电路装置和螺线管控制装置的制作方法

1.本发明涉及电路装置和螺线管控制装置。


背景技术：

2.专利文献1公开了螺线管的电流控制装置。电流控制装置包括：第一电流监视电路，其检测流过螺线管的电流值并反馈到螺线管的电流控制电路；第二电流监视电路，其与第一电流监视电路并联设置，检测流过螺线管的电流值并反馈到螺线管的电流控制电路。第二电流监视电路检测流过螺线管的电流值时，第一电流监视电路进行偏置的校准。第一电流监视器电路包括偏置检测时将电流检测电阻两端短路的开关。
3.专利文献2公开了电压检测装置。电压检测装置包括：第1开关，其使向第1输入部的电压输入进行通断；第2开关，其使向第2输入部的电压输入进行通断；第3开关，其使第1输入部及第2输入部之间的连接进行通断；以及控制装置。第1输入部与分流电阻的一端连接，第2输入部与分流电阻的另一端连接。控制装置在断开第1开关及第2开关且接通第3开关时，检测差动放大电路的偏置电压。
4.专利文献1：日本特开2010-170434号公报
5.专利文献2：日本特开2017-161409号公报
6.在专利文献1、2中，设置连接分流电阻两端的开关，在偏置检测时，通过接通该开关而使分流电阻的两端短路。该开关输入分流电阻两端的电压，因此，在分流电阻的一端或另一端被输入高电压或负电压的情况下，需要设置耐受这些电压的开关。


技术实现要素：

7.本发明的一个方式涉及电路装置，其具有：电流感测放大电路，其检测流过串联连接在第1电源节点和第2电源节点之间的开关元件、分流电阻以及电感器中的所述分流电阻的电流；以及处理电路，其根据所述电流感测放大电路的输出，求出流过所述分流电阻的电流的校正后电流值，所述电流感测放大电路包含：运算放大器；第1电阻，其设置在所述分流电阻的一端的第1电阻节点与第1节点之间；第1开关，其设置在所述第1节点与所述运算放大器的第1输入节点之间；第2电阻，其设置在所述分流电阻的另一端的第2电阻节点与第2节点之间；第2开关，其设置在所述第2节点与所述运算放大器的第2输入节点之间；第3电阻，其设置在恒压节点与第3节点之间；第3开关，其设置在所述第3节点与所述运算放大器的所述第1输入节点之间；第4电阻，其设置在所述恒压节点与第4节点之间；以及第4开关，其设置在所述第4节点与所述运算放大器的所述第2输入节点之间，在电流检测期间，所述第1开关和所述第2开关接通，所述第3开关和所述第4开关断开，所述处理电路根据所述电流感测放大电路的输出取得检测电流值，在偏置检测期间，所述第1开关和所述第2开关断开，所述第3开关和所述第4开关接通，所述处理电路根据所述电流感测放大电路的输出取得偏置值，所述处理电路根据所述检测电流值和所述偏置值求出所述校正后电流值。
8.另外，本发明的另一方式涉及螺线管控制装置，包括：上述电路装置；所述开关元
件；所述分流电阻；以及作为所述电感器的螺线管，根据所述校正后电流值控制所述螺线管。
附图说明
9.图1是电路装置和螺线管控制装置的结构例。
10.图2是电流检测电路的基本结构例。
11.图3是说明电流检测电路的动作的信号波形图。
12.图4是第1实施方式中的电流检测电路的详细结构例。
13.图5是偏置检测期间的开关的状态。
14.图6是第1实施方式中的电流检测动作的时序图。
15.图7是在电流检测期间取决于共模电压的第1误差成分。
16.图8是在电流检测期间取决于共模电压的第2误差成分。
17.图9是在电流检测期间不取决于共模电压的第3误差成分。
18.图10是偏置检测期间的误差成分。
19.图11是第2实施方式中的电路装置的详细结构例。
20.图12是第2实施方式中的电流检测电路的第1详细结构例。
21.图13是第2实施方式中的电流检测电路的第2详细结构例。
22.图14是可变电流电路的第1详细结构例。
23.图15是可变电流电路的第2详细结构例。
24.图16是确定校正信息的步骤。
25.图17是第3实施方式中的电流检测电路的详细结构例。
26.图18是监视用电路的详细结构例。
27.图19是校正参数的说明图。
28.图20是校正参数的说明图。
29.图21是第3实施方式中的电流检测动作的第1时序图。
30.图22是第3实施方式中的电流检测动作的第2时序图。
31.图23是第3实施方式中的电流检测动作的第3时序图。
32.标号说明
33.10螺线管控制装置；11电感器；12分流电阻；100电路装置；110电流检测电路；115处理电路；120电流感测放大电路；121校正电路；130电平移位电路；131拉电流源；132可变灌电流源；132a、132b可变灌电流源；135、136可变电流电路；140a/d转换电路；150控制电路；160驱动电路；170存储电路；180开关元件；190监视用电路；da二极管；dt1～dtn第1～第n检测期间；in第2电流；ip第1电流；ipc校正电流；mt监视期间；nin第2输入节点；nip第1输入节点；nmonn第2电阻节点；nmonp第1电阻节点；opa运算放大器；rfn反馈电阻；rin第2电阻；rip第1电阻；ripv第1可变电阻；rnt第4电阻；rpt第3电阻；rptv第2可变电阻；snc第2开关；snt第4开关；spc第1开关；spt第3开关；spwm pwm信号；vm监视电压；vq检测电压；vrefm基准电压。
具体实施方式
34.以下，对本发明的优选实施方式进行详细说明。以下说明的本实施方式并不对权利要求书记载的内容进行不当限定，在本实施方式中说明的全部结构不一定是必须构成要件。
35.1.螺线管控制装置、电路装置
36.图1是本实施方式的电路装置和包含该电路装置的螺线管控制装置的结构例。另外，以下说明本实施方式的电路装置用于螺线管控制的例子。但是，本实施方式的电路装置可应用于检测通过开关而控制的电流的各种装置。
37.螺线管控制器10包括分流电阻12、电感器11、电阻ra、电容器ca、二极管da和电路装置100。
38.电感器11是螺线管的线圈。螺线管具有线圈和可在线圈的轴向上移动的柱塞。柱塞也被称为可动铁芯。通过流过线圈的电流来控制柱塞相对于线圈的位移量。
39.分流电阻12、电阻ra和电感器11在节点nvls和接地节点它之间串联连接。具体地说，分流电阻12的一端与节点nvls连接，另一端与电阻ra的一端连接。电阻ra的另一端与电感器11的一端连接。电感器11的另一端与接地节点连接。
40.二极管da以从接地节点向电阻节点nvls的方向为正向，设置在节点nvls与接地节点之间。具体而言，二极管da的阳极节点与接地节点连接，阴极与节点nvls连接。电容器ca与电阻ra、电感器11并联设置。具体而言，电容器ca的一端与电阻ra的一端连接，另一端与接地节点连接。
41.电路装置100检测流过电感器11的电流，根据其检测结果，控制流过电感器11的电流。电路装置100具有电流检测电路110、处理电路115、驱动电路160、存储电路170、开关元件180和端子tvdd、tvls、tmonp、tmonn。电路装置100例如是多个电路元件集成在半导体基板的集成电路装置。各端子例如是集成电路装置的焊盘或收纳集成电路装置的封装的端子。另外，开关元件180也可以设置在电路装置100的外部。
42.开关元件180设置在电源节点nvdd和节点nvls之间。具体而言，开关元件180是p型晶体管。p型晶体管的源极与端子tvdd连接，漏极与端子tvls连接。端子tvdd与电源节点nvdd连接，从电路装置100的外部供给电源电压vdd。分流电阻12的一端的节点nvls与端子tvls连接。
43.电流检测电路110通过检测流过分流电阻12的电流来检测流过电感器11的电流。电流检测电路110具有电流感测放大电路120和电平移位电路130。
44.从第1电阻节点nmonp经由端子tmonp向电流感测放大电路120输入分流电阻12的一端的电压monp，从第2电阻节点nmonn经由端子tmonn向电流感测放大电路120输入分流电阻12的另一端的电压monn。第1电阻节点nmonp是与分流电阻12的一端连接的节点。第2电阻节点nmonn是与分流电阻12的另一端连接的节点。电流感测放大电路120基于电压monp和电压monn来检测分流电阻12的两端的电位差，由此检测流过分流电阻12的电流，并输出作为其结果的检测电压vq。此外，在分流电阻12的一端连接有2个端子tvls、tmonp，将与端子tvls连接的节点设为节点ntvls，将与端子tmonp连接的节点设为电阻节点nmonp。电压vls和电压monp都是分流电阻12的一端的电压。
45.电平移位电路130通过向电流感测放大电路120所包含的运算放大器的输入节点
供给电流，来对该运算放大器的输入节点的电压进行电平移位。电平移位电路130基于分流电阻12的一端的电压vls可变地控制向运算放大器的输入节点供给的电流，从而将运算放大器的输入节点的电压保持为恒定。此外，关于电流感测放大电路120和电平移位电路130的详细内容，在后面叙述。
46.处理电路115根据检测电压vq输出用于对开关元件180进行pwm控制的pwm信号spwm。处理电路115包括a/d转换电路140和控制电路150。
47.a/d转换电路140将检测电压vq进行a/d转换，使其成为检测数据adq。具体而言，a/d转换电路140以比开关元件180的开关频率高的采样频率进行a/d转换，取得开关元件180接通时的检测数据adq和开关元件180断开时的检测数据adq。
