一种耐压测试装置的制作方法

1.本实用新型属于电子元器件电测试技术领域，尤其涉及一种耐压测试装置。


背景技术：

2.耐压测试(puncture test)是检验电器、电气设备、电气装置、电气线路和电工安全用具等承受过电压能力的主要方法之一。电气设备经耐压试验能够发现绝缘的局部缺陷、受潮及老化。一些常见的电子元器件，包括变压器、线圈等一般都需要进行耐压测试，现有的耐压测试设备一般结构简单，需要人工对需要测试的电子元器件进行上下料，自动化程度相对较低，无法实现对电子元器件的全自动测试。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于至少克服上述现有技术的不足之一，提供了一种耐压测试装置，其可实现对电子元件的全自动耐压测试，自动化程度高，生产效率得以提高。
4.本实用新型的技术方案是：一种耐压测试装置，包括安装平台、上料机构、测试机构、下料机构、第一抓取机构以及第二抓取机构；所述上料机构设置于所述安装平台，所述上料机构用于承接电子元件并且将电子元件输送至预设上料位置；测试机构设置于所述安装平台并用于测试电子元件的耐压性；下料机构设置于所述安装平台并用于将已测的电子元件输送至预设下料位置；第一抓取机构设置于所述安装平台，用于将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构；第二抓取机构设置于所述安装平台，用于将已测的电子元件转移至所述下料机构。
5.作为本技术方案的进一步改进，所述第一抓取机构包括第一抓取组件和第一传送组件，所述第一抓取机构用于抓取位于预设上料位置的电子元件，所述第一传送组件用于驱动第一抓取组件在预设上料位置和测试机构之间往复运动，以将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构。
6.作为本技术方案的进一步改进，所述第一抓取组件包括两个夹爪、第一夹紧气缸、第一气缸和旋转气缸，所述第一气缸设置于第一传送组件并可在竖直方向对所述旋转气缸进行驱动，所述旋转气缸与所述第一夹紧气缸连接，两个所述夹爪相对设置于所述第一夹紧气缸，所述第一夹紧气缸用于驱动两个夹爪相向或者相背运动。
7.作为本技术方案的进一步改进，两个所述夹爪之间设置有一端用于与电子元件相抵的弹性件，所述弹性件对被夹持的物料施加使其脱离所述夹爪的弹力。
8.作为本技术方案的进一步改进，所述安装平台设置有支撑架，所述第一传送组件包括用于与所述抓取机构固定连接的传动件、与所述传动件相连接并用于驱动所述传动件横向活动的驱动件；所述驱动件设置于所述支撑架。
9.作为本技术方案的进一步改进，所述上料机构包括振动源、设置于所述振动源顶部并由所述振动源驱动以用于传输电子元件的上料导轨；所述上料导轨的传输末端设置有第一斜面；所述上料机构包括支撑块，所述支撑块设置于所述安装平台，所述支撑块设置有
第二斜面，第二斜面位于第一斜面下方，并且所述第二斜面和第一斜面贴合，所述支撑块上设置有对传输至所述上料导轨传输末端的电子元件进行止挡的挡块。
10.作为本技术方案的进一步改进，所述下料机构包括感应件、下料支架、用于输送电子元件的下料传动件、连接于输送下料传动件并用于驱动所述下料传动件活动的下料驱动组件，所下料传动件设置于所述下料支架；所述下料传动件的两侧设置有下料导轨；所述感应件设置于下料导轨并位于所述下料传动件的传输末端，所述感应件用于感应下料导轨上是否存在电子元件。
11.作为本技术方案的进一步改进，所述测试机构包括综测设备以及顶针组件，电子元件通过测试治具放置于所述综测设备并与所述综测设备导通，所述综测设备与所述顶针组件电连接并通过所述顶针组件向电子元件施加测试电压。
12.作为本技术方案的进一步改进，所述下料机构包括感应件、下料支架、用于输送电子元件的下料传动件、连接于输送下料传动件并用于驱动所述下料传动件活动的下料驱动组件，所下料传动件设置于所述下料支架；所述下料传动件的两侧设置有下料导轨；所述感应件设置于下料导轨，所述感应件用于感应下料导轨上是否存在电子元件。
13.作为本技术方案的进一步改进，所述测试机构包括综测设备以及顶针组件，电子元件通过测试治具放置于所述综测设备并与所述综测设备导通，所述综测设备与所述顶针组件电连接并通过所述顶针组件向电子元件施加测试电压。
