加速测试方法、装置、电子设备及存储介质与流程

1.本发明涉及设备加速测试技术领域，尤其涉及一种加速测试方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术：

2.现有的加速老化测试试验中，通常是计算出等效的环境温度后，通过设置一个等效的环境温度的环境进行加速老化的测试，即现有加速老化测试试验模拟的是恒温条件下的设备老化情况。但是，在设备实际使用过程中，外部环境是变温的，所以现有加速老化测试试验中，加速系数的计算存在较大的偏差，导致加速老化的测试结果不准确。
3.因此，如何解决现有加速老化测试试验中测试结果准确性低下成为目前亟待解决的技术问题。


技术实现要素：

4.本发明实施例提供了一种加速测试方法、装置、电子设备及存储介质，旨在提高设备加速老化测试试验中测试结果的准确性。
5.第一方面，本发明实施例提供一种加速测试方法，所述加测测试方法包括：
6.获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；
7.基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；
8.基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；
9.基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；
10.在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。
11.第二方面，本发明实施例还提供一种测试装置，所述测试装置包括：
12.温度数据获取模块，用于获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；
13.子加速系数计算模块，用于基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；
14.测试加速系数计算模块，用于基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；
15.测试循环次数计算模块，用于基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；
16.加测测试模块，用于在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。
17.第三方面，本发明实施例还提供一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序，其中，所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如上所述的测试方法。
18.第四方面，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时使所述处理器实现如上所述的测试方法的步骤。
19.本发明实施例提供一种加速测试方法、装置、电子设备及存储介质，所述加速测试方法包括获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。
20.通过上述方式，根据参考测试地区在预测历史时间段内各子时间段的温度数据，以及预设加速测试条件、预设测试加速模型，计算各子时间段对应的子加速系数，能够模拟设备在参考测试地区下在各子时间段内的真实老化数据；再根据各子时间段对应的子加速系数，计算预设时间段内对应的测试加速系数，使得测试加速系数更加准确；因此，基于该测试加速系数和预设的使用循环次数，计算得到的测试循环次数，并根据测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，其测试结果可以更准确地预测待测试设备在参考测试地区的实际使用结果，由此，提高了加速测试试验测试结果的准确性。
附图说明
21.为了更清楚地说明本技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1为本技术实施例提供的一种加速测试方法第一实施例的流程示意图；
23.图2为本技术实施例提供的一种加速测试方法第二实施例的流程示意图；
24.图3是本技术提供的一种测试装置的结构示意图；
25.图4是本技术实施例提供的一种电子设备的结构示意性框图。
26.本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
27.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
28.附图中所示的流程图仅是示例说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
29.下面结合附图，对本技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
30.本技术的实施例提供了一种加速测试方法、装置、电子设备及存储介质。根据参考测试地区在预设历史时间段内多个子时间段的温度数据，计算各子时间段对应的子加速系数，在根据各子加速系数计算预设历史时间段对应的测试加速系数，使得测试加速系数更加准确，由此，使得设备的加速测试结果更接近于设备在参考测试地区的实际使用情况，提高了加速测试的测试结果准确性。
31.请参照图1，图1为本技术实施例提供的一种加速测试方法的第一实施例的流程示意图。该方法可以应用于电子设备。