48.控制电路150根据检测数据adq，输出用于对开关元件180进行pwm控制的pwm信号spwm。具体而言，存储电路170存储流过电感器11的电流的电流设定值。存储电路170例如是sram等易失性存储器、寄存器或eeprom等非易失性存储器。控制电路150对检测数据adq进行平滑化处理而求出时间平均，以其平均值与电流设定值一致的方式控制开关元件180的导通占空比。
49.驱动电路160对pwm信号spwm进行缓存，由此输出pwm驱动信号dpwm。pwm驱动信号dpwm输入到作为开关元件180的p型晶体管的栅极。根据开关元件180的导通占空比，控制流过电感器11的电流。
50.在本实施方式的电路装置100中，电流检测电路110或处理电路115校正由电流感测放大电路120检测的电流值的检测误差。该校正的详细情况在图4以后进行说明，以下，首先说明电流检测电路110中的电平移位方法。另外，在电平移位方法的说明中，不考虑电流值的检测误差。
51.2.电平移位方法
52.图2是进行电平移位的电流检测电路的基本结构例。电流检测电路110包含电流感测放大电路120、拉电流源131和可变灌电流源132a、132b。拉电流源131和可变灌电流源132a、132b为对应于图1的电平移位电路130。图2示出从电路装置100的外部向端子tvrefm输入基准电压vrefm的例子，但不限于此，设置在电路装置100内的电压生成电路也可以生成基准电压vrefm。
53.电流感测放大电路120包括第1电阻rip、第2电阻rin、电阻rfp和反馈电阻rfn和运算放大器opa。
54.第1电阻rip设置在端子tmonp和第1输入节点nip之间。电阻rfp的一端与第1输入节点nip连接，另一端输入模拟接地电压vra。模拟接地电压vra从未图示的电压生成电路输入到电阻rfp的另一端。第2电阻rin设置在端子tmonn和第2输入节点nin之间。反馈电阻rfn的一端与第2输入节点nin连接，另一端与运算放大器opa的输出节点nq连接。第1输入节点nip是运算放大器opa的同相输入节点，第2输入节点nin是运算放大器opa的反相输入节点。第1电阻rip和第2电阻rin的电阻值相同，电阻rfp和反馈电阻rfn的电阻值相同。但是，如后所述，第1电阻rip和第2电阻rin的电阻值也可以具有由制造偏差等引起的失配。电流感测放大电路120增益例如为几倍至几十倍，但不限于此。
55.设流过分流电阻12的电流为ils，分流电阻12的电阻值为rsh。此时，分流电阻12两端的电位差vsh成为下式(1)，电流感测放大电路120的检测电压vq成为下式(2)。
56.vsh＝monp-monn＝rsh
×
ils
···
(1)
57.vq＝(rfn/rin)
×
vsh+vra
···
(2)
58.作为电平移位电路130的拉电流源131和可变灌电流源132a、132b使第1电流ip流过第1电阻rip，使第2电流in流过第2电阻。在图2所示的ip、in的箭头方向设为电流的正方向时，第1输入节点nip的电压vip的电平移位量δvip和第2输入节点nin的电压vin的电平移位量δvin成为下式(3)。vip
′
、vin
′
是假设不流过电流ip、in时的运算放大器opa的输入节点的电压。
59.δvip＝vip-vip’＝rip
×
ip，
60.δvin＝vin-vin’＝rin
×
in
···
(3)
61.通过虚拟短路，vip
′
＝vin
′
、vip＝vin，所以，δvip＝δvin。由于rip＝rin，所以，电平移位电路130输出电流ip＝in。
62.电平移位电路130如下式(4)所示，输出根据电压vls＝monp可变的电流ip、in。
63.ip＝in＝(vrefm-vls)/rip
···
(4)
64.根据上式(3)和(4)，电平移位量δvip、δvin成为下式(5)，运算放大器opa的输入节点的电压vip、vin成为下式(6)。
65.δvip＝δvin＝vrefm-vls
···
(5)
66.vip＝vin＝vip’+δvip＝vip
’‑
vls+vrefm
···
(6)
67.在电流感测放大电路120的增益足够高的情况下，电压vip
′
与电压vls大致相同，因此，运算放大器opa的输入节点的电压vip、vin与基准电压vrefm大致相同。
68.更具体而言，拉电流源131包含pnp型的双极性晶体管bpa1～bpa4和电流源iba。
69.双极性晶体管bpa1～bpa4的发射极与电源电压vda的节点连接。例如从设置在电路装置100内的电源电路供给电源电压vda。双极性晶体管bpa1的集电极与运算放大器opa的第1输入节点nip连接，双极性晶体管bpa2的集电极与放大器opa的第2输入节点nin连接，双极性晶体管bpa3的集电极与节点nlsm连接。双极性晶体管bpa1～bpa3的基极与双极性晶体管bpa4的基极以及集电极连接。电流源iba流过的电流为双极性晶体管bpa4的集电极电流，双极性晶体管bpa1～bpa3对该集电极电流进行镜像，从该集电极输出恒定电流ic1a～ic3a。恒定电流ic1a～ic3a是拉电流，ic1a＝ic2a＝ic3a。
70.可变灌电流源132包括电阻rlsm、误差放大电路eram、npn型的双极性晶体管bpb1～bpb3和电容器cb。
71.电阻rlsm设置在节点nvls和节点nlsm之间。
72.电容器cb设置于误差放大电路eram的输出节点与节点nlsm之间。具体地，电容器cb的一端与误差放大电路eram的输出节点连接，另一端与节点nlsm连接。
73.双极性晶体管bpb1～bpb3的发射极与接地节点连接。双极性晶体管bpb1的集电极与运算放大器opa的第1输入节点nip连接，双极性晶体管bpb2的集电极与运算放大器opa的第2输入节点nin连接，双极性晶体管bpb3的集电极与节点nlsm连接。
74.从端子tvrefm向误差放大电路eram的反相输入节点输入基准电压vrefm，向同相输入节点输入节点nvls的电压vlsm，误差放大电路eram向双极性晶体管bpb3的基极输出电流控制信号erq。在设双极性晶体管bpb3的集电极为可变电流iv3a时，误差放大电路eram对可变电流iv3a进行反馈控制，以使得vlsm＝vrefm。此时，电平移位电路130流向电阻rlsm的
电流ilsm为下式(7)。
75.ilsm＝ic3a-iv3a＝(vrefm-vls)/rlsm
···
(7)
76.电流ilsm成为与分流电阻12的一端的电压vls对应的电流。ic3a是恒定电流，因此，根据电压vls可变地控制可变电流iv3a。
77.将双极性晶体管bpb1、bpb2的集电极电流设为可变电流iv1a、iv2a。从误差放大电路eram向双极性晶体管bpb1、bpb2的基极输入电流控制信号erq，所以，iv1a＝iv2a＝iv3a。即，可变电流iv1a、iv2a与可变电流iv3a相同，成为根据电压vls可变地控制的电流。可变电流iv1a～iv3a是灌电流。
78.电平移位电路130流向第1电阻rip的电流ip和电平移位电路130流向第2电阻rin的电流in成为下式(8)。
79.ip＝ic1a-iv1a，
80.in＝ic2a-iv2a
···
(8)
81.根据ic1a＝ic2a＝ic3a、iv1a＝iv2a＝iv3a和上式(8)，电流ip、in满足下式(9)。
82.ip＝in＝ilsm
···
(9)
83.根据rip＝rin＝rlsm和上式(9)，电平移位量δvip、δvin成为下式(10)。
84.δvip＝δvin＝rip
×
ip＝rlsm
×
ilsm
···
(10)
85.图3是说明电流检测电路110的动作的信号波形图。首先，说明基本的开关动作。
86.当pwm信号spwm为高电平、开关元件180接通时，从电源节点nvdd经由开关元件180、分流电阻12以及电感器11向接地节点流过电流ils。因此，流过电感器11的电流ils逐渐上升。此时，分流电阻12的一端的电压为vls＝vdd，将此时的电流检测称为高边检测。
87.当pwm信号spwm为低电平、开关元件180断开时，从接地节点经由二极管da、分流电阻12和电感器11向接地节点流过电流ils。因此，流过电感器11的电流ils逐渐减小。此时，分流电阻12的一端的电压为vls＝-vf，将此时的电流检测称为低边检测。另外，vf是二极管da的正向电压。
88.接着，说明电平移位动作。在电平移位电路130向第1电阻rip和第2电阻rip输出电流的情况下，将该电流称为拉电流，当电平移位电路130从第1电阻rip和第2电阻rin引入电流时，将该电流称为灌电流。
89.在高边检测中，vls＝vdd＞vrefm，所以，电平移位电路130流过作为灌电流的ip＝in＝-ik。根据上式(4)，灌电流成为下式(11)。
90.ik＝vdd-vrefm)/rip
···
(11)
91.另外，根据上式(5)，电平移位量成为下式(12)。由于δvip＜0，所以，在高边检测中，运算放大器opa的输入节点的电压vip、vin的电平下降。
92.δvip＝δvin＝vrefm-vdd
···
(12)
93.在低边检测中，vls＝-vf＜vrefm，所以，电平移位电路130流过作为拉电流的ip＝in＝is。根据上式(4)，灌电流和拉电流成为下式(13)。
94.is＝(vrefm+vf)/rip
···
(13)
95.另外，根据上式(5)，电平移位量成为下式(14)。由于δvip＞0，所以，在低边检测中，运算放大器opa的输入节点的电压vip、vin的电平上升。
96.δvip＝δvin＝vrefm+vf
···
(14)
