调试电芯的制造方法以及调试电芯与流程

1.本发明涉及电芯生产工艺方法，特别是涉及一种调试电芯的制造方法以及调试电芯。


背景技术：

2.超声波焊接是锂离子电池制造的一个关键工序，作用是将多层极耳或多层极耳和转接片焊接起来。电芯的结构如图1所示，两侧为延伸出来的正极耳和负极耳，正极耳和负极耳通过超声波焊接后，形成电芯的正电极和负电极。由于极耳的正极箔材的正反面上会涂有正极箔材涂覆，负极箔材的正反面上会涂有负极箔材涂覆，且正极箔材和和负极箔材之间设有隔膜，因此箔材之间会存在间隔，在极耳被挤压时会发生弯折收拢。超声波设备在焊接前需要对待调电芯进行焊接调机，主要调试焊印位置、焊接效果，避免极耳弯折收拢的时候发生撕裂，使超声波设备在加工过程中达到最好的焊接效果。
3.目前最多调试使用的调试方法有多层箔材叠加和真实电芯这两种。多层箔材叠加形成模拟极耳无法调试极耳收拢位置和极耳撕裂等问题。真实电芯调试存在新产线前期制作的电芯稳定较差、成本高和无法重复利用的问题。


技术实现要素：

4.基于此，本发明的目的在于，提供一种调试电芯的制造方法以及调试电芯，该制造方法制造的调试电芯使用特定厚度的间隔膜代替相邻箔材之间的厚度材料，模拟电芯的具体结构，方便调试极耳撕裂和收拢位置，且其制作方法简单，成本低，调试完更换箔材后可反复使用，具有方便制作，成本低，调试效果好的优点。
5.本发明是通过如下方案实现的：
6.第一方面，本发明提供一种调试电芯的制造方法，包括如下步骤：
7.步骤s1：提供间隔膜，将所述间隔膜边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，所述间隔膜的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；
8.步骤s2：在所述堆叠件的每层所述间隔膜之间插入箔材，形成调试电芯；其中，每个所述箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳。
9.进一步地，所述步骤s1具体包括步骤s11：提供一长条形间隔膜，对其进行连续折叠，形成多层所述间隔膜；其中，所述长条形间隔膜在折叠时边缘平齐堆叠，使每个折叠面的大小一致，所述长条形间隔膜的厚度为h。
10.进一步地，所述厚度h为待调电芯的相邻两个正极箔材或相邻两个负极箔材之间的厚度h1，所述堆叠件包括两个，所述步骤s2具体包括：
11.步骤s21：在第一个所述堆叠件的每个所述间隔膜之间的插入第一箔材，形成正极调试电芯；其中，每个所述第一箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳；
12.步骤s22：在第二个所述堆叠件的每个所述间隔膜之间的插入第二箔材，形成负极
调试电芯；其中，每个所述第二箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳。
13.进一步地，厚度h1的计算公式为h1＝(l2+l3+l4)
×
2+l1或h1＝(l2+l3+l4)
×
2+l5，其中，l2为待调电芯的负极箔材涂覆的厚度，l3为待调电芯的隔膜的厚度，l4为待调电芯的正极箔材涂覆的厚度，l1为待调电芯的负极箔材的厚度，l5为待调电芯的正极箔材的厚度。
14.进一步地，所述厚度h为待调电芯的相邻两个箔材之间的厚度h2，所述步骤s2具体包括：
15.在所述堆叠件的所述间隔膜之间的交替插入第一箔材和第二箔材，形成调试电芯；其中，每个所述第一箔材朝所述堆叠件的第一长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳；每个所述第二箔材朝所述堆叠件的第二长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳；其中，所述第二长边方向与所述第一长边方向相反。
16.进一步地，厚度h2的计算公式为h2＝l2+l3+l4，其中，l2为待调电芯的负极箔材涂覆的厚度，l3为待调电芯的隔膜的厚度，l4为待调电芯的正极箔材涂覆的厚度。
17.进一步地，所述第一箔材是铝箔；所述第二箔材是铜箔。
18.进一步地，所述间隔膜是聚酯膜。
19.第二方面，本发明还提供一种电芯极耳的调试方法，包括如下步骤：
20.步骤s1：提供间隔膜，将所述间隔膜边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，所述间隔膜的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；
21.步骤s2：在所述堆叠件的每层所述间隔膜之间插入箔材，形成调试电芯；其中，每个所述箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳；
22.步骤s3：对所述调试极耳进行超声波焊接。
23.第二方面，本发明还提供一种调试电芯，多层边缘平齐堆叠的间隔膜，所述间隔膜的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；
24.每层所述间隔膜之间插入有箔材，每个所述箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳。
