惯性仪表震荡元件多模态及Q值测试方法及系统与流程

惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法及系统
技术领域
1.本发明属于陀螺仪测试技术领域，涉及一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法及系统，特别是一种用于石英音叉陀螺仪或硅微机电陀螺仪震荡元件模态与q值的测试方法及系统，实现石英和硅微机电陀螺研制前期表头性能初步评价和筛选。


背景技术：

2.微惯性仪表在研制过程中需要对表头性能进行初步评价和筛选，对于石英音叉陀螺和硅微机电陀螺来说，良好的性能很大程度上取决于表头的机械结构参数——谐振频率和q值，表头的谐振频率和q值是石英音叉陀螺和硅微机电陀螺的重要参数。石英音叉陀螺和硅微机电陀螺敏感元件都有驱动模态和检测模态，分别具有不同的谐振频率和q值。目前传统的谐振频率测量方法主要为扫频法，扫频法虽然结果可靠、原理简单，但是测试时间较长，在生产过程中效率较低；q值测量方法主要有频域测量法和时域测量法，其中频域测量法精度较低，时域测量法需要让敏感元件产生谐振。


技术实现要素：

3.本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
4.为此，本发明提供了一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法及系统。
5.本发明的技术解决方案如下：
6.根据一方面，提供一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法，该测试方法包括：
7.步骤一、将震荡元件接入测试电路中，并选择测试电路中的测试通道，所述测试电路包括驱动模态测试通道和检测模态测试通道；
8.步骤二、输出白噪声至所述测试电路以激励所述震荡元件，维持设定时间后撤掉白噪声信号并采集对应的输出信号；
9.步骤三、对所述输出信号进行fft处理；
10.步骤四、根据步骤三处理结果，当提取到谐振频率信息时，则输出频率为谐振频率的正弦信号至所述测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振；
11.步骤五、在谐振状态达到稳定后撤掉所述正弦信号；
12.步骤六、采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号；
13.步骤七、根据所述自由衰减信号获取q值；
14.步骤八、切换测试通道，重复步骤二到步骤七，测试另一模态的q值。
15.进一步地，所述自由衰减信号获取q值，包括：
16.采集自由衰减过程中的一段信号；
17.对一段信号中任意时刻的信号进行hilbert变换取包络和取对数处理；
18.对处理后的信号使用最小二乘拟合方法进行拟合，得到所述q值。
19.进一步地，通过下式表征自由衰减信号：
[0020][0021]
其中，x(t)为自由衰减信号，x0是衰减信号初始幅值，是衰减信号初始相位，t为时间，ω0为谐振频率。
[0022]
进一步地，通过下式获取处理后的信号：
[0023][0024]
其中，y(t)为处理后的信号。
[0025]
根据另一方面，提供一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，该测试系统包括：测试电路、信号输出和采集单元以及控制单元，所述信号输出和采集单元分别与所述测试电路和控制单元通信连接，所述测试电路包括驱动模态测试通道和检测模态测试通道，所述控制单元用于控制信号输出和采集单元进行信号输出和信号采集，其中，在确定的测试通道下，所述测试系统按照下述流程获取所述q值时，
[0026]
控制单元控制信号输出和采集单元输出通道选择信号和白噪声信号至所述测试电路以激励所述震荡元件持续设定时间，所述信号输出和采集单元撤掉白噪声信号后采集对应的第一输出信号并将其输出至控制单元，所述控制单元对第一输出信号进行fft处理，并在提取到谐振频率信息时，控制信号输出和采集单元输出频率为谐振频率的正弦信号至所述测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振，所述信号输出和采集单元还采集对应的第二输出信号并将其输出至控制单元，所述控制单元根据第二信号在判断谐振状态达到稳定时控制信号输出和采集单元撤掉所述正弦信号，所述信号输出和采集单元还采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号并输出至控制单元，所述控制单元根据所述自由衰减信号获取q值；控制单元将测试通道切换至另一测试通道，重复所述流程以获取另一测试通道下的q值。
[0027]
进一步地，所述信号输出和采集单元为采集卡。
[0028]
进一步地，所述惯性仪表震荡元件为石英音叉陀螺震荡元件，所述测试电路为石英音叉陀螺测试电路；或，所述惯性仪表震荡元件为硅微机电陀螺震荡元件，所述测试电路为硅微机电陀螺测试电路。