97.根据上式(11)的灌电流和上式(13)的拉电流，在高边检测和低边检测中，运算放大器opa的输入节点的电压vip、vin与基准电压vrefm大致相同。即，在高边检测中，输入节点的电压vip、vin从电源电压vdd降低到大致基准电压vrefm，在低边检测中，输入节点的电压vip、vin从负的电压-vf降低到大致基准电压vrefm。由此，能够通过1个电流感测放大电路进行高边检测和低边检测，并且该电流感测放大电路的放大器的输入电压范围可以是基准电压vrefm附近的较窄范围。另外，通过将基准电压vrefm设定为比低耐压工艺的耐压低的电压，能够通过低耐压工艺的电路元件构成运算放大器。
98.另外，根据电源电压vdd可变地控制上式(11)的灌电流ik，因此，即使当电源电压vdd变化时，运算放大器opa的输入节点的电压vip、vin也被控制为与基准电压vrefm大致相同。由此，能够使用电源电压不同的各种电源，对于该各种电源电压，放大器opa的输入节点的电压vip、vin保持恒定。另外，电池在用于电源的情况下，电源电压随着电池余量的降低而降低，但即使电源电压降低，运算放大器opa的输入节点的电压vip、vin也保持恒定。
99.3.第1实施方式
100.以下，说明校正电流值的检测误差的方法的第1实施方式。另外，对于与已说明的构成要素相同的构成要素，适当省略图示和说明。
101.图4是第1实施方式中的电流检测电路110的详细结构例。在本结构例中，电流感测放大电路120包括第1开关spc、第2开关snc、第3电阻rpt、第4电阻rnt、第3开关spt、第4开关snt。将可变灌电流源132a的电阻rlsm称为第5电阻。可变电容器电流源132a包括第5开关smc、第6电阻rmt和第6开关smt。
102.第1开关spc在端子tmonp与第1输入节点nip之间，与第1电阻rip串联设置。具体而言，第1电阻rip的一端与端子tmonp连接，另一端与第1节点npc连接。第1开关spc的一端与第1节点npc连接，另一端与第1输入节点nip连接。第2开关snc在端子tmonn和第2输入节点nin之间，与第2电阻rin串联设置。具体而言，第2电阻rin的一端与端子tmonn连接，另一端与第2节点nnc连接。第2开关snc的一端与第2节点nnc连接，另一端与第2输入节点nin连接。
103.第3开关spt在接地节点与第1输入节点nip之间，与第3电阻rpt串联设置。
104.具体而言，第3电阻rpt的一端与接地节点连接，另一端与第3节点npt连接。第3开关spt的一端与第3节点npt连接，另一端与第1输入节点nip连接。第4开关snt在接地节点与第2输入节点nin之间，与第4电阻rnt串联设置。具体而言，第4电阻rnt的一端与接地节点连接，另一端与第4节点nnt连接。第4开关snt的一端与第4节点nnt连接，另一端与第2输入节点nin连接。
105.第5开关smc在端子tvls与节点nlsm之间，与第5电阻rlsm串联连接。具体而言，第5电阻rlsm的一端与端子tvls连接，另一端与第5节点nmc连接。第5开关smc的一端与第5节点nmc连接，另一端与节点nlsm连接。第6开关smt在接地节点与节点nlsm之间，与第6电阻rmt串联设置。具体而言，第6电阻rmt的一端与接地节点连接，另一端与第6节点nmt连接。第6开关smt的一端与第6节点nmt连接，另一端与节点nlsm连接。
106.上述第1电阻rip、第2电阻rin、第3电阻rpt、第4电阻rnt、第5电阻rlsm以及第6电阻rmt的电阻值相同。图4示出第3电阻rpt、第4电阻rnt以及第6电阻rmt的一端与接地节点连接的例子，但是它们的一端与恒定电位的恒定电压节点连接即可。
107.上述第1开关spc、第2开关snc、第3开关spt、第4开关snt、第5开关smc以及第6开关
smt各自例如是n型晶体管或p型晶体管或n型晶体管与p型晶体管并联连接而成的传输门等。
108.图4示出电流检测期间的开关的状态。控制电路150在电流检测期间，使第1开关spc、第2开关snc以及第5开关smc接通，使第3开关spt、第4开关snt以及第6开关smt断开。电流感测放大电路120如在上式(1)和(2)中说明的那样，检测流过分流电阻12的电流ils，输出作为其结果的检测电压vq。将在该电流检测期间取得的检测电压vq作为vcs，将通过检测电压vcs检测的电流值vcs/rsh称为检测电流值。
109.上式(1)和(2)示出理想的检测电压vq，但实际如下式(15)所示，检测电压vcs包含偏置电压δvof。即，检测电流值ics包含与偏置电压δvof对应的检测误差。在第1实施方式中，偏置电压δvof例如包含运算放大器opa的偏置、模拟接地电压vra的偏置或者这两者。另外，这里，下式(15-2)和(15-3)成立。
110.vcs＝(rfn/rin)
×
rsh
×
ils+vra+δvof
···
(15)
111.rip＝rin，rfp＝rfn
···
(15-2)
112.ic1a＝ic2a，iv1a＝iv2a
···
(15-3)
113.图5示出偏置检测期间的开关的状态。控制电路150在偏置检测期间中，使第1开关spc、第2开关snc及第5开关smc断开，使第3开关spt、第4开关snt以及第6开关smt接通。将在该偏置检测期间取得的检测电压vq设为vost。该检测电压vost相当于检测电流值ics中包含的偏置值，将该偏置值作为iost。
114.图5的状态与在电压检测期间使分流电阻12的两端短路成monp＝monn＝0v的状态等效。即，根据上式(1)和(15)，检测电压vost成为下式(16)。
115.vost＝vra+δvof
···
(16)
116.如下式(17)所示，控制电路150从检测电压vcs的a/d转换数据减去检测电压vost的a/d转换数据，由此，求出消除偏置后的检测电压vqcul的数据。如果将根据该电压vqcul检测的电流值设为校正后电流值ilscul，则vqcul和ilscul的关系如下式(18)所示。根据下式(17)和(18)，通过下式(17)求出电压vqcul对应于通过下式(19)求出校正后电流值ilscul。控制电路150根据检测电压vqcul的数据对开关元件180进行pwm控制，由此，能够执行基于消除偏置后的准确的校正后电流值ilscul的pwm控制。
117.vqcul＝vcs-vost
···
(17)
118.vqcul＝((rfn/rin))
×
rsh
×
ilscul
···
(18)
119.ilscul＝ics-iost
···
(19)
120.图6是第1实施方式中的电流检测动作的时序图。这里，示出pwm信号spwm的1个周期中的电流检测动作，但在各周期中进行同样的电流检测动作。当pwm信号spwm为高电平时，开关元件180接通，当pwm信号spwm为低电平时，开关元件180断开。
121.控制电路150将pwm信号spwm从低电平设为高电平，经过等待期间后，进行第1～第m检测期间dt1～dtm的动作，经过等待期间后，将pwm信号spwm从高电平设为低电平。控制电路150在经过等待期间后，进行第m+1～第n检测期间dtm+1～dtn的动作，经过等待期间后，将pwm信号spwm从低电平设为高电平。n为2以上的整数，m为1以上且小于n的整数。pwm信号spwm的高电平期间基于该周期之前的周期中的电流检测结果来决定。控制方法电路150基于该高电平期间决定m的值。
122.第1检测期间dt1包含“ost”所示的偏置检测期间和“cs”所示的电流检测期间。图6示出偏置检测期间在电流检测期间之前的例子，顺序也可以相反。电流感测放大电路120在偏置检测期间检测表示偏置值的检测电压vost1，在电流检测期间检测表示检测电流值的检测电压vcs1。同样，电流感测放大电路在第2～第n检测期间dt2～dtn的偏置检测期间检测出检测电压vost2～vostn，在电流检测期间检测出检测电压vcs2～vcsn。控制电路150根据下式(20)求出表示校正后电流值ilscul的电压vqcul。
[0123][0124]
在以上的本实施方式中，电路装置100包括电流感测放大电路120和处理电路115。开关元件180、分流电阻12以及电感器11在第1电源节点和第2电源节点之间串联连接。电流感测放大电路120检测流过分流电阻12的电流。处理电路115根据电流感测放大电路120的输出，求出流过分流电阻12的电流ils的校正后电流值ilscul。电流感测放大电路120包括运算放大器opa、第1电阻rip、第1开关spc、第2电阻rin、第2开关snc、第3电阻rpt、第3开关spt、第4电阻rnt和第4开关snt。第1电阻rip设置在分流电阻12的一端的第1电阻节点nmonp与第1节点npc之间。第1开关spc设置在第1节点npc与运算放大器opa的第1输入节点nip之间。第2电阻rin设置在分流电阻12的另一端的第2电阻节点nmonn与第2节点nnc之间。第2开关snc设置在第2节点nnc与运算放大器opa的第2输入节点nin之间。第3电阻rpt设置在恒压节点与第3节点npt之间。第3开关spt设置在第3节点npt与第1输入节点nip之间。第4电阻rnt设置恒压节点与第4节点nnt之间。第4开关snt设置在第4节点nnt与第2输入节点nin之间。在电流检测期间，第1开关spc和第2开关snc接通，第3开关spt和第4开关snt断开，处理电路115根据电流感测放大电路120的输出，取得检测电流值ics。在偏置检测期间，第1开关spc和第2开关snc断开，第3开关spt和第4开关snt接通，处理电路115根据电流感测放大电路120的输出取得偏置值iost。处理电路115根据检测电流值ics和偏置值iost，求出校正后电流值ilscul。
