一种盖板玻璃专用缺陷检查机的制作方法

1.本公开涉及玻璃加工技术领域，尤其涉及一种盖板玻璃专用缺陷检查机。


背景技术：

2.盖板玻璃生产最后一道工序是清洗覆膜，清洗的作用是清除附着在玻璃表面的灰尘、碎玻璃屑等杂质和部分硫膜，覆膜的作用是保护成品玻璃表面，防潮及防止玻璃在运输途中因颠簸造成划伤。玻璃在清洗时表面很容易被输送辊轮划伤或产生印迹，需要在清洗后覆膜前对玻璃进行质检，主要是检查划伤和印迹。
3.在现有技术中，授权公开号“cn208297389u”公开了“一种便于调节的倾斜式玻璃检查机”；包括底座，底座的上方设有两个相对称的固定板，固定板通过支架与底座的上表面固定连接，两个固定板的相对侧壁上均开设有第一滑槽，第一滑槽内滑动连接有与第一滑槽匹配的滑板，两个滑板的相对侧壁之间固定连接有两个相对称的连接板，连接板的上表面开设有第二滑槽，第二滑槽内滑动连接有两个与第二滑槽匹配的第二滑块。
4.上述的“一种便于调节的倾斜式玻璃检查机”解决了现有技术中倾斜式检查机不便于控制，容易发生偏移误差，以及镜头左右距离调节速度慢，影响检查效率的问题；
5.但是其仍旧存在一些缺点，例如：目前市场上都是一种尺寸规格玻璃对应一种缺陷检查机，比如812*912、1038*912、1300*1100等等，随着市场需求不断提升，公司生产品种越来越多，如果每个品种都购买一台缺陷检查机，势必造成大量固定资产投入，有时还会出现一些品种玻璃只生产一次就不再生产的现象，造成资金浪费，增加生产成本，同时在进行玻璃盖板缺陷检查的过程中，需要通过检测光灯对玻璃的表面进行划痕印迹等缺陷检测，若检测时外部光源较亮时，会降低操作人员观测时的准确性，难以准确的观测玻璃表面存在的缺陷等。
6.为解决这一难题，我们提供一种盖板玻璃专用缺陷检查机。


技术实现要素：

7.本公开所要解决的技术问题是：加工设备无法根据不同的产品进行调节，加工较为繁琐，且生产成本较高，同时检测的过程中容易受到外部光源影响的问题。
8.为解决上述技术问题，本公开实施例提供一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，包括：
9.机箱本体；
10.左立杆体，设置于机箱本体内；
11.左横杆，固定连接于左立杆体一侧端；
12.右立杆体，设置于机箱本体内并与左立杆体对称分布；
13.右横杆，固定连接于右立杆体一侧端；
14.位置调节机构，其设有于机箱本体内，位置调节机构与左立杆体和右立杆体的底部均连接以实现纵向和横向位置的调节；
15.顶光源体，固定连接于机箱本体内腔的顶部；
16.侧光源体，固定连接于机箱本体内腔的一侧；
17.光源控制器，固定连接于机箱本体一侧的表面；
18.待检玻璃，放置于左立杆体和右立杆体的之间；以及
19.找平机构，设置于机箱本体内腔的顶部，用于对待检测玻璃的表面进行平整度检测。
20.在一些实施例中，找平机构包括：
21.螺纹槽，其设有两个，均开设于机箱本体内腔的顶部；
22.螺纹杆，其设有两个，分别螺纹连接两个螺纹槽内；
23.球形轴，其设有两个，分别活动连接于两个螺纹杆的底部；
24.卡接杆，其设有两个，分别活动连接于两个球形轴的表面；
25.电池盒体，固定连接于两个卡接杆的一端；以及
26.激光定位仪体，其设有两个，均固定连接于电池盒体的一侧端。
27.在一些实施例中，位置调节机构包括：
28.底滑轨，其设有两个，分别滑动连接于机箱本体内腔的两侧；
29.顶滑轨，其设有两个，分别滑动连接于两个底滑轨的顶部；圆柱滑轨，固定连接于两个顶滑轨相靠近的端部之间；以及
30.导轨体，其设有两个，均滑动连接于两个圆柱滑轨的表面；
31.左立杆体和右立杆体分别活动连接于两个导轨体的顶部。
32.在一些实施例中，还包括遮光机构，遮光机构设置于机箱本体的一侧，遮光机构包括：
33.遮光板，其通过两个传动轴活动铰接于机箱本体的一侧端；
34.滑槽，开设于遮光板的一侧端；
35.观察窗，滑动连接于滑槽内；
36.折叠软板，活动连接于滑槽内的两侧内壁上；以及
37.凹槽，其设有两个，分别开设于观察窗的两侧端。
38.在一些实施例中，左横杆的一侧与右横杆的一侧均设置有第一顶丝。
39.在一些实施例中，两个导轨体的一侧端均固定连接有玻璃托板。
