一种工业检测数据重采样控制方法、装置、系统及设备与流程

1.本发明涉及电数字数据处理领域，尤其涉及一种工业检测数据重采样控制方法、装置、系统及设备。


背景技术：

2.工业无损检测可以使用超声波探测工业器件内部损伤，通过分析超声透射和反射信号检测物体内部是否存在缺陷，检测过程中需要使用机械臂控制探头在被检测物体上逐点扫描完全覆盖物体所占的二维区域，所以当探头采集完所有位置的超声回波数据是一个包含长度、宽度和厚度的三维数据集，每扫描完一组数据都需要存储待后续调用分析。一组数据通常占用至少5gb内存(如果工业器件尺寸很大，或者要求高精度扫描，数据会达到30g以上)，为了解决数据内存占用以及减少数据加载时间问题，需要设计一套系统在存储数据之前对数据降采样处理减少内存占用，调用分析时需要将数据升采样处理恢复到原有状态。
3.现有技术降采样方法及装置(cn109801642a)对信号降采样，但只支持整数倍率，对于非整数倍率的数据无法进行处理。因此，现有技术在对于工业检测数据处理的过程中存在处理效率低。
4.因此，亟需一种工业检测数据重采样控制策略，从而解决工业检测数据在处理过程中存在处理效率低的问题。


技术实现要素：

5.本发明实施例提供一种工业检测数据重采样控制方法、装置、系统及设备，以提高工业检测数据的处理效率。
6.为了解决上述问题，本发明一实施例提供一种工业检测数据重采样控制方法，包括：
7.获取工业超声检测数据，提取所述工业超声检测数据对应的第一采样频率；
8.将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；
9.根据所述升采样倍率和降采样倍率，确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数；
10.根据所述升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，确定目标升采样滤波器和目标降采样滤波器，并将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据；其中，所述目标采样频率超声检测数据对应的采样频率为所述第二采样频率。
11.作为上述方案的改进，所述将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率，包括：
12.将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采
样倍率和降采样倍率；其中，所述倍率计算公式，包括：
[0013][0014]
式中，a为最大公约数，fspre为第一采样频率，fspos为第二采样频率，gcd(，)为公约数计算函数，u为升采样倍率，d为降采样倍率。
[0015]
作为上述方案的改进，所述将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据，包括：
[0016]
将所述工业超声检测数据传输给目标升采样滤波器进行升采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的插值数据；
[0017]
将所述插值数据传输给目标降采样滤波器进行降采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的目标采样频率超声检测数据。
[0018]
作为上述方案的改进，所述升采样处理，包括：
[0019]
所述目标升采样滤波器根据升采样倍率获得若干组第一滤波器系数，将所述工业超声检测数据分别与每组第一滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第一滤波器系数对应的升采样卷积数据；
[0020]
所述目标升采样滤波器将若干组升采样卷积数据合并在一起，获得所述工业超声检测数据的插值数据。
[0021]
作为上述方案的改进，所述降采样处理，包括：
[0022]
所述目标降采样滤波器根据降采样倍率获得若干组第二滤波器系数，将所述插值数据分别与每组第二滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第二滤波器系数对应的降采样卷积数据；
[0023]
根据若干组降采样卷积数据，通过求和计算，获得所述目标采样频率超声检测数据。
[0024]
相应的，本发明一实施例还提供了一种工业检测数据重采样控制装置，包括：据获取模块、数据计算模块、阶数确定模块和结果生成模块；
[0025]
所述数据获取模块，用于获取工业超声检测数据，提取所述工业超声检测数据对应的第一采样频率；
[0026]
所述数据计算模块，用于将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；
[0027]
所述阶数确定模块，用于根据所述升采样倍率和降采样倍率，确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数；
[0028]
所述结果生成模块，用于根据所述升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，确定目标升采样滤波器和目标降采样滤波器，并将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据；其中，所述目标采样频率超声检测数据对应的采样频率为所述第二采样频率。
[0029]
作为上述方案的改进，所述数据计算模块，包括：
[0030]
将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；其中，所述倍率计算公式，包括：
[0031][0032]
式中，a为最大公约数，fspre为第一采样频率，fspos为第二采样频率，gcd(，)为公约数计算函数，u为升采样倍率，d为降采样倍率。
[0033]
作为上述方案的改进，所述将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据，包括：
[0034]
将所述工业超声检测数据传输给目标升采样滤波器进行升采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的插值数据；
