测距装置及电子设备的制作方法

1.本技术涉及测距技术领域，更具体而言，涉及一种测距装置及电子设备。


背景技术：

2.测距装置能够向物体发出光线并接收物体反射的回光，并通过计算从发射至接收的时间来判断物体与测距装置之间的距离。然而，在测距装置发出光线的情况下，光线会在测距装置内发生折射或反射，并直接由测距装置接收，对由物体反射的光线产生较大的光学串扰，从而降低测距精度。


技术实现要素：

3.本技术实施方式提供一种测距装置及电子设备，至少用于解决测量精度降低的问题。
4.本技术实施方式的测距装置包括测距模组及保护件。所述测距模组用于向物体发出光线并接收被所述物体反射的回光。所述保护件包括第一增透区和第二增透区，所述第一增透区与所述第二增透区间隔设置，所述测距模组发出的光线从所述第一增透区出射至所述物体，由所述物体反射的回光通过所述第二增透区入射至所述测距模组。所述保护件内设有光路改变部，所述光路改变部位于所述第一增透区及所述第二增透区之间，所述光路改变部用于减小所述测距模组发出并在所述保护件内传输后直接回到所述测距模组的光线的能量。
5.在某些实施方式中，所述测距模组包括发射端和接收端。所述第一增透区与所述发射端对应，所述第二增透区与所述接收端对应。所述发射端用于发出光线，所述发射端发出的光线从所述第一增透区出射至所述物体。所述接收端用于接收光线，由所述物体反射的回光通过所述第二增透区入射至所述接收端。
6.在某些实施方式中，所述光路改变部为所述保护件开设的凹槽。
7.在某些实施方式中，所述光路改变部为所述保护件上的凸起。
8.在某些实施方式中，所述保护件包括相背的第一侧和第二侧。所述保护件的第一侧朝向所述测距模组，所述第二侧朝向所述测距装置的外部；所述第一侧和/或所述第二侧设有所述光路改变部。
9.在某些实施方式中，所述保护件的第一侧至所述保护件的第二侧的距离为所述保护件的厚度，所述光路改变部具有在所述保护件的第一侧至所述保护件的第二侧的方向上的深度，所述光路改变部的深度小于所述保护件的厚度。
10.在某些实施方式中，所述保护件的第一侧至所述保护件的第二侧的距离为所述保护件的厚度，所述光路改变部具有在所述保护件的第一侧至所述保护件的第二侧的方向上的深度，所述光路改变部的深度等于所述保护件的厚度。
11.在某些实施方式中，所述保护件包括相背的第三侧和第四侧，所述第三侧和所述第四侧均与所述第一侧和所述第二侧连接。在所述第三侧至所述第四侧的方向上，所述光
路改变部的宽度小于所述第一增透区和所述第二增透区之间的最短距离。
12.在某些实施方式中，在所述第三侧至所述第四侧的方向上，所述第一增透区与所述第二增透区之间的剩余区域的中心轴和所述光路改变部的中心轴重合。
13.在某些实施方式中，所述保护件包括相背的第五侧和第六侧，所述第五侧和所述第六侧均与所述第一侧和所述第二侧连接。所述第一增透区与所述第二增透区的大小不同，在所述第五侧至所述第六侧的方向上，所述光路改变部的长度至少大于所述第一增透区的最大长度。
14.在某些实施方式中，所述保护件上设有吸收件，所述吸收件设置于所述保护件除所述第一增透区和所述第二增透区外的至少部分区域。
15.在某些实施方式中，所述光路改变部包括多个界面，至少一个所述界面上设有散射层或反射层。所述散射层用于分散射入所述光路改变部的光线，所述反射层用于反射射入所述光路改变部的光线。
16.本技术实施方式的电子设备包括测距装置及本体，所述测距装置安装于所述本体。所述测距装置包括测距模组及保护件。所述测距模组用于向物体发出光线并接收被所述物体反射的回光。所述保护件包括第一增透区和第二增透区，所述第一增透区与所述第二增透区间隔设置，所述测距模组发出的光线从所述第一增透区出射至所述物体，由所述物体反射的回光通过所述第二增透区入射至所述测距模组。所述保护件内设有光路改变部，所述光路改变部位于所述第一增透区及所述第二增透区之间，所述光路改变部用于减小所述测距模组发出并在所述保护件内传输后直接回到所述测距模组的光线的能量。