40.在一些实施例中，左立杆体的一侧与右立杆体的一侧端均固定连接有多个均匀分布的支撑柱。
41.在一些实施例中，两个玻璃托板的顶部与多个支撑柱的一侧均固定连接有橡胶垫。
42.在一些实施例中，还包括清灰机构，清灰机构设置于机箱本体的另一侧，清灰机构包括：
43.置物槽，开设于机箱本体一侧的表面；
44.防护框，固定连接于机箱本体上置物槽处的表面，防护框的表面开设有散热孔；
45.高压风机体，固定于防护框的内腔，且高压风机体的一端活动连接有风管；
46.风刀体，固定连接于置物槽内，风刀体通过风管与高压风机体连通；以及
47.隔尘网，固定连接于机箱本体另一侧的表面。
48.在一些实施例中，两个导轨体的一侧端均设置有第二顶丝。
49.通过上述技术方案，本公开提供的有益效果为：
50.1、本方案中，通过顶滑轨沿着底滑轨的表面滑动连接，可以便携式调节侧光源体、顶光源体与被检测玻璃之间的距离，同时确定立向支撑点，调整亮度完成玻璃划伤和印迹检测，换型时用同样方法重新调整一次即可投入使用，一台设备可以满足所有规格产品检测需求，该设备可以实现多品种换型调节，具备光源任意分配和亮度可调的优点，实际应用后，不仅节约了大量资金，而且操作简单，缺陷显示清晰，规格内的玻璃划伤和印迹缺陷漏检率基本为零；
51.2、本方案中，通过找平机构的设置，在将螺纹杆与螺纹槽进行螺纹连接后，此时根据待检玻璃放置的角度，利用球形轴调节卡接杆的位置，两个卡接杆在调节后使得激光定位仪体对准待检玻璃的一侧，利用电池盒体驱动激光定位仪体，通过激光定位仪体对待检玻璃发射激光进行找平，可以观测待检玻璃是否平整，提高了该玻璃缺陷检查机器的功能性；
52.3、本方案中，通过清灰机构的设置，利用高压风机体产生压缩空气，压缩空气在进入风刀体后，以一面厚度仅为0.05毫米的气流薄片高速吹出，通过放置在置物槽内侧的风刀体快速吹出气体，可以对一侧的待检玻璃表面进行除灰除屑，在对待检玻璃进行表面除灰除屑后，可以提高表面缺陷观测的精确度，减少了灰尘等干扰；
53.4、本方案中，通过遮光机构的设置，利用观察窗两侧的折叠软板进行折叠拉伸，在将观察窗调节至合适位置后，可以通过观察窗对机箱本体内腔的待检玻璃进行观测，且利用遮光板与滑槽进行遮光，可以有效提高玻璃在机箱本体内进行检测时的准确性，减少了外部光源照射在玻璃表面上产生的误差。
附图说明
54.为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
55.图1是本公开实施例公开的整体外观结构示意图；
56.图2是本公开实施例公开的机箱本体内腔示意图；
57.图3是本公开实施例公开的找平机构外观示意图；
58.图4是本公开实施例公开的遮光机构外观示意图；
59.图5是本公开实施例公开的清灰机构外观示意图；
60.图6是本公开实施例公开的整体外观侧视示意图；
61.图7是本公开实施例公开的整体外观正视示意图；
62.图8是本公开实施例公开的a结构外观示意图。
63.附图标记说明：
64.1、机箱本体；2、底滑轨；3、顶滑轨；4、左立杆体；5、第一顶丝；6、左横杆；7、侧光源体；8、顶光源体；9、右横杆；10、右立杆体；11、第二顶丝；12、圆柱滑轨；13、光源控制器；14、待检玻璃；15、支撑柱；16、玻璃托板；17、找平机构；1701、螺纹槽；1702、螺纹杆；1703、球形
轴；1704、卡接杆；1705、电池盒体；1706、激光定位仪体；18、遮光机构；1801、遮光板；1802、传动轴；1803、折叠软板；1804、观察窗；1805、凹槽；1806、滑槽；19、清灰机构；1901、置物槽；1902、防护框；1903、散热孔；1904、高压风机体；1905、风管；1906、风刀体；1907、隔尘网；20、橡胶垫；21、导轨体。
具体实施方式
65.下面结合附图和实施例对本公开的实施方式作进一步详细描述。以下实施例的详细描述和附图用于示例性地说明本公开的原理，但不能用来限制本公开的范围，本公开可以以许多不同的形式实现，不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