14.作为本技术方案的进一步改进，所述测试治具设置有与电子元件电连接的电接触点，电子元件放置于所述测试治具并通过所述电接触点与所述综测设置导通；所述测试治具的一侧设置有耐压测试气缸，所述耐压测试气缸带动所述顶针组件靠近或远离电子元件。
15.作为本技术方案的进一步改进，所述耐压测试装置还包括机壳、用于调节所述测试机构高度的调节组件，所述调节组件包括一端固定连接于所述机壳的多个导杆、连接于所述导杆的安装板，所述安装板相对于所述导杆的连接高度可调；所述测试机构固定连接于所述安装板。
16.本实用新型所提供的一种耐压测试装置，包括机壳、上料机构、测试机构、下料机构、第一抓取机构以及第二抓取机构，通过所述上料机构承接电子元件，并且将电子元件输送至预设上料位置；通过第一抓取机构，将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构，并且经过测试机构的耐压测试后通过第二抓取机构，将已测的电子元件转移至所述下料机构，最后通过下料机构将已测电子元件输送到预设下料位置，自动化水平高，生产效率得以提高。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1是本实用新型实施例提供的一种耐压测试装置的结构示意图；
19.图2是本实用新型实施例提供的一种耐压测试装置的另一结构示意图；
20.图3是本实用新型实施例提供的一种耐压测试装置的另一结构示意图；
21.图4是图2中a处的局部放大图；
22.图5是图3中b处的局部放大图；
23.图6是本实用新型实施例提供的一种耐压测试装置中测试机构的结构示意图；
24.图7是本实用新型实施例提供的一种耐压测试装置中上料机构的结构示意图。
具体实施方式
25.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
26.需要说明的是，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是直接设置、连接，也可以通过居中元部件、居中结构间接设置、连接。
27.另外，本实用新型实施例中若有“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系的用语，其为基于附图所示的方位或位置关系或常规放置状态或使用状态，其仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的结构、特征、装置或元件必须具有特定的方位或位置关系、也不是必须以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
28.在具体实施方式中所描述的各个具体技术特征和各实施例，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，例如通过不同的具体技术特征/实施例的组合可以形成不同的实施方式，为了避免不必要的重复，本实用新型中各个具体技术特征/实施例的各种可能的组合方式不再另行说明。
29.如图1至图7所示，本实用新型实施例提供的一种耐压测试装置，耐压测试装置包括机壳1、上料机构2、测试机构3、下料机构8、第一抓取机构4以及第二抓取机构5，其中，所述机壳1内设置有安装平台11；在其他的实施例中，也可以不包括机壳1；本实施例中，上料机构2包括伸出所述机壳1外的第一端以及伸入所述机壳1内的第二端，所述上料机构2设置于所述安装平台11并用于将待测电子元件由第一端输送至第二端，即，预设上料位置位于第二端，所述上料机构2用于承接电子元件并且将电子元件输送至预设上料位置；所述测试机构3设置于所述安装平台11，并用于测试电子元件的耐压性；下料机构8设置于所述安装平台11并用于将已测电子元件输送至设定点；第一抓取机构4设置于所述安装平台11，用于将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构3；第二抓取机构5，设置于所述安装平台11，用于将已测的电子元件转移至所述下料机构8。本实施例中，第二抓取机构5与所述第一抓取机构4的结构相同，当然，在其他的实施例中，第二抓取机构5与所述第一抓取机构4的结构可以不相同；本实用新型所提供的一种耐压测试装置，通过所述上料机构2承接电子元件，并且将电子元件输送至预设上料位置；通过第一抓取机构4，将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构3，并且经过测试机构3的耐压测试后通过第二抓取机构5，将已测的电子元件转移至所述下料机构8，最后通过下料机构8将已测电子元件输送到预设下料位置，自动化水平高，生产效率得以提高。
