一种异型光学膜CPK测量治具的制作方法

一种异型光学膜cpk测量治具
技术领域
1.本实用新型涉及光学膜技术领域，具体涉及一种异型光学膜cpk测量治具。


背景技术：

2.目前车载盖板表面处理有两种，第一种是ag\ar靶材及af药液直接溅镀到表面，第二种光学膜来料自带ag/ar/af与盖板表面贴合。ag处理原理是对玻璃表面进行特殊化学处理后使原玻璃表面变为哑光的漫反射表面。车载显示盖板外形结构与手机外形结构相比，异形结构占比90％以上，且为全周样条曲线结构，加工企业如何在加工制程中准确测量玻璃外形尺寸及轮廓度，特别是大尺寸的3d玻璃的异形结构是目前行业中面临的攻关课题，这对于3d车载显示盖板玻璃的测量提出了更高的要求。
3.故而，申请号为cn202122926166.4的专利文献，其公开了车载显示盖板玻璃测量治具和车载显示盖板玻璃测量装置，其设计的3d仿形结构主体可将所测盖板玻璃贴合在仿形面上，再通过仿形轮廓面贴合所测盖板玻璃的轮廓对其进行定位，再通过辅助坐标结构对理论3d模型位置确定，从而可以快速准确的将实际产品的尺寸及曲面轮廓面与理论3d模型的尺寸及曲面轮廓度进行比较，数据可靠，简化了测试过程，有效提高了测量制程效率。
4.又因目前的异型光学膜（如图3和图4）在进行质检时，需先收集125组尺寸数据，每组一粒，而采集的数据有孔径（两圆心间距离）、单圆直径（随机5个点）、两个弧形各最高点与圆形中心的距离。
5.故而在实际操作时，上述实用新型专利在面对异型光学膜的测量就存在局限性，因为光学膜的形状不确定（具体而言就是异形的），同时光学膜的材质较软，且两边易翘，通过仿生轮廓对光学膜限位时无法充分的对每个光学膜进行限制，若强行操作就容易损坏光学膜，故而只能单个进行测量操作，但是单个测量就代表每次都需要定位，这样就加大了人工的耗时，也就是说，在面对异型光学膜的测量，由于无法对多个光学膜进行定位，就只能单个进行测量操作，而这样容易出现每次操作都需要重新定位，导致最后的工作效率受到影响的问题。