[0029]
进一步地，所述控制单元根据所述自由衰减信号获取q值，包括：
[0030]
所述控制单元对输入的一段自由衰减信号中任意时刻的信号进行hilbert变换取包络和取对数处理；并对处理后的信号使用最小二乘拟合方法进行拟合，得到所述q值。
[0031]
进一步地，通过下述获取自由衰减信号：
[0032][0033]
其中，x(t)为自由衰减信号，x0是衰减信号初始幅值，是衰减信号初始相位，t为时间，ω0为谐振频率。
[0034]
进一步地，通过下式获取处理后的信号：
[0035][0036]
其中，y(t)为处理后的信号。
[0037]
上述技术方案通过先输出白噪声激励震荡元件，对得到输出信号进行fft处理，当提取到谐振频率信息时，输出频率为谐振频率的正弦信号激励使震荡元件使其发生谐振，并在谐振状态达到稳定后撤掉正弦信号，采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号，根据自由衰减信号获取q值，也即通过非扫频方法及自动化测试，先测谐振频率再测q值，可有效减少测试时间，快速对表头性能进行初步评价和筛选，且本发明通过设计的测试电路实现了不同模态下的q值测试。
附图说明
[0038]
所包括的附图用来提供对本发明实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本发明的实施例，并与文字描述一起来阐释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0039]
图1示出了本发明实施例提供的适用于石英音叉陀螺的测试电路；
[0040]
图2示出了本发明实施例提供的适用于硅微机电陀螺的测试电路；
[0041]
图3示出了本发明实施例提供的测试系统示意图。
具体实施方式
[0042]
需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0043]
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本技术的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0044]
除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
[0045]
在本发明的一个实施例中，提供一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法，该
测试方法包括：
[0046]
步骤一、将震荡元件接入测试电路中，并选择测试电路中的测试通道，所述测试电路包括驱动模态测试通道和检测模态测试通道；
[0047]
步骤二、输出白噪声至所述测试电路以激励所述震荡元件，维持设定时间后撤掉白噪声信号并采集对应的输出信号；
[0048]
步骤三、对所述输出信号进行fft处理；
[0049]
步骤四、根据步骤三处理结果，当提取到谐振频率信息时，则输出频率为谐振频率的正弦信号至所述测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振；
[0050]
步骤五、在谐振状态达到稳定后撤掉所述正弦信号；
[0051]
步骤六、采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号；
[0052]
步骤七、根据所述自由衰减信号获取q值；
[0053]
步骤八、切换测试通道，重复步骤二到步骤七，测试另一模态的q值。
[0054]
本发明实施例中，震荡元件可以是石英音叉陀螺和硅微机电陀螺震荡元件，该元件具有选频特性，在此基础上，本发明实施例使用白噪声激励震荡元件，同时将震荡元件输出信号进行fft处理，根据频谱锁定谐振频率。通过谐振频率对锁定后，将角频率等于谐振频率的信号输入到陀螺震荡元件作为激励，这时候震荡元件处于谐振状态，待振动幅值达到最大时(即谐振状态稳定)，这时将激励撤掉，输出信号会进行自由衰减，对该自由衰减信号进行处理后，即可得到q值。
[0055]
举例来说，设定时间可以是几秒。
[0056]
具体来说：石英音叉陀螺和硅微机电陀螺震荡元件的机械模型传递函数为：
[0057][0058]
式中，s是拉氏空间的变量符号，k是和质量有关的系数，ω0是谐振角频率，q是品质因数。由表头模型可以推出其幅频特性为：
[0059][0060]
陀螺震荡元件q值一般很大，上式可知，当输入信号角频率为ω0时，输出信号幅值最大，为：
[0061][0062]
白噪声是全频域噪声电压密度为常数的噪声信号，用白噪声激励陀螺震荡元件，根据上述式子分析，输出信号中ω0角频率的信号成分是最强的，故ω0可通过对由白噪声激励震荡元件产生的输出信号进行fft分析后得到。通过对ω0锁定后，将角频率为ω0的信号输入到陀螺震荡元件作为激励，这时候震荡元件处于谐振状态，待振动幅值达到最大，这时将激励撤掉，输出信号将进行自由衰减。
[0063]