[0035]
将所述插值数据传输给目标降采样滤波器进行降采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的目标采样频率超声检测数据。
[0036]
作为上述方案的改进，所述升采样处理，包括：
[0037]
所述目标升采样滤波器根据升采样倍率获得若干组第一滤波器系数，将所述工业超声检测数据分别与每组第一滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第一滤波器系数对应的升采样卷积数据；
[0038]
所述目标升采样滤波器将若干组升采样卷积数据合并在一起，获得所述工业超声检测数据的插值数据。
[0039]
作为上述方案的改进，所述降采样处理，包括：
[0040]
所述目标降采样滤波器根据降采样倍率获得若干组第二滤波器系数，将所述插值数据分别与每组第二滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第二滤波器系数对应的降采样卷积数据；
[0041]
根据若干组降采样卷积数据，通过求和计算，获得所述目标采样频率超声检测数据。
[0042]
相应的，本发明一实施例还提供了一种工业检测数据重采样控制系统，包括：工业检测数据重采样控制装置、工业超声检测装置和后处理系统；其中，所述工业检测数据重采样控制装置应用如本发明所述的工业检测数据重采样控制方法；所述工业检测数据重采样控制装置与所述工业超声检测装置连接，所述工业检测数据重采样控制装置与后处理系统连接。
[0043]
相应的，本发明一实施例还提供了一种计算机终端设备，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本发明所述的一种工业检测数据重采样控制方法。
[0044]
相应的，本发明一实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如本发明所述的一种工业检测数据重采样控制方法。
[0045]
由上可见，本发明具有如下有益效果：
[0046]
本发明提供了一种工业检测数据重采样控制方法，提取获取到的工业超声检测数据中的第一采样频率，并基于预设的第二采样频率，带入预设的倍率计算公式，计算获得升采样倍率和降采样倍率，从而确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，并将工业超声数据传输给根据升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数选取的目标升采样滤波器和目标降采样滤波器中进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测频率。本发明通过对工业超声检测数据对应的原始采样频率与目标采样频率进行升采样倍率和降采样倍率的计算，进而基于升采样倍率和降采样倍率确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，并基于计算获得的升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数所确定的滤波器进行信号处理，能够将任意采样频率的工业超声检测数据缩放到目标采样频率，原始采样频率和目标采样频率的倍率可以是非整数，提高了工业检测数据的处理效率。
附图说明
[0047]
图1是本发明一实施例提供的工业检测数据重采样控制方法的流程示意图；
[0048]
图2是本发明一实施例提供的工业检测数据重采样控制装置的结构示意图；
[0049]
图3是本发明一实施例提供的工业检测数据重采样控制系统的结构示意图；
[0050]
图4是本发明一实施例提供的工业超声检测数据在处理中出现的镜像和混淆的结果示意图；
[0051]
图5是本发明一实施例提供的升采样处理的过程示意图；
[0052]
图6是本发明一实施例提供的降采样处理的过程示意图；
[0053]
图7是本发明一实施例提供的采样信号对比结果示意图；
[0054]
图8是本发明另一实施例提供的采样信号对比结果示意图；
[0055]
图9是本发明又一实施例提供的采样信号对比结果示意图；
[0056]
图10是本发明一实施例提供的一种终端设备结构示意图。
具体实施方式
[0057]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0058]
实施例一
[0059]
参见图1，图1是本发明一实施例提供的一种工业检测数据重采样控制方法的流程示意图，如图1所示，本实施例包括步骤101至步骤104，各步骤具体如下：
[0060]
步骤101：获取工业超声检测数据，提取所述工业超声检测数据对应的第一采样频率。
[0061]
在本实施例中，工业超声检测系统实际工作过程中由机械控制模块携带超声探头在待检测物体表面按软件模块预定的扫描轨迹和移动步长移动，超声信号的发射和接收参数由软件模块配置经由超声控制模块下发给硬件电路，硬件电路控制探头的发射并接收超声回波信号(即本发明所述的工业超声检测数据)，硬件电路将采集到的工业超声检测数据通过usb或pcie上传，根据用户指定的采样频率将数据做降采样处理后存储到内存空间进
行保存，需要说明的是，虽然数据处理模块能够实现任意倍率的缩放，但是为了能够极大精确的恢复原始信号状态，降采样后的数据采样频率不能小于4倍的发射频率。
[0062]
在一具体的实施例中，处理软件系统包含各种成像和信号分析算法，帮助用户对当前检测的工业器件做各项分析，让用户清楚工业器件当前的状态，由于扫描系统存储的数据经过降采样处理，丢失了部分细节成分，所有需要数据处理模块对数据升采样处理将丢失的成分恢复出来，准确的复原出原有信号的状态；
[0063]
数据在经过插值和抽取后频谱往往会产生镜像和混叠，如图4，当信号最大频率fmax高于采样频率fs的一半时，此时对数据直接进行降采样会发生信号混叠，要想避免混叠，需要在降采样处理前设计一个低通滤波器，将信号的最大频率限制在0.5倍采样频率以内。同样，如果对信号插值后，插值后信号的频谱会发生镜像，此时需要对插值后的信号进行低通滤波处理，将镜像频率成分滤除；
[0064]
步骤102：将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率。
