一种可自发光的工程测量辅助标杆的制作方法

1.本实用新型涉及工程测量技术领域，具体是一种可自发光的工程测量辅助标杆。


背景技术：

2.目前市面上常见的自发光标杆大都采用荧光材质进行自发光，但是荧光材质使用寿命较短，本并且长期暴露在光线下会使荧光材质的发光率会持续降低，最后导致标杆无法发光，同时市面上长的标杆大都采用三脚架机构进行固定支撑，这会导致标杆折叠后体积较大，携带不够便捷，针对上述情况，在现有的可自发光的工程测量辅助标杆基础上进行技术创新。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种可自发光的工程测量辅助标杆，以解决上述背景技术中提出的问题。
4.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可自发光的工程测量辅助标杆，包括第二螺栓，所述第二螺栓的外侧壁设置有照明机构和支撑机构，所述照明机构包括第一收纳柱，所述第一收纳柱的顶部开设有第一滑槽，所述第一滑槽内设置有中空柱，所述中空柱的顶部设置有顶盘，所述第一收纳柱和中空柱的前侧贯穿开设有安装槽，所述安装槽内设置有透明标尺，所述顶盘的底部和第一滑槽底部均设置有灯圈，所述第一收纳柱的底部设置有第一固定锥，所述支撑机构位于第一收纳柱的外侧壁且与第一收纳柱相配合。
5.优选的，所述支撑机构包括第二收纳柱，所述第二收纳柱的底部开设有第二滑槽，所述第二滑槽内设置有支撑柱，所述第二收纳柱的外侧壁开设有第一螺纹孔，所述第一螺纹孔与第二滑槽相连通，所述第一螺纹孔内螺接有第一螺栓，所述第一螺栓与支撑柱相贴合，所述支撑柱的底部设置有第二固定锥。
6.优选的，所述第一收纳柱的左右两侧均开设有第二螺纹孔，所述第二螺栓螺接在第二螺纹孔内，两组所述第二螺栓与中空柱相贴合。
7.优选的，所述第一收纳柱的外侧壁均匀开设有收纳槽，所述收纳槽的内侧壁设置有转轴。
8.优选的，所述第二收纳柱的外侧壁开设有通孔，所述第二收纳柱设置在收纳槽内，所述转轴位于通孔内。
9.优选的，所述第一收纳柱的外侧壁均匀设置有限位块，所述限位块与第二收纳柱相对应。
10.与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
11.本实用一种可自发光的工程测量辅助标杆，在夜间工作通过两组灯圈发出的光线穿过透明标尺显现出其表面印刷的刻度，以此实现装置在夜间发光方便进行工作的效果；
12.当装置闲置时，可以将中空柱收纳在第一收纳柱内，将支撑柱收纳到第二收纳柱
内，然后将第二收纳柱移动到收纳槽内，以此将装置折叠收纳成柱体，从而便于携带。
附图说明
13.图1为本实用一种可自发光的工程测量辅助标杆的结构示意图；
14.图2为本实用一种可自发光的工程测量辅助标杆的右侧局部剖视图；
15.图3为本实用一种可自发光的工程测量辅助标杆图2的a部放大图；
16.图4为本实用一种可自发光的工程测量辅助标杆的正面剖视图。
17.图中：1、第一收纳柱；11、中空柱；12、透明标尺；13、顶盘；14、灯圈；15、第一固定锥；2、第二收纳柱；21、支撑柱；22、第一螺栓；23、第二固定锥；3、第二螺栓；4、收纳槽；5、限位块；6、转轴。
具体实施方式
18.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
19.请参阅图1-4，一种可自发光的工程测量辅助标杆，包括第二螺栓3，第二螺栓3的外侧壁滑动设置有照明机构和支撑机构，照明机构包括第一收纳柱1，第一收纳柱1的顶部开设有第一滑槽，第一滑槽内滑动设置有中空柱11，中空柱11的顶部固定设置有顶盘13，第一收纳柱1和中空柱11的前侧贯穿开设有安装槽，安装槽内固定设置有透明标尺12，顶盘13的底部和第一滑槽底部均固定设置有灯圈14，通过上下移动中空柱11可以便捷的调整装置的高度，以适应不同的工作高度需求，在夜间工作通过两组灯圈14发出的光线穿过透明标尺12显现出其表面印刷的刻度，以此实现装置在夜间发光方便进行工作的效果，第一收纳柱1的底部固定设置有第一固定锥15，支撑机构位于第一收纳柱1的外侧壁且与第一收纳柱1相配合，支撑机构包括第二收纳柱2，第二收纳柱2的底部开设有第二滑槽，第二滑槽内滑动设置有支撑柱21，第二收纳柱2的外侧壁开设有第一螺纹孔，第一螺纹孔与第二滑槽相连通，第一螺纹孔内螺接有第一螺栓22，第一螺栓22与支撑柱21相贴合，通过拉动支撑柱21可以快速调整第二收纳柱2的长度，以此可以更好的去辅助支撑第一收纳柱1，通过旋紧第一螺栓22将支撑柱21固定在第二收纳柱2内，支撑柱21的底部固定设置有第二固定锥23，通过第一固定锥15和第二固定