一种珍珠检测用装置的制作方法

1.本发明涉及珍珠检测领域，尤其涉及一种珍珠检测用装置。


背景技术：

2.现在珍珠产业依然还是按照之前劳动密集型的分选方式，而珍珠分为多个等级，现阶段主要依靠经验丰富的工人对珍珠珠宝进行等级筛选。依靠人工对珍珠等级筛选的方式存在效率低，耗时费力、用工成本高的问题；另一方面，由于人工存在工作失误的问题，很容易收到外环境干扰、人工筛选珍珠的过程中难免存在误判，无法简约的根据客户的要求定。
3.因此，在现有技术如申请号为cn202020299368.3的专利文献，其公开了一种基于计算机视觉的珍珠检测装置，其完成一种品类的珍珠检测后，对另一品类的珍珠进行检测时，由于视觉摄像头具有调焦的功能，避免了视觉摄像头的焦距无法改变，使得在获取不同等级、形状、大小、色泽的珍珠图像时存在虚化、不清晰的问题，具有调焦的功能的视觉摄像头保证能够获取清楚的珍珠图像。
4.该专利文献介绍了检测珍珠的一种装置，这种装置往往需要搭配遮光的装置进行使用以防止外界光线对检测的精度产生影响，对于这一点在现有技术如申请号为cn201920526458.9的专利文献，其公开的一种红外珍珠检测装置中便进行了说明，其检测过程在壳体中进行，壳体为圆筒状且为塑料遮光板材质制作，确保壳体内部处于昏暗状态，且有效的避免了光源外泄，提高检测环境，从而提高测量的精度。
5.但是上述专利在面对连续性的珍珠检测时就存在局限性，因为，在对大量的珍珠进行检测时，需要将前一批完成检测的珍珠取出，将未完成检测的珍珠置于检测用的镜头下，以完成珍珠的更换动作，但是珍珠在更换过程中，需要反复开合遮光装置，而这样就会增大遮光装置的封闭不严的几率（因为大多数检测装置中，珍珠的摆放位置与光线是处于同一个空间的，当打开检测装置的遮挡盖便代表该空间被打开，若是频繁打开遮挡盖，遮挡盖的边缘就容易磨损或者盖合不严从而出现间隙），导致外界光线容易进入遮光装置内，对投射在珍珠表面的光线造成干扰，影响检测的精度，也就是说，在更换珍珠时由于频繁开合遮光装置，导致遮光装置的封闭不严的几率增大，使得光线进入遮光装置影响检测结果的情况发生。


技术实现要素：

6.本发明提供了一种珍珠检测用装置，旨在解决在更换珍珠时由于频繁开合遮光装置，导致遮光装置的封闭不严的几率增大，使得光线进入遮光装置影响检测结果的问题。
7.本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种珍珠检测用装置，包括检测箱，其侧壁开设有穿过孔；引导轨道，所述引导轨道贯穿设置于穿过孔内；多个放置架，所有的所述放置架均活动设置于引导轨道，所述放置架上自由设置有多个需要检测的珍珠；光源投射罩，所述光源投射罩安装在检测箱内，所述光源投射罩内设有能够检
测珍珠的光源，其中，所述光源投射罩包括与检测箱顶部连接的上光罩以及与检测箱底部连接的下光罩，所述上光罩与下光罩相对设置，且所述上光罩与下光罩之间形成有通过区；所述下光罩上活动连接有推升件；所述引导轨道能够带着某一个放置架进入检测箱直至该放置架处于通过区为止；当放置架位于通过区内时，所述推升件朝放置架一侧运动并推着放置架插入上光罩。
8.作为优选，所述推升件活动套接于下光罩内，所述推升件能够沿着下光罩内上下活动，所述推升件靠近放置架的一端为插接端；所述放置架包括活动连接在引导轨道上的遮光罩，所述插接端能够插入遮光罩内，所述遮光罩内设有透明块；当插接端插入遮光罩内后，所述插接端的端部与透明块靠近插接端的一端抵接且所述插接端的外侧壁与遮光罩内侧壁贴合。
9.作为优选，所述上光罩靠近推升件的一端内壁安装有限位条；当放置架插入上光罩后，所述放置架的顶端与限位条抵接且所述放置架的外侧壁与上光罩内侧壁贴合。