17.本技术的测距装置及电子设备中，光路改变部能够多次改变进入光路改变部的光线的传播方向，一方面，部分未射出保护件的光线不会直接回到测距模组内并影响距离的测量。另一方面，光线的能量在光路改变的过程中能够逐渐减小，能量减小后的部分光线即使直接回到测距模组内，也不会影响距离的测量。因此，光路改变部能够有效降低测距装置内的光学串扰，使测距装置得到的结果更加精确。
18.本技术的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实施方式的实践了解到。
附图说明
19.本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：
20.图1是本技术某些实施方式的测距装置的剖面结构示意图；
21.图2是图1所示的测距装置的部分光路示意图；
22.图3是图1所示的测距装置的保护件的立体结构示意图；
23.图4是本技术一些实施方式的测距装置的保护件的立体结构示意图；
24.图5是本技术一些实施方式的测距装置的剖面结构示意图；
25.图6是本技术一些实施方式的测距装置的剖面结构示意图
26.图7是本技术一些实施方式的测距装置的剖面结构示意图
27.图8是本技术某些实施方式的测距装置的保护件的平面结构示意图；
28.图9是图1所示的测距装置的部分光路示意图；
29.图10是本技术某些实施方式的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
30.下面详细描述本技术的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中，相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本技术的实施方式，而不能理解为对本技术的实施方式的限制。
31.在本技术的描述中，应当理解的是，术语“厚度”、“上”、“顶”、“底”、“内”、“外”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而并非指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。以及，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。因此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
32.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，在一个例子中，可以是固定连接，或者是可拆卸地连接，或一体地连接；可以是机械连接，或者是电连接，或可以相互通讯；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。
33.目前的部分测距装置100是利用主动向外投射光线，并检测物体反射的回光的方式对物体与测距装置100间的距离进行测量的。因此，为保证测量的距离精准，测距装置100对于接收到的由物体反射的回光的质量要求都比较高，一旦系统内部出现光学串扰，对测距性能和完整性的影响都比较严重。如果测距装置100内出现比较明显的光学串扰，会导致测量距离发生错误，甚至直接无法测距。
34.为解决以上问题，本技术提供一种测距装置100及电子设备1000。
35.请参阅图1，本技术的测距装置100包括测距模组10及保护件30。测距模组10用于向物体发出光线并接收被物体反射的回光。保护件30包括第一增透区31和第二增透区33，第一增透区31与第二增透区33间隔设置，测距模组10发出的光线从第一增透区31出射至物体，由物体反射的回光通过第二增透区33入射至测距模组10，保护件30内设有光路改变部35，光路改变部35位于第一增透区31及第二增透区33之间，光路改变部35用于减小测距模组10发出并在保护件30内传输后直接回到测距模组10的光线的能量。