[0125]
根据本实施方式，第3电阻rpt的一端以及第4电阻rnt的一端与恒压节点连接，在偏置检测期间，第1开关spc和第2开关snc断开，第3开关spt和第4开关snt接通。由此，电流感测放大电路120的差动输入成为与短路状态相同的状态，能够测量检测电压vq的偏置。
[0126]
另外，相比于第1电阻rip以及第2电阻rin，上述4个开关与运算放大器opa的输入节点侧连接。由此，对4个开关施加对运算放大器opa的输入节点施加的电压，不会直接施加分流电阻12的一端或另一端的电压。分流电阻的一端或另一端的电压有时成为电源电压vdd附近或负电压，但这些电压不施加到开关。因此，开关不需要是耐受高电压或负电压的工艺或结构。
[0127]
另外，在图1的例子中，第1电源节点是电源节点nvdd和接地节点中的一个，第2电源节点是电源节点nvdd和接地节点中的另一个。在图4和图5的例子中，恒压节点是接地节点。在上式(17)中，求出与校正后电流值ilscul对应的电压vqcul，如上式(18)和(19)说明那样，这等效于求出校正后电流值ilscul的情况。
[0128]
另外，在本实施方式中，电路装置100包括电平移位电路130。电平移位器电路130向第1输入节点nip供给第1电流ip，向第2输入节点nin供给通过供给第2电流in，由此，对第
1输入节点nip和第2输入节点nin的电压进行电平移位。
[0129]
如图3所说明的那样，相当于共模电压的电压vls通过pwm驱动而大幅变动。在没有电平移位电路130的情况下，如果共模电压变动，则运算放大器opa的输入电压vip、vin也变动。根据本实施方式，电平移位电路130对第1输入节点nip和第2输入节点nin的电压进行电平移位，由此，能够减少运算放大器opa的输入电压vip、vin的变动。
[0130]
另外，在本实施方式中，电平移位电路130根据第1电阻节点nmonp的电压vls可变地控制第1电流ip和第2电流in，由此，按照根据第1电阻节点nmonp的电压vls变化的电平移位量对第1输入节点nip及第2输入节点nin的电压进行电平移位。
[0131]
根据本实施方式，按照根据第1电阻节点nmonp的电压vls变化的电平移位量进行电平移位，按照与共模电压对应的电平移位量对运算放大器opa的输入电压vip、vin进行电平移位。由此，运算放大器opa的输入电压vip、vin根据共模电压而被控制，所以，其变动减少。
[0132]
此外，在本实施方式中，电平移位量是基准电压vrefm与第1电阻节点nmonp的电压vls的差分。
[0133]
根据本实施方式，能够将运算放大器opa的输入电压vip、vin电平移位至大致基准电压vrefm。由此，即使在共模电压变动的情况下，也能将运算放大器opa的输入电压vip、vin大致维持在基准电压vrefm。对第1～第4开关施加的电压大致为基准电压vrefm，所以，第1～第4开关只要是能够承受大致基准电压vrefm的工艺或结构即可。
[0134]
此外，在本实施方式中，电路装置100包括驱动电路160，驱动电路160利用基于校正后电流值ilscul的pwm信号spwm驱动开关元件180。处理电路115在pwm信号spwm的1个周期中的第1～第n检测期间dt1～dtn的各检测期间，取得电流检测期间中的检测电流值ics，取得偏置检测期间中的偏置值iost。
[0135]
如图3说明的那样，流过分流电阻12的电流ils通过pwm驱动而变动。根据本实施方式，在pwm信号spwm的1个周期中进行多次电流检测，由此，能够求出平均的电流值。
[0136]
另外，在本实施方式中，处理电路115将在各检测期间取得的检测电流值ics和偏置值iost的差分在第1～第n检测期间dt1～dtn中的平均值作为1个周期中的校正后电流值ilscul而求出。
[0137]
根据本实施方式，通过检测电流值ics和偏置值iost的差分求出各检测期间中的偏置消除后的电流值，根据该电流值的平均值，求出1个周期中的校正后电流值ilscul。
[0138]
另外，在上式(20)中，求出与校正后电流值ilscul对应的电压vqcul，这等效于求出校正后电流值ilscul的情况。
[0139]
此外，在本实施方式中，第1～第n检测期间dt1～dtn包括pwm信号spwm的第1电压电平期间中的第1～第m检测期间dt1～dtm和pwm信号spwm的第2电压电平期间中的第m+1～第n检测期间dtm+1～dtn。处理电路115在第1～第m检测期间dt1～dtm的各期间中取得的检测电流值ics和偏置值iost的差分在第1～第m检测期间dt1～dtm中的平均值作为第1电压电平期间中的校正后电流值而求出。处理电路115在第m+1～第n检测期间dtm+1～dtn的各期间中取得的检测电流值ics和偏置值iost的差分在第m+1～第n检测期间dtm+1～dtn中的平均值作为第2电压电平期间中的校正后电流值而求出。处理电路115根据第1电压电平期间的校正后电流值和第2电压电平期间的校正后电流值求出校正后电流值ilscul。
[0140]
如图3说明的那样，流过分流电阻12的电流ils在开关元件180的接通期间上升，在断开期间下降。根据本实施方式，开关元件180在导通期间和断开期间的双方中设定检测期间，所以，能够准确地求出1个周期中的校正后电流值ilscul。
[0141]
另外，在图6的例子中，第1电压电平期间是pwm信号的高电平期间或开关元件180的导通期间，第2电压电平期间是pwm信号的低电平期间或开关元件180的断开期间。在上式(20)中，右边第1个和对应于第1～第m检测期间dt1～dtm中的平均值，右边第2个和对应于第m+1～第n检测期间dtm+1～dtn中的平均值。
[0142]
另外，在本实施方式中，开关元件180连接在第1电源节点与第1电阻节点nmonp之间。二极管da是第1电阻节点nmonp和作为接地节点的第2电源节点之间。电感器11连接在第2电阻节点nmonn与接地节点之间。电流感测放大电路120通过检测第1电阻节点nmonp与第2电阻节点nmonn的电压差，检测出检测电流值ics。
[0143]
在开关元件180的接通期间，共模电压为第1电源节点的电源电压附近，在开关元件180的断开期间，共模电压为负电压。负电压是从接地电压下降了二极管da的正向电压后的电压。根据本实施方式，如上所述，这些电压不会直接施加到第1～第4开关。
[0144]
4.第2实施方式
[0145]
对校正电流值的检测误差的方法的第2实施方式进行说明。另外，对于与已说明的结构要素相同的结构要素，适当地省略图示和说明。
[0146]
在第2实施方式中，与第1实施方式同样地消除运算放大器opa等的偏置，并且，能够消除由电阻或电流的失配引起的电流检测误差。首先，使用图7～图10说明由电阻或电流的失配引起的电流检测误差。
[0147]
图7示出在图4的电流检测期间中取决于共模电压的第1误差成分。图7示出使分流电阻12的两端短路并且使其一端的电压monp变化时的检测电压vq的第1误差成分。这里设ip＝in。
[0148]
第1误差成分起因于第1电阻rip的电阻值与第2电阻rin的电阻值的失配。在没有失配的rip＝rin的情况下，检测电压vq成为期待值的模拟接地电压vra。如la1所示，当rip《rin时，检测电压vq相对于电压monp为正的线性特性。如la2所示，当rip》rin时，检测电压vq相对于电压monp为负的线性特性。
[0149]
由于vip＝vin＝vrefm，所以，在monp＝vrefm时，ip＝in＝0。因此，rip
×
ip＝rin
×
in＝0，不产生电阻失配的影响，因此，vq＝vra。当monp≠vrefm时，ip＝in≠0，所以，rip
×
ip≠rin
×
in。这等效于在分流电阻12的两端产生电位差的情况，因此，对于作为期待值的vq＝vra产生误差。由于第1电流ip和第2电流in取决于电压monp，所以，检测电压vq的第1误差成分取决于电压monp。
[0150]
图8示出在图4的电流检测期间中取决于共模电压的第2误差成分。图8示出使分流电阻12的两端短路并且使其一端的电压monp变化时的检测电压vq的第2误差成分。这里，rip＝rin，ic1a＝ic2a。
[0151]
第2误差成分起因于可变电流iv1a的电流值和可变电流iv2a的电流值的失配。在没有失配的iv1a＝iv2a的情况下，检测电压vq成为作为期待值的模拟接地电压vra。如lg1所示，在iv1a《iv2a的情况下，检测电压vq相对于电压monp为正的线性特性。如lg2所示，当iv1a》iv2a时，检测电压vq相对于电压monp成为负的线性特性。
[0152]
在iv1a≠iv2a的情况下，ip≠in，所以，rip
×
ip≠rin
×
in。因此，对于作为期待值的vq＝vra产生误差。可变电流iv1a和可变电流iv2a取决于电压monp，所以，检测电压vq的第2误差成分取决于电压monp。即使monp＝vrefm，由于iv1a≠iv2a，所以，在monp＝vrefm中，也不是vq＝vra。
[0153]
图9示出在图4的电流检测期间中不取决于共模电压的第3误差成分。图9示出使分流电阻12的两端短路并使其一端的电压monp变化时的检测电压vq的第3误差成分。这里，rip＝rin，iv1a＝iv2a。
[0154]