10.作为优选，所述遮光罩靠近推升件的一端开设有环槽，所述环槽内活动连接有封挡环盖；所述遮光罩的侧壁设有与环槽导通的贯穿槽，所述贯穿槽与所述封挡环盖靠远离推升件的一端相对应，所述贯穿槽内设有连接器，所述连接器能够对封挡环盖的位置进行限制；所述引导轨道内壁与贯穿槽对应位置处设有分隔条，当遮光罩被引导轨道带着运动至某一位置时，所述分隔条插入贯穿槽内并引导连接器放开对封挡环盖的限制。
11.作为优选，所述连接器包括多个磁柱以及多个磁头，所有的磁柱均位于贯穿槽内并与封挡环盖远离推升件的一端固定连接，所有的磁柱均沿贯穿槽的长度方向设置，每个磁柱远离封挡环盖的一端分别与每个磁头磁性连接；所述贯穿槽的内侧壁与环槽对应位置处开设有活动槽，所述活动槽内设有有连接条，所述连接条与所有的磁头固定连接，所述活动槽内在连接条远离磁头的一侧安装有顶起件。
12.作为优选，所述分隔条的位置处于磁柱与磁头之间，所述分隔条的宽度大于磁柱与磁头的接触面。
13.作为优选，所述封挡环盖包括设置在环槽内的主体，所述主体的两端均安装有定型条，所有的磁柱均安装在主体远离推升件一端的定型条上；所述遮光罩侧壁开设有限环槽，所述限环槽内设有导向柱，所述导向柱与主体远离推升件一端的定型条固定连接。
14.作为优选，所述遮光罩的内侧壁开设有放置槽，所述放置槽内通过转轴转动连接有带动柱，所述带动柱的一端活动设有支柱一，所述支柱一与主体远离推升件一端的定型条固定连接，所述带动柱的另一端固定设有支柱二；所述插接端的侧壁与支柱二对应位置处设有弹片；当封挡环盖被放开限制时，所述封挡环盖滑出环槽并迫使带动柱偏转以带动支柱二朝远离推升件一端活动。
15.作为优选，所述透明块的表面开设有多个用于对珍珠进行限位并引导光源照射珍
珠的限定导孔。
16.本发明的有益效果是，本发明可通过推升件、引导轨道以及与放置架的配合，从而在对批量的珍珠进行检测时，可确保每一次的珍珠检测都不会有外界光线进入，具体的，线通过引导轨道带着某一个放置架进入检测箱直至该放置架处于通过区为止，之后当放置架位于通过区内时，推升件朝放置架一侧运动并推着放置架插入上光罩，如此便可使放置架的两端都被遮挡。
17.本发明可通过封挡环盖的设置，使得遮光罩底部的光线阻隔区域增大，即使推升件与遮光罩之间的间隙较大也不会出现漏光现象。
附图说明
18.下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
19.图1是本发明整体结构示意示意图；图2是本发明中的引导轨道结构示意图；图3是本发明中的上光罩结构示意图；图4是本发明中的遮光罩结构示意图；图5是本发明中的封挡环盖结构示意图；图6是本发明中的贯穿槽结构示意图；图7是图6中的a处的放大图；图8是本发明中的封挡环盖未滑出环槽的结构示意图；图9是本发明中的封挡环盖滑出环槽的结构示意图。
20.附图标记：1、检测箱；2、穿过孔；3、引导轨道；4、放置架；5、上光罩；6、下光罩；7、推升件；8、遮光罩；9、透明块；10、限位条；11、环槽；12、封挡环盖；13、贯穿槽；14、分隔条；15、磁柱；16、磁头；17、活动槽；18、连接条；19、顶起件；20、主体；21、定型条；22、导向柱；23、放置槽；24、带动柱；25、支柱一；26、支柱二；27、弹片；28、限定导孔；29、限环槽。
具体实施方式
21.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
22.如图1至图9所示，本发明提供了一种珍珠检测用装置的实施例。