30.进一步地，所述第一抓取机构4包括第一抓取组件和第一传送组件6，所述第一抓
取组件用于抓取位于预设上料位置的电子元件，所述第一传送组件6用于驱动第一抓取组件在预设上料位置和测试机构3之间往复运动，以将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构3。
31.进一步地，所述第一抓取组件包括两个夹爪451、第一夹紧气缸452、第一气缸455和旋转气缸453，所述第一气缸455设置于第一传送组件6并可在竖直方向对所述旋转气缸453进行驱动，所述旋转气缸453与所述第一夹紧气缸452连接，两个所述夹爪451相对设置于所述第一夹紧气缸452；所述第一夹紧气缸452与所述两个夹爪451连接，并且所述两个夹爪451相对设置，所述第一夹紧气缸452用于驱动两个夹爪451相向或者相背运动，以夹紧电子元件或释放电子元件；具体地，其中一所述夹爪451固接于所述夹紧气缸452的一侧，另一所述夹爪451固接于所述夹紧气缸452的另一侧；本实施例中，第二抓取机构5的结构与所述第一抓取机构4相同，第二抓取机构5包括第二抓取组件和第二传送组件7，第二抓取组件的结构与第一抓取组件的结构相同。
32.进一步地，两个所述夹爪451之间设置有一端用于与电子元件相抵的弹性件454，所述弹性件454对被夹持的物料(即电子元件)施加使其脱离所述夹爪451的弹力；所述第一抓取组件还包括第一气缸455，所述第一气缸455连接于旋转气缸453，用于驱动旋转气缸453纵向滑动，以使所述弹性件454抵顶于电子元件。具体地，所述第一气缸455通过连接件带动旋转气缸453沿着纵向(y轴)移动，所述旋转气缸453可带动所述第一夹紧气缸452旋转，所述第一夹紧气缸452可驱动两个夹爪451，通过两个夹爪451对物料进行夹紧。本实施例中，两个所述夹爪451之间设置有弹性件454，所述弹性件454通过安装架457与所述第一夹紧气缸452固定连接，在夹取物料(即电子元件)时，所述弹性件454移动至物料的正上方，然后在第一气缸455的作用下向下移动，直至抵持于物料的一端并在抵压作用下弹性件454发生压缩，直至两个夹爪451分别位于物料的两侧，然后两个夹爪451在第一夹紧气缸452的作用下夹紧物料。当需要释放物料，例如需要将物料放置到测试机构3上进行耐压测试时，两个夹爪451相背运动并松开物料，然后弹性件454在回弹力的作用下顶持物料，可以有效防止物料粘连在夹爪451上。
33.进一步地，所述安装平台11设置有支撑架12，所述第一传送组件6包括用于与所述抓取机构固定连接的传动件671、与所述传动件671相连接并用于驱动所述传动件671横向活动的驱动件672；所述驱动件672设置于所述支撑架12。第二抓取机构5可以包括第二抓取组件和第二传送组件7，第二传送组件7结构上与第一传送组件6相同；具体地，驱动件672可以为驱动电机，所述第一传送组件6为带轮传动机构，传动件671为皮带，皮带固定连接有第一抓取组件，从而带动抓取有电子元件的抓取机构横向滑动。当然地，在另一个实施例中，也可以通过链轮传动机构或者其他传动机构，均可以实现电子元件的输送。
34.进一步地，所述支撑架12还设置有与所述传动件671平行的滑动导轨673，所述抓取机构包括一侧固定连接于所述第一气缸455的固定部件456，所述固定部件456的一端与所述传动件671固定连接；所述固定部件456的另一端滑动设置于所述滑动导轨673，并且所述固定部件456的另一端与所述传动件671固定连接。所述固定部件456包括用于沿所述滑动导轨673滑动的滑块456a，从而使得抓取有电子元件的第一抓取组件可以沿着滑动导轨673横向滑动。
35.进一步地，所述上料机构2包括振动上料器；所述振动上料器包括振动源21、设置