第3误差成分起因于恒定电流ic1a的电流值和恒定电流ic2a的电流值的失配。在没有失配的ic1a＝ic2a的情况下，检测电压vq成为作为期待值的模拟接地电压vra。如lb1所示，在ic1a》ic2a的情况下，检测电压vq是不取决于电压monp的恒定值，vq》vra。如lb2所示，在ic1a《ic2a的情况下，检测电压vq是不取决于电压monp的恒定值，vq《vra。
[0155]
在ic1a≠ic2a的情况下，ip≠in，所以，rip
×
ip≠rin
×
in。因此，相对于作为期待值的vq＝vra，产生误差。恒定电流ic1a和恒定电流ic2a不取决于电压monp，所以，检测电压vq的第3误差成分不取决于电压monp。
[0156]
在电流检测期间，由电阻或电流的失配引起的电流检测误差为上述的第1～第3误差成分合计后的误差。
[0157]
图10示出图5的偏置检测期间的误差成分。第3电阻rpt的一端以及第4电阻rnt的一端与接地节点连接，所以，输出共模电压为0v时的检测误差。
[0158]
该误差成分起因于第3电阻rpt的电阻值与第4电阻rnt的电阻值的失配、可变电流iv1a的电流值与可变电流iv2a的电流值的失配、或恒定电流ic1a的电流值与恒定电流ic2a的电流值的失配中的至少1个。在不存在失配的情况下，检测电压vq是作为期待值的模拟接地电压vra。如lc1或lc2所示，在有失配的情况下，相对于作为期待值的vq＝vra产生误差。是vq》vra还是vq《vra由基于各失配的误差的合计来决定。
[0159]
图11是第2实施方式中的电路装置100的详细结构例。在本结构例中，电流感测放大电路120包括校正电路121。
[0160]
校正电路121校正第1电阻rip和第2电阻rin的电阻值的失配、或第1电流ip与第2电流in的失配的至少1个失配。存储电路170存储用于校正上述至少1个失配的校正信息。控制电路150根据存储在存储电路170中的校正信息进行校正电路121的设定，校正电路121成为能够校正上述至少1个失配的状态。该设定例如在电源接通时的初始化等中执行。
[0161]
校正信息例如在制造时的检查等中取得。校正信息例如是电源接通时的初始化等中从外部的处理装置等写入存储电路170。或者，存储电路170是非易失性存储器，在制造时校正信息存储到非易失性存储器。
[0162]
图12是第2实施方式中的电流检测电路110的第1详细结构例。在本结构例中，电流感测放大电路120包含第1可变电阻ripv、第2可变电阻rptv和可变电流电路135作为校正电路121。
[0163]
第1可变电阻ripv在端子tmonp与第1节点npc之间与第1电阻rip串联设置。具体而言，第1可变电阻ripv的一端与第1电阻rip的另一端连接，第1可变电阻ripv的另一端与第1节点npc连接。第1可变电阻ripv例如由多个电阻和对它们的连接进行切换的多个开关构成。
[0164]
第2可变电阻rptv在接地节点与第3节点npt之间与第3电阻rpt串联设置。具体而言，第2可变电阻rptv的一端与第3电阻rpt的另一端连接，第2可变电阻rptv的另一端与第3节点npt连接。第2可变电阻rptv例如由多个电阻和对它们的连接进行切换的多个开关构成。
[0165]
可变电流电路135的输出节点与运算放大器opa的第1输入节点nip连接。可变电流电路135向第1输入节点nip供给作为拉电流或灌电流的校正电流ipc。图12示出校正电流ipc为拉电流的例子。另外，可变电流电路135的输出节点可以不与第1输入节点nip连接，而与第2输入节点nin连接。
[0166]
校正信息包含第1可变电阻ripv的电阻设定值、第2可变电阻rptv的电阻设定值和校正电流ipc的电流设定值。控制电路150基于校正信息，设定第1可变电阻ripv的电阻设定值、第2可变电阻rptv的电阻设定值、校正电流ipc的电流设定值。
[0167]
另外，电流检测期间和偏置检测期间的动作以及根据检测电流值和偏置值求出校正后电流值的处理与第1实施方式相同。
[0168]
图13是第2实施方式中的电流检测电路110的第2详细结构例。本结构例中，电流感测放大电路120包含第1可变电阻ripv、第2可变电阻rptv、第3可变电阻rinv、第4可变电阻rntv、可变电流电路135和可变电流电路136作为校正电路121。
[0169]
第2可变电阻rptv在端子tmonn与第2节点nnc之间与第2电阻rin串联设置。第4可变电阻rntv在接地节点与第4节点nnt之间与第4电阻rnt串联设置。将校正电流ipc作为第1校正电流。可变电流电路136向第2输入节点nin供给作为拉电流或灌电流的第2校正电流inc。
[0170]
图14是可变电流电路135的第1详细结构例。可变电流电路135包含构成电流镜电路的p型晶体管ta1、ta2和可变电流源ibva。电流镜电路对可变电流源ibva的输出电流进行镜像，由此输出作为拉电流的校正电流ipc。
[0171]
图15是可变电流电路135的第2详细结构例。可变电流电路135包含构成电流镜电路的n型晶体管tb1、tb2和可变电流源ibvb。电流镜电路对可变电流源ibvb的输出电流进行镜像，由此输出作为灌电流的校正电流ipc。
[0172]
控制电路150通过控制可变电流源ibva或ibvb的输出电流值，控制校正电流ipc的电流值。
[0173]
可变电流电路135包含图14的结构和图15的结构两者，选择性地输出拉电流或灌电流。以上，以可变电流电路135为例进行了说明，但可变电流电路136的结构与可变电流电路135的结构相同。
[0174]
图16是示出决定校正信息的步骤的图。该步骤例如在制造时的检查中执行。以下，说明检查装置执行这些步骤的例子。
[0175]
在步骤1中，检查装置设定为电流检测期间的开关状态，使分流电阻12的两端短路，设定为monp＝vrefm。检查装置一边改变校正电流ipc的电流设定值，一边监视检测数据adq，决定满足vq＝vra的电流设定值。在改变校正电流ipc时，检测电压vq相对于电压monp的斜率不变化，截距变化，所以，在步骤1中，monp＝vrefm中的检测电压vq校正为期待值。以下，设校正电流ipc为拉电流。如ld1所示，在monp＝vrefm中，在vq》vra时，检查装置减少校正电流ipc，由此，如le1所示，检测电压vq下降。如ld2所示，在monp＝vrefm中，在vq《vra时，
检查装置使校正电流ipc增加，由此，如le2所示，检测电压vq上升。
[0176]
在步骤2中，检查装置设定为电流检测期间的开关状态，使分流电阻12的两端短路，设定为monp≠vrefm。检查装置一边改变第1可变电阻ripv的电阻设定值一边监视检测数据adq，确定满足vq＝vra的电阻设定值。在改变第1可变电阻ripv的电阻值时，保持monp＝vrefm中的vq＝vra，检测电压vq相对于电压monp的斜率发生变化。因此，在步骤2中，不取决于电压monp而将检测电压vq校正为期待值。如le1所示，在检测电压vq具有正斜率时，检查装置通过增加第1可变电阻ripv的电阻设定值，如lf1所示，能够使检测电压vq的斜率接近零。如le2所示，在检测电压vq具有负斜率时，检查装置使第1可变电阻ripv的电阻设定值减少，由此，如lf2所示，能够使检测电压vq的斜率接近零。
[0177]
此外，在步骤2中，检查装置设定为偏置检测期间的开关状态，一边改变第2可变电阻rptv的电阻设定值一边监视检测数据adq，确定满足vq＝vra的电阻设定值。由此，在偏置检测中，检测电压vq被校正成期待值。其中，表示偏置值的检测电压vost可能由于电源电压或温度变动等而变动。该变动量在偏置检测期间中被检测出，通过上式(17)消除。
[0178]
在以上的本实施方式中，电路装置100包括电流感测放大电路120、电平移位电路130和存储电路170。开关元件180、分流电阻12及电感器11串联连接在第1电源节点与第2电源节点之间。电流感测放大电路120检测流过分流电阻12的电流。电流感测放大电路120包括运算放大器opa、第1电阻rip、第2电阻rin和校正电路121。第1电阻rip设置在分流电阻12的一端的第1电阻节点nmonp与运算放大器opa的第1输入节点nip之间。第2电阻rin设置在分流电阻12的另一端的第2电阻节点nmonn与运算放大器opa的第2输入节点nin之间。电平移位电路130向第1输入节点nip供给第1电流ip，向第2输入节点nin供给第2电流in，由此，对第1输入节点nip和第2输入节点nin的电压进行电平移位。存储电路170存储用于校正第1电阻rip和第2电阻rin的失配、或第1电流ip和第2电流in的失配的至少1个失配的校正信息。校正电路121根据校正信息校正上述至少1个失配，由此，校正上述至少1个失配引起的电流感测放大电路120的检测误差。
[0179]
在存在第1电阻rip和第2电阻rin的失配、或第1电流ip和第2电流in的失配的情况下，由于该失配，产生电流感测放大电路120的检测误差。根据本实施方式，根据用于校正第1电阻rip和第2电阻rin的失配、或第1电流ip与第2电流in的失配的至少1个失配的校正信息，校正上述至少1个失配。由此，校正上述至少1个失配引起的电流感测放大电路120的检测误差。由此，电流感测放大电路120准确地检测流过分流电阻12的电流。
[0180]
另外，如图7和图8所说明的那样，检测误差可能取决于共模电压。如图16说明的那样，根据本实施方式，能够校正取决于共模电压的检测误差。
[0181]
另外，第1电阻rip和第2电阻rin的失配是第1电阻rip和第2电阻rin的电阻值不同。另外，第1电流ip和第2电流in的失配是第1电流ip和第2电流in的电流值不同。