可见，本发明实施例通过先输出白噪声激励震荡元件，对得到输出信号进行fft处
理，当提取到谐振频率信息时，输出频率为谐振频率的正弦信号激励使震荡元件使其发生谐振，并在谐振状态达到稳定后撤掉正弦信号，采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号，根据自由衰减信号获取q值，也即通过非扫频方法及自动化测试，先测谐振频率再测q值，可有效减少测试时间，快速对表头性能进行初步评价和筛选，且本发明通过设计的测试电路实现了不同模态下的q值测试。
[0064]
在上述实施例中，所述自由衰减信号获取q值，包括：
[0065]
采集自由衰减过程中的一段信号；
[0066]
对一段信号中任意时刻的信号进行hilbert变换取包络和取对数处理；
[0067]
对处理后的信号使用最小二乘拟合方法进行拟合，得到所述q值。
[0068]
本发明实施例中，通过下式表征自由衰减信号：
[0069][0070]
其中，x(t)为自由衰减信号，x0是衰减信号初始幅值，是衰减信号初始相位，t为时间，ω0为谐振频率。
[0071]
本发明实施例中，通过下式获取处理后的信号：
[0072][0073]
其中，y(t)为处理后的信号。
[0074]
也即，激励撤掉，输出信号将会按如下式子自由衰减：
[0075][0076]
式中，x0是衰减信号初始幅值，是衰减信号初始相位。
[0077]
可见，衰减信号是一个幅值按指数衰减的正弦震荡衰减，将自由衰减信号用hilbert变换取包络，然后以自然数为底取对数，得：
[0078][0079]
可以看出，q值信息包含在上式的斜率中，只需采集自由衰减过程中的一段信号，使用最小二乘拟合方法按上式进行拟合，便可通过解出上式的斜率从而解出q值。
[0080]
此外，本发明实施例步骤二至步骤八可基于计算机编程实现自动化测试。
[0081]
如图1至图3所示，在本发明的另一实施例中，提供一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，该测试系统包括：测试电路、信号输出和采集单元以及控制单元，所述信号输出和采集单元分别与所述测试电路和控制单元通信连接，所述测试电路包括驱动模态测试通道和检测模态测试通道，所述控制单元用于控制信号输出和采集单元进行信号输出和采集，其中，在确定的测试通道下，所述测试系统按照下述流程获取所述q值：控制单元控制信号输出和采集单元输出通道选择信号和白噪声信号至所述测试电路以激励所述震荡元件持续设定时间(几秒)，所述信号输出和采集单元撤掉白噪声信号后采集对应的第一输出信号并将其输出至控制单元，所述控制单元对第一输出信号进行fft处理，并在提取到谐振
频率信息时，控制信号输出和采集单元输出频率为谐振频率的正弦信号至所述测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振，所述信号输出和采集单元还采集对应的第二输出信号并将其输出至控制单元，所述控制单元根据第二信号在判断谐振状态达到稳定时控制信号输出和采集单元撤掉所述正弦信号，所述信号输出和采集单元还采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号并输出至控制单元，所述控制单元根据所述自由衰减信号获取q值；控制单元将测试通道切换至另一测试通道，重复所述流程以获取另一测试通道下的q值。
[0082]
本发明实施例中，所述信号输出和采集单元为采集卡。所述控制单元可以为计算机。
[0083]
本发明实施例中，所述惯性仪表震荡元件为石英音叉陀螺震荡元件，所述测试电路为石英音叉陀螺测试电路；或，所述惯性仪表震荡元件为硅微机电陀螺震荡元件，所述测试电路为硅微机电陀螺测试电路。
[0084]
可见，本发明实施例通过控制单元控制采集板卡输出白噪声到本发明实施例所设计的测试电路，激励震荡元件，同时控制采集卡采集其输出信号，并对采集到的输出信号使用fft算法进行频域分析，提取谐振频率信息，提取到谐振频率信息时，使用控制单元控制采集板卡输出频率为谐振频率的正弦信号作为激励，使震荡元件发生谐振，稳定后，控制单元控制采集卡撤掉激励信号，同时控制采集板卡采集撤掉激励信号后震荡元件输出的自由衰减信号，根据自由衰减信号解算q值。也即通过非扫频方法及自动化测试，先测谐振频率再测q值，可有效减少测试时间，快速对表头性能进行初步评价和筛选，且本发明通过设计的测试电路实现了不同模态下的q值测试。
[0085]
具体来说，如图1所示，1、2，3、4分别是石英音叉驱动模态和检测模态的输入输出电极；5、6是石英音叉陀螺测试电路输入；7、8是石英音叉陀螺测试电路电荷放大器的输出；如图2所示，9、10，11、12分别是驱动激励正负电极和驱动检测正负电极；13、14，15、16分别是敏感激励正负电极和敏感检测正负电极；17、18是硅微机电陀螺测试电路输入；19、20是硅微机电陀螺测试电路电荷放大器的输出；如图3所示，21是pc端向采集卡发送的指令；22，23是采集卡向测试电路传输的信号；24是测试电路模拟信号输出；25是采集卡向pc端传输的采集数据。
