一种两侧出料的集成电路封装测试设备的制作方法

1.本发明涉及集成电路封装测试技术领域，特别涉及一种两侧出料的集成电路封装测试设备。


背景技术：

2.集成电路封装在电子学金字塔中的位置既是金字塔的尖顶又是金字塔的基座，说它同时处在这两种位置都有很充分的根据，从电子元器件的密度这个角度上来说，ic代表了电子学的尖端，但是ic又是一个起始点，是一种基本结构单元，是组成我们生活中大多数电子系统的基础，发明人发现现有技术中至少存在如下问题没有得到解决：集成电路封装后，需要对其进行测试，以确保封装后的集成电路是否可以正常工作，在对集成电路封装进行电参数测量时，需要使用探针台进行电参数的测量，无法根据使用高度进行调整，且由于集成电路封装测试设备体积较大，人工搬运比较吃力，不利于人们使用，集成电路封装测试过程中，无法有效的对集成电路封装板进行夹持，无法适用不同尺寸的集成电路封装板使用；故此，我们提出一种两侧出料的集成电路封装测试设备。


技术实现要素：

3.本发明的主要目的在于提供一种两侧出料的集成电路封装测试设备，可以有效解决背景技术中的问题。
4.为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：
5.一种两侧出料的集成电路封装测试设备，包括工作台，所述工作台的下端活动连接有底座机构，所述工作台的前端左部与前端右部均通过铰链活动连接有柜门，所述工作台的左端上部与右端上部均开有一号凹槽，所述工作台的上端前部与上端后部均固定连接有限位板，右侧的所述一号凹槽的左槽壁固定连接有推动机构，所述工作台的上端固定连接有支撑板，所述支撑板的左板壁中部与右板壁中部均开有二号滑槽，所述支撑板的上端后部固定连接有驱动机构，所述支撑板的前端中部开有一号滑槽。
6.作为上述方案的进一步改进，所述驱动机构包括一号驱动器，所述一号驱动器的输出端贯穿支撑板并固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外表面活动连接有调节组件，所述调节组件的下端固定连接有测试台主体，所述测试台主体的下端固定连接有若干个探针，所述螺纹杆的下端通过轴承活动连接在一号滑槽的下槽壁，所述一号驱动器固定连接在支撑板的上端后部。
7.作为上述方案的进一步改进，所述调节组件包括调节块，所述调节块的前端固定连接有调节板，所述调节板的下端左部与下端右部均固定连接有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的内侧均固定连接有阻尼器，所述调节板的下端开有二号凹槽，所述调节块活动连接在螺纹杆的外表面。
8.作为上述方案的进一步改进，所述推动机构包括一号伸缩控制器，所述一号伸缩控制器的输出端贯穿工作台并固定连接有连接架，所述连接架内通过活动轴活动连接有齿
轮，所述齿轮的外表面上部与外表面下部分别啮合连接有一号齿板和二号齿板，所述一号齿板的上端固定连接有承载组件，所述承载组件的上端后部固定连接有若干个定位块，所述承载组件的前端中部通过螺栓固定连接有安装板，所述安装板的前端上部穿插固定连接有推动组件，所述一号伸缩控制器固定连接在右侧的一号凹槽的左槽壁。
9.作为上述方案的进一步改进，所述推动组件包括二号伸缩控制器，所述二号伸缩控制器的输出端贯穿安装板并固定连接有夹板，所述二号伸缩控制器固定连接在安装板的前端。
10.作为上述方案的进一步改进，所述承载组件包括承载板，所述承载板的下端前部与下端后部均开有限位槽，所述承载板的前端中部开有两个螺孔，所述承载板滑动连接在两个限位板的上端。
11.作为上述方案的进一步改进，所述调节块滑动连接在一号滑槽内，所述调节板的左右两侧分别滑动连接在两个二号滑槽内，所述调节板不与支撑板的内壁接触，两个所述缓冲弹簧呈左右对称分布。
12.作为上述方案的进一步改进，所述底座机构包括底板，所述底板的下端四角均固定连接有万向轮，所述底板的左端中部与右端中部均固定连接有固定板，两个所述固定板的上端中部均螺纹连接有调节螺杆，所述调节螺杆的下端均通过轴承活动连接有防滑板，所述底板固定连接在工作台的下端。
13.作为上述方案的进一步改进，所述二号齿板与一号齿板的结构相同且上下对称分布，所述二号齿板固定连接在工作台的上端中部，若干个所述定位块呈横向等距一一分布。