32.如图1所示，该加速测试方法包括步骤s101至步骤s105。
33.步骤s101、获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；
34.本实施例中，本技术方案是根据参考测试地区的实际环境温度计算加速老化测试的加速系数，进而计算测试循环次数，所以首先需要获取测试地区的历史环境温度数据。
35.示例性的，参考测试地区可以是待测试设备可能使用的地区，比如某一个城市地区或者是某个山区等；也可以是某一个特殊环境的地区，比如高原地区、沙漠地区或者是海洋地区等。示例性地，假设待测试设备未来可能售往某个地区，则可以将该地区作为参考测试地区，获取该地区的预设历史时间段的温度数据进行加速老化测试。
36.在一实施例中，所述预设历史时间段的各所述子时间段均匀设置。
37.在一实施例中，在预设历史时间段内，各子时间段均匀设置，可以认为每一个子时间段为一个循环周期。
38.示例性的，预设历史时间段可以是历史一年时间，子时间段可以为历史一年时间内的每一天，即每一个二十四小时为一个子时间段。
39.示例性的，所述温度数据可以是预设历史时间段内的逐时温度数据，即历史一年时间内每一个小时的环境温度。
40.步骤s102、基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；
41.在一实施例中，根据预设加速测试条件和各子时间段对应的温度数据，通过预测测试加速模型对每一个子时间段的加速系数进行计算，获得每个子时间段对应的子加速系数。
42.示例性的，预设加速测试条件可以包括测试温度、测试时间等。
43.在一实施例中，所述预设测试加速模型可以为元器件温度循环测试加速模型或焊点温度循环测试加速模型。
44.其中，所述元器件温度循环测试加速模型用于对待测试设备的整机/元器件进行加速测试，焊点温度循环测试加速模型用于对待测试设备中主动元器件的焊点或键合线进行加速测试。
45.示例性的，元器件温度循环测试加速模型可以是科芬-曼森(coffin-manson)加速模型，主要针对整机/元器件进行加速测试，coffin-manson加速模型是逆幂律关系模型，元器件寿命与环境温度应力的幂成反比关系。
46.其中，coffin-manson加速模型的数学表达式如下：
[0047][0048]
其中，af是加速系数，
△
tt是加速测试试验的温度差，，
△
to是各子时间段内的最高温和最低温的温度差。
[0049]
示例性的，焊点温度循环测试加速模型可以是norris-lanzberg加速模型，主要针对元器件的焊点/键合线进行加速测试，norris-lanzberg加速模型适用于分析焊点在器件重复开关过程中由温度循环作用引起的疲劳失效。
[0050]
其中，norris-lanzberg加速模型的数学表达式如下：
[0051][0052]
其中，t
t
/to是工作周期比，例如，可以定义为1/12，即测试时间t
t
是1小时，实际使用时间to是12小时；t
max，o
是元器件实际使用的最高结温的卡尔文温度；t
max，t
是元器件测试时最高结温的卡尔文温度。
[0053]
步骤s103、基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；
[0054]
在一实施例中，所述基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数，可以包括：计算各所述子加速系数的调和平均数，得到所述预设历史时间段对应的测试加速系数。
[0055]
可以理解地是，调和平均数又称倒数平均数，是总体各统计变量倒数的算术平均数的倒数。调和平均数是平均数的一种。但统计调和平均数，与数学平均数不同，它是变量倒数的算术平均数的倒数。由于它是根据变量的倒数计算的，所以又称倒数平均数。
[0056]
其中，调和平均数的计算公式如下：
[0057][0058]
其中，当使用调和平均数的公式计算测试加速系数时，n可以表示子时间段的数量，xi表示第i子时间段对应的子加速系数，h表示测试加速系数。
[0059]
步骤s104、基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；
[0060]
在一实施例中，所述基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数，包括：将所述使用循环次数除以所述测试加速系数，得到所述测试循环次数。
[0061]
在一实施例中，预设的使用循环次数可以根据老化总时长进行计算，根据设备的单次循环周期和老化总时长计算设备的实际使用过程中的循环次数，而使用循环次数除以测试加速系数，即为加速测试试验的测试循环次数。
[0062]
其中，根据需要老化的总时长lo和测试加速系数af，计算老化测试总循环次数，计算公式如下：
[0063]
test＝lo/af
[0064]
其中，test为加速测试总循环次数，lo为老化总时长，af为测试加速系数。
[0065]
示例性的，老化时长若为10年，而本技术中以每一天的温度数据为加速系数的计算依据，可以以每一天作为一个循环周期，即每天循环一次，一年循环365次，则需要进行加测老化试验的测试循环次数为：
[0066]
test＝(10年*365循环/年)/测试加速系数
[0067]
其中，test为测试循环次数，10年*365循环/年即为预设使用循环次数。
[0068]
步骤s105、在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。