[0182]
此外，在本实施方式中，校正电路121包括第1可变电阻ripv。第1可变电阻ripv在第1电阻节点nmonp与第1输入节点nip之间，与第1电阻rip串联设置。存储电路170存储第1可变电阻ripv的电阻设定值作为校正信息。
[0183]
如图16的步骤2中说明的那样，通过调整第1可变电阻ripv的电阻值，能够校正上述至少1个失配引起的检测电压vq的斜率。根据本实施方式，校正检测电压vq的斜率的第1可变电阻ripv的电阻设定值存储于存储电路170，根据其电阻设定值设定第1可变电阻ripv
的电阻值，由此，校正上述至少1个失配引起的检测电压vq的斜率。
[0184]
此外，在本实施方式中，第1可变电阻ripv设置在第1电阻rip与第1输入节点nip之间。
[0185]
根据本实施方式，相比于第1电阻rip，第1可变电阻ripv与运算放大器opa的输入节点侧连接。由此，分流电阻12的一端或另一端的电压即电源电压vdd附近或负电压不施加于第1可变电阻ripv。因此，不需要使第1可变电阻ripv所包含的开关等成为耐受高电压或负电压的工艺或结构。
[0186]
此外，在本实施方式中，第1输入节点nip是运算放大器opa的同相输入节点，第2输入节点nin是运算放大器opa的反相输入节点。电流感测放大电路120包括设置在运算放大器opa的输出节点nq与反相输入节点之间的反馈电阻rfn。
[0187]
根据本实施方式，电流感测放大电路120的增益是第2电阻rin的电阻值与反馈电阻rfn的电阻值之比。第1可变电阻ripv设置在第1电阻rip侧，由此，在不改变电流感测放大电路120的增益的情况下，能够减少上述至少1个失配引起的检测误差。
[0188]
此外，在本实施方式中，校正电路121包含可变电流电路135，可变电流电路135向第1输入节点nip或第2输入节点nin供给校正电流ipc。存储电路170存储校正电流ipc的电流设定值作为校正信息。
[0189]
如图16的步骤1说明的那样，通过调整校正电流ipc的电流值，校正上述至少1个失配引起的检测电压vq的截距。根据本实施方式，校正检测电压vq的截距的校正电流ipc的电流设定值存储于存储电路170，根据该电流设定值设定校正电流ipc的电流值，由此，校正上述至少1个失配引起的检测电压vq的截距。
[0190]
另外，在本实施方式中，第1电阻rip和第1可变电阻ripv设置在第1电阻节点nmonp与第1节点npc之间。第2电阻rin设置在第2电阻节点nmonn与第2节点nnc之间。电流感测放大电路120包括运算放大器opa、第1开关spc、第2开关snc、第3电阻rpt、第3开关spt、第4电阻rnt和第4开关snt。第1开关spc设置在第1节点npc与运算放大器opa的第1输入节点nip之间。第2开关snc设置在第2节点nnc与运算放大器opa的第2输入节点nin之间。第3电阻rpt设置在恒压节点与第3节点npt之间。第3开关spt设置在第3节点npt与第1输入节点nip之间。第4电阻rnt设置在恒压节点与第4节点nnt之间。第4开关snt设置在第4节点nnt与第2输入节点nin之间。
[0191]
根据本实施方式，在第1开关spc和第2开关snc导通时，能够检测流过分流电阻12的电流。通过校正第1电阻rip和第2电阻rin的失配、或者第1电流ip和第2电流in的失配的至少1个失配，校正电流检测误差。
[0192]
此外，在本实施方式中，校正电路121包括第2可变电阻rptv，第2可变电阻rptv在恒压节点与第3节点npt之间，与第3电阻rpt串联设置。存储电路170存储第2可变电阻rptv的电阻设定值作为校正信息。
[0193]
根据本实施方式，在第3开关spt和第4开关snt接通时，能够检测电流感测放大电路120的偏置。如图16的步骤2说明的那样，通过调整第2可变电阻rptv的电阻值，能够校正偏置检测中的检测电压vq的误差。
[0194]
此外，在本实施方式中，电平移位电路130包括第1恒定电流源、第2恒定电流源、第1可变电流源、第2可变电流源和电流控制电路。第1恒定电流源向第1输入节点nip供给作为
拉电流的第1恒定电流ic1a。第2恒定电流源向第2输入节点nin供给作为灌电流的第2恒定电流ic2a。第1可变电流源向第1输入节点nip供给作为灌电流的第1可变电流iv1a。第2可变电流源向第2输入节点nin供给作为灌电流的第2可变电流iv2a。电流控制电路根据第1电阻节点nmonp的电压vls可变地控制第1可变电流iv1a和第2可变电流iv2a。
[0195]
如图8说明的那样，由于第1可变电流iv1a和第2可变电流iv2a的失配而产生取决于共模电压的电流检测误差。另外，如图9说明的那样，由于第1恒定电流ic1a和第2恒定电流ic2a的失配而产生不取决于共模电压的电流检测误差。如图16说明的那样，根据本实施方式，校正电路121能够校正由这些失配引起的电流检测误差。
[0196]
另外，在图2中，双极性晶体管bpa1对应于第1恒定电流源，双极性晶体管bpa2对应于第2恒定电流源。双极性晶体管星形bpb1对应于第1可变电流源，双极性晶体管bpb2对应于第2可变电流源。误差放大电路eram、第5电阻rlsm以及双极性晶体管bpa3、bpb3对应于电流控制电路。
[0197]
5.第3实施方式
[0198]
图17是第3实施方式中的电流检测电路110的详细结构例。在本结构例中，电流感测放大电路120包含监视用电路190。电流感测放大电路120、拉电流源131和可变灌电流源132a、132b的结构以及动作与第1实施方式相同。
[0199]
监视用电路190切换a/d转换电路140的输入电压adin。即，监视用电路190在电流检测期间和偏置检测期间，选择检测电压vq作为输入电压adin，在监视期间，选择基于电压monp的监视电压vm作为输入电压adin。
[0200]
图18是监视用电路190的详细结构例。监视用电路190包括电阻rc1、rc2、n型晶体管tc、开关swc1、swc2。
[0201]
在电流检测期间和偏置检测期间，控制电路150使开关swc1接通，使开关swc2断开。由此，检测电压vq作为输入电压adin输出。在监视期间，控制电路150使n型晶体管tc以及开关swc2接通，使开关swc1断开。由此，电压monp由电阻rc1、rc2分压为监视电压vm，该监视电压vm作为输入电压adin而输出。电阻rc1、rc2对电压monp进行分压，由此，监视电压vm成为构成开关swc1、swc2和a/d转换电路140的电路元件的耐压以下。
[0202]
控制电路150在电流检测期间，取得检测电流值ics，在偏置检测期间，取得偏置值iost，在监视期间，取得基于电压monp的监视电压vm。控制电路150根据偏置值iost、监视电压vm和存储在存储电路170中的校正参数，进行校正检测电流值ics的运算，由此，求出校正后电流值ilscul。下面，详细说明校正参数和校正处理。
[0203]
图19和图20示出校正参数的说明图。校正参数例如在制造时的检查等中取得。以下，说明检查装置执行校正参数的取得处理的例子。
[0204]
图19是针对检测电流值ics的校正参数的说明图。检查装置使分流电阻12的两端短路，一边改变电压monp一边监视检测数据adq。检查装置设定为电流检测期间的开关状态，一边改变电压monp，一边取得检测电压vq＝vrcs的数据。另外，检查装置设定为监视期间的开关状态，一边改变电压monp一边取得监视电压vm。检查装置根据取得数据，求出vrcs＝a
×
vm+vb的斜率值a和截距值vb，将它们设定为校正参数。
[0205]
图20是针对偏置值iost的校正参数的说明图。检查装置设定为偏置检测期间的开关状态，监视检测数据adq，取得检测电压vq＝vrost的数据。将由检测电压vrost检测的偏
置值称为基准偏置值。检查装置将vrost设定为校正参数。
[0206]
上述校正参数例如在电源接通时的初始化等中从外部的处理装置等写入存储电路170。或者，存储电路170是非易失性存储器，在制造时将校正参数存储到非易失性存储器。
[0207]
接着，对使用了上述校正参数的校正处理进行说明。控制电路150在电流检测期间取得表示检测电流值ics的检测电压vcs，在偏置检测期间，取得表示偏置值iost的检测电压vost，在监视期间，取得基于电压monp的监视电压vm。如下式(21)所示，控制电路150使用存储在存储电路170中的校正参数，求出表示校正后电流值ilscul的电压vqcul。
[0208]
vqcul＝(vcs-vrcs)-(vost-vrost)
[0209]
ꢀꢀꢀꢀꢀ
＝{vcs-(a
×
vm+vb)}-(vost-vrost)
···
(21)
[0210][0211]
另外，第3实施方式也可以与第2实施方式组合。即，在通过第2实施方式校正后的检测电压vq中存在残留误差时，也可以通过第3实施方式的校正处理对该残留误差进行校正。
[0212]
图21是第3实施方式中的电流检测动作的第1时序图。控制方法电路150将pwm信号spwm从低电平变为高电平，在经过等待期间后，进行第1～第k检测期间dt1～dtk的动作。控制电路150进行监视期间mt的动作，进行第k+1～第m检测期间dtk+1～dtm的动作，在经过等待期间后，将pwm信号spwm从高电平变为低电平。在经过等待期间后，控制电路150进行第m+1～第n检测期间dtm+1～dtn的动作，在经过等待期间后，将pwm信号spwm从低电平变为高电平。n为3以上的整数，m为2以上且小于n的整数，k为1以上且小于m的整数。例如，m是偶数，k＝m/2。监视期间mt的长度例如与1个检测期间的长度相同，但不限于此。