[0065]
在本实施例中，所述将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率，包括：
[0066]
将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；其中，所述倍率计算公式，包括：
[0067][0068]
式中，a为最大公约数，fspre为第一采样频率，fspos为第二采样频率，gcd(，)为公约数计算函数，u为升采样倍率，d为降采样倍率。
[0069]
在一具体的实施例中，如fspre＝50mhz,fspos＝40mhz,由于fspre和fspos不是整数倍，此时需要对信号先升采样然后降采样，系统先计算50和40的最大公约数10，则升采样倍率u等于4，降采样倍率d等于5，即需要对原始信号先升采样到200mhz然后再降采样到40mhz。
[0070]
步骤103：根据所述升采样倍率和降采样倍率，确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数。
[0071]
在一具体的实施例中，波器的阶数需要是采样倍率的整数倍，通常10倍或20倍，因此采样倍率乘10或20获得滤波器阶数。
[0072]
步骤104：根据所述升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，确定目标升采样滤波器和目标降采样滤波器，并将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据；其中，所述目标采样频率超声检测数据对应的采样频率为所述第二采样频率。
[0073]
在一具体的实施例中，根据升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数设计两组多相滤波器，分别为升采样多相低通滤波器和降采样多相低通滤波器，多相滤波方式能够同时进行采样和滤波两个处理流程(对插值后的信号低通滤波，将镜像频率成分滤除)，并且适
用于并行运算。
[0074]
在一具体的实施例中，滤波器可以采用fir型滤波器，或使用iir型滤波器。
[0075]
在本实施例中，所述将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据，包括：
[0076]
将所述工业超声检测数据传输给目标升采样滤波器进行升采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的插值数据；
[0077]
将所述插值数据传输给目标降采样滤波器进行降采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的目标采样频率超声检测数据。
[0078]
在本实施例中，所述升采样处理，包括：
[0079]
所述目标升采样滤波器根据升采样倍率将升采样滤波器系数拆分为若干组第一滤波器系数，将所述工业超声检测数据分别与每组第一滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第一滤波器系数对应的升采样卷积数据；
[0080]
所述目标升采样滤波器将若干组升采样卷积数据合并在一起，获得所述工业超声检测数据的插值数据。
[0081]
在一具体的实施例中，如图6所示，先将目标升采样滤波器系数等分4组，每一组系数分别与输入的一维信号做卷积运算，然后将四组输出信号合为一组，完成信号插值过程。
[0082]
在本实施例中，所述降采样处理，包括：
[0083]
所述目标降采样滤波器根据降采样倍率将降采样滤波器系数拆分为若干组第二滤波器系数，将所述插值数据先根据降采样倍率拆分为与第二滤波器系数相同组数的若干组一维数据，分别与每组第二滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第二滤波器系数对应的降采样卷积数据；
[0084]
根据若干组降采样卷积数据，通过求和计算，获得所述目标采样频率超声检测数据。
[0085]
在一具体的实施例中，如图7所示，先将低通滤波器系数等分5组，同时把输入的插值数据也等分为5组，每一组系数分别与其对应的插值数据做卷积运算，然后将5组输出信号对应求和，完成信号抽取过程。
[0086]
在一具体的实施例中，如图8、9、10所示，实线是采样频率为50mhz的实际采集信号，虚线是本实施例先对原信号降采样至8mhz然后再升采样回50mhz的信号，从图像中可以看到重采样后的信号不仅更光滑同时也基本完全恢复了原信号的状态，因此，本发明的重采样控制策略更加高效整洁。
[0087]
在一具体的实施例中，通过各种成像和信号分析算法，帮助用户对当前检测的工业器件做各项分析，让用户清楚工业器件当前的状态。
[0088]
参见图2，图2是本发明一实施例提供的一种工业检测数据重采样控制装置的结构示意图，包括：据获取模块201、数据计算模块202、阶数确定模块203和结果生成模块204；
[0089]
所述数据获取模块201，用于获取工业超声检测数据，提取所述工业超声检测数据对应的第一采样频率；
[0090]
所述数据计算模块202，用于将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；
[0091]
所述阶数确定模块203，用于根据所述升采样倍率和降采样倍率，确定升采样滤波
器阶数和降采样滤波器阶数；
[0092]
所述结果生成模块204，用于根据所述升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，确定目标升采样滤波器和目标降采样滤波器，并将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据；其中，所述目标采样频率超声检测数据对应的采样频率为所述第二采样频率。
[0093]
作为上述方案的改进，所述数据计算模块202，包括：
[0094]
将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；其中，所述倍率计算公式，包括：
[0095][0096]