36.其中，光学串扰是指测距装置100检测到除物体反射的回光之外的光线，并对测距装置100的测量精度产生影响的现象。由于测距模组10发出的光线不完全为垂直保护件30的，因此，部分光线会经保护件30上除第一增透区31外的区域呈一定倾斜角度进入保护件30内，并在保护件30内经反射和/或折射后直接回到测距模组10，此时测距模组10无法分辨接收到的光线中哪些是被物体反射的回光，哪些是在保护件30反射和/或折射直接传输来的光线，因此测距模组10会将所有接收到的光线都当作是被物体反射的回光，严重影响最终的测距结果。
37.本技术的测距装置100中，光路改变部35能够多次改变进入光路改变部35的光线的传播方向，一方面，部分未射出保护件30的光线不会直接回到测距模组10内并影响距离
的测量。另一方面，光线的能量在光路改变的过程中能够逐渐减小，能量减小后的部分光线即使直接回到测距模组10内，也不会影响距离的测量。因此，光路改变部35能够有效降低测距装置100内的光学串扰，使测距装置100得到的结果更加精确。
38.下面结合附图对测距装置100做进一步说明。
39.请参阅图1及图2，在某些实施方式中，测距模组10能够测量物体与测距模组10之间的距离。测距模组10的种类包括但不限于结构光传感器或飞行时间法(time of flight，tof)传感器。其中，tof传感器均能够主动向物体发射光线并接收物体反射的回光，以此测量光线的飞行时间，并根据该飞行时间与光线的传播速度对物体的距离进行计算。在测距模组10向物体发射光线的情况下，测距模组10能够据此测量出物体上多个点与测距模组10之间的距离，并据此生成3d图像。
40.具体地，请参阅图1，在某些实施方式中，测距模组10包括发射端11和接收端13，发射端11用于向外发射光线，发射端11发出的光线为可见光和/或不可见光。优选地，光线的波段包括但不限于850nm、940nm或1550nm等红外光波段，测量距离较远，测量精度高。发射端11发出的光线从第一增透区31出射至物体。接收端13用于接收光线，由物体反射的回光通过第二增透区33入射至接收端13。在一些实施方式中，发射端11与接收端13之间具有间隙。在另一些实施方式中，发射端11与接收端13紧邻设置。
41.更具体地，在某些实施方式中，经发射端11射出的光线一部分能够穿过与之对应的第一增透区31并到达物体的表面，另一部分会穿过保护件30的其他部分并在保护件30内和/或光路改变部35内发生光路改变。物体反射的回光能够部分穿过与接收端13对应的第二增透区33，以使测距模组10能够对物体进行测距。物体反射的回光还能够直接射入保护件30内，并在保护件30内和/或光路改变部35内发生多次光路改变。光路改变部35可以对进入保护件30内的光线执行光路改变，其中，光路改变的方式包括但不限于折射、散射、全反射、漫反射或衍射等。
42.请参阅图1及图3，在某些实施方式中，保护件30大致为板状结构。保护件30用于保护测距模组10，避免灰尘或水汽等进入测距模组10内，以影响测距模组10的正常运行。保护件30的材料包括但不限于能够透光的玻璃、塑料或树脂等。
43.具体地，保护件30包括第一侧301、第二侧302、第三侧303、第四侧304、第五侧305和第六侧306。其中，第一侧301和第二侧302相背设置，第一侧301朝向测距模组10，第二侧302朝向测距装置100的外部。第三侧303和第四侧304相背设置，且第三侧303和第四侧304均与第一侧301和第二侧302连接。第五侧305和第六侧306相背设置，且第五侧305和第六侧306均与第一侧301和第二侧302连接。保护件30具有分别相交的第一方向x、第二方向y和第三方向z。第一方向x为第一侧301指向第二侧302的方向，或第二侧302指向第一侧301的方向。第二方向y为第三侧303指向第四侧304的方向，或第四侧304指向第三侧303的方向。第三方向z为第五侧305指向第六侧306的方向，或第六侧306指向第五侧305的方向。
44.请参阅图1及图3，在某些实施方式中，第一增透区31和第二增透区33沿第二方向y排列，第一增透区31与发射端11对应，第二增透区33与接收端13对应，第一增透区31和第二增透区33相互独立，相互之间没有交集，以使发射端11射出的光形成的光路与物体反射的回光形成的光路相互隔离，避免影响接收端13对回光的接收。在一些实施方式中，第一增透区31和第二增透区33之间具有间隔，光路改变部35设于间隔上。在另一些实施方式中，第一