锥23可以将装置稳定的固定在地面上，第一收纳柱1的左右两侧均开设有第二螺纹孔，第二螺栓3螺接在第二螺纹孔内，两组第二螺栓3与中空柱11相贴合，通过旋紧第二螺栓3将中空柱11稳定固定在第一收纳柱1内，第一收纳柱1的外侧壁均匀开设有收纳槽4，收纳槽4的内侧壁固定设置有转轴6，第二收纳柱2的外侧壁开设有通孔，第二收纳柱2转动设置在收纳槽4内，转轴6位于通孔内，第二收纳柱2依靠转轴6进行转动，第一收纳柱1的外侧壁均匀固定设置有限位块5，通过限位块5对第二收纳柱2的外翻角度进行限制，当装置闲置时，可以将中空柱11收纳在第一收纳柱1内，将支撑柱21收纳到第二收纳柱2内，然后将第二收纳柱2移动到收纳槽4内，以此将装置折叠收纳成柱体，从而便于携带，限位块5与第二收纳柱2相对应。
20.工作原理：通过旋紧第二螺栓3将中空柱11稳定固定在第一收纳柱1内，通过上下
移动中空柱11可以便捷的调整装置的高度，以适应不同的工作高度需求，在夜间工作通过两组灯圈14发出的光线穿过透明标尺12显现出其表面印刷的刻度，以此实现装置在夜间发光方便进行工作的效果，通过拉动支撑柱21可以快速调整第二收纳柱2的长度，以此可以更好的去辅助支撑第一收纳柱1，通过旋紧第一螺栓22将支撑柱21固定在第二收纳柱2内，通过第一固定锥15和第二固定锥23可以将装置稳定的固定在地面上，当装置闲置时，可以将中空柱11收纳在第一收纳柱1内，将支撑柱21收纳到第二收纳柱2内，然后将第二收纳柱2移动到收纳槽4内，以此将装置折叠收纳成柱体，从而便于携带。
21.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
22.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：
1.一种可自发光的工程测量辅助标杆，包括第二螺栓(3)，其特征在于：所述第二螺栓(3)的外侧壁设置有照明机构和支撑机构，所述照明机构包括第一收纳柱(1)，所述第一收纳柱(1)的顶部开设有第一滑槽，所述第一滑槽内设置有中空柱(11)，所述中空柱(11)的顶部设置有顶盘(13)，所述第一收纳柱(1)和中空柱(11)的前侧贯穿开设有安装槽，所述安装槽内设置有透明标尺(12)，所述顶盘(13)的底部和第一滑槽底部均设置有灯圈(14)，所述第一收纳柱(1)的底部设置有第一固定锥(15)，所述支撑机构位于第一收纳柱(1)的外侧壁且与第一收纳柱(1)相配合。2.根据权利要求1所述的一种可自发光的工程测量辅助标杆，其特征在于：所述支撑机构包括第二收纳柱(2)，所述第二收纳柱(2)的底部开设有第二滑槽，所述第二滑槽内设置有支撑柱(21)，所述第二收纳柱(2)的外侧壁开设有第一螺纹孔，所述第一螺纹孔与第二滑槽相连通，所述第一螺纹孔内螺接有第一螺栓(22)，所述第一螺栓(22)与支撑柱(21)相贴合，所述支撑柱(21)的底部设置有第二固定锥(23)。3.根据权利要求2所述的一种可自发光的工程测量辅助标杆，其特征在于：所述第一收纳柱(1)的左右两侧均开设有第二螺纹孔，所述第二螺栓(3)螺接在第二螺纹孔内，两组所述第二螺栓(3)与中空柱(11)相贴合。4.根据权利要求2所述的一种可自发光的工程测量辅助标杆，其特征在于：所述第一收纳柱(1)的外侧壁均匀开设有收纳槽(4)，所述收纳槽(4)的内侧壁设置有转轴(6)。5.根据权利要求4所述的一种可自发光的工程测量辅助标杆，其特征在于：所述第二收纳柱(2)的外侧壁开设有通孔，所述第二收纳柱(2)设置在收纳槽(4)内，所述转轴(6)位于通孔内。6.根据权利要求2所述的一种可自发光的工程测量辅助标杆，其特征在于：所述第一收纳柱(1)的外侧壁均匀设置有限位块(5)，所述限位块(5)与第二收纳柱(2)相对应。

技术总结
本实用新型涉及工程测量技术领域，具体是一种可自发光的工程测量辅助标杆；本实用新型可自发光的工程测量辅助标杆，包括第二螺栓，所述第二螺栓的外侧壁设置有照明机构和支撑机构，所述照明机构包括第一收纳柱，所述第一收纳柱的顶部开设有第一滑槽，所述第一滑槽内设置有中空柱，所述中空柱的顶部设置有顶盘，所述第一收纳柱和中空柱的前侧贯穿开设有安装槽，所述安装槽内设置有透明标尺，所述顶盘的底部和第一滑槽底部均设置有灯圈，所述第一收纳柱的底部设置有第一固定锥，所述支撑机构位于第一收纳柱的外侧壁且与第一收纳柱相配合，在夜间工作通过两组灯圈发出的光线穿过透明标尺显现出其表面印刷的刻度。明标尺显现出其表面印刷的刻度。明标尺显现出其表面印刷的刻度。


技术研发人员：司玉静
受保护的技术使用者：北京天宇地通勘测技术有限公司
技术研发日：2023.04.07
技术公布日：2023/8/8