23.所述珍珠检测用装置，包括检测箱1，其侧壁开设有穿过孔2；引导轨道3，引导轨道3贯穿设置于穿过孔2内；多个放置架4，所有的放置架4均活动设置于引导轨道3，放置架4上自由设置有多个需要检测的珍珠；光源投射罩，光源投射罩安装在检测箱1内，光源投射罩内设有能够检测珍珠的光源，其中，光源投射罩包括与检测箱1顶部连接的上光罩5以及与检测箱1底部连接的下光罩6，上光罩5与下光罩6相对设置，且上光罩5与下光罩6之间形成有通过区；下光罩6上活动连接有推升件7；引导轨道3能够带着某一个放置架4进入检测箱1直至该放置架4处于通过区为止；当放置架4位于通过区内时，推升件7朝放置架4一侧运动并推着放置架4插入上光罩5。
24.本发明可通过推升件7、引导轨道3以及与放置架4的配合，从而在对批量的珍珠进行检测时，可确保每一次的珍珠检测都不会有外界光线进入，具体的，先通过引导轨道3带着某一个放置架4进入检测箱1直至该放置架4处于通过区为止，之后当放置架4位于通过区内时，推升件7朝放置架4一侧运动并推着放置架4插入上光罩5，如此便可使放置架4的两端都被遮挡。
25.具体的，在现有技术中若是珍珠批次较多，故而在更换珍珠时需要频繁开合遮光装置，就导致遮光装置的封闭不严的几率增大，使得光线进入遮光装置影响检测结果的情况发生，针对这个问题，本发明借助引导轨道3和多个放置架4的配合，使得每个批次的珍珠在进行检测时，先借助某一个放置架4将一个批次的珍珠（每批次可以按照一定数目，例如4-6个进行分类）进行摆放，之后再通过引导轨道3将该个放置架4运送至通过区，以实现自动化检测。
26.本实施例中，引导轨道3可选择皮带的方式驱动，也可选择链条等方式，参考图1，只要满足可循环的将放置架4从检测箱1送入再排出的操作即可。
27.在进行检测的过程中，为了避免开合遮光装置，故而直接采用将放置架4也视为遮光部件中的一部分，直接通过驱使推升件7朝放置架4一侧运动并推着放置架4插入上光罩5，如此便可使放置架4的两端都被遮挡，即使放置架4与上光罩5或推升件7产生间隙，也不会出现光线直接沿着间隙照射至光源投射罩所在区域的情况发生，即通过上述操作可以较大程度的避免外界光线的干扰。
28.为了使推升件7与放置架4之间不会产生间隙，故而，推升件7活动套接于下光罩6内，推升件7能够沿着下光罩6内上下活动，推升件7靠近放置架4的一端为插接端；放置架4包括活动连接在引导轨道3上的遮光罩8，插接端能够插入遮光罩8内，遮光罩8内设有透明块9；当插接端插入遮光罩8内后，插接端的端部与透明块9靠近插接端的一端抵接且插接端的外侧壁与遮光罩8内侧壁贴合。
29.上光罩5靠近推升件7的一端内壁安装有限位条10。
30.本实施例中，推升件7沿着下光罩6内上下活动的方式有：通过电动推杆直接驱动；通过丝杠和滑套的配合实现；通过气动或液压推杆实现。
31.当放置架4处于通过区时，通过驱动装置直接驱使推升件7沿着下光罩6内壁朝着放置架4一侧运动直至插接端插入遮光罩8内，当插接端插入遮光罩8内后，插接端的端部与透明块9靠近插接端的一端抵接且插接端的外侧壁与遮光罩8内侧壁贴合，之后，继续驱动推升件7升起（参考图2和4），直至推着遮光罩8顶部插入上光罩5。当遮光罩8顶部插入上光罩5后，遮光罩8的顶端与限位条10抵接且放置架4的外侧壁与上光罩5内侧壁贴合。
32.由于推升件7是正对穿过孔2的，且推升件7的形状有时为了避免对检测用光源造成影响会采用支柱状结构，此时穿过孔2处的光线就容易从遮光罩8与推升件7之间间隙穿过，为了进一步增大遮光效率，故而，遮光罩8靠近推升件7的一端开设有环槽11，环槽11内活动连接有封挡环盖12；遮光罩8的侧壁设有与环槽11导通的贯穿槽13，贯穿槽13与封挡环盖12靠远离推升件7的一端相对应，贯穿槽13内设有连接器，连接器能够对封挡环盖12的位置进行限制；引导轨道3内壁与贯穿槽13对应位置处设有分隔条14，当遮光罩8被引导轨道3带