[0213]
图22是第3实施方式中的电流检测动作的第2时序图。控制电路150在使pwm信号spwm从低电平变成高电平后，在第1检测期间dt1之前，进行监视期间mt的动作。也可以在第1检测期间dt开始之前的等待期间内设定监视期间mt。
[0214]
图23是第3实施方式中的电流检测动作的第3时序图。控制方法电路150进行第1～第m检测期间dt1～dtm的动作，进行监视期间mt的动作，在经过等待期间后，将pwm信号spwm从高电平变为低电平。也可以在pwm信号spwm从高电平变为低电平之前的等待期间内设定监视期间mt。
[0215]
控制电路150根据下式(22)，计算表示校正后电流值ilscul的电压vqcul。vmon是在图21～图23所示的监视期间mt取得的监视电压，是开关元件180的接通期间的监视电压。vmoff是开关元件180的断开期间的监视电压，但是该监视电压vmoff没有被测量。设二极管da的正向电压为vf时，monp＝-vf，所以，对monp＝-vf分压后的监视电压vmoff的电压值被存储在存储电路170，将该电压值用于下式(22)即可。
[0216][0217]
如下式(23)所示，控制电路150也可以考虑a/d转换电路140的a/d增益adg来运算电压vqcul。a/d增益在检查时等测定，作为校正参数存储在存储电路170。此外，a/d增益被
校正后的斜率值a/adg、截距值vb/adg以及基准偏置值vrost/adg作为校正参数存储在存储电路170。
[0218][0219]
控制电路150在电源接通后，在开关元件180最初接通的初次接通期间，对上式(22)或(23)的vmon使用规定的初始值vmonini。此时，初始值vmonini作为校正参数存储在存储电路170。
[0220]
在以上的本实施方式中，电路装置100包括电流感测放大电路120、电平移位电路130、处理电路115。开关元件180、分流电阻12及电感器11串联连接在第1电源节点和第2电源节点之间。电流感测放大电路120检测流过分流电阻12的电流。处理电路115根据电流感测放大电路120的输出，求出流过分流电阻12的电流ils的校正后电流值ilscul。电流感测放大电路120包括运算放大器opa、第1电阻rip和第2电阻rin。第1电阻rip设置在分流电阻12的一端的第1电阻节点nmonp与运算放大器opa的第1输入节点nip之间。第2电阻rin设置在分流电阻12的另一端的第2电阻节点nmonn与运算放大器opa的第2输入节点nin之间。电平移位电路130向第1输入节点nip供给第1电流ip，向第2输入节点nin供给第2电流in，由此，对第1输入节点nip和第2输入节点nin的电压进行电平移位。处理电路115根据电流感测放大电路120的输出，检测出检测电流值ics。处理电路115根据第1电阻节点nmonp的电压monp的监视结果即监视电压vm，进行校正检测电流值ics的运算，由此，求出校正后电流值ilscul。
[0221]
根据本实施方式，在存在第1电阻rip和第2电阻rin的失配、或第1电流ip与第2电流in的失配的情况下，由于该失配，产生电流感测放大电路120的检测误差。根据本实施方式，处理电路115进行校正检测电流值ics的运算，由此，可以通过运算来校正上述至少1个失配引起的电流感测放大器120的检测误差。由此，电流感测放大电路120能够准确地检测流过分流电阻12的电流。
[0222]
另外，如图19说明的那样，检测误差可能取决于共模电压。根据本实施方式，处理电路115根据对应于共模电压的监视电压vm，对检测电流值ics进行校正，由此，能够校正取决于共模电压的检测误差。
[0223]
另外，在本实施方式中，电路装置100包含存储电路170，存储电路170存储针对监视电压vm的检测电流值ics的斜率值和截距值。处理电路115根据监视电压vm、斜率值以及截距值，进行校正检测电流值ics的运算。
[0224]
根据本实施方式，针对监视电压vm的检测电流值ics的斜率值和截距值是表示取决于监视电压vm的检测误差的校正参数。根据该校正参数校正检测电流值ics，由此，校正取决于监视电压vm的检测误差。
[0225]
另外，在图19的例子中，检测电流值ics的斜率值对应于检测电压vq＝vrcs的斜率值a，检测电流值ics的截距值对应于电压vrcs的截距值。检测流过分流电阻12的电流ils作为电流感测放大电路120的检测电压vq，因此，校正检测电流值ics与校正检测电压vq等效。
[0226]
另外，在本实施方式中，处理电路115根据在监视期间取得的监视电压vm和在偏置
检测期间基于电流感测放大电路120的输出而取得的偏置值iost，进行校正在电流检测期间基于电流感测电路120的输出而取得的检测电流值ics的运算，由此，求出校正后电流值ilscul。
[0227]
根据本实施方式，基于监视电压vm和偏置值iost校正检测电流值ics，由此，校正取决于共模电压的检测误差，并且校正由偏置引起的检测误差。
[0228]
另外，在本实施方式中，电路装置100包括存储电路170，存储电路170存储针对监视电压vm的检测电流值ics的斜率值和截距值以及基准偏置值。处理电路115根据监视电压vm、斜率值、截距值以及基准偏置值，进行校正检测电流值ics的运算。
[0229]
根据本实施方式，基于监视电压vm、斜率值以及截距值，校正检测电流值ics，由此，校正取决于监视电压vm的检测误差。另外，根据基准偏置值校正检测电流值ics，由此，校正由偏置引起的检测误差。
[0230]
另外，在图20的例子中，基准偏置值对应于检测电压vq＝vrost。基准偏置值相当于检测电流值ics的偏置，与其相当的检测电压vq的偏置是vrost。
[0231]
另外，在本实施方式中，设作为检测电流值ics取得的电流感测放大电路120的检测电压为vcs，斜率值为a，监视电压为vm，截距值为vb，作为偏置值取得的检测电压为vost，与基准偏置值对应的电压为vrost，将与校正后电流值ilscul对应的电压设为vqcul。如上式(21)说明的那样，vqcul＝{vcs-(a
×
vm+vb)}-(vost-vrost)。
[0232]
根据本实施方式，通过基于斜率值、截距值以及基准偏置值的上述运算，能够运算与校正后电流值ilscul相当的电压vqcul。由此，可通过运算来校正由上述失配引起的电流检测误差。
[0233]
此外，在本实施方式中，电路装置100包括驱动电路160，驱动电路160通过基于校正后电流值ilscul的pwm信号spwm，驱动开关元件180。处理电路115是pwm信号spwm的第1电压电平期间中的第1～第m检测期间dt1～dtm的各检测期间，取得电流检测期间中的检测电流值ics，并取得偏置检测期间的偏置值iost。
[0234]
此外，在本实施方式中，处理电路115在第k检测期间dtk和第k+1检测期间dtk+1之间的监视期间mt，取得监视电压vm。
[0235]
根据本实施方式，在pwm信号spwm的第1电压电平期间中的第k检测期间dtk与第k+1检测期间dtk+1之间取得监视电压vm。
[0236]
另外，在本实施方式中，处理电路115也可以在第1检测期间dt1之前的监视期间mt，取得监视电压vm。
[0237]
根据本实施方式，也可以在pwm信号spwm的第1电压电平期间中的第1检测期间dt1之前取得监视电压vm。
[0238]
此外，在本实施方式中，处理电路115也可以在第m检测期间dtm之后的监视期间mt，取得监视电压vm。
[0239]
根据本实施方式，能够在pwm信号spwm的第1电压电平期间中的第m检测期间dtm之后取得监视电压vm。
[0240]
6.概要
[0241]
以上说明的本实施方式的电路装置包括电流感测放大电路和处理电路。电流感测放大电路检测流过串联连接在第1电源节点和第2电源节点之间的开关元件、分流电阻以及
电感器中的分流电阻的电流。处理电路根据电流感测放大电路的输出，求出流过分流电阻的电流的校正后电流值。电流感测放大电路包括运算放大器、第1电阻、第1开关、第2电阻、第2开关、第3电阻、第3开关、第4电阻和第4开关。第1电阻设置在分流电阻的一端的第1电阻节点与第1节点之间。第1开关设置在第1节点与运算放大器的第1输入节点之间。第2电阻设置在分流电阻的另一端的第2电阻节点与第2节点之间。第2开关设置在第2节点与运算放大器的第2输入节点之间。第3电阻设置在恒压节点与第3节点之间。第3开关设置在第3节点与运算放大器的第1输入节点之间。第4电阻设置在恒压节点与第4节点之间。第4开关设置在第4节点与运算放大器的第2输入节点之间。在电流检测期间，第1开关和第2开关接通，第3开关和第4开关断开，处理电路根据电流感测放大电路的输出，取得检测电流值。在偏置检测期间，第1开关和第2开关断开，第3开关和第4开关接通，处理电路根据电流感测放大电路的输出取得偏置值。处理电路根据检测电流值和偏置值，求出校正后电流值。
[0242]
根据本实施方式，在偏置检测期间，第3开关和第4开关接通，由此，电流感测放大电路的差动输入成为与短路状态相同的状态。这可测量电流感测放大电路的偏置。另外，相比于第1电阻和第2电阻，第1～第4开关与运算放大器的输入节点侧连接。由此，成为电源电压附近或负电压的分流电阻的一端或另一端的电压不直接施加于4个开关。由此，不需要使开关成为耐受高电压或负电压的工艺或结构。
[0243]