增透区31与第二增透区33紧邻设置，光路改变部35设于第一增透区31和第二增透区33的连接处，并部分遮挡第一增透区31和/或第二增透区33。
45.具体地，第一增透区31和第二增透区33上均设有增透膜(图未示)。增透膜为一种光学薄膜，是在空气
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玻璃界面上涂上一层透明的晶体，以构成空气
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晶体膜
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玻璃三层介质。从晶体膜上表面反射的光与晶体膜下表面反射的光能够产生相消干涉，增加光线透过率。增透膜能够减小或消除第一增透区31和第二增透区33的表面的反射光，并增加第一增透区31和第二增透区33的透光量，减少杂散光。增透膜的种类包括但不限于单波长增透膜、多波长增透膜或宽带增透膜。增透膜的种类应与测距模组10发出的光线种类相适应。例如：当发射端11发出的光线和接收端13接收到的回光为红外光的情况下，第一增透区31上的增透膜应为红外增透膜。在一些实施方式中，增透膜为单层膜。在另一些实施方式中，增透膜为多层膜，能够过滤更多杂散光。
46.更具体地，在一些实施方式中，第一增透区31和第二增透区33均为沿第一方向x开设于保护件30的通孔，增透膜遮盖通孔的至少一侧。在另一些实施方式中，第一增透区31和第二增透区33均为保护件30上贴有增透膜的透光实体区域。
47.再具体地，在某些实施方式中，第一增透区31与第二增透区33的大小不同，且第一增透区31的尺寸小于第二增透区33的尺寸。第一增透区31的尺寸小能使发射端11射出的光线更加集中，第二增透区33的尺寸大能使接收端13能够接收到的回光更多，测量更加精准。
48.请参阅图3及图4，在某些实施方式中，光路改变部35为能够使射入保护件30内并经过光路改变部35的光线发生折射、反射、散射或衍射等现象，以多次改变光线的光路，从而达到减小光线的能量的结构。在一些实施方式中，光路改变部35为保护件30上开设的凹槽，如图3所示。在另一些实施方式中，光路改变部35为保护件30上形成的凸起，如图4所示。
49.进一步地，请结合图1，在某些实施方式中，光路改变部35位于测距模组10的发射端11与接收端13之间，以使发射端11未经第一增透区31射出的部分光线能够先经过光路改变部35，经多次光路改变后再进入接收端13，以使进入接收端13的光线能量减弱，减小光学串扰。在一些实施方式中，光路改变部35设于保护件30的第一侧301。在一个例子中，光路改变部35自第一侧301向靠近测距模组10的方向延伸形成凸起，如图5所示。在另一个例子中，光路改变部35自第一侧301向靠近第二侧302的方向凹陷，如图1所示。在另一些实施方式中，光路改变部35设于保护件30的第二侧302。在一个例子中，光路改变部35自第二侧302向远离测距模组10的方向延伸形成凸起，如图6所示。在另一个例子中，光路改变部35自第二侧302向靠近第一侧301的方向凹陷，如图7所示。
50.更进一步地，无论光路改变部35是凹陷还是凸起，请结合图6至图8，在某些实施方式中，光路改变部35具有在保护件30的第一侧301至保护件30的第二侧302的方向(即第一方向x)上的深度h2、在保护件30的第三侧303至保护件30的第四侧304(即第二方向y)延伸的宽度d2，以及在保护件30的第五侧305至保护件30的第六侧306(即第三方向z)延伸的长度l2。
51.再进一步地，保护件30的第一侧301至保护件30的第二侧302的距离为保护件30的厚度h0。在光路改变部35为凸起的情况下，如图5所示，光路改变部35的深度h2为：在第一方向x上，自第一侧301向保护件30外延伸的最大距离，或自第二侧302向保护件30外延伸的最大距离。在一些实施方式中，光路改变部35的深度h2小于保护件30的第一侧301与测距模组