66.本公开提供这些实施例是为了使本公开透彻且完整，并且向本领域技术人员充分表达本公开的范围。应注意到：除非另外具体说明，这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、材料的组分、数字表达式和数值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。
67.需要说明的是，在本公开的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是大于或等于两个；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
68.此外，本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的部分。“垂直”并不是严格意义上的垂直，而是在误差允许范围之内。“平行”并不是严格意义上的平行，而是在误差允许范围之内。“包括”或者“包含”等类似的词语意指在该词前的要素涵盖在该词后列举的要素，并不排除也涵盖其他要素的可能。
69.还需要说明的是，在本公开的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时，在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件，也可以不存在居间器件。
70.本公开使用的所有术语与本公开所属领域的普通技术人员理解的含义相同，除非另外特别定义。还应当理解，在诸如通用字典中定义的术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义，而不应用理想化或极度形式化的意义来解释，除非这里明确地这样定义。
71.对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
72.请参阅图1-图8，本发明提供以下技术方案：
73.一种盖板玻璃专用缺陷检查机，包括：
74.机箱本体1；
75.左立杆体4，设置于机箱本体1内；
76.左横杆6，固定连接于左立杆体4一侧端；
77.右立杆体10，设置于机箱本体1内并与左立杆体4对称分布；
78.右横杆9，固定连接于右立杆体10一侧端；
79.位置调节机构，其设有于机箱本体1内，位置调节机构与左立杆体4和右立杆体10的底部均连接以实现纵向和横向位置的调节；
80.顶光源体8，固定连接于机箱本体1内腔的顶部；
81.侧光源体7，固定连接于机箱本体1内腔的一侧；
82.光源控制器13，固定连接于机箱本体1一侧的表面；
83.待检玻璃14，放置于左立杆体4和右立杆体10的之间；以及
84.找平机构17，设置于机箱本体1内腔的顶部，用于对待检测玻璃的表面进行平整度检测。
85.具体的请参阅图1至图8，找平机构17包括：
86.螺纹槽1701，其设有两个，均开设于机箱本体1内腔的顶部；
87.螺纹杆1702，其设有两个，分别螺纹连接两个螺纹槽1701内；
88.球形轴1703，其设有两个，分别活动连接于两个螺纹杆1702的底部；
89.卡接杆1704，其设有两个，分别活动连接于两个球形轴1703的表面；
90.电池盒体1705，固定连接于两个卡接杆1704的一端；以及
91.激光定位仪体1706，其设有两个，均固定连接于电池盒体1705的一侧端。
92.本实施例中：通过激光定位仪体1706对待检玻璃14发射激光进行找平，可以观测待检玻璃14是否平整。
93.具体的请参阅图1至图8，位置调节机构包括：
94.底滑轨2，其设有两个，分别滑动连接于机箱本体1内腔的两侧；
95.顶滑轨3，其设有两个，分别滑动连接于两个底滑轨2的顶部；圆柱滑轨12，固定连接于两个顶滑轨3相靠近的端部之间；以及
96.导轨体21，其设有两个，均滑动连接于两个圆柱滑轨12的表面；
97.左立杆体4和右立杆体10分别活动连接于两个导轨体21的顶部。
98.本实施例中：通过将导轨体21沿着圆柱滑轨12进行水平移动，可以向里或向外移动调整好侧光源体7、顶光源体8与被检测玻璃之间的距离。
99.具体的请参阅图1至图8，还包括遮光机构18，遮光机构18设置于机箱本体1的一侧，遮光机构18包括：
