一种改进型的工具测量显微镜的制作方法

1.本实用新型涉及测量显微镜技术领域，具体为一种改进型的工具测量显微镜。


背景技术：

2.显微镜是现有光学仪器中较为常用的一种，用于观察肉眼难以直接观察到的微小物体，显微镜底端安装物镜，用于放大物体，物镜一般通过螺纹安装在显微镜上，在显微镜中，为了对载物台上的标本进行有效观察，需要调节载物台在左右、前后和上下方向上的位置，以使得标本的特定区域以适当的清晰程度呈现在观察视野中；
3.测量显微镜是采用用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于录像磁头、大规模集成电路线宽以及其它精密零件的测试仪器。广泛地适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门。工作台除作x、y坐标的移动外，还可以作360度的旋转，亦可以进行高度方向做z坐标的测量；照明系统除作透、反射照明外还可以作斜光线照明。仪器进一步可连接ccd电视摄像头，使工件的轮廓放大；亦可连接计算机进行数据处理等测量。光学测量显微镜：采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。主要运用于录像磁头、大规模集成电路线宽以及其它精密零件的测试。广泛地适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门。
4.针对现有专利cn202022613733.6，一种便于调节的工具测量显微镜，其装置内部的第一连接和第二连接杆之间设置的旋转轴体，当该装置需要对物件内侧的斜角或者弧度的内角进行观察的时候，可通过旋转轴体的转动，让第二连接杆带动显微镜主体进行相同角度的倾斜调节，使得该装置可以更加便捷进行检测，但其观察的显微镜物镜的螺纹最初较为光滑，随着长时间使用，容易产生磨损，其装置内部的物镜与显微镜时一体式结构，不能进行拆卸维护；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种改进型的工具测量显微镜。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于提供一种改进型的工具测量显微镜，以解决上述背景技术中提出的针对现有专利cn202022613733.6，一种便于调节的工具测量显微镜，其装置内部的第一连接和第二连接杆之间设置的旋转轴体，当该装置需要对物件内侧的斜角或者弧度的内角进行观察的时候，可通过旋转轴体的转动，让第二连接杆带动显微镜主体进行相同角度的倾斜调节，使得该装置可以更加便捷进行检测，但其观察的显微镜物镜的螺纹最初较为光滑，随着长时间使用，容易产生磨损，其装置内部的物镜与显微镜时一体式结构，不能进行拆卸维护等问题。
6.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种改进型的工具测量显微镜，包括显微镜基座，所述显微镜基座的右侧端角处固定连接有固定杆，且固定杆的靠近显微镜基座的一侧固定设有连接杆，所述连接杆的下方固定设有固定块，所述固定块的底端固定设有第二磁铁环，所述固定块的下方设置有物镜，所述物镜的上表面设置有第一磁铁环，
所述第一磁铁环的内侧设置有连接头，所述第一磁铁环与第二磁铁环磁性连接，所述固定块底部设置有底板，所述底板的下侧设置有连接孔和吸盘，所述物镜的内部设置有卡槽，所述固定块的内侧设置有挡板，所述挡板可在所述卡槽中滑动。
7.优选的，所述连接头设置为圆柱形，所述连接孔设置为圆弧槽形，所述连接头可在所述连接孔中滑动。
8.优选的，所述连接头和所述连接孔均设置有两个。
9.优选的，所述卡槽与所述挡板均设置有两个。
10.优选的，所述显微镜基座的底端对称设置有调节座，所述调节座包括底垫和螺杆，所述底垫的顶端固定连接有螺杆，且底垫的侧面固定连接有防滑条。
11.优选的，所述防滑条围绕着底垫的轴心等间距分布，所述底垫的底端固定连接有防滑凸粒，所述防滑凸粒均匀分布。
12.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
13.本实用新型通过将固定块上的连接孔与连接头配合插入，使第一磁铁环与第二磁铁环磁性配合固定，再旋转物镜使得挡板卡入卡槽中，即可完成装置物镜的安装，如需调整更换不同规格的物镜，先旋转物镜分开挡板和卡槽，再拉动物镜将第一磁铁环与第二磁铁环分开，即可取下物镜，通过设置的吸盘，提高了物镜安装时的稳定性，该装置结构稳定，拆卸安装方便，可以广泛使用。
附图说明
14.图1为本实用新型整体的侧视图；
15.图2为本实用新型整体的主视图；
16.图3为本实用新型整体的局部剖切结构示意图。
17.图中：1、显微镜基座；2、固定块；201、挡板；3、第一磁铁环；4、第二磁铁环；5、连接头；6、底板；7、连接孔；8、吸盘；9、物镜；901、卡槽；10、调节座。
具体实施方式
18.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
19.请参阅图1至图3，本实用新型提供的一种实施例：一种改进型的工具测量显微镜，包括显微镜基座1，显微镜基座1的右侧端角处固定连接有固定杆，且固定杆的靠近显微镜基座1的一侧固定设有连接杆，连接杆的下方固定设有固定块2，固定块2的底端固定设有第二磁铁环4，固定块2的下方设置有物镜9，物镜9的上表面设置有第一磁铁环3，第一磁铁环3的内侧设置有连接头5，第一磁铁环3与第二磁铁环4磁性连接，固定块2底部设置有底板6，底板6的下侧设置有连接孔7和吸盘8，物镜9的内部设置有卡槽901，固定块2的内侧设置有挡板201，挡板201可在卡槽901中滑动。
20.连接头5设置为圆柱形，连接孔7设置为圆弧槽形，连接头5可在连接孔7中滑动。连接头5和连接孔7均设置有两个。卡槽901与挡板201均设置有两个。通过采用上述技术方案，固定块2上的连接孔7与连接头5配合插入，使第一磁铁环3与第二磁铁环4磁性配合固定，再
旋转物镜9使得挡板201卡入卡槽901中，即可完成装置物镜9的安装。
21.显微镜基座1的底端对称设置有调节座10，调节座10包括底垫和螺杆，底垫的顶端固定连接有螺杆，且底垫的侧面固定连接有防滑条。防滑条围绕着底垫的轴心等间距分布，底垫的底端固定连接有防滑凸粒，防滑凸粒均匀分布。
22.使用时，将固定块2上的连接孔7与连接头5配合插入，使第一磁铁环3与第二磁铁环4磁性配合固定，再旋转物镜9使得挡板201卡入卡槽901中，即可完成装置物镜9的安装，如需调整更换不同规格的物镜9，先旋转物镜9分开挡板201和卡槽901，再拉动物镜9将第一磁铁环3与第二磁铁环4分开，即可取下物镜9。
23.对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。