着运动至某一位置时，分隔条14插入贯穿槽13内并引导连接器放开对封挡环盖12的限制。
33.当遮光罩8摆放完珍珠后，便可按照设定的间距依次将放满珍珠的遮光罩8放置在引导轨道3（放置间距为设定值，操作时可在引导轨道3上的皮带设置警示刻度，如此可确保在引导轨道3传送时，不仅通过引导轨道3自身进行传输距离的控制，同时还能够通过摆放的间距进行控制）。
34.之后引导轨道3引导某一个遮光罩8进入穿过孔2，而在该遮光罩8到达通过区前，由于遮光罩8是沿着引导轨道3内壁滑动的，故而当遮光罩8被引导轨道3带着运动至某一位置时，分隔条14插入贯穿槽13内并引导连接器放开对封挡环盖12的限制，而这也就代表，封挡环盖12可通过自身的自重滑出环槽11。
35.之后推升件7升起时，会先接触封挡环盖12再接触遮光罩8，使得遮光罩8底部的光线阻隔区域增大，即使推升件7与遮光罩8之间的间隙较大也不会出现漏光现象。
36.本实施例中，推升件7的顶部（即推升件7靠近遮光罩8的一端）应低于滑出环槽11的封挡环盖12的底部（推升件7在未升起时，推升件7的顶部最高只能与滑出环槽11的封挡环盖12的底部齐平），以防止封挡环盖12底部挂住推升件7顶部的情况发生。
37.连接器可选择插柱与插槽的配合方式，但是这种方式在多次使用后就容易出现插柱与插槽磨损较大的情况，故而针对连接器再提供一种实施方式，以使连接器能够适应长时间的使用。
38.连接器包括多个磁柱15以及多个磁头16，所有的磁柱15均位于贯穿槽13内并与封挡环盖12远离推升件7的一端固定连接，所有的磁柱15均沿贯穿槽13的长度方向设置，每个磁柱15远离封挡环盖12的一端分别与每个磁头16磁性连接；贯穿槽13的内侧壁与环槽11对应位置处开设有活动槽17，活动槽17内设有连接条18，连接条18与所有的磁头16固定连接，活动槽17内在连接条18远离磁头16的一侧安装有顶起件19。
39.分隔条14的位置处于磁柱15与磁头16之间，分隔条14的宽度大于磁柱15与磁头16的接触面。
40.当遮光罩8被引导轨道3带着运动至某一位置时，分隔条14会插入磁柱15与磁头16的接触面之间，将磁柱15与磁头16隔开，而一个磁头16被隔开后，该磁头16会推着连接条18进入活动槽17并压缩顶起件19（顶起件19优选为弹簧，使得后续磁头16具备快速复位的能力），而进入活动槽17的连接条18会带着其他所有的磁头16一起运动，使得其他所有的磁头16都具备一个分离的能力，使得后续分隔条14通过这些磁头16时可以快速的分离，以使分隔条14在分隔磁柱15与磁头16时，不会出现推动遮光罩8的现象。
41.封挡环盖12包括设置在环槽11内的主体20，主体20的两端均安装有定型条21，所有的磁柱15均安装在主体20远离推升件7一端的定型条21上；遮光罩8侧壁开设有限环槽29，限环槽29内设有导向柱22，导向柱22与主体20远离推升件7一端的定型条21固定连接。
42.为了使封挡环盖12可以快速复位不影响后续的遮光罩8排出操作，故而，遮光罩8的内侧壁开设有放置槽23，放置槽23内通过转轴转动连接有带动柱24，所述带动柱24的一端活动设有支柱一25，所述支柱一25与主体20远离推升件7一端的定型条21固定连接，带动柱24的另一端固定设有支柱二26；
插接端的侧壁与支柱二26对应位置处设有弹片27；当封挡环盖12被放开限制时，封挡环盖12滑出环槽11并迫使带动柱24偏转以带动支柱二26朝远离推升件7一端活动。