100.遮光板1801，其通过两个传动轴1802活动铰接于机箱本体1的一侧端；
101.滑槽1806，开设于遮光板1801的一侧端；
102.观察窗1804，滑动连接于滑槽1806内；
103.折叠软板1803，活动连接于滑槽1806内的两侧内壁上；以及
104.凹槽1805，其设有两个，分别开设于观察窗1804的两侧端。
105.本实施例中：操作人员可以扳动凹槽1805后带动观察窗1804沿着滑槽1806的内侧进行水平移动，从而调节观察窗1804的位置，便于操作人员进行观测。
106.具体的请参阅图1至图8，左横杆6的一侧与右横杆9的一侧均设置有第一顶丝5。
107.本实施例中：将第一顶丝5旋转至松弛状态后，可以将左横杆6和右横杆9向上或向
下调整，并保持左横杆6和右横杆9在同一水平面上，确定横向支撑点。
108.具体的请参阅图1至图8，两个导轨体21的一侧端均固定连接有玻璃托板16。
109.本实施例中：玻璃托板16用于对待检玻璃14进行支撑，可以对待检玻璃14进行限位。
110.具体的请参阅图1至图8，左立杆体4的一侧与右立杆体10的一侧端均固定连接有多个均匀分布的支撑柱15。
111.本实施例中：支撑柱15的数量为六个，将待检玻璃14放置在支撑柱15和玻璃托板16的表面，通过支撑柱15进行支撑。
112.具体的请参阅图1至图8，两个玻璃托板16的顶部与多个支撑柱15的一侧均固定连接有橡胶垫20。
113.本实施例中：通过橡胶垫20可以防止测量时碰伤玻璃。
114.具体的请参阅图1至图8，还包括清灰机构19，清灰机构19设置于机箱本体1的另一侧，清灰机构19包括：
115.置物槽1901，开设于机箱本体1一侧的表面；
116.防护框1902，固定连接于机箱本体1上置物槽1901处的表面，防护框1902的表面开设有散热孔1903；
117.高压风机体1904，固定于防护框1902的内腔，且高压风机体1904的一端活动连接有风管1905；
118.风刀体1906，固定连接于置物槽1901内，风刀体1906通过风管1905与高压风机体1904连通；以及
119.隔尘网1907，固定连接于机箱本体1另一侧的表面。
120.本实施例中：风刀体1906沿着机箱本体1内部吹出的气体通过机箱本体1另一侧的隔尘网1907吹出，可以保持机箱本体1内部的空气流通，可以利用风刀体1906吹出的高压气体进行除灰除屑处理。
121.具体的请参阅图1至图8，两个导轨体21的一侧端均设置有第二顶丝11。
122.本实施例中：通过锁紧第二顶丝11可以对导轨体21进行限位固定。
123.本发明的工作原理及使用流程：本装置在使用时，使用时将左立杆体4和右立杆体10沿着圆柱滑轨12向里倾斜一定的角度，通过顶滑轨3沿着底滑轨2的表面滑动连接，带动导轨体21沿着圆柱滑轨12进行水平移动，向里或向外移动调整好侧光源体7、顶光源体8与被检测玻璃之间的距离；将左立杆体4和右立杆体10向中间活动靠拢或向外逐渐分开，确定立向支撑点；此时将第一顶丝5旋转至松弛状态后，将左横杆6和右横杆9向上或向下调整，并保持左横杆6和右横杆9在同一水平面上，确定横向支撑点，调节支撑柱15的支撑点在同一平面上，确保玻璃检测时每个支撑点与玻璃良好接触，放置平稳，然后锁紧第一顶丝5和第二顶丝11，将左立杆体4与右立杆体10进行限位固定，且将左横杆6与右横杆9进行限位固定，一切调整完毕后，将待检玻璃14放置在支撑柱15和玻璃托板16的表面，且利用橡胶垫20进行支撑，此时利用光源控制器13打开侧光源体7和顶光源体8选择光源数量，调整亮度完成玻璃划伤和印迹检测，换型时用同样方法重新调整一次即可投入使用，一台设备可以满足所有规格产品检测需求，该设备可以实现多品种换型调节，仅用一台就能满足产线能力范围内的所有品种缺陷检测需求，且该设备还具备光源任意分配和亮度可调的优点，实际
应用后，不仅节约了大量资金，而且操作简单，缺陷显示清晰，规格内的玻璃划伤和印迹缺陷漏检率基本为零；
124.在将待检玻璃14放置在左立杆体4与右立杆体10的一侧后，此时通过找平机构17的设置，在将螺纹杆1702与螺纹槽1701进行螺纹连接后，此时根据待检玻璃14放置的角度，利用球形轴1703调节卡接杆1704的位置，两个卡接杆1704在调节后使得激光定位仪体1706对准待检玻璃14的一侧，利用电池盒体1705驱动激光定位仪体1706，通过激光定位仪体1706对待检玻璃14发射激光进行找平，可以观测待检玻璃14是否平整；