14.与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：
15.1、本发明中，通过利用一号驱动器的输出端作用，带动螺纹杆转动，使其调节块上的调节板上下活动，配合测试台主体使用，利用探针对集成电路封装件进行测试，调节板的下端左部与下端右部均固定安装缓冲弹簧，缓冲弹簧具有弹性，可缓冲冲击力，防止集成电路的触点受到过大的冲击力，降低了检测集成电路封装流程中的损坏率,实现了高度调节，易于操作。
16.2、本发明中，通过在工作台的下端安装底板，底板的下端四角均固定安装万向轮，便于整个设备移动，需要对设备固定时，手动顺时针旋转调节螺杆，使其防滑板接触地面，防滑板的下端面采用柔性的橡胶材料，增大与地面的阻力，避免位置发生位置，方便使用者使用，大大提高了使用的便捷性。
17.3、本发明中，通过启动二号伸缩控制器，利用二号伸缩控制器的输出端作用，带动夹板进行前后运动，配合若干个定位块使用，实现对集成电路封装件的夹固，可适用不同的尺寸大小的集成电路封装件夹固，增强适用性。
附图说明
18.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
19.图1为本发明一种两侧出料的集成电路封装测试设备的整体结构示意图；
20.图2为本发明一种两侧出料的集成电路封装测试设备的驱动机构的结构示意图；
21.图3为本发明一种两侧出料的集成电路封装测试设备的调节组件的结构示意图；
22.图4为本发明一种两侧出料的集成电路封装测试设备的底座机构的结构示意图；
23.图5为本发明一种两侧出料的集成电路封装测试设备的推动机构的结构示意图；
24.图6为本发明一种两侧出料的集成电路封装测试设备的推动组件的结构示意图；
25.图7为本发明一种两侧出料的集成电路封装测试设备的承载组件的结构示意图。
26.图中：1、工作台；2、底座机构；3、柜门；4、一号凹槽；5、推动机构；6、驱动机构；7、一号滑槽；8、二号滑槽；9、支撑板；10、限位板；61、一号驱动器；62、调节组件；63、螺纹杆；64、探针；65、测试台主体；621、调节块；622、缓冲弹簧；623、阻尼器；624、调节板；625、二号凹槽；21、底板；22、万向轮；23、调节螺杆；24、固定板；25、防滑板；51、一号伸缩控制器；52、承载组件；53、一号齿板；54、定位块；55、安装板；56、推动组件；57、二号齿板；58、齿轮；59、连接架；561、二号伸缩控制器；562、夹板；521、承载板；522、螺孔；523、限位槽。
具体实施方式
27.为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
28.在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
29.在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
30.下面结合附图对本发明的技术方案进一步说明。
31.如图1-7所示，一种两侧出料的集成电路封装测试设备，包括工作台1，工作台1的下端活动连接有底座机构2，工作台1的前端左部与前端右部均通过铰链活动连接有柜门3，工作台1的左端上部与右端上部均开有一号凹槽4，工作台1的上端前部与上端后部均固定连接有限位板10，右侧的一号凹槽4的左槽壁固定连接有推动机构5，工作台1的上端固定连接有支撑板9，支撑板9的左板壁中部与右板壁中部均开有二号滑槽8，支撑板9的上端后部固定连接有驱动机构6，支撑板9的前端中部开有一号滑槽7。
32.驱动机构6包括一号驱动器61，一号驱动器61的输出端贯穿支撑板9并固定连接有螺纹杆63，螺纹杆63的外表面活动连接有调节组件62，调节组件62的下端固定连接有测试台主体65，测试台主体65的下端固定连接有若干个探针64，螺纹杆63的下端通过轴承活动连接在一号滑槽7的下槽壁，一号驱动器61固定连接在支撑板9的上端后部；调节组件62包括调节块621，调节块621的前端固定连接有调节板624，调节板624的下端左部与下端右部均固定连接有缓冲弹簧622，缓冲弹簧622的内侧均固定连接有阻尼器623，调节板624的下