式中，a为最大公约数，fspre为第一采样频率，fspos为第二采样频率，gcd(，)为公约数计算函数，u为升采样倍率，d为降采样倍率。
[0097]
作为上述方案的改进，所述将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据，包括：
[0098]
将所述工业超声检测数据传输给目标升采样滤波器进行升采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的插值数据；
[0099]
将所述插值数据传输给目标降采样滤波器进行降采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的目标采样频率超声检测数据。
[0100]
作为上述方案的改进，所述升采样处理，包括：
[0101]
所述目标升采样滤波器根据升采样倍率获得若干组第一滤波器系数，将所述工业超声检测数据分别与每组第一滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第一滤波器系数对应的升采样卷积数据；
[0102]
所述目标升采样滤波器将若干组升采样卷积数据合并在一起，获得所述工业超声检测数据的插值数据。
[0103]
作为上述方案的改进，所述降采样处理，包括：
[0104]
所述目标降采样滤波器根据降采样倍率获得若干组第二滤波器系数，将所述插值数据分别与每组第二滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第二滤波器系数对应的降采样卷积数据；
[0105]
根据若干组降采样卷积数据，通过求和计算，获得所述目标采样频率超声检测数据。
[0106]
相应的，参见图3，图3是本发明一实施例还提供了一种工业检测数据重采样控制系统，包括：工业检测数据重采样控制装置301、工业超声检测装置302和后处理系统303；其中，所述工业检测数据重采样控制装置应用如本发明所述的工业检测数据重采样控制方法；所述工业检测数据重采样控制装置与所述工业超声检测装置连接，所述工业检测数据重采样控制装置与后处理系统连接。
[0107]
本实施例通过提取获取到的工业超声检测数据中的第一采样频率，并基于预设的
第二采样频率，带入预设的倍率计算公式，计算获得升采样倍率和降采样倍率，从而确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，并将工业超声数据传输给根据升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数选取的目标升采样滤波器和目标降采样滤波器中进行数据采样处理，获得目标频率超声检测频率。本实施例通过对数据升降采样滤波处理，不仅能够节省存储空间同时也能够使信号降噪和极大程度上恢复到采样前的状态不影响后续的数据分析和图像质量，多相滤波方式采样和滤波同时进行，并且适用于并行运算。
[0108]
实施例二
[0109]
参见图10，图10是本发明一实施例提供的终端设备结构示意图。
[0110]
该实施例的一种终端设备包括：处理器1001、存储器1002以及存储在所述存储器1002中并可在所述处理器1001上运行的计算机程序。所述处理器1001执行所述计算机程序时实现上述各个工业检测数据重采样控制方法在实施例中的步骤，例如图1所示的工业检测数据重采样控制方法的所有步骤。或者，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述各装置实施例中各模块的功能，例如：图2所示的工业检测数据重采样控制装置的所有模块。
[0111]
另外，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如上任一实施例所述的工业检测数据重采样控制方法。
[0112]
本领域技术人员可以理解，所述示意图仅仅是终端设备的示例，并不构成对终端设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
[0113]
所称处理器1001可以是中央处理单元(central processing unit，cpu)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，所述处理器1001是所述终端设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个终端设备的各个部分。
[0114]
所述存储器1002可用于存储所述计算机程序和/或模块，所述处理器1001通过运行或执行存储在所述存储器内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器1002内的数据，实现所述终端设备的各种功能。所述存储器1002可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等；存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(比如音频数据、电话本等)等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(smart media card,smc)，安全数字(secure digital,sd)卡，闪存卡(flash card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
[0115]
其中，所述终端设备集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执
行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、u盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。
[0116]
需说明的是，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。另外，本发明提供的装置实施例附图中，模块之间的连接关系表示它们之间具有通信连接，具体可以实现为一条或多条通信总线或信号线。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