25.本发明所述的一种调试电芯的制造方法以及调试电芯，具有以下有益效果：
26.1、通过将间隔膜平齐堆叠后，在每层的间隔膜之间插入箔材，箔材沿间隔膜的长边方向延伸形成调试极耳，制作成对极耳进行调试的调试电芯，该调试电芯的箔材形成的调试极耳与真实的电芯的极耳结构完全一致，在对该调试电芯的调试极耳进行挤压时，由于存在间隔膜的间隔厚度h，调试极耳会产生弯折收拢，在调试过程中模拟真实电芯的收拢位置和极耳撕裂问题，且制造方法简单，易于生产，生产成本低。
27.2、通过将间隔膜设置为聚酯膜，聚酯膜可以根据需要在生产中调节厚度，在作为待调电芯的可反复使用，具有使用成本低，易于生产的优点。
28.为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本发明。
附图说明
29.图1为本发明技术背景所述的一种电芯的结构图；
30.图2为本发明实施例的一种待调电芯的制作示意图；
31.图3为本发明实施例的一种待调电芯的结构示意图；
32.图4为本发明实施例所述的真实的待调电芯的结构图；
33.图5为本发明实施例的一种待调电芯的间隔膜的结构示意图。
34.附图标记：调制电芯100、间隔膜110、长条形间隔膜111、箔材120、第一箔材121、第二箔材122、调试极耳130、正极调试极耳131、负极调试极耳132；
35.电芯200、正极耳210、负极耳220；
36.负极箔材310、负极箔材涂覆320、、隔膜330、正极箔材涂覆340、正极箔材350。
具体实施方式
37.以下是本发明的具体实施例并结合附图，对本发明的技术方案作进一步的描述，但本发明并不限于这些实施例。
38.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
39.需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以是直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
40.如图1所示，图1为待焊接调试的电芯结构，该结构包括电芯主体200，电芯主体200的两侧延伸出正极耳210和负极耳220，正极耳和负极耳通过超声波焊接后，挤压连接在一起形成电芯的正电极和负电极。由于极耳的正极箔材350的正反面上会涂有正极箔材涂覆340，负极箔材310的正反面上会涂有负极箔材涂覆320，且正极箔材350和和负极箔材310之间设有隔膜330，因此如图4的真实的待调电芯的结构图所示，真实的待调电芯的构成主要由负极箔材涂覆320、负极箔材310、负极箔材涂覆320、隔膜330、正极箔材涂覆340、正极箔材350和正极箔材涂覆340依次重复堆叠形成。因此相邻的箔材之间会存在间隔，在极耳被挤压时会发生弯折收拢。超声波设备在焊接前需要对待调电芯进行焊接调机，主要调试焊印位置、焊接效果，避免极耳弯折收拢的时候发生撕裂，使超声波设备在加工过程中达到最好的焊接效果。
41.目前最多调试使用的调试方法有多层箔材叠加和真实电芯这两种。使用多层箔材进行叠加形成模拟极耳，方便制作，成本低，但并不适用调试极耳收拢位置和极耳撕裂等问题。使用真实电芯进行调试，存在新产线前期制作的电芯稳定较差、成本高的问题，电芯整体不能重复利用。
42.针对这一技术问题，如图2和图3所示，本技术提供一种调试电芯极耳的调试方法，该方法使用一种调试电芯进行调试，该调试电芯模拟电芯的具体结构，方便调试极耳撕裂和收拢位置，且其制作方法简单，成本低。具体的，本技术实施例的调试电芯的制造方法包括以下步骤：
43.步骤s1：提供间隔膜110，将间隔膜110边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，间隔膜110的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度。
44.步骤s2：在堆叠件的每层间隔膜110之间插入箔材120，形成调试电芯100；其中，每个箔材120朝堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳130。
45.其中，间隔膜110为具有一定厚度的薄膜，间隔膜110的形状和大小为电芯主体200一致的长方形，具有长边和短边。箔材120为电芯极耳的材料，常见正极箔材为铜箔，多层铜箔堆叠后形成正极极耳；常见的负极箔材为铝箔，多层铝箔堆叠形成负极极耳。本实施例将多个间隔膜110平齐堆叠在一起形成堆叠件，在每个间隔膜110之间的间隙插入箔材120，箔材120从间隔膜110的短边或长边插入，且箔材120并不完全插入间隔膜110的间隙中，而是保留一部分在堆叠件外形成调试极耳130，箔材120之间间隔隔膜110的厚度，与真实的电芯结构一致。
46.本技术实施例的一种调试电芯的制造方法，通过将间隔膜110平齐堆叠后，在每层的间隔膜110之间插入箔材120，箔材120沿间隔膜110的长边方向延伸形成调试极耳130，制作成对极耳进行调试的调试电芯100，该调试电芯100的箔材120形成的调试极耳130与真实的电芯的极耳结构完全一致，在对该调试电芯100的调试极耳130进行挤压时，由于存在间隔膜110的间隔厚度h，调试极耳130会产生弯折收拢，在调试过程中模拟真实电芯的收拢位置和极耳撕裂问题，且制造方法简单，易于生产，生产成本低。