[0069]
可以理解地是，加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下长期使用相同的失效，缩短试验周期，但不改变受试样品的失效分布，然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性或寿命特征。
[0070]
在一实施例中，针对不同的测试对象，设置对应的预设加速测试条件，并且将待测试设备置于该预设加速测试条件对应的环境中进行加速循环测试，直至完成测试循环次数的加速测试，得到加速测试的测试结果。
[0071]
本发明实施例提供一种加速测试方法，所述方法根据参考测试地区在预测历史时间段内各子时间段的温度数据，以及预设加速测试条件、预设测试加速模型，计算各子时间段对应的子加速系数，能够模拟设备在参考测试地区下在各子时间段内的真实老化数据；再根据各子时间段对应的子加速系数，计算预设时间段内对应的测试加速系数，使得测试加速系数更加准确；因此，基于该测试加速系数和预设的使用循环次数，计算得到的测试循环次数，并根据测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，其测试结果可以更准确地预测待测试设备在参考测试地区的实际使用结果，由此，提高了加速测试试验测试结果的准确性。
[0072]
请参照图2，图2为本技术实施例提供的一种加速测试方法第二实施例的流程示意图。
[0073]
如图2所示，本实施例中，基于上述图1所示实施例，所述步骤s102具体包括：
[0074]
步骤s201、基于所述预设加速测试条件，确定测试温度差；
[0075]
在一实施例中，在进行加速测试试验时，针对不同的测试对象，需要设置不同的加速测试条件。
[0076]
示例性的，针对整机设备，可以设置加速测试条件为-25℃～75℃，高低温测试的驻留时间为各1小时，其测试温度差即为100℃。
[0077]
示例性的，针对元器件焊点/键合缝，可以设置加速测试条件为高温满载运行，-25℃～75℃。但是正常工作时主动元器件温升21.42℃，所以，在测试高温条件下(75℃)，元器件最高结温为96.42℃。
[0078]
步骤s202、根据各所述子时间段对应的温度数据进行计算，确定各所述子时间段对应的最大温差数据；
[0079]
在一实施例中，根据各子时间段的温度数据，确定各子时间段的最高温度和最低温度，计算各子时间段内的最大温差数据。
[0080]
在一实施例中，所述根据各所述子时间段对应的温度数据进行计算，确定各所述
子时间段对应的最大温差数据，包括：基于所述子时间段对应的温度数据，确定所述子时间段内的最高环境温度和最低环境温度；基于所述最高环境温度和所述最低环境温度，计算所述子时间段对应的最大温差数据。
[0081]
在一实施例中，预设测试加速模型根据各子时间段对应的最大温差数据计算各子时间段的加速系数，即拟合测试环境下各测试周期对应各子时间段的温度应力，由此，根据各子时间段对应的加速系数模拟的测试条件更接近于实际使用环境下的使用条件，从而使得加速测试结果更加准确。
[0082]
步骤s203、基于所述预设测试加速模型、所述测试温度差和各所述子时间段对应的最大温差数据，分别计算各所述子时间段对应的子加速系数。
[0083]
在一实施例中，针对不同的测试对象，通过不同的预设测试加速模型进行加速系数的计算，针对整机元器件的加速测试可以采用coffin-manson加速模型，针对元器件焊点/键合线，可以采用norris-lanzberg加速模型。
[0084]
示例性的，对于整机元器件的加速测试，加速测试条件为-25℃～75℃，高低温测试的驻留时间为各1小时。假设待测试设备的使用寿命为10年，以如下表1中的逐时温度数据为例：
[0085]
表1：参考测试地区的第一逐时温度数据表
[0086]
[0087][0088]
示例性的，使用coffin-manson加速模型，对整机元器件进行加速模拟，以第一天的加速系数为例：
[0089]
af1＝[100/35.2]^2.65＝15.9013
[0090]
以此类推，计算出每天的加速系数之后，可以计算每天的加速系数的调和平均数，得到总的加速系数为af＝11.4038。
[0091]
然后，由于老化总时长为10年，每天循环1次，所以需要加速测试的总循环次数为：
[0092]
test＝(10年*365循环/年)/11.4038＝320循环
[0093]
即做加速寿命测试时，需要在-25℃～75℃的循环温度测试条件下，非工作模式，测试320次温度循环。
[0094]
示例性的，对于元器件焊点/键合线的加速测试，加速测试条件为，正常工作时的主动元器件温升21.42℃，高温满载运行，-25℃～75℃。测试高温条件下(75℃)元器件最高结温96.42℃(取决于热策略)。t
t
与to比根据测试频率及产品工况频率定义为1：4，即测试时间t
t
是6小时，实际使用时间to是24小时。
[0095]
假设待测试设备的使用寿命为10年，以如下表2中的逐时温度数据为例：
[0096]
表2：参考测试地区的第二逐时温度数据表
[0097][0098][0099]
示例性的，使用norris lanzberg加速模型，对主动元件焊点(soldering)/键合线
(bonding)应用进行加速模拟，以第一天的加速系数为例：af1＝(121.42/49.66)^2.65*(1/4)^0.136*e^(2185*(1/(63.1+273.15)-1/(75+21.42+273.