[0086]
图1为石英音叉陀螺测试方案电路，通过采集卡将信号从电路的5、6端口输入，其中6端口输入激励信号，包括白噪声激励和定频正弦激励(信号22、23)，5端口输入开关信号，通过控制开关可自由选择测试通道为in1或者in2。当通道选择为in1时，是对石英音叉陀螺的震荡元件驱动模态进行测量，此电路通道输出为out1，是震荡元件驱动模态输出的电荷信号经电荷放大器后输出的信号。当通道选择为in2时，是对石英音叉陀螺的震荡元件检测模态进行测量，此电路通道输出为out2，是震荡元件检测模态输出的电荷信号经电荷放大器后输出的信号。
[0087]
图2为硅微机电陀螺测试方案电路。通过采集卡将信号从电路的17、18端口输入，其中18端口输入激励信号，包括白噪声激励和定频正弦激励(信号22、23)，17端口输入开关信号，通过控制开关可自由选择测试通道为in1或者in2。当通道选择为in1时，是对硅微机电陀螺的震荡元件驱动模态进行测量，硅微机电陀螺输入为差分输入输出，此时将in1信号分别通过同相跟随以及反向比例放大，将in1信号变成差分信号后输入到震荡元件的驱动模态，此电路通道输出为out1，是震荡元件驱动模态输出的电荷信号经电荷放大器后输出
的信号。当通道选择为in2时，是对硅微机电陀螺的震荡元件检测模态进行测量，硅微机电陀螺输入为差分输入输出，此时将in2信号分别通过同相跟随以及反向比例放大，将in2信号变成差分信号后输入到震荡元件的检测模态，此电路通道输出为out2，是震荡元件检测模态输出的电荷信号经电荷放大器后输出的信号。通过采集卡对不同电路的out1和out2信号进行采集，使用通用计算机先后对白噪声激励震荡元件的输出信号进行fft以及对定频正弦信号激励震荡元件的输出信号使用最小二乘法按相关式子进项拟合，可分别得到不同电路震荡元件相关模态的谐振频率和q值。
[0088]
本实施方式中系统数据流向如图3所示，通过计算机编程向采集卡按照具体实施步骤发送相关指令(指令21)控制采集卡生成相应的激励信号以及通道切换信号，作为测试电路的输入。同时采集卡会采集测试电路的输出(信号24)，将数据上传到通用计算机，计算机将采集信号进行相关的分析计算得出谐振频率和q值。
[0089]
较佳地，由于存在测试误差，谐振频率测量可能有细微的差别，导致每次测试的q值可能会有所稍微的不同，因为是计算机自动化测试，可以设置自动测试次数进行多次测量，选取其中q值最大的一次作为最终测量结果比较可靠。
[0090]
此外，所述控制单元根据所述自由衰减信号获取q值的原理与上述实施例方法相同，在此不再详细赘述。
[0091]
可见，本发明实施例使用运算放大器和模拟开关，搭建了适用于石英陀螺和硅微机电陀螺的测试电路，使用采集卡产生激励信号输入到测试电路以及实现测试电路输出信号的采集，使用计算机对信号进行分析求解陀螺震荡元件的多模态谐振频率和q值，通过特定时机不同信号的激励以及对相应测试电路信号输出信号的处理，准确得到了震荡元件q值。
[0092]
如上针对一种实施例描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施例中使用，和/或与其它实施例中的特征相结合或替代其它实施例中的特征使用。
[0093]
应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤、组件或其组合的存在或附加。
[0094]
本发明以上的方法可以由硬件实现，也可以由硬件结合软件实现。本发明涉及这样的计算机可读程序，当该程序被逻辑部件所执行时，能够使该逻辑部件实现上文所述的装置或构成部件，或使该逻辑部件实现上文所述的各种方法或步骤。本发明还涉及用于存储以上程序的存储介质，如硬盘、磁盘、光盘、dvd、flash存储器等。
[0095]
这些实施例的许多特征和优点根据该详细描述是清楚的，因此所附权利要求旨在覆盖这些实施例的落入其真实精神和范围内的所有这些特征和优点。此外，由于本领域的技术人员容易想到很多修改和改变，因此不是要将本发明的实施例限于所例示和描述的精确结构和操作，而是可以涵盖落入其范围内的所有合适修改和等同物。
[0096]
本发明未详细说明部分为本领域技术人员公知技术。

技术特征：
1.一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：步骤一、将震荡元件接入测试电路中，并选择测试电路中的测试通道，所述测试电路包括驱动模态测试通道和检测模态测试通道；步骤二、输出白噪声至所述测试电路以激励所述震荡元件，维持设定时间后撤掉白噪声信号并采集对应的输出信号；步骤三、对所述输出信号进行fft处理；步骤四、根据步骤三处理结果，当提取到谐振频率信息时，则输出频率为谐振频率的正弦信号至所述测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振；步骤五、在谐振状态达到稳定后撤掉所述正弦信号；步骤六、采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号；步骤七、根据所述自由衰减信号获取q值；步骤八、切换测试通道，重复步骤二到步骤七，测试另一模态的q值。