于所述振动源21顶部并由所述振动源21驱动以用于传输电子元件的上料导轨22。所述上料导轨22的传输末端设置有第一斜面221；所述上料导轨22的端部设置有支撑块23，所述支撑块23靠近所述上料导轨22的一端设置用于有与所述第一斜面221相接的第二斜面231；所述支撑块23设置于所述安装平台11；安装时，第二斜面231位于第一斜面221的下方，所述第二斜面231和第一斜面221贴合，并对第一斜面221进行支撑，作用是防止上料导轨22的传输末端延伸出振动源21后在重力作用下发送形变；所述支撑块23上设置有挡块24，可以对传输至所述上料导轨22传输末端的电子元件进行止挡，具体地，所述支撑块23远离所述上料导轨22的一端设置有用于止挡电子元件的挡块24，挡块24固定在支撑块23上，便于第一抓取组件在该工位抓取待测电子元件。本实施例中，将电子元件放置在上料导轨22的一端，振动源21通过带动上料导轨22振动，将放置在上料导轨22上的电子元件输送至位于机壳1内的另一端。
36.进一步地，所述下料机构8包括感应件85、下料支架81、用于输送电子元件的下料传动件82、连接于输送下料传动件82并用于驱动所述下料传动件82活动的下料驱动组件83，所下料传动件82设置于所述下料支架81；所述下料传动件82的两侧设置有下料导轨84；所述感应件85设置于下料导轨84并位于所述下料传动件82的传输末端，所述感应件85用于感应下料导轨84上是否存在电子元件；具体地，所述下料机构8为皮带传动机构，下料传动件82为皮带，电子元件位于皮带上，感应件85可以为光电传感器，用于检测皮带上是否放置有电子元件。
37.进一步地，所述测试机构3包括综测设备32以及顶针组件31，顶针组件31用于与电子元件相抵接，综测设备32电连接于所述顶针组件31，以用于施加电压给电子元件，电子元件通过测试治具33放置于所述综测设备32并与所述综测设备32导通，所述综测设备32与所述顶针组件31电连接并通过所述顶针组件31向电子元件施加测试电压。具体地，所述测试机构3可以设置两个以上，用于进一步检测保证有效性，或者，多个测试工序可以提升测试效率。
38.进一步地，所述测试治具33设置有与电子元件电连接的电接触点，电子元件放置于所述测试治具33并通过所述电接触点与所述综测设备32导通；所述测试治具33的一侧设置有耐压测试气缸34，所述耐压测试气缸34带动所述顶针组件31靠近或远离电子元件。具体应用中，所述测试机构3还包括电连接于所述综测设备32的测试治具33、用于带动所述顶针组件31滑动的耐压测试气缸34；所述测试治具33具有用于与电子元件接触导通的导通插件；所述综测设备32设置有用于安装所述测试治具33的安装位；所述耐压测试气缸34位于所述测试治具33的一侧；所述测试机构3还包括设置于所述综测设备32顶部并用于抵顶所述测试治具33一侧的定位气缸组件35；所述耐压测试装置还包括用于调节所述测试机构3高度的调节组件9，所述调节组件9包括一端固定连接于所述机壳1的多个导杆、连接于所述导杆的安装板，所述安装板相对于所述导杆的连接高度可调；所述测试机构3固定连接于所述安装板。具体应用中，所述测试治具33可通过所述导通插件与所述综测设备32导通。本实施例中，所述测试治具33可根据测试的物料的不同进行更换，保证耐压测试装置适用的广泛性；定位气缸组件35的端部具有顶块，定位气缸可通过顶块抵持所述测试治具33，使得所述测试治具33移动至相应位置上。当所述第一抓取机构4将物料放置在所述测试治具33上时，所述物料(电子元件)上的引脚可以与测试治具33接触导通，进而实现所述物料与所述
综测设备32的导通，所述综测设备32可以对物料进行检测。所述顶针组件31包括两个耐压测试顶针，耐压测试气缸可带动耐压测试顶针移动，靠近或远离物料，耐压测试顶针的数量有两个，两个耐压测试顶针分别与所述综测设备32导通，两个耐压测试顶针分别对应正极和负极，当两个所述测试顶针与物料接触时，可施加高电压对物料进行耐压测试。所述测试治具33的一侧还设置有光电传感器，用于识别测试治具33上是否放置有物料。
39.本实用新型实施例所提供的一种耐压测试装置，包括机壳1、上料机构2、测试机构3、下料机构8、第一抓取机构4以及第二抓取机构5，通过所述上料机构2承接电子元件，并且将电子元件输送至预设上料位置；通过第一抓取机构4，将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构3，并且经过测试机构3的耐压测试后通过第二抓取机构5，将已测的电子元件转移至所述下料机构8，最后通过下料机构8将已测电子元件输送到预设下料位置，自动化水平高，生产效率得以提高。