43.当所有的磁柱15与磁头16被分隔后，主体20（可选择可遮光的布料或者铁片、塑料片）和定型条21（可选择环形且与环槽11相匹配的金属条）由于自重会逐渐滑出环槽11，而在主体20滑出时，主体20远离推升件7一端的定型条21此时会带着导向柱22和支柱一25一起运动：导向柱22运动时，导向柱22会沿着限环槽29从一端运动至另一端，从而使得主体20不会直接脱离环槽11；支柱一25运动时，支柱一25会带动带动柱24以转轴为转动中心偏转，而带动柱24偏转时支柱二26会由放置槽23底端运动至顶端（图7）。
44.当插接端插入遮光罩8内后，支柱二26紧贴弹片27，使得支柱二26能够被弹片27带动（通过弹片27抵接支柱二26实现）。
45.当完成检测后，可驱使插接端下降，而此时透明块9和遮光罩8也会下降，当遮光罩8抵接到引导轨道3上时便不再运动，而插接端会继续下降，此时，下降的插接端会通过弹片27推着支柱二26由放置槽23顶端运动至底端，而在此过程中，带动柱24以转轴为转动中心偏转并通过支柱一25带着主体20远离推升件7一端的定型条21由环槽11开口处运动至顶端，即带动柱24偏转时通过支柱一25推着定型条21以及磁柱15一起朝磁头16运动，直至磁柱15与磁头16吸持固定为止。
46.透明块9的表面开设有多个用于对珍珠进行限位并引导光源照射珍珠的限定导孔28。如此设置是为了预防透明块9被顶起时，珍珠会出现晃动现象。
47.本发明在具体操作时，分为三个步骤，第一将珍珠送至通过区，第二检测，第三复位；将珍珠送至通过区的具体操作为：先借助某一个放置架4将一个批次的珍珠（每批次可以按照一定数目，例如4-6个进行分类）进行摆放，当遮光罩8摆放完珍珠后，便可按照设定的间距依次将放满珍珠的遮光罩8放置在引导轨道3。
48.之后引导轨道3引导某一个遮光罩8进入穿过孔2，而在该遮光罩8到达通过区前，由于遮光罩8是沿着引导轨道3内壁滑动的，故而当遮光罩8被引导轨道3带着运动至某一位置时，分隔条14插入贯穿槽13内并引导连接器放开对封挡环盖12的限制，即此时，分隔条14会插入磁柱15与磁头16的接触面之间，将磁柱15与磁头16隔开（磁柱15与磁头16的磁力只要能够满足在分隔条14插入后便能脱离的情况即可），而一个磁头16被隔开后，该磁头16会推着连接条18进入活动槽17并压缩顶起件19，而进入活动槽17的连接条18会带着其他所有的磁头16一起运动，使得其他所有的磁头16都具备一个分离的能力，使得后续分隔条14通过这些磁头16时可以快速的分离，以使分隔条14再分隔磁柱15与磁头16时，不会出现推动遮光罩8的现象。
49.当所有的磁柱15与磁头16被分隔后，主体20和定型条21由于自重会逐渐滑出环槽11，而在主体20滑出时，主体20远离推升件7一端的定型条21此时会带着导向柱22和支柱一25一起运动：导向柱22运动时，导向柱22会沿着限环槽29从一端运动至另一端，从而使得主体20不会直接脱离环槽11；支柱一25运动时，支柱一25会带动带动柱24以转轴为转动中心偏转，而带动柱24偏转时支柱二26会由放置槽23底端运动至顶端（图7、8和9）。
50.检测的具体操作为：驱使推升件7升起，此时推升件7会先接触封挡环盖12再接触遮光罩8，使得遮光罩8底部的光线阻隔区域增大，即使推升件7与遮光罩8之间的间隙较大也不会出现漏光现象，当插接端插入遮光罩8内后，插接端的端部与透明块9靠近插接端的一端抵接且插接端的外侧壁与遮光罩8内侧壁贴合，之后，继续驱动推升件7升起（参考图2和4），直至推着遮光罩8顶部插入上光罩5。当遮光罩8顶部插入上光罩5后，遮光罩8的顶端与限位条10抵接且放置架4的外侧壁与上光罩5内侧壁贴合，之后通过检测箱1上的观察镜观察珍珠表面光泽是否达到标准要求即可（该处的标准要求为现有技术中的要求此处不做过多赘述）。