[0100]
15)))＝15.90
[0101]
以此类推，计算出每天的加速系数之后，可以计算每天的加速系数的调和平均数，得到总的加速系数为af＝11.17。
[0102]
然后，由于老化总时长为10年，所以需要测试的总循环次数为：
[0103]
test＝(10年*365循环/年)/11.17＝327
[0104]
即做加速寿命测试时，需要在-25℃～75℃的循环温度测试条件下，高温满载运行，需要加速测试327次温度循环。
[0105]
本技术实施例提供的加速测试方法基于真实的环境温度计算加速实验模型的加速因子，可以提高设备使用寿命计算的准确性，提高加速测试结果的准确性。
[0106]
请参阅图3，图3是本技术提供的一种测试装置的结构示意图，该测试装置用于执行前述的加速测试方法。其中，该测试装置可以配置于服务器中。
[0107]
如图3所示，该测试装置300，包括：温度数据获取模块301、子加速系数计算模块302、测试加速系数计算模块303、测试循环次数计算模块304和加测测试模块305。
[0108]
温度数据获取模块301，用于获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；
[0109]
子加速系数计算模块302，用于基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；
[0110]
测试加速系数计算模块303，用于基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；
[0111]
测试循环次数计算模块304，用于基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；
[0112]
加测测试模块305，用于在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。
[0113]
在一个实施例中，所述子加速系数计算模块302，还用于基于所述预设加速测试条件，确定测试温度差；根据各所述子时间段对应的温度数据进行计算，确定各所述子时间段对应的最大温差数据；基于所述预设测试加速模型、所述测试温度差和各所述子时间段对应的最大温差数据，分别计算各所述子时间段对应的子加速系数。
[0114]
在一个实施例中，所述子加速系数计算模块302，还用于基于所述子时间段对应的温度数据，确定所述子时间段内的最高环境温度和最低环境温度；基于所述最高环境温度和所述最低环境温度，计算所述子时间段对应的最大温差数据。
[0115]
在一个实施例中，所述测试加速系数计算模块303，还用于计算各所述子加速系数的调和平均数，得到所述预设历史时间段对应的测试加速系数。
[0116]
在一个实施例中，所述预设测试加速模型为元器件温度循环测试加速模型或焊点温度循环测试加速模型。
[0117]
在一个实施例中，所述测试循环次数计算模块304，还用于将所述使用循环次数除以所述测试加速系数，得到所述测试循环次数。
[0118]
在一个实施例中，所述预设历史时间段的各所述子时间段均匀设置。
[0119]
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的装置和各模块的具体工作过程，可以参考前述加速测试方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0120]
上述实施例提供的装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图4所示的电子设备上运行。
[0121]
请参阅图4，图4是本技术实施例提供的一种电子设备的结构示意性框图。
[0122]
参阅图4，该电子设备包括通过数据总线连接的处理器401、存储器402和网络接口403，其中，存储器402可以包括非易失性存储介质和内存储器。
[0123]
非易失性存储介质可存储操作系统和计算机程序。该计算机程序包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器401执行任意一种加速测试方法。
[0124]
处理器401用于提供计算和控制能力，支撑整个电子设备的运行。
[0125]
内存储器为非易失性存储介质中的计算机程序的运行提供环境，该计算机程序被处理器401执行时，可使得处理器401执行任意一种加速测试方法。
[0126]
该网络接口403用于进行网络通信，如发送分配的任务等。本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的电子设备的限定，具体的电子设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
[0127]
应当理解的是，处理器401可以是中央处理单元(central processing unit，cpu)，该处理器401还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
[0128]
其中，在一个实施例中，所述处理器401用于运行存储在存储器中的计算机程序，以实现如下步骤：
[0129]
获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；
[0130]
获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；
[0131]
基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；
[0132]
基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；
[0133]
基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；
[0134]
在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。
[0135]
在一实施例中，所述处理器401在实现所述所述基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数时，用于实现：
[0136]
基于所述预设加速测试条件，确定测试温度差；