2.根据权利要求1所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法，其特征在于，所述自由衰减信号获取q值，包括：采集自由衰减过程中的一段信号；对一段信号中任意时刻的信号进行hilbert变换取包络和取对数处理；对处理后的信号使用最小二乘拟合方法进行拟合，得到所述q值。3.根据权利要求2所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法，其特征在于，通过下式表征自由衰减信号：其中，x(t)为自由衰减信号，x0是衰减信号初始幅值，是衰减信号初始相位，t为时间，ω0为谐振频率。4.根据权利要求3所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试方法，其特征在于，通过下式获取处理后的信号：可其中，y(t)为处理后的信号。5.一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：测试电路、信号输出和采集单元以及控制单元，所述信号输出和采集单元分别与所述测试电路和控制单元通信连接，所述测试电路包括驱动模态测试通道和检测模态测试通道，所述控制单元用于控制信号输出和采集单元进行信号输出和采集，其中，在确定的测试通道下，所述测试系统按照下述流程获取所述q值：控制单元控制信号输出和采集单元输出通道选择信号和白噪声信号至所述测试电路以激励所述震荡元件持续设定时间，所述信号输出和采集单元撤掉白噪声信号后采集对应的第一输出信号并将其输出至控制单元，所述控制单元对第一输出信号进行fft处理，并在提取到谐振频率信息时，控制信号输出和采集单元输出频率为谐振频率的正弦信号至所述测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振，所述信号输出和采集单元还采集对应的第二输
出信号并将其输出至控制单元，所述控制单元根据第二信号在判断谐振状态达到稳定时控制信号输出和采集单元撤掉所述正弦信号，所述信号输出和采集单元还采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号并输出至控制单元，所述控制单元根据所述自由衰减信号获取q值；控制单元将测试通道切换至另一测试通道，重复所述流程以获取另一测试通道下的q值。6.根据权利要求5所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，其特征在于，所述信号输出和采集单元为采集卡。7.根据权利要求5或6所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，其特征在于，所述惯性仪表震荡元件为石英音叉陀螺震荡元件，所述测试电路为石英音叉陀螺测试电路；或，所述惯性仪表震荡元件为硅微机电陀螺震荡元件，所述测试电路为硅微机电陀螺测试电路。8.根据权利要求5所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，其特征在于，所述控制单元根据所述自由衰减信号获取q值，包括：所述控制单元对输入的一段自由衰减信号中任意时刻的信号进行hilbert变换取包络和取对数处理；并对处理后的信号使用最小二乘拟合方法进行拟合，得到所述q值。9.根据权利要求8所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，其特征在于，通过下述获取自由衰减信号：其中，x(t)为自由衰减信号，x0是衰减信号初始幅值，是衰减信号初始相位，t为时间，ω0为谐振频率。10.根据权利要求9所述的一种惯性仪表震荡元件多模态及q值测试系统，其特征在于，通过下式获取处理后的信号：其中，y(t)为处理后的信号。

技术总结
本发明提供一种惯性仪表震荡元件多模态及Q值测试方法及系统，包括：输出白噪声至测试电路以激励震荡元件，并采集对应的输出信号；对输出信号进行FFT处理；当提取到谐振频率信息时，则输出频率为谐振频率的正弦信号至测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振；在谐振状态达到稳定后撤掉正弦信号；采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号；根据自由衰减信号获取Q值；切换测试通道，重复步骤，测试另一模态的Q值。该技术方案通过非扫频方法及自动化测试，先测谐振频率再测Q值，可有效减少测试时间，快速对表头性能进行初步评价和筛选。速对表头性能进行初步评价和筛选。速对表头性能进行初步评价和筛选。


技术研发人员：严浩 王汝弢 申燕超 姚远 杜江潮 杨亚杰 李陈征
受保护的技术使用者：北京自动化控制设备研究所
技术研发日：2022.09.23
技术公布日：2023/7/20