51.复位的具体操作为：当完成检测后，可驱使插接端下降，而此时透明块9和遮光罩8也会下降，当遮光罩8抵接到引导轨道3上时便不再运动，而插接端会继续下降，此时，下降的插接端会通过弹片27推着支柱二26由放置槽23顶端运动至底端，而在此过程中，带动柱24以转轴为转动中心偏转并通过支柱一25带着主体20远离推升件7一端的定型条21由环槽11开口处运动至顶端，即带动柱24偏转时通过支柱一25推着定型条21以及磁柱15一起朝磁头16运动，直至磁柱15与磁头16吸持固定为止，随后引导轨道3会推着该个遮光罩8滑出检测箱1，并驱使下一个遮光罩8进入检测箱1。
52.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
53.以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

技术特征：
1.一种珍珠检测用装置，其特征在于，包括检测箱（1），其侧壁开设有穿过孔（2）；引导轨道（3），所述引导轨道（3）贯穿设置于穿过孔（2）内；多个放置架（4），所有的所述放置架（4）均活动设置于引导轨道（3），所述放置架（4）上自由设置有多个需要检测的珍珠；光源投射罩，所述光源投射罩安装在检测箱（1）内，所述光源投射罩内设有能够检测珍珠的光源，其中，所述光源投射罩包括与检测箱（1）顶部连接的上光罩（5）以及与检测箱（1）底部连接的下光罩（6），所述上光罩（5）与下光罩（6）相对设置，且所述上光罩（5）与下光罩（6）之间形成有通过区；所述下光罩（6）上活动连接有推升件（7）；所述引导轨道（3）能够带着某一个放置架（4）进入检测箱（1）直至该放置架（4）处于通过区为止；当放置架（4）位于通过区内时，所述推升件（7）朝放置架（4）一侧运动并推着放置架（4）插入上光罩（5）。2.如权利要求1所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述推升件（7）活动套接于下光罩（6）内，所述推升件（7）能够沿着下光罩（6）内上下活动，所述推升件（7）靠近放置架（4）的一端为插接端；所述放置架（4）包括活动连接在引导轨道（3）上的遮光罩（8），所述插接端能够插入遮光罩（8）内，所述遮光罩（8）内设有透明块（9）；当插接端插入遮光罩（8）内后，所述插接端的端部与透明块（9）靠近插接端的一端抵接且所述插接端的外侧壁与遮光罩（8）内侧壁贴合。3.如权利要求1或2所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述上光罩（5）靠近推升件（7）的一端内壁安装有限位条（10）；当放置架（4）插入上光罩（5）后，所述放置架（4）的顶端与限位条（10）抵接且所述放置架（4）的外侧壁与上光罩（5）内侧壁贴合。4.如权利要求1或2所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述遮光罩（8）靠近推升件（7）的一端开设有环槽（11），所述环槽（11）内活动连接有封挡环盖（12）；所述遮光罩（8）的侧壁设有与环槽（11）导通的贯穿槽（13），所述贯穿槽（13）与所述封挡环盖（12）靠远离推升件（7）的一端相对应，所述贯穿槽（13）内设有连接器，所述连接器能够对封挡环盖（12）的位置进行限制；所述引导轨道（3）内壁与贯穿槽（13）对应位置处设有分隔条（14），当遮光罩（8）被引导轨道（3）带着运动至某一位置时，所述分隔条（14）插入贯穿槽（13）内并引导连接器放开对封挡环盖（12）的限制。