技术特征：
1.一种改进型的工具测量显微镜，包括显微镜基座(1)，其特征在于：所述显微镜基座(1)的右侧端角处固定连接有固定杆，且固定杆的靠近显微镜基座(1)的一侧固定设有连接杆，所述连接杆的下方固定设有固定块(2)，所述固定块(2)的底端固定设有第二磁铁环(4)，所述固定块(2)的下方设置有物镜(9)，所述物镜(9)的上表面设置有第一磁铁环(3)，所述第一磁铁环(3)的内侧设置有连接头(5)，所述第一磁铁环(3)与第二磁铁环(4)磁性连接，所述固定块(2)底部设置有底板(6)，所述底板(6)的下侧设置有连接孔(7)和吸盘(8)，所述物镜(9)的内部设置有卡槽(901)，所述固定块(2)的内侧设置有挡板(201)，所述挡板(201)可在所述卡槽(901)中滑动。2.根据权利要求1所述的一种改进型的工具测量显微镜，其特征在于：所述连接头(5)设置为圆柱形，所述连接孔(7)设置为圆弧槽形，所述连接头(5)可在所述连接孔(7)中滑动。3.根据权利要求1所述的一种改进型的工具测量显微镜，其特征在于：所述连接头(5)和所述连接孔(7)均设置有两个。4.根据权利要求1所述的一种改进型的工具测量显微镜，其特征在于：所述卡槽(901)与所述挡板(201)均设置有两个。5.根据权利要求1所述的一种改进型的工具测量显微镜，其特征在于：所述显微镜基座(1)的底端对称设置有调节座(10)，所述调节座(10)包括底垫和螺杆，所述底垫的顶端固定连接有螺杆，且底垫的侧面固定连接有防滑条。6.根据权利要求5所述的一种改进型的工具测量显微镜，其特征在于：所述防滑条围绕着底垫的轴心等间距分布，所述底垫的底端固定连接有防滑凸粒，所述防滑凸粒均匀分布。

技术总结
本实用新型公开了一种改进型的工具测量显微镜，包括显微镜基座，所述显微镜基座的右侧端角处固定连接有固定杆，且固定杆的靠近显微镜基座的一侧固定设有连接杆，所述连接杆的下方固定设有固定块，所述固定块的底端固定设有第二磁铁环，所述固定块的下方设置有物镜，所述物镜的上表面设置有第一磁铁环，所述第一磁铁环的内侧设置有连接头，所述第一磁铁环与第二磁铁环磁性连接，所述所述固定块底部设置有底板，所述底板的下侧设置有连接孔和吸盘，所述物镜的内部设置有卡槽。本实用新型通过设置的吸盘8，提高了物镜9安装时的稳定性，该装置结构稳定，拆卸安装方便，可以广泛使用。可以广泛使用。可以广泛使用。


技术研发人员：陈连萍 曾刘霞
受保护的技术使用者：优正（广州）检测股份有限公司
技术研发日：2023.03.24
技术公布日：2023/7/20