实施例公开的方法、产品等而言，如果其与实施例公开的方法部分相对应，那么相关之处可以参见方法部分的描述。
[0110]
本领域技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，可以取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。所述技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法以实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本公开实施例的范围。所述技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0111]
本文所披露的实施例中，所揭露的方法、产品(包括但不限于装置、设备等)，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，可以仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或
组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例。另外，在本公开实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
[0112]
附图中的流程图和框图显示了根据本公开实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这可以依所涉及的功能而定。在附图中的流程图和框图所对应的描述中，不同的方框所对应的操作或步骤也可以以不同于描述中所披露的顺序发生，有时不同的操作或步骤之间不存在特定的顺序。例如，两个连续的操作或步骤实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这可以依所涉及的功能而定。框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

技术特征：
1.一种用于测试报警感测器极限参数的方法，其特征在于，包括：获得报警感测器的档位分布；根据所述档位分布计算所述报警感测器的第一测试参数；其中，所述第一测试参数为不易触发所述报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数；基于所述第一测试参数，对所述报警感测器的极限参数进行遍历测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述档位分布计算所述报警感测器的第一测试参数，包括：获得所述报警感测器的极限报警参数；获得所述档位分布的档位分布差值；基于所述极限报警参数，根据所述档位分布差值计算所述第一测试参数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获得所述档位分布的档位分布差值，包括按照如下公式计算所述档位分布差值：其中，δp为档位分布差值，δp1为第一个档位分布差值，δp
n
为第n个档位分布差值，n为档位分布差值的个数，n≥2。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一测试参数包括第一测试参数上限值和第一测试参数下限值；所述基于所述极限报警参数，根据所述档位分布差值计算所述第一测试参数，包括按照如下公式计算所述第一测试参数上限值和所述第一测试参数下限值：其中，p
up1
为第一测试参数上限值，p
down1
为第一测试参数下限值，p
goal
为极限报警参数，δp为档位分布差值，n为划分系数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述报警感测器的极限参数包括上极限参数和下极限参数；所述基于所述第一测试参数，对所述报警感测器的极限参数进行遍历测试，包括：在所述报警感测器的极限参数为上极限参数的情况下，基于所述第一测试参数，按照从上限档位到下限档位的顺序对所述上极限参数进行遍历测试；在所述报警感测器的极限参数为下极限参数的情况下，基于所述第一测试参数，按照从下限档位到上限档位的顺序对所述下极限参数进行遍历测试。6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述报警感测器包括多个测试档位；所述方法还包括：对所述报警感测器的极限参数进行遍历测试后，确定所述多个测试档位中符合预期结果的目标测试档位；确定所述多个测试档位中除所述目标测试档位之外的其他测试档位的第二测试参数；
基于所述第二测试参数，对所述其他测试档位的极限参数进行测试。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述多个测试档位为等差排列；所述确定所述多个测试档位中除所述目标测试档位之外的其他测试档位的第二测试参数，包括按照如下公式计算获得所述第二测试参数：其中，p1为第一测试参数，p
21
为低于目标测试档位且距目标测试档位m1个间隔的测试档位的第二测试参数，p
22
为高于目标测试档位且距目标测试档位m2个间隔的测试档位的第二测试参数，δp为档位分布差值。8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定所述多个测试档位中符合预期结果的目标测试档位，包括：确定所述多个测试档位中按照所述第一测试参数进行报警的测试档位；将所述按照所述第一测试参数进行报警的测试档位作为所述目标测试档位。9.一种用于测试报警感测器极限参数的装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在执行所述程序指令时，执行如权利要求1至8任一项所述的用于测试报警感测器极限参数的方法。10.一种电子设备，其特征在于，包括：电子设备主体；如权利要求9所述的用于测试报警感测器极限参数的装置，被安装于所述电子设备主体。

技术总结
本申请涉及报警感测器测试技术领域，公开一种用于测试报警感测器极限参数的方法，包括：获得报警感测器的档位分布；根据档位分布计算报警感测器的第一测试参数；其中，第一测试参数为不易触发报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数；基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试。由于采用的第一测试参数为根据报警感测器的档位分布确定的测试参数，不易触发报警感测器的非正常工作参数范围，因而可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，有效提高了报警感测器的测试良率。本申请还公开一种用于测试报警感测器极限参数的装置及电子设备。测器极限参数的装置及电子设备。测器极限参数的装置及电子设备。


技术研发人员：李凯亮 胡博 陈凝 马迁
受保护的技术使用者：紫光同芯微电子有限公司
技术研发日：2022.12.20
技术公布日：2023/5/30