5.如权利要求4所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述连接器包括多个磁柱（15）以及多个磁头（16），所有的磁柱（15）均位于贯穿槽（13）内并与封挡环盖（12）远离推升件（7）的一端固定连接，所有的磁柱（15）均沿贯穿槽（13）的长度方向设置，每个磁柱（15）远离封挡环盖（12）的一端分别与每个磁头（16）磁性连接；所述贯穿槽（13）的内侧壁与环槽（11）对应位置处开设有活动槽（17），所述活动槽（17）内设有有连接条（18），所述连接条（18）与所有的磁头（16）固定连接，所述活动槽（17）内在连接条（18）远离磁头（16）的一侧安装有顶起件（19）。
6.如权利要求5所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述分隔条（14）的位置处于磁柱（15）与磁头（16）之间，所述分隔条（14）的宽度大于磁柱（15）与磁头（16）的接触面。7.如权利要求4所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述封挡环盖（12）包括设置在环槽（11）内的主体（20），所述主体（20）的两端均安装有定型条（21），所有的磁柱（15）均安装在主体（20）远离推升件（7）一端的定型条（21）上；所述遮光罩（8）侧壁开设有限环槽（29），所述限环槽（29）内设有导向柱（22），所述导向柱（22）与主体（20）远离推升件（7）一端的定型条（21）固定连接。8.如权利要求7所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述遮光罩（8）的内侧壁开设有放置槽（23），所述放置槽（23）内通过转轴转动连接有带动柱（24），所述带动柱（24）的一端活动设有支柱一（25），所述支柱一（25）与主体（20）远离推升件（7）一端的定型条（21）固定连接，所述带动柱（24）的另一端固定设有支柱二（26）；所述插接端的侧壁与支柱二（26）对应位置处设有弹片（27）；当封挡环盖（12）被放开限制时，所述封挡环盖（12）滑出环槽（11）并迫使带动柱（24）偏转以带动支柱二（26）朝远离推升件（7）一端活动。9.如权利要求2所述的珍珠检测用装置，其特征在于：所述透明块（9）的表面开设有多个用于对珍珠进行限位并引导光源照射珍珠的限定导孔（28）。

技术总结
本发明涉及珍珠检测技术领域，具体提供了一种珍珠检测用装置，包括检测箱，其侧壁开设有穿过孔；引导轨道，所述引导轨道贯穿设置于穿过孔内；多个放置架，所有的所述放置架均活动设置于引导轨道，所述放置架上自由设置有多个需要检测的珍珠；光源投射罩，所述光源投射罩安装在检测箱内，所述光源投射罩内设有能够检测珍珠的光源，本发明可通过推升件、引导轨道以及与放置架的配合，从而在对批量的珍珠进行检测时，降低外界光线进入的几率，具体的，线通过引导轨道带着某一个放置架进入检测箱直至该放置架处于通过区为止，之后当放置架位于通过区内时，推升件朝放置架一侧运动并推着放置架插入上光罩，如此便可使放置架的两端都被遮挡。遮挡。遮挡。


技术研发人员：曹维宇 张伟桃 王伟 刘威 李鹏 崔建军 那勃
受保护的技术使用者：华津国检（深圳）金银珠宝检验中心有限公司
技术研发日：2023.07.21
技术公布日：2023/8/24