[0137]
根据各所述子时间段对应的温度数据进行计算，确定各所述子时间段对应的最大温差数据；
[0138]
基于所述预设测试加速模型、所述测试温度差和各所述子时间段对应的最大温差数据，分别计算各所述子时间段对应的子加速系数。
[0139]
在一实施例中，所述处理器401在实现所述根据各所述子时间段对应的温度数据进行计算，确定各所述子时间段对应的最大温差数据时，用于实现：
[0140]
基于所述子时间段对应的温度数据，确定所述子时间段内的最高环境温度和最低环境温度；
[0141]
基于所述最高环境温度和所述最低环境温度，计算所述子时间段对应的最大温差数据。
[0142]
在一实施例中，所述处理器401在实现所述基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数时，用于实现：
[0143]
计算各所述子加速系数的调和平均数，得到所述预设历史时间段对应的测试加速系数。
[0144]
在一实施例中，所述预设测试加速模型为元器件温度循环测试加速模型或焊点温度循环测试加速模型。
[0145]
在一实施例中，所述处理器401在实现所述基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数时，用于实现：
[0146]
将所述使用循环次数除以所述测试加速系数，得到所述测试循环次数。
[0147]
在一实施例中，所述预设历史时间段的各所述子时间段均匀设置。
[0148]
本技术的实施例中还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序中包括程序指令，所述处理器执行所述程序指令，实现本技术实施例提供的任一种加速测试方法。
[0149]
其中，所述计算机可读存储介质可以是前述实施例所述的电子设备的内部存储单元，例如所述电子设备的硬盘或内存。所述计算机可读存储介质也可以是所述电子设备的外部存储设备，例如所述电子设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smart media card，smc)，安全数字(secure digital，sd)卡，闪存卡(flash card)等。
[0150]
以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

技术特征：
1.一种测试方法，其特征在于，包括：获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数，包括：基于所述预设加速测试条件，确定测试温度差；根据各所述子时间段对应的温度数据进行计算，确定各所述子时间段对应的最大温差数据；基于所述预设测试加速模型、所述测试温度差和各所述子时间段对应的最大温差数据，分别计算各所述子时间段对应的子加速系数。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述根据各所述子时间段对应的温度数据进行计算，确定各所述子时间段对应的最大温差数据，包括：基于所述子时间段对应的温度数据，确定所述子时间段内的最高环境温度和最低环境温度；基于所述最高环境温度和所述最低环境温度，计算所述子时间段对应的最大温差数据。4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数，包括：计算各所述子加速系数的调和平均数，得到所述预设历史时间段对应的测试加速系数。5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预设测试加速模型为元器件温度循环测试加速模型或焊点温度循环测试加速模型。6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数，包括：将所述使用循环次数除以所述测试加速系数，得到所述测试循环次数。7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预设历史时间段的各所述子时间段均匀设置。8.一种测试装置，其特征在于，包括：温度数据获取模块，用于获取参考测试地区在预设历史时间段内的温度数据；所述预设历史时间段包括多个子时间段；
子加速系数计算模块，用于基于预设加速测试条件、预设测试加速模型和各所述子时间段对应的温度数据，计算各所述子时间段对应的子加速系数；测试加速系数计算模块，用于基于各所述子时间段对应的子加速系数，计算所述预设历史时间段对应的测试加速系数；测试循环次数计算模块，用于基于预设的使用循环次数和所述测试加速系数，计算测试循环次数；加测测试模块，用于在所述预设加速测试条件对应的环境中，基于所述测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，以得到测试结果。9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序，其中，所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至7中任一项所述的测试方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时使所述处理器实现如权利要求1至7中任一项所述的测试方法的步骤。

技术总结
本发明实施例提供一种加速测试方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法根据参考测试地区在预测历史时间段内各子时间段的温度数据，以及预设加速测试条件、预设测试加速模型，计算各子时间段对应的子加速系数，能够模拟设备在参考测试地区下在各子时间段内的真实老化数据；再根据各子时间段对应的子加速系数，计算预设时间段内对应的测试加速系数，使得测试加速系数更加准确；因此，基于该测试加速系数和预设的使用循环次数，计算得到的测试循环次数，并根据测试循环次数，对待测试设备进行加速测试，其测试结果可以更准确地预测待测试设备在参考测试地区的实际使用结果，由此，提高了加速测试试验测试结果的准确性。提高了加速测试试验测试结果的准确性。提高了加速测试试验测试结果的准确性。


技术研发人员：刘元财 张泫舜 陈浩宇
受保护的技术使用者：深圳市正浩创新科技股份有限公司
技术研发日：2023.03.31
技术公布日：2023/7/22