47.本技术实施例的一种调试电芯的制造方法，该制造方法制造的调试电芯使用特定厚度的间隔膜代替相邻箔材之间的厚度材料，模拟真实电芯的具体结构，方便调试极耳撕裂和收拢位置，且其制作方法简单，成本低，调试完更换箔材后可反复使用，具有方便制作，成本低，调试效果好的优点。
48.在一个实施例中，如图2和图3所示，步骤s1具体包括：
49.步骤s11：提供一长条形间隔膜111，对其进行连续折叠，形成多层间隔膜110；其中，长条形间隔膜111在折叠时边缘平齐堆叠，使每个折叠面的大小一致，长条形间隔膜111的厚度为h。
50.在本实施例中，通过对一长条形间隔膜111进行连续折叠，该方法可快速将间隔膜110进行多层堆叠，且不需要切割，快速方便地形成多层间隔膜110。
51.在间隔膜110中插入箔材120包括两种方式，一种方式为在间隔膜110的间隙中仅插入一种箔材120，使调试电芯100两端的都为正极调试极耳或负极调试极耳，另一种方式为在间隔膜110的间隙间隔插入正极箔材或负极箔材，使调试电芯100的两端分别为正极调试极耳和负极调试极耳，两种方式分别如以下两个实施例所示。
52.在一个实施例中，如图3和图4所示，图3为调试电芯100的结构图，图4为真实电芯的组成结构图，厚度h为待调电芯的相邻两个正极箔材350或相邻两个负极箔材310之间的厚度h1，堆叠件包括两个，步骤s2具体包括：
53.步骤s21：在第一个堆叠件的每个间隔膜110之间的插入第一箔材121，形成正极调试电芯；其中，每个第一箔材121朝堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳131；
54.步骤s22：在第二个堆叠件的每个间隔膜110之间的插入第二箔材122，形成负极调试电芯；其中，每个第二箔材122朝堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳132。
55.在本实施例中，通过将间隔膜110的厚度h设为待调电芯的相邻两个正极箔材350
或相邻两个负极箔材310之间的厚度h1，然后在间隔膜110之间插入第一箔材121或第二箔材122形成正极调试极耳131或负极调试极耳132，由于第一箔材121或第二箔材122之间设有与待调电芯一样厚度h1的间隔膜110，因此正极调试极耳131或负极调试极耳132的具有与待调电芯一样的正极或负极结构，用于代替调试电芯的正极或负极可模拟收拢位置和极耳撕裂问题。
56.具体的，相邻两个正极箔材350或相邻两个负极箔材310之间的厚度h1的计算公式为h1＝(l2+l3+l4)
×
2+l1或h1＝(l2+l3+l4)
×
2+l5，其中，l2为待调电芯的负极箔材涂覆320的厚度，l3为待调电芯的隔膜330的厚度，l4为待调电芯的正极箔材涂覆340的厚度，l1为待调电芯的负极箔材310的厚度，l5为待调电芯的正极箔材350的厚度。如图4显示，根据待测电芯的真实结构，相邻两个正极箔材350之间或相邻两个负极箔材310之间的厚度h1有两层负极箔材涂覆320的厚度l2、两层正极箔材涂覆340的厚度l4、两层隔膜的厚度l3,以及一层负极箔材310的厚度l1或一层正极箔材350的厚度l5，使用算式可表示为l2
×
2+l3
×
2+l4
×
2+l1或h1＝(l2+l3+l4)
×
2+l5，图4中的h1为两个负极箔材310之间的厚度。
57.在另一个实施例中，如图3和图4所示，厚度h为待调电芯的相邻两个箔材之间的厚度h2，步骤s2具体包括：
58.在堆叠件的每个间隔膜110之间的交替插入第一箔材121和第二箔材122，形成调试电芯100；其中，每个第一箔材121朝堆叠件的第一长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳131；每个第二箔材122朝堆叠件的第二长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳132；其中，第二长边方向与第一长边方向相反。
59.通过将间隔膜110的厚度h设为待调电芯的相邻两个箔材之间的厚度h2，然后在间隔膜110之间的两个长边方向上分别插入第一箔材121和第二箔材122，在两个长边方向上延伸出正极调试极耳131和负极调试极耳132，则该待调电芯上同时存在正极调试极耳131和负极调试极耳132，需要正负极耳同时使用时，该待调电芯可实现与真实电芯完全一致的极耳结构，模拟正负极耳的调试结果。
60.具体的，相邻两个箔材之间的厚度h2的计算公式为h2＝l2+l3+l4，其中，l2为待调电芯的负极箔材涂覆320的厚度，l3为待调电芯的隔膜330的厚度，l4为待调电芯的正极箔材涂覆340的厚度。如图4显示，根据待测电芯的真实结构，相邻两个箔材之间的厚度h2有一层负极箔材涂覆320的厚度l2、一层正极箔材涂覆340的厚度l4和一层隔膜的厚度l3，使用算式可表示为l2+l3+l4。