技术实现要素：

6.针对上述存在的技术不足，本实用新型的目的是提供一种异型光学膜cpk测量治具，以解决背景技术中提出的在面对异型光学膜的测量，由于无法对多个光学膜进行定位，就只能单个进行测量操作，而这样容易出现每次操作都需要重新定位，导致最后的工作效率受到影响的问题。
7.为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：本实用新型提供一种异型光学膜cpk测量治具，包括
8.硬底板，所述硬底板用于承载光学膜；
9.玻纤板，所述玻纤板活动连接于硬底板的表面，所述玻纤板的表面具有多个光学膜槽，所述光学膜槽的外形与光学膜相匹配，所述光学膜槽能够对光学膜进行限位；
10.硬面板；所述硬面板活动连接于玻纤板远离硬底板一侧表面，所述硬面板能够压在位于光学膜槽内的光学膜表面；
11.当玻纤板被放置于硬底板后，将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽并在玻纤板上压上硬面板。
12.优选地，所有的所述光学膜槽以设定数量被分为多组，每组所述光学膜槽均沿玻纤板表面阵列设置，相邻两组所述光学膜槽之间间隔相等。
13.优选地，所述硬底板包括用于承载光学膜的模板平台以及多个卡块，所有的所述卡块均设置在模板平台靠近玻纤板的一侧表面边缘，所述模板平台的边缘侧壁设有多个取放槽，所述取放槽用于辅助取放玻纤板。
14.优选地，所述卡块至少设置四个，且四个所述卡块分别设置于模板平台的四个拐角位置。
15.优选地，所述卡块至少呈“i”字形或“l”字形中的一种，所述卡块用于对玻纤板和硬面板进行限位。
16.优选地，所述取放槽至少设置有两个，所有的取放槽均设置在硬底板长度方向上的侧壁或宽度方向上侧壁，每两个取放槽均关于硬底板的中心点对称设置。
17.优选地，所述卡块的高度数值不小于玻纤板与硬面板的高度数值之和。
18.优选地，所述硬面板与所述玻纤板的面积尺寸相同。
19.优选地，所述光学膜槽的面积尺寸不小于光学膜的面积尺寸。
20.优选地，所述硬面板的表面与每组光学膜槽对应位置处均开设有放气槽。
21.本实用新型的有益效果在于：本实用新型可通过与光学膜配合的光学膜槽实现每个光学膜匹配限位的操作，其具体实施时，直接将玻纤板放置于硬底板表面，之后按照对应的结构将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽内，最后在玻纤板上压上硬面板即可，整个操作过程中不同形状的光学膜均可以匹配对应的光学膜槽，故而就可以避免后续测量时只能单个进行测量的情况发生。
附图说明
22.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
23.图1为本实用新型的整体结构爆炸图。
24.图2为本实用新型中的玻纤板结构示意图。
25.图3为现有技术中的光学膜主视图。
26.图4为现有技术中的光学膜侧视图。
27.附图标记说明：1-硬底板；2-玻纤板；3-光学膜槽；4-硬面板；5-放气槽；
28.11-模板平台；12-卡块；13-取放槽。
具体实施方式
29.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行
清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
30.如背景技术所述的，在面对异型光学膜的测量，由于无法对多个光学膜进行定位，就只能单个进行测量操作，而这样容易出现每次操作都需要重新定位，导致最后的工作效率受到影响的问题。
31.为了解决此技术问题，本实用新型提供了一种异型光学膜cpk测量治具。
32.具体地，请参考图1-2，所述异型光学膜cpk测量治具，具体包括
33.硬底板1，硬底板1用于承载光学膜；
34.玻纤板2，玻纤板2活动连接于硬底板1的表面，玻纤板2的表面具有多个光学膜槽3，光学膜槽3的外形与光学膜相匹配，光学膜槽3能够对光学膜进行限位；
35.硬面板4；硬面板4活动连接于玻纤板2远离硬底板1一侧表面，硬面板4能够压在位于光学膜槽3内的光学膜表面；
36.当玻纤板2被放置于硬底板1后，将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽3并在玻纤板2上压上硬面板4。
37.本实用新型中硬底板1与硬面板4均为亚克力透明板材。
38.本实用新型可通过与光学膜配合的光学膜槽3实现每个光学膜匹配限位的操作，其具体实施时，直接将玻纤板2放置于硬底板1表面，之后按照对应的结构将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽3内，最后在玻纤板2上压上硬面板4即可，整个操作过程中不同形状的光学膜均可以匹配对应的光学膜槽3，故而就可以避免后续测量时只能单个进行测量的情况发生。
39.为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
40.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
41.需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。
42.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
43.实施例1
44.请参考图1-2，一种异型光学膜cpk测量治具，包括
45.硬底板1，硬底板1用于承载光学膜；
46.玻纤板2，玻纤板2活动连接于硬底板1的表面，玻纤板2的表面具有多个光学膜槽3，光学膜槽3的外形与光学膜相匹配，光学膜槽3能够对光学膜进行限位；
47.硬面板4；硬面板4活动连接于玻纤板2远离硬底板1一侧表面，硬面板4能够压在位于光学膜槽3内的光学膜表面；
48.当玻纤板2被放置于硬底板1后，将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽3并在玻纤板2上压上硬面板4。