40.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

技术特征：
1.一种耐压测试装置，其特征在于，包括：安装平台；上料机构；所述上料机构设置于所述安装平台，所述上料机构用于承接电子元件并且将电子元件输送至预设上料位置；测试机构，设置于所述安装平台并用于测试电子元件的耐压性；下料机构，设置于所述安装平台并用于将已测的电子元件输送至预设下料位置；第一抓取机构，设置于所述安装平台，用于将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构；第二抓取机构，设置于所述安装平台，用于将已测的电子元件转移至所述下料机构。2.如权利要求1所述的耐压测试装置，其特征在于，所述第一抓取机构包括第一抓取组件和第一传送组件，所述第一抓取机构用于抓取位于预设上料位置的电子元件，所述第一传送组件用于驱动第一抓取组件在预设上料位置和测试机构之间往复运动，以将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构。3.如权利要求2所述的耐压测试装置，其特征在于，所述第一抓取组件包括两个夹爪、第一夹紧气缸、第一气缸和旋转气缸，所述第一气缸设置于第一传送组件并可在竖直方向对所述旋转气缸进行驱动，所述旋转气缸与所述第一夹紧气缸连接，两个所述夹爪相对设置于所述第一夹紧气缸，所述第一夹紧气缸用于驱动两个夹爪相向或者相背运动。4.如权利要求3所述的耐压测试装置，其特征在于，两个所述夹爪之间设置有一端用于与电子元件相抵的弹性件，所述弹性件对被夹持的物料施加使其脱离所述夹爪的弹力。5.如权利要求4所述的耐压测试装置，其特征在于，所述安装平台设置有支撑架，所述第一传送组件包括用于与所述抓取机构固定连接的传动件、与所述传动件相连接并用于驱动所述传动件横向活动的驱动件；所述驱动件设置于所述支撑架。6.如权利要求1所述的耐压测试装置，其特征在于，所述上料机构包括振动源、设置于所述振动源顶部并由所述振动源驱动以用于传输电子元件的上料导轨；所述上料导轨的传输末端设置有第一斜面；所述上料机构包括支撑块，所述支撑块设置于所述安装平台，所述支撑块设置有第二斜面，第二斜面位于第一斜面下方，并且所述第二斜面和第一斜面贴合，所述支撑块上设置有对传输至所述上料导轨传输末端的电子元件进行止挡的挡块。7.如权利要求1所述的耐压测试装置，其特征在于，所述下料机构包括感应件、下料支架、用于输送电子元件的下料传动件、连接于输送下料传动件并用于驱动所述下料传动件活动的下料驱动组件，所下料传动件设置于所述下料支架；所述下料传动件的两侧设置有下料导轨；所述感应件设置于下料导轨并位于所述下料传动件的传输末端，所述感应件用于感应下料导轨上是否存在电子元件。8.如权利要求1至7中任一项所述的耐压测试装置，其特征在于，所述测试机构包括综测设备以及顶针组件，电子元件通过测试治具放置于所述综测设备并与所述综测设备导通，所述综测设备与所述顶针组件电连接并通过所述顶针组件向电子元件施加测试电压。9.如权利要求8所述的耐压测试装置，其特征在于，所述测试治具设置有与电子元件电连接的电接触点，电子元件放置于所述测试治具并通过所述电接触点与所述综测设置导通；
所述测试治具的一侧设置有耐压测试气缸，所述耐压测试气缸带动所述顶针组件靠近或远离电子元件。10.如权利要求9所述的耐压测试装置，其特征在于，所述耐压测试装置还包括机壳、用于调节所述测试机构高度的调节组件，所述调节组件包括一端固定连接于所述机壳的多个导杆、连接于所述导杆的安装板，所述安装板相对于所述导杆的连接高度可调；所述测试机构固定连接于所述安装板。

技术总结
本实用新型适用于电子元器件电测试技术领域，提供了一种耐压测试装置，包括机壳、上料机构、测试机构、下料机构、第一抓取机构和第二抓取机构；通过所述上料机构承接电子元件，并且将电子元件输送至预设上料位置；通过第一抓取机构，将位于预设上料位置的电子元件转移至所述测试机构，并且经过测试机构的耐压测试后通过第二抓取机构，将已测的电子元件转移至所述下料机构，最后通过下料机构将已测电子元件输送到预设下料位置，自动化水平高，生产效率得以提高。得以提高。得以提高。


技术研发人员：许忠值 彭卫
受保护的技术使用者：湖南蓝色河谷科技有限公司
技术研发日：2023.03.21
技术公布日：2023/7/27