[0117]
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

技术特征：
1.一种工业检测数据重采样控制方法，其特征在于，包括：获取工业超声检测数据，提取所述工业超声检测数据对应的第一采样频率；将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；根据所述升采样倍率和降采样倍率，确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数；根据所述升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，确定目标升采样滤波器和目标降采样滤波器，并将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据；其中，所述目标采样频率超声检测数据对应的采样频率为所述第二采样频率。2.根据权利要求1所述的工业检测数据重采样控制方法，其特征在于，所述将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率，包括：将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；其中，所述倍率计算公式，包括：式中，a为最大公约数，fspre为第一采样频率，fspos为第二采样频率，gcd(，)为公约数计算函数，u为升采样倍率，d为降采样倍率。3.根据权利要求2所述的工业检测数据重采样控制方法，其特征在于，所述将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据，包括：将所述工业超声检测数据传输给目标升采样滤波器进行升采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的插值数据；将所述插值数据传输给目标降采样滤波器进行降采样处理，获得所述工业超声检测数据对应的目标采样频率超声检测数据。4.根据权利要求3所述的工业检测数据重采样控制方法，其特征在于，所述升采样处理，包括：所述目标升采样滤波器根据升采样倍率获得若干组第一滤波器系数，将所述工业超声检测数据分别与每组第一滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第一滤波器系数对应的升采样卷积数据；所述目标升采样滤波器将若干组升采样卷积数据合并在一起，获得所述工业超声检测数据的插值数据。5.根据权利要求3所述的工业检测数据重采样控制方法，其特征在于，所述降采样处理，包括：所述目标降采样滤波器根据降采样倍率获得若干组第二滤波器系数，将所述插值数据
按照与第二滤波器系数的组数进行拆分，获得若干组待处理数据，将每组待处理数据与每组第二滤波器系数进行卷积运算，获得若干组第二滤波器系数对应的降采样卷积数据；根据若干组降采样卷积数据，通过求和计算，获得所述目标采样频率超声检测数据。6.一种工业检测数据重采样控制装置，其特征在于，包括：数据获取模块、数据计算模块、阶数确定模块和结果生成模块；所述数据获取模块，用于获取工业超声检测数据，提取所述工业超声检测数据对应的第一采样频率；所述数据计算模块，用于将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；所述阶数确定模块，用于根据所述升采样倍率和降采样倍率，确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数；所述结果生成模块，用于根据所述升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，确定目标升采样滤波器和目标降采样滤波器，并将所述工业超声检测数据传输给所述目标升采样滤波器和所述目标降采样滤波器进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测数据；其中，所述目标采样频率超声检测数据对应的采样频率为所述第二采样频率。7.根据权利要求6所述的工业检测数据重采样控制装置，其特征在于，所述数据计算模块，包括：将所述第一采样频率和预设的第二采样频率代入预设的倍率计算公式，获得升采样倍率和降采样倍率；其中，所述倍率计算公式，包括：式中，a为最大公约数，fspre为第一采样频率，fspos为第二采样频率，gcd(，)为公约数计算函数，u为升采样倍率，d为降采样倍率。8.一种工业检测数据重采样控制系统，其特征在于，包括：工业检测数据重采样控制装置、工业超声检测装置和后处理系统；其中，所述工业检测数据重采样控制装置应用如权利要求1至5任意一项所述的工业检测数据重采样控制方法；所述工业检测数据重采样控制装置与所述工业超声检测装置连接，所述工业检测数据重采样控制装置与后处理系统连接。9.一种计算机终端设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5中任意一项所述的一种工业检测数据重采样控制方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如权利要求1至5中任意一项所述的一种工业检测数据重采样控制方法。

技术总结
本发明公开了一种工业检测数据重采样控制方法、装置、系统及设备，提取获取到的工业超声检测数据中的第一采样频率，并基于预设的第二采样频率，带入预设的倍率计算公式，计算获得升采样倍率和降采样倍率，从而确定升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数，并将工业超声数据传输给根据升采样滤波器阶数和降采样滤波器阶数选取的目标升采样滤波器和目标降采样滤波器中进行数据重采样处理，获得目标采样频率超声检测频率。本发明通过对工业超声检测数据对应的原始采样频率与目标采样频率进行采样倍率分析，能够将任意采样频率的工业超声检测数据缩放到目标采样频率，原始采样频率和目标采样频率的倍率可以是非整数，提高了工业检测数据的处理效率。测数据的处理效率。测数据的处理效率。


技术研发人员：曲荣召 金程 黄震宇
受保护的技术使用者：无锡领声科技有限公司
技术研发日：2023.06.20
技术公布日：2023/8/13