49.本实用新型可通过与光学膜配合的光学膜槽3实现每个光学膜匹配限位的操作，其具体实施时，直接将玻纤板2放置于硬底板1表面，之后按照对应的结构将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽3内，最后在玻纤板2上压上硬面板4即可，整个操作过程中不同形状的光学膜均可以匹配对应的光学膜槽3，故而就可以避免后续测量时只能单个进行测量的情况发生。
50.本实用新型中，光学膜的结构参照图3和图4，图3和图4中p处所指便代表光学膜的结构，其外形与光学膜槽3相匹配，但具体结构不固定，但是光学膜形状改变后，光学膜槽3便会对应的改变，且图4中光学膜的结构具体为：中间部分为光学膜，光学膜两侧表面均为离型膜。
51.所有的光学膜槽3以设定数量被分为多组，每组光学膜槽3均沿玻纤板2表面阵列设置，相邻两组光学膜槽3之间间隔相等。
52.如此设置是为了使单个光学膜槽3与单个光学膜槽3上下的间距是一样的，左右的间距是一样的，每个槽可放一片光学膜，且每个槽的总面积是固定的，可以根据所需测量的光学膜做其他形状的槽体。玻纤板2厚度可根据光学膜总厚度设计，图4中光学膜的总厚度0.35mm，而槽体的尺寸需比光学膜大0.1mm。
53.实施例2
54.在实施例1的基础上对硬底板1进一步优化，硬底板1包括用于承载光学膜的模板平台11以及多个卡块12，所有的卡块12均设置在模板平台11靠近玻纤板2的一侧表面边缘，模板平台11的边缘侧壁设有多个取放槽13，取放槽13用于辅助取放玻纤板2。
55.由于直接将玻纤板2放置于硬底板1表面时存在滑落的风险，故而，当玻纤板2放置时，直接朝着模板平台11表面放下玻纤板2即可，在放置好后，通过多个卡块12的配合可以快速实现对玻纤板2进行限位，而在玻纤板2放置好后再依次放置光学膜和硬面板4，在所有的部件均完成放置后，便需要进行检测，待检测完成后有时由于光学膜形状改变便需要更换玻纤板2，在玻纤板2更换时便可通过取放槽13辅助取放玻纤板2，以使取放玻纤板2的过程中不会由于玻纤板2与模板平台11贴合过度导致玻纤板2取放较为耗时的情况发生。
56.卡块12至少设置四个，且四个卡块12分别设置于模板平台11的四个拐角位置。
57.如此设置卡块12是为了使放置在模板平台11表面的玻纤板2不会出现被卡块12占据空间从而无法正常放置的情况发生。
58.进一步对卡块12进行优化，卡块12至少呈“i”字形或“l”字形中的一种，卡块12用于对玻纤板2和硬面板4进行限位。
59.如此设置卡块12的形状是为了使玻纤板2只能被外界取放机构（例如机械手或者直接人工手动取出），而不会从模板平台11表面的某一个方向滑出。
60.针对取放槽13进一步优化，取放槽13至少设置有两个，所有的取放槽13均设置在
硬底板1长度方向上的侧壁或宽度方向上侧壁，每两个取放槽13均关于硬底板1的中心点对称设置。
61.如此设置是因为玻纤板2长度较长，人工手动取放时，通过从宽度方向（不局限于宽度方向，也可是长度方向）对称设置的取放槽13同时施力，可以使玻纤板2取放更加平稳。
62.进一步对卡块12的高度进行优化，卡块12的高度数值不小于玻纤板2与硬面板4的高度数值之和。
63.如此设置是为了防止玻纤板2放置好后，再放置硬面板4后，出现硬面板4能够沿玻纤板2表面滑动的情况（这是因为若是卡块12的高度不够，则放置的硬面板4受到外力作用时就容易滑出，尤其是硬面板4的厚度就较薄）。
64.硬面板4与玻纤板2的面积尺寸相同。
65.如此设置是为了使硬面板4与玻纤板2可以同时被卡块12卡住，且卡住后硬面板4与玻纤板2之间不会出现相对滑动的现象。
66.光学膜槽3的面积尺寸不小于光学膜的面积尺寸。
67.光学膜槽3的面积尺寸优选为大于光学膜的面积尺寸，如此设置是为了预防在光学膜槽3内放置光学膜时不会出现光学膜槽3与光学膜边缘接触导致光学膜翘起的情况发生。
68.实施例3
69.硬面板4的表面与每组光学膜槽3对应位置处均开设有放气槽5。
70.由于硬面板4的表面光滑，一旦接触光学膜就容易出现光学膜黏附在硬面板4的表面的情况。
71.本实用新型在使用时，直接将玻纤板2朝着模板平台11表面放下，在放置好后，通过多个卡块12的配合可以快速实现对玻纤板2进行限位，而在玻纤板2放置好后再依次放置光学膜和硬面板4，在所有的部件均完成放置后，便需要进行检测，待检测完成后有时由于光学膜形状改变便需要更换玻纤板2，在玻纤板2更换时便可通过取放槽13辅助取放玻纤板2，以使取放玻纤板2的过程中不会由于玻纤板2与模板平台11贴合过度导致玻纤板2取放较为耗时的情况发生。
72.而具体的检测过程为：在计算机内设置一次轨迹定点：孔径、单圆直径，两个弧形各最高点与圆形中心的距离及各光学膜的间距，cpk测量设备根据所连接计算机设置测量轨迹，对位于玻纤板2上每个光学膜槽3内的光学膜的孔径、单圆直径，两个弧形各最高点与圆形中心的距离进行测量尺寸取数据，测量一粒，根据每个光学膜槽3之间的间距，cpk测量设备测量探头移动到下粒光学膜测量，直至玻纤板2上的光学膜测量完，取出光学膜，再放入另一组光学膜，再具体使用时采用这三个板可以完成125粒的测量，预计每板的时间每粒测试10粒，每板42粒，125粒，125粒*10秒＝21分钟，取、放光学膜一次3分钟，3次*3分钟＝9分钟。使用治具测量共需30分钟，对比没使用治具测量完125粒光学膜要2小时，用时少1.5小时。其效率更高。
73.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本
领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
74.1、显然，以上所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，附图中给出了本实用新型的较佳实施例，但并不限制本实用新型的专利范围。本实用新型可以以许多不同的形式来实现，相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来而言，其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本实用新型说明书及附图内容所做的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本实用新型专利保护范围之内。