61.在一个优选的实施例中，第一箔材121是铝箔；第二箔材122是铜箔。第一箔材121作为正极材料，优选为常用的电池正极材料铝箔，第二箔材122作为负极材料，优选为常用的电池负极材料铜箔，铝箔和铜箔二者易发生氧化还原反应，作为电池的正负极使电池具有良好的性能。
62.在一个优选的实施例中，间隔膜110是聚酯膜。聚酯膜可以根据需要调节其厚度为h1或h2，可反复使用，具有使用成本低，易于生产的优点。
63.另一方面，本技术实施例所述的一种电芯极耳的调试方法，包括如下步骤：
64.步骤s1：提供间隔膜110，将间隔膜110边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，间隔膜110的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；
65.步骤s2：在堆叠件的每层间隔膜110之间插入箔材120，形成调试电芯100；其中，每
个箔材120朝堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳130；
66.步骤s3：对调试极耳130进行超声波焊接。
67.其中，本技术实施例的步骤s1和s2为本技术对应的调试电芯的制作方法，本技术实施例所述的电芯极耳的调试方法还包括本技术的调试电芯的制作方法的其他实施例。
68.该方法通过本实施例所述的调试电芯的制作方法制作的调试电芯进行极耳的超声波焊接调试，调试时使用的调试电芯与真实的电芯的极耳结构完全一致，在对该调试电芯100的调试极耳130进行挤压时，由于存在间隔膜110的间隔厚度h，调试极耳130会产生弯折收拢，在调试过程中模拟真实电芯的收拢位置和极耳撕裂问题，调试效果好。
69.再一方面，如图2和图3所示，本技术实施例所述的一种调试电芯，多层边缘平齐堆叠的间隔膜110，间隔膜110的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；每层间隔膜110之间插入有箔材120，每个箔材120朝堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳130。
70.具体的，本技术实施例所述的一种调试电芯，间隔膜110的堆叠方式可以为单层间隔膜110边缘平齐堆叠形成堆叠件，也可以为长条形间隔膜111通过连续折叠形成多层间隔膜的堆叠件；箔材120的插入方式可以为在间隔膜110的间隙中仅插入一种箔材120，使调试电芯100两端的都为正极调试极耳或负极调试极耳，也可以为在间隔膜110的间隙间隔插入正极箔材350或负极箔材310，使调试电芯100的两端分别为正极调试极耳和负极调试极耳。该调试电芯不仅适用于极耳的超声波焊接调试，也适用于其他极耳结构的调试工序。调试电芯通过对间隔膜110直接插入箔材120形成调试极耳130，可模拟极耳的真实结构，在调试中模拟真实极耳的收拢位置和极耳撕裂问题，调试效果好，且生产成本低，易于生产，在调试工作中可大量运用。
71.具体的，间隔膜110的长度l等于待调电芯的主体长度；间隔膜110的宽度w等于待调电芯的主体宽度。通过将间隔膜110设定为与真实电芯的主体一致的长度和宽度，模拟真实电芯的尺寸，使调试结果更为准确。
72.本技术实施例所述的一种调试电芯的制造方法以及调试电芯，具有以下有益效果：
73.1、通过将间隔膜平齐堆叠后，在每层的间隔膜之间插入箔材，箔材沿间隔膜的长边方向延伸形成调试极耳，制作成对极耳进行调试的调试电芯，该调试电芯的箔材形成的调试极耳与真实的电芯的极耳结构完全一致，在对该调试电芯的调试极耳进行挤压时，由于存在间隔膜的间隔厚度h，调试极耳会产生弯折收拢，在调试过程中模拟真实电芯的收拢位置和极耳撕裂问题，且制造方法简单，易于生产，生产成本低。
74.2、通过将间隔膜设置为聚酯膜，聚酯膜可以根据需要在生产中调节厚度，在作为待调电芯的可反复使用，具有使用成本低，易于生产的优点。
75.以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，则本发明也意图包含这些改动和变形。

技术特征：
1.一种调试电芯的制造方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤s1：提供间隔膜(110)，将所述间隔膜(110)边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，所述间隔膜(110)的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；步骤s2：在所述堆叠件的每层所述间隔膜(110)之间插入箔材(120)，形成调试电芯(100)；其中，每个所述箔材(120)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳(130)。2.根据权利要求1所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于，所述步骤s1具体包括：步骤s11：提供一长条形间隔膜(111)，对其进行连续折叠，形成多层所述间隔膜(110)；其中，所述长条形间隔膜(111)在折叠时边缘平齐堆叠，使每个折叠面的大小一致，所述长条形间隔膜(111)的厚度为h。