125.同时在待检玻璃14放置后，在打开侧光源体7与顶光源体8之前，首先通过清灰机构19的设置，首先启动高压风机体1904后，利用高压风机体1904产生压缩空气，且产生的压缩空气通过风管1905传输至风刀体1906，压缩空气进入风刀体1906后，以一面厚度仅为0.05毫米的气流薄片高速吹出，通过放置在置物槽1901内侧的风刀体1906快速吹出气体，可以对一侧的待检玻璃14表面进行除灰除屑，在对待检玻璃14进行表面除灰除屑后，打开侧光源体7与顶光源体8，可以提高表面缺陷观测的精确度，减少了灰尘等干扰；
126.同时在打开侧光源体7与顶光源体8进行玻璃表面缺陷检测时，通过遮光机构18的设置，通过传动轴1802的传动连接，将遮光板1801沿着机箱本体1的一侧关上后，利用遮光板1801对机箱本体1的内侧进行遮光，同时操作人员可以扳动凹槽1805后带动观察窗1804沿着滑槽1806的内侧进行水平移动，在观察窗1804移动时，会带动观察窗1804两侧的折叠软板1803进行折叠拉伸，在将观察窗1804调节至合适位置后，可以通过观察窗1804对机箱本体1内腔的待检玻璃14进行观测，且利用遮光板1801与滑槽1806进行遮光。
127.本说明中未作详细描述的内容例如侧光源体7、顶光源体8、光源控制器13、电池盒体1705、激光定位仪体1706、高压风机体1904、风管1905、风刀体1906等属于本领域专业技术人员公知的现有技术，同时不属于本发明关键所在，因此不再阐述。
128.至此，已经详细描述了本公开的各实施例。为了避免遮蔽本公开的构思，没有描述本领域所公知的一些细节。本领域技术人员根据上面的描述，完全可以明白如何实施这里公开的技术方案。
129.虽然已经通过示例对本公开的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上示例仅是为了进行说明，而不是为了限制本公开的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本公开的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改或者对部分技术特征进行等同替换。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。

技术特征：
1.一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，包括：机箱本体(1)；左立杆体(4)，设置于所述机箱本体(1)内；左横杆(6)，固定连接于所述左立杆体(4)一侧端；右立杆体(10)，设置于所述机箱本体(1)内并与所述左立杆体(4)对称分布；右横杆(9)，固定连接于所述右立杆体(10)一侧端；位置调节机构，其设有于所述机箱本体(1)内，所述位置调节机构与所述左立杆体(4)和所述右立杆体(10)的底部均连接以实现纵向和横向位置的调节；顶光源体(8)，固定连接于所述机箱本体(1)内腔的顶部；侧光源体(7)，固定连接于所述机箱本体(1)内腔的一侧；光源控制器(13)，固定连接于所述机箱本体(1)一侧的表面；待检玻璃(14)，放置于所述左立杆体(4)和所述右立杆体(10)的之间；以及找平机构(17)，设置于所述机箱本体(1)内腔的顶部，用于对待检测玻璃的表面进行平整度检测。2.根据权利要求1所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，所述找平机构(17)包括：螺纹槽(1701)，其设有两个，均开设于所述机箱本体(1)内腔的顶部；螺纹杆(1702)，其设有两个，分别螺纹连接两个所述螺纹槽(1701)内；球形轴(1703)，其设有两个，分别活动连接于两个所述螺纹杆(1702)的底部；卡接杆(1704)，其设有两个，分别活动连接于两个所述球形轴(1703)的表面；电池盒体(1705)，固定连接于两个所述卡接杆(1704)的一端；以及激光定位仪体(1706)，其设有两个，均固定连接于所述电池盒体(1705)的一侧端。