端开有二号凹槽625，调节块621活动连接在螺纹杆63的外表面；调节块621滑动连接在一号滑槽7内，调节板624的左右两侧分别滑动连接在两个二号滑槽8内，调节板624不与支撑板9的内壁接触，两个缓冲弹簧622呈左右对称分布；通过调节板624的下端左部与下端右部均固定连接有缓冲弹簧622，缓冲弹簧622具有弹性，可缓冲冲击力，防止集成电路的触点受到过大的冲击力，由于缓冲弹簧622的内侧均固定连接有阻尼器623,用于对缓冲弹簧622的弹性限位，避免弹力过大，影响使用效果，通过调节板624不与支撑板9的内壁接触，避免刮蹭影响使用。
33.推动机构5包括一号伸缩控制器51，一号伸缩控制器51的输出端贯穿工作台1并固定连接有连接架59，连接架59内通过活动轴活动连接有齿轮58，齿轮58的外表面上部与外表面下部分别啮合连接有一号齿板53和二号齿板57，一号齿板53的上端固定连接有承载组件52，承载组件52的上端后部固定连接有若干个定位块54，承载组件52的前端中部通过螺栓固定连接有安装板55，安装板55的前端上部穿插固定连接有推动组件56，一号伸缩控制器51固定连接在右侧的一号凹槽4的左槽壁；推动组件56包括二号伸缩控制器561，二号伸缩控制器561的输出端贯穿安装板55并固定连接有夹板562，二号伸缩控制器561固定连接在安装板55的前端；承载组件52包括承载板521，承载板521的下端前部与下端后部均开有限位槽523，承载板521的前端中部开有两个螺孔522，承载板521滑动连接在两个限位板10的上端；二号齿板57与一号齿板53的结构相同且上下对称分布，二号齿板57固定连接在工作台1的上端中部，若干个定位块54呈横向等距一一分布；通过二号伸缩控制器561的输出端贯穿安装板55并固定连接有夹板562，利用二号伸缩控制器561的输出端作用，带动夹板562进行前后运动，实现对集成电路封装件的夹固，方便后续测试工作，通过夹板562内侧采用柔性的橡胶材料，避免对集成电路封装件损坏，由于若干个定位块54呈横向等距一一分布，配合推动组件56使用，可适用不同的尺寸大小的集成电路封装件夹固。
34.底座机构2包括底板21，底板21的下端四角均固定连接有万向轮22，底板21的左端中部与右端中部均固定连接有固定板24，两个固定板24的上端中部均螺纹连接有调节螺杆23，调节螺杆23的下端均通过轴承活动连接有防滑板25，底板21固定连接在工作台1的下端；通过底板21的下端四角均固定连接有万向轮22，便于整个设备移动，需要对设备固定时，手动顺时针旋转调节螺杆23，使其防滑板25接触地面，防滑板25的下端面采用柔性的橡胶材料，增大与地面的阻力，避免位置发生位置。
35.综合上述，本发明在使用过程中，工作台1的下端安装底板21，底板21的下端四角均固定安装万向轮22，便于整个设备移动，需要对设备固定时，手动顺时针旋转调节螺杆23，使其防滑板25接触地面，防滑板25的下端面采用柔性的橡胶材料，增大与地面的阻力，避免位置发生位置，方便使用者使用，集成电路封装件放置在承载板521上，紧贴在若干个定位块54的前侧，启动二号伸缩控制器561，利用二号伸缩控制器561的输出端作用，带动夹板562进行前后运动，实现对集成电路封装件的夹固，可适用不同的尺寸大小的集成电路封装件夹固，增强适用性，启动一号伸缩控制器51，利用一号伸缩控制器51的输出端作用，带动连接架59上的齿轮58进行前后滚动，同时啮合一号齿板53与二号齿板57，带动一号齿板53上的承载板521在两个限位板10的上端滑动，使其平稳的进行左右调整，启动一号驱动器61，利用一号驱动器61的输出端作用，带动螺纹杆63转动，使其调节块621上的调节板624上下活动，配合测试台主体65使用，利用探针64对集成电路封装件进行测试，调节板624的下
端左部与下端右部均固定安装缓冲弹簧622，缓冲弹簧622具有弹性，可缓冲冲击力，防止集成电路的触点受到过大的冲击力，降低了检测集成电路封装流程中的损坏率，结构设计合理，便于多位置调整，提高了检测效率。
36.以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