技术特征：
1.一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，包括硬底板（1），所述硬底板（1）用于承载光学膜；玻纤板（2），所述玻纤板（2）活动连接于硬底板（1）的表面，所述玻纤板（2）的表面具有多个光学膜槽（3），所述光学膜槽（3）的外形与光学膜相匹配，所述光学膜槽（3）能够对光学膜进行限位；硬面板（4）；所述硬面板（4）活动连接于玻纤板（2）远离硬底板（1）一侧表面，所述硬面板（4）能够压在位于光学膜槽（3）内的光学膜表面；当玻纤板（2）被放置于硬底板（1）后，将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽（3）并在玻纤板（2）上压上硬面板（4）。2.如权利要求1所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所有的所述光学膜槽（3）以设定数量被分为多组，每组所述光学膜槽（3）均沿玻纤板（2）表面阵列设置，相邻两组所述光学膜槽（3）之间间隔相等。3.如权利要求1所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述硬底板（1）包括用于承载光学膜的模板平台（11）以及多个卡块（12），所有的所述卡块（12）均设置在模板平台（11）靠近玻纤板（2）的一侧表面边缘，所述模板平台（11）的边缘侧壁设有多个取放槽（13），所述取放槽（13）用于辅助取放玻纤板（2）。4.如权利要求3所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述卡块（12）至少设置四个，且四个所述卡块（12）分别设置于模板平台（11）的四个拐角位置。5.如权利要求3或4所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述卡块（12）至少呈“i”字形或“l”字形中的一种，所述卡块（12）用于对玻纤板（2）和硬面板（4）进行限位。6.如权利要求3所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述取放槽（13）至少设置有两个，所有的取放槽（13）均设置在硬底板（1）长度方向上的侧壁或宽度方向上侧壁，每两个取放槽（13）均关于硬底板（1）的中心点对称设置。7.如权利要求3或4所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述卡块（12）的高度数值不小于玻纤板（2）与硬面板（4）的高度数值之和。8.如权利要求5所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述硬面板（4）与所述玻纤板（2）的面积尺寸相同。9.如权利要求1或2所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述光学膜槽（3）的面积尺寸不小于光学膜的面积尺寸。10.如权利要求2所述的一种异型光学膜cpk测量治具，其特征在于，所述硬面板（4）的表面与每组光学膜槽（3）对应位置处均开设有放气槽（5）。

技术总结
本实用新型公开了一种异型光学膜CPK测量治具，包括硬底板；玻纤板，所述玻纤板活动连接于硬底板的表面，所述玻纤板的表面具有多个光学膜槽，所述光学膜槽的外形与光学膜相匹配；所述硬面板活动连接于玻纤板远离硬底板一侧表面，本实用新型可通过与光学膜配合的光学膜槽实现每个光学膜匹配限位的操作，其具体实施时，直接将玻纤板放置于硬底板表面，之后按照对应的结构将每个光学膜均放置于对应的光学膜槽内，最后在玻纤板上压上硬面板即可，整个操作过程中不同形状的光学膜均可以匹配对应的光学膜槽，故而就可以避免后续测量时只能单个进行测量的情况发生。个进行测量的情况发生。个进行测量的情况发生。


技术研发人员：温惠陆 张惠民 苏建文 黄思凯
受保护的技术使用者：信利光电股份有限公司
技术研发日：2023.01.19
技术公布日：2023/7/27