3.根据权利要求1所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于，所述厚度h等于待调电芯的相邻两个正极箔材或相邻两个负极箔材之间的厚度h1，所述堆叠件包括两个，所述步骤s2具体包括：步骤s21：在其中一个所述堆叠件的每个所述间隔膜(110)之间的插入第一箔材(121)，形成正极调试电芯；其中，每个所述第一箔材(121)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳(131)；步骤s22：在另一个所述堆叠件的每个所述间隔膜(110)之间的插入第二箔材(122)，形成负极调试电芯；其中，每个所述第二箔材(122)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳(132)。4.根据权利要求3所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于：厚度h1的计算公式为h1＝(l2+l3+l4)
×
2+l1或h1＝(l2+l3+l4)
×
2+l5，其中，l2为待调电芯的负极箔材涂覆的厚度，l3为待调电芯的隔膜的厚度，l4为待调电芯的正极箔材涂覆的厚度，l1为待调电芯的负极箔材的厚度，l5为待调电芯的正极箔材的厚度。5.根据权利要求1所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于，所述厚度h等于待调电芯的相邻两个箔材之间的厚度h2，所述步骤s2具体包括：在所述堆叠件的所述间隔膜(110)之间的交替插入第一箔材(121)和第二箔材(122)，形成调试电芯(100)；其中，每个所述第一箔材(121)朝所述堆叠件的第一长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳(131)；每个所述第二箔材(122)朝所述堆叠件的第二长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳(132)；其中，所述第二长边方向与所述第一长边方向相反。6.根据权利要求4所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于：厚度h2的计算公式为h2＝l2+l3+l4，其中，l2为待调电芯的负极箔材涂覆的厚度，l3为待调电芯的隔膜的厚度，l4为待调电芯的正极箔材涂覆的厚度。7.根据权利要求3或5所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于：所述第一箔材(121)是铝箔；所述第二箔材(122)是铜箔。8.根据权利要求1-6任一所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于：所述间隔膜(110)是聚酯膜。9.一种电芯极耳的调试方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤s1：提供间隔膜(110)，将所述间隔膜(110)边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，所述间隔膜(110)的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；步骤s2：在所述堆叠件的每层所述间隔膜(110)之间插入箔材(120)，形成调试电芯(100)；其中，每个所述箔材(120)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳(130)；步骤s3：对所述调试极耳(130)进行超声波焊接。10.一种调试电芯，其特征在于：多层边缘平齐堆叠的间隔膜(110)，所述间隔膜(110)的厚度h等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；每层所述间隔膜(110)之间插入有箔材(120)，每个所述箔材(120)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳(130)。

技术总结
本发明涉及调试电芯的制造方法以及调试电芯。本发明所述的一种调试电芯的制造方法，如下步骤：步骤S1：提供间隔膜，将间隔膜边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，间隔膜的厚度H等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；步骤S2：在堆叠件的每层间隔膜之间插入箔材，形成调试电芯；其中，每个箔材朝堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳。本发明所述的一种调试电芯具有方便制作，成本低，调试效果好的优点。效果好的优点。效果好的优点。


技术研发人员：薛留伟 邹刘勇 江桦锐 谭志华 文明
受保护的技术使用者：海目星激光科技集团股份有限公司
技术研发日：2023.03.23
技术公布日：2023/7/22