另外，在本实施方式中，电路装置也可以包括电平移位电路。电平移位电路向运算放大器的第1输入节点供给第1电流，向运算放大器的第2输入节点供给第2电流，由此，对第1输入节点及第2输入节点的电压进行电平移位。
[0244]
电流感测放大电路的输入的共模电压由于pwm驱动而大幅变动。在没有电平移位电路的情况下，如果共模电压变动，则运算放大器的输入电压也大幅变动。根据本实施方式，电平移位电路对第1输入节点及第2输入节点的电压进行电平移位，由此，能够降低运算放大器的输入电压的变动。
[0245]
另外，在本实施方式中，电平移位电路根据第1电阻节点的电压可变地控制第1电流和第2电流，由此，按照根据第1电阻节点的电压而变化的电平移位量使运算放大器的第1输入节点及第2输入节点的电压进行电平移位。
[0246]
根据本实施方式，按照与共模电压对应的电平移位量对运算放大器的输入电压进行电平移位。由此，运算放大器的输入电压与共模电压对应地受到控制，因此，减少其变动。
[0247]
另外，在本实施方式中，电平移位量是基准电压与第1电阻节点的电压的差分。
[0248]
根据本实施方式，能够将运算放大器的输入电压电平移位至大致基准电压。由此，即使在共模电压变动的情况下，也能够使运算放大器的输入电压维持大致基准电压。由于对第1～第4开关施加的电压为大致基准电压，所以，第1～第4开关只要是耐受大致基准电压的工艺或结构即可。
[0249]
另外，在本实施方式中，电路装置包含通过基于校正后电流值的pwm信号驱动开关元件的驱动电路。处理电路在pwm信号的1个周期中的第1检测期间～第n检测期间的各检测期间，取得电流检测期间的检测电流值，并且取得偏置检测期间的偏置值。n为2以上的整数。
[0250]
流过分流电阻的电流通过pwm驱动而变动。根据本实施方式，通过在pwm信号的1个周期中进行多次电流检测，能够求出平均的电流值。
[0251]
另外，在本实施方式中，处理电路将在各检测期间中取得的检测电流值和偏置值的差分在第1检测期间～第n检测期间中的平均值作为1个周期中的校正后电流值而求出。
[0252]
根据本实施方式，通过检测电流值和偏置值的差分，求出各检测期间中的偏置消除后的电流值，根据该电流值的平均值，求出1个周期中的校正后电流值。
[0253]
此外，在本实施方式中，第1检测期间～第n检测期间包含pwm信号的第1电压电平期间内的第1检测期间～第m检测期间和pwm信号的第2电压电平期间中的第m+1检测期间～第n检测期间。m是1以上且小于n的整数。处理电路将在第1检测期间～第m检测期间的各期间中取得的检测电流值与偏置值的差分在第1检测期间～第m检测期间中的平均值作为第1电压电平期间中的校正后电流值而求出。处理电路将在第m+1检测期间～第n检测期间的各期间中取得的检测电流值与偏置值的差分在第m+1检测期间～第n检测期间中的平均值作为第2电压电平期间中的校正后电流值而求出。处理电路根据第1电压电平期间中的校正后电流值和第2电压电平期间中的校正后电流值求出校正后电流值。
[0254]
流过分流电阻的电流在开关元件的接通期间上升，在断开期间下降。根据本实施方式，在开关元件的导通期间和断开期间双方，设定检测期间，所以，能够准确地求出1个周期中的校正后电流值。
[0255]
另外，在本实施方式中，开关元件连接在第1电源节点和第1电阻节点之间，在第1电阻节点和作为接地节点的第2电源节点之间连接有二极管，电感器连接在第2电阻节点和接地节点之间。电流感测放大电路通过检测第1电阻节点和第2电阻节点的电压差来检测出检测电流值。
[0256]
在开关元件的接通期间，共模电压成为第1电源节点的电源电压附近，在开关元件的断开期间，共模电压成为负电压。负电压是从接地电压下降了二极管的正向电压后的电压。根据本实施方式，如上所述，这些电压不会直接输入到第1～第4开关。
[0257]
另外，本实施方式的螺线管控制装置包括上述电路装置、开关元件、分流电阻、作为电感器的螺线管，基于校正后电流值控制螺线管。
[0258]
此外，如上所述对本实施方式进行了详细说明，但本领域技术人员容易理解可以进行实质上不脱离本发明的新事项以及效果的多种变形。因此，这样的变形例全部包含在本发明的范围内。例如，在说明书或附图中，至少一次与更广义或同义的不同术语一起记载的术语在说明书或附图中的任何地方可替换为不同的术语。另外，本实施方式以及变形例的所有组合也包含在本发明的范围内。另外，电流感测放大电路、电平移位电路、电流检测电路、电感器、电路装置以及螺线管控制装置等的结构和动作等也不限于本实施方式中说明的内容，能够实施各种变形。

技术特征：
1.一种电路装置，其特征在于，其具有：电流感测放大电路，其检测流过串联连接在第1电源节点和第2电源节点之间的开关元件、分流电阻以及电感器中的所述分流电阻的电流；以及处理电路，其根据所述电流感测放大电路的输出，求出流过所述分流电阻的电流的校正后电流值，所述电流感测放大电路包含：运算放大器；第1电阻，其设置在所述分流电阻的一端的第1电阻节点与第1节点之间；第1开关，其设置在所述第1节点与所述运算放大器的第1输入节点之间；第2电阻，其设置在所述分流电阻的另一端的第2电阻节点与第2节点之间；第2开关，其设置在所述第2节点与所述运算放大器的第2输入节点之间；第3电阻，其设置在恒压节点与第3节点之间；第3开关，其设置在所述第3节点与所述运算放大器的所述第1输入节点之间；第4电阻，其设置在所述恒压节点与第4节点之间；以及第4开关，其设置在所述第4节点与所述运算放大器的所述第2输入节点之间，在电流检测期间，所述第1开关和所述第2开关接通，所述第3开关和所述第4开关断开，所述处理电路根据所述电流感测放大电路的输出取得检测电流值，在偏置检测期间，所述第1开关和所述第2开关断开，所述第3开关和所述第4开关接通，所述处理电路根据所述电流感测放大电路的输出取得偏置值，所述处理电路根据所述检测电流值和所述偏置值求出所述校正后电流值。2.根据权利要求1所述的电路装置，其特征在于，所述电路装置包含电平移位电路，所述电平移位电路向所述运算放大器的所述第1输入节点供给第1电流，向所述运算放大器的所述第2输入节点供给第2电流，由此，使所述第1输入节点及所述第2输入节点的电压进行电平移位。3.根据权利要求2所述的电路装置，其特征在于，所述电平移位电路根据所述第1电阻节点的电压可变地控制所述第1电流和所述第2电流，由此，按照根据所述第1电阻节点的电压而变化的电平移位量使所述运算放大器的所述第1输入节点及所述第2输入节点的电压进行电平移位。4.根据权利要求3所述的电路装置，其特征在于，所述电平移位量是基准电压与所述第1电阻节点的电压的差分。5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的电路装置，其特征在于，所述电路装置包含通过基于所述校正后电流值的pwm信号来驱动所述开关元件的驱动电路，所述处理电路在所述pwm信号的1个周期中的第1检测期间～第n检测期间的各检测期间，取得所述电流检测期间的所述检测电流值，并且取得所述偏置检测期间的所述偏置值，其中，n为2以上的整数。6.根据权利要求5所述的电路装置，其特征在于，所述处理电路将在所述各检测期间中取得的所述检测电流值和所述偏置值的差分在所述第1检测期间～所述第n检测期间中的平均值作为所述1个周期中的所述校正后电流值
而求出。7.根据权利要求5所述的电路装置，其特征在于，所述第1检测期间～所述第n检测期间包括所述pwm信号的第1电压电平期间内的所述第1检测期间～第m检测期间和所述pwm信号的第2电压电平期间中的第m+1检测期间～所述第n检测期间，其中，m是1以上且小于n的整数，所述处理电路将在所述第1检测期间～所述第m检测期间的各期间中取得的所述检测电流值与所述偏置值的差分在所述第1检测期间～所述第m检测期间中的平均值作为所述第1电压电平期间中的所述校正后电流值而求出，所述处理电路将在所述第m+1检测期间～所述第n检测期间的各期间中取得的所述检测电流值与所述偏置值的差分在所述第m+1检测期间～所述第n检测期间中的平均值作为所述第2电压电平期间中的所述校正后电流值而求出，所述处理电路根据所述第1电压电平期间中的所述校正后电流值和所述第2电压电平期间中的所述校正后电流值求出所述校正后电流值。8.根据权利要求1至4中的任意一项所述的电路装置，其特征在于，所述开关元件连接在所述第1电源节点和所述第1电阻节点之间，在所述第1电阻节点和作为接地节点的所述第2电源节点之间连接有二极管，所述电感器连接在所述第2电阻节点与所述接地节点之间，所述电流感测放大电路通过检测所述第1电阻节点与所述第2电阻节点的电压差来检测出所述检测电流值。9.一种螺线管控制装置，其特征在于，其具有：权利要求1至8中的任意一项所述的电路装置；所述开关元件；所述分流电阻；以及作为所述电感器的螺线管，根据所述校正后电流值来控制所述螺线管。

技术总结
电路装置和螺线管控制装置。电路装置的电流感测放大电路包含：放大器；第1电阻，其设置在分流电阻(12)的一端与第1节点之间；第1开关，其设置在第1节点与第1输入节点之间；第2电阻，其设置在分流电阻(12)的另一端与第2节点之间；第2开关，其设置在第2节点与第2输入节点之间；第3电阻，其设置在恒压节点和第3节点之间；第3开关，其设置在第3节点和第1输入节点之间；第4电阻，其设置在恒压节点与第4节点之间；以及第4开关，其设置在第4节点与第2输入节点之间。之间。之间。


技术研发人员：石丸启 二村良彦
受保护的技术使用者：精工爱普生株式会社
技术研发日：2023.02.16
技术公布日：2023/8/24