3.根据权利要求2所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，所述位置调节机构包括：底滑轨(2)，其设有两个，分别滑动连接于所述机箱本体(1)内腔的两侧；顶滑轨(3)，其设有两个，分别滑动连接于两个所述底滑轨(2)的顶部；圆柱滑轨(12)，固定连接于两个所述顶滑轨(3)相靠近的端部之间；以及导轨体(21)，其设有两个，均滑动连接于两个所述圆柱滑轨(12)的表面；所述左立杆体(4)和所述右立杆体(10)分别活动连接于两个所述导轨体(21)的顶部。4.根据权利要求3所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，还包括遮光机构(18)，所述遮光机构(18)设置于所述机箱本体(1)的一侧，所述遮光机构(18)包括：遮光板(1801)，其通过两个传动轴(1802)活动铰接于所述机箱本体(1)的一侧端；滑槽(1806)，开设于所述遮光板(1801)的一侧端；观察窗(1804)，滑动连接于所述滑槽(1806)内；折叠软板(1803)，活动连接于所述滑槽(1806)内的两侧内壁上；以及凹槽(1805)，其设有两个，分别开设于所述观察窗(1804)的两侧端。5.根据权利要求4所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，所述左横杆(6)的一侧与所述右横杆(9)的一侧均设置有第一顶丝(5)。6.根据权利要求5所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，两个所述导轨体
(21)的一侧端均固定连接有玻璃托板(16)。7.根据权利要求6所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，所述左立杆体(4)的一侧与所述右立杆体(10)的一侧端均固定连接有多个均匀分布的支撑柱(15)。8.根据权利要求7所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，两个所述玻璃托板(16)的顶部与多个所述支撑柱(15)的一侧均固定连接有橡胶垫(20)。9.根据权利要求8所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，还包括清灰机构(19)，所述清灰机构(19)设置于所述机箱本体(1)的另一侧，所述清灰机构(19)包括：置物槽(1901)，开设于所述机箱本体(1)一侧的表面；防护框(1902)，固定连接于所述机箱本体(1)上所述置物槽(1901)处的表面，所述防护框(1902)的表面开设有散热孔(1903)；高压风机体(1904)，固定于所述防护框(1902)的内腔，且所述高压风机体(1904)的一端活动连接有风管(1905)；风刀体(1906)，固定连接于所述置物槽(1901)内，所述风刀体(1906)通过风管(1905)与所述高压风机体(1904)连通；以及隔尘网(1907)，固定连接于所述机箱本体(1)另一侧的表面。10.根据权利要求9所述的一种盖板玻璃专用缺陷检查机，其特征在于，两个所述导轨体(21)的一侧端均设置有第二顶丝(11)。

技术总结
本公开提供一种盖板玻璃专用缺陷检查机，属于玻璃加工技术领域，该盖板玻璃专用缺陷检查机包括：机箱本体；左立杆体，设置于机箱本体内；左横杆，固定连接于左立杆体一侧端；右立杆体，设置于机箱本体内并与左立杆体对称分布；该设备可以实现多品种换型调节，且可以利用激光定位仪体对待检玻璃发射激光进行找平，仅用一台就能满足产线能力范围内的所有品种缺陷检测需求，通过放置在置物槽内侧的风刀体快速吹出气体，对待检玻璃进行表面除灰除屑后，可以提高表面缺陷观测的精确度，同时利用遮光板与滑槽进行遮光，可以有效提高玻璃在机箱本体内进行检测时的准确性，减少了外部光源照射在玻璃表面上产生的误差。玻璃表面上产生的误差。玻璃表面上产生的误差。


技术研发人员：李青 李赫然 丁奥林 王东江 侯小军
受保护的技术使用者：东旭科技集团有限公司
技术研发日：2023.03.10
技术公布日：2023/7/22