技术特征：
1.一种两侧出料的集成电路封装测试设备，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的下端活动连接有底座机构(2)，所述工作台(1)的前端左部与前端右部均通过铰链活动连接有柜门(3)，所述工作台(1)的左端上部与右端上部均开有一号凹槽(4)，所述工作台(1)的上端前部与上端后部均固定连接有限位板(10)，右侧的所述一号凹槽(4)的左槽壁固定连接有推动机构(5)，所述工作台(1)的上端固定连接有支撑板(9)，所述支撑板(9)的左板壁中部与右板壁中部均开有二号滑槽(8)，所述支撑板(9)的上端后部固定连接有驱动机构(6)，所述支撑板(9)的前端中部开有一号滑槽(7)。2.根据权利要求1所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述驱动机构(6)包括一号驱动器(61)，所述一号驱动器(61)的输出端贯穿支撑板(9)并固定连接有螺纹杆(63)，所述螺纹杆(63)的外表面活动连接有调节组件(62)，所述调节组件(62)的下端固定连接有测试台主体(65)，所述测试台主体(65)的下端固定连接有若干个探针(64)，所述螺纹杆(63)的下端通过轴承活动连接在一号滑槽(7)的下槽壁，所述一号驱动器(61)固定连接在支撑板(9)的上端后部。3.根据权利要求2所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述调节组件(62)包括调节块(621)，所述调节块(621)的前端固定连接有调节板(624)，所述调节板(624)的下端左部与下端右部均固定连接有缓冲弹簧(622)，所述缓冲弹簧(622)的内侧均固定连接有阻尼器(623)，所述调节板(624)的下端开有二号凹槽(625)，所述调节块(621)活动连接在螺纹杆(63)的外表面。4.根据权利要求1所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述推动机构(5)包括一号伸缩控制器(51)，所述一号伸缩控制器(51)的输出端贯穿工作台(1)并固定连接有连接架(59)，所述连接架(59)内通过活动轴活动连接有齿轮(58)，所述齿轮(58)的外表面上部与外表面下部分别啮合连接有一号齿板(53)和二号齿板(57)，所述一号齿板(53)的上端固定连接有承载组件(52)，所述承载组件(52)的上端后部固定连接有若干个定位块(54)，所述承载组件(52)的前端中部通过螺栓固定连接有安装板(55)，所述安装板(55)的前端上部穿插固定连接有推动组件(56)，所述一号伸缩控制器(51)固定连接在右侧的一号凹槽(4)的左槽壁。5.根据权利要求4所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述推动组件(56)包括二号伸缩控制器(561)，所述二号伸缩控制器(561)的输出端贯穿安装板(55)并固定连接有夹板(562)，所述二号伸缩控制器(561)固定连接在安装板(55)的前端。6.根据权利要求4所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述承载组件(52)包括承载板(521)，所述承载板(521)的下端前部与下端后部均开有限位槽(523)，所述承载板(521)的前端中部开有两个螺孔(522)，所述承载板(521)滑动连接在两个限位板(10)的上端。7.根据权利要求2所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述调节块(621)滑动连接在一号滑槽(7)内，所述调节板(624)的左右两侧分别滑动连接在两个二号滑槽(8)内，所述调节板(624)不与支撑板(9)的内壁接触，两个所述缓冲弹簧(622)呈左右对称分布。8.根据权利要求1所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述底座机构(2)包括底板(21)，所述底板(21)的下端四角均固定连接有万向轮(22)，所述底板
(21)的左端中部与右端中部均固定连接有固定板(24)，两个所述固定板(24)的上端中部均螺纹连接有调节螺杆(23)，所述调节螺杆(23)的下端均通过轴承活动连接有防滑板(25)，所述底板(21)固定连接在工作台(1)的下端。9.根据权利要求5所述的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，其特征在于：所述二号齿板(57)与一号齿板(53)的结构相同且上下对称分布，所述二号齿板(57)固定连接在工作台(1)的上端中部，若干个所述定位块(54)呈横向等距一一分布。

技术总结
本发明公开了一种两侧出料的集成电路封装测试设备，包括工作台，所述工作台的下端活动连接有底座机构，所述工作台的前端左部与前端右部均通过铰链活动连接有柜门，所述工作台的左端上部与右端上部均开有一号凹槽，所述工作台的上端前部与上端后部均固定连接有限位板，右侧的所述一号凹槽的左槽壁固定连接有推动机构，所述工作台的上端固定连接有支撑板，所述支撑板的左板壁中部与右板壁中部均开有二号滑槽，所述支撑板的上端后部固定连接有驱动机构，所述支撑板的前端中部开有一号滑槽。本发明的一种两侧出料的集成电路封装测试设备，整个装置结构设计合理，实现多位置调整，且结构稳定，有利于集成电路封装测试工作中使用，适合广泛运用。适合广泛运用。适合广泛运用。


技术研发人员：胡隽 任晓伟
受保护的技术使用者：复汉海志(江苏)科技有限公司
技术研发日：2023.04.11
技术公布日：2023/7/20