一种可自动定位芯片的测试插座的制作方法

1.本实用新型涉及自动定位芯片的测试插座技术领域，尤其涉及一种可自动定位芯片的测试插座。


背景技术：

2.芯片测试分两个阶段，一个是cp(chip probing)测试，也就是晶圆(wafer)测试。另外一个是ft(final test)测试，也就是把芯片封装好再进行的测试。目前在ft测试中将待测试的芯片固定到浮动板上时，由于待测的芯片尺寸大小会有误差，造成芯片尺寸偏大时安装困难或者芯片尺寸偏小时出现偏移，从而影响测试的精确性。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的目前在ft测试中将待测试的芯片固定到浮动板上时，由于待测的芯片尺寸大小会有误差，造成芯片尺寸偏大时安装困难或者芯片尺寸偏小时出现偏移，从而影响测试的精确性的缺点，而提出的一种可自动定位芯片的测试插座。
4.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
5.一种可自动定位芯片的测试插座，包括固定板和浮动板，所述固定板的顶端安装有浮动板，所述浮动板表面开设有矩形凹槽，所述凹槽的四个角落开设有圆形安装槽，凹槽用于放置芯片，凹槽两侧开设有卡接槽，所述卡接槽的两侧开设有滑槽，滑槽内滑动安装有滑块，所述滑块与卡接槽的内壁之间通过弹簧连接，滑块用于夹紧芯片。
6.进一步的，所述卡接槽的数量共有四个，且位于芯片的四周。
7.进一步的，所述安装槽为带有缺口的圆锥体，芯片的四个角落通过缺口放入安装槽内。
8.进一步的，所述滑块表面开设有用于放置手指的卡扣槽，通过卡扣槽的设计方便工作人员移动滑块。
9.进一步的，所述固定板的两侧设置有凸台，所述凸台用于搬运固定板，通过凸台的设计便于测试插座移动。
10.本实用新型的有益效果是：芯片放入浮动板之后依靠弹簧的弹力推动滑块将芯片夹紧定位，避免了芯片与浮动板之间因有间隙而产生晃动，适用于不同规格的芯片，降低芯片尺寸误差对测试结果产生影响。
附图说明
11.图1为本实用新型提出的一种可自动定位芯片的测试插座的装配结构示意图；
12.图2为本实用新型提出的一种可自动定位芯片的测试插座的爆炸结构示意图；
13.图中：1、芯片；2、弹簧；3、滑块；4、浮动板；41、凹槽；42、安装槽；43、卡接槽；44、卡扣槽；5、固定板；51、凸台。
具体实施方式
14.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
15.本实施例中，参照图1-2，一种可自动定位芯片的测试插座，包括固定板5和浮动板4，所述固定板5的顶端安装有浮动板4，所述浮动板4表面开设有矩形凹槽41，所述凹槽41的四个角落开设有圆形安装槽42，凹槽41用于放置芯片1，凹槽41两侧开设有卡接槽43，所述卡接槽43的两侧开设有滑槽，滑槽内滑动安装有滑块3，所述滑块3与卡接槽43的内壁之间通过弹簧2连接，滑块3用于夹紧芯片1。
16.作为本实用的一个优选方案，所述卡接槽43的数量共有四个，且位于芯片1的四周，四个卡接槽43均匀的分布在芯片1的四周，使得芯片1的夹持更加稳固。
17.作为本实用的一个优选方案，所述安装槽42为带有缺口的圆锥体，芯片1的四个角落通过缺口放入安装槽42内。
18.作为本实用的一个优选方案，所述滑块3表面开设有用于放置手指的卡扣槽44，通过卡扣槽44的设计方便工作人员移动滑块3。
19.作为本实用的一个优选方案，所述固定板5的两侧设置有凸台51，所述凸台51用于搬运固定板5，通过凸台51的设计便于测试插座移动。
20.工作原理：将浮动板4开槽，放入滑块3，滑块和浮动板之间放入弹簧2，芯片1放入浮动板4之后依靠弹簧2的弹力推动滑块3将芯片1夹紧定位，避免了芯片1与浮动板4之间因有间隙而产生晃动，适用于不同规格的芯片1，降低芯片尺寸误差对测试结果产生影响。
21.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种可自动定位芯片的测试插座，其特征在于，包括固定板(5)和浮动板(4)，所述固定板(5)的顶端安装有浮动板(4)，所述浮动板(4)表面开设有矩形凹槽(41)，所述凹槽(41)的四个角落开设有圆形安装槽(42)，凹槽(41)用于放置芯片(1)，凹槽(41)两侧开设有卡接槽(43)，所述卡接槽(43)的两侧开设有滑槽，滑槽内滑动安装有滑块(3)，所述滑块(3)与卡接槽(43)的内壁之间通过弹簧(2)连接，滑块(3)用于夹紧芯片(1)。2.根据权利要求1所述的一种可自动定位芯片的测试插座，其特征在于，所述卡接槽(43)的数量共有四个，且位于芯片(1)的四周。3.根据权利要求1所述的一种可自动定位芯片的测试插座，其特征在于，所述安装槽(42)为带有缺口的圆锥体，芯片(1)的四个角落通过缺口放入安装槽(42)内。4.根据权利要求1所述的一种可自动定位芯片的测试插座，其特征在于，所述滑块(3)表面开设有用于放置手指的卡扣槽(44)。5.根据权利要求1所述的一种可自动定位芯片的测试插座，其特征在于，所述固定板(5)的两侧设置有凸台(51)，所述凸台(51)用于搬运固定板(5)。

技术总结
本实用新型涉及自动定位芯片的测试插座技术领域,尤其涉及一种可自动定位芯片的测试插座,包括固定板和浮动板，固定板的顶端安装有浮动板，浮动板表面开设有矩形凹槽，凹槽的四个角落开设有圆形安装槽，凹槽用于放置芯片，凹槽两侧开设有卡接槽，卡接槽的两侧开设有滑槽，滑槽内滑动安装有滑块，滑块与卡接槽的内壁之间通过弹簧连接，滑块用于夹紧芯片，本实用新型避免了芯片与浮动板之间因有间隙而产生晃动，适用于不同规格的芯片，降低芯片尺寸误差对测试结果产生影响。尺寸误差对测试结果产生影响。尺寸误差对测试结果产生影响。


技术研发人员：薛冰
受保护的技术使用者：安盈半导体技术（常州）有限公司
技术研发日：2023.03.01
技术公布日：2023/9/1