10之间沿第一方向x的最小距离，避免光路改变部35与测距模组10碰撞。在另一些实施方式中，光路改变部35的深度h2大于或等于保护件30的第一侧301与测距模组10之间沿第一方向x的最小距离，且光路改变部35伸入发射端11与接收端13之间的间隙。
52.在光路改变部35为凹槽的情况下，如图1所示，光路改变部35的深度h2为：在第一方向x上，自第一侧301向保护件30内延伸的最大距离，或自第二侧302向保护件30内延伸的最大距离。在一些实施方式中，光路改变部35的深度h2小于保护件30的厚度h0。在另一些实施方式中，光路改变部35的深度h2等于保护件30的厚度h0，即，光路改变部35为开设于保护件30上贯穿第一侧301和第二侧302的通槽。在光路改变部35的长度l2和宽度d2不变的情况下，光路改变部35的深度h2越大，光线在光路改变部35上发生光路改变的次数就越多，因此光线的能量就会逐渐损耗，以使经过光路改变部35的光线无法进入接收端13或者进入接收端13的光线能量很弱，对测距精度造成的影响较小。
53.具体地，在某些实施方式中，光路改变部35的宽度d2小于第一增透区31和第二增透区33在第二方向y上的最短距离d1。在另一些实施方式中，光路改变部35的宽度d2等于第一增透区31和第二增透区33在第二方向y上的最短距离d1，即，光路改变部35沿第二方向y的相对两个侧面分别与第一增透区31和第二增透区33的边缘相接。在光路改变部35的深度h2和长度l2不变的情况下，光路改变部35的宽度d2越大，光线在光路改变部35内经过的路程就越长，光线的能量损耗更多，以使进入接收端13的经过光路改变部35的光线能量减小。
54.更具体地，请结合图3及图4，在某些实施方式中，第一增透区31和第二增透区33之间具有剩余区域307。剩余区域307的最短距离即为第一增透区31与第二增透区33在第二方向y上的最短距离d1。在一些实施方式中，在第二方向y上，第一增透区31与第二增透区33之间的剩余区域307的中心轴m和光路改变部35的中心轴n重合。即，在第二方向y上，光路改变部35位于第一增透区31与第二增透区33之间的剩余区域307的中间位置。在一个例子中，光路改变部35的中心与剩余区域307的中心重合。在另一个例子中，光路改变部35的中心与剩余区域307的中心不重合。在另一些实施方式中，光路改变部35位于剩余区域307内的任意位置，例如：光路改变部35为凸起，在第一方向x上，第一增透区31与第二增透区33之间的剩余区域307的中心轴m与光路改变部35的中心轴n的投影重合。
55.再具体地，请继续结合图8，在某些实施方式中，在第一增透区31的尺寸小于第二增透区33的尺寸的情况下，在第三方向z上，光路改变部35的长度l2至少大于第一增透区31的最大长度l1。在一些实施方式中，光路改变部35的长度l2大于第一增透区31的最大长度l1。在另一些实施方式中，光路改变部35的长度l2大于第一增透区31的最大长度l1和第二增透区33的最大长度。由于从发射端11射出的光线范围与第一增透区31的范围接近重合，在光路改变部35的长度l2大于第一增透区31的最大长度l1的情况下。从发射端11进入保护件30的光线均会经过光路改变部35，降低光学串扰的效果更好。
56.还具体地，在某些实施方式中，保护件30的第五侧305与保护件30的第六侧306之间的距离为保护件30的宽度l0。在一些实施方式中，在第三方向z上，光路改变部35的长度l2小于保护件30的宽度l0，以使光路改变部35完全位于保护件30内，此时，光路改变部35可以凸起或凹陷。在另一些实施方式中，光路改变部35的长度l2等于或大于保护件30的宽度l0，其中，在光路改变部35的长度l2等于保护件30的宽度l0时，光路改变部35可以凸起或凹陷，此时的凹陷为沿第三方向z贯通第五侧305与第六侧306的通槽；在光路改变部35的长度
l2大于保护件30的宽度l0时，光路改变部35为凸起，且该凸起沿第三方向z伸出保护件30外。
57.请参阅图1及图9，进一步地，在某些实施方式中，保护件30上可设有吸收件37，吸收件37设置于保护件30除第一增透区31和第二增透区33外的至少部分区域。吸收件37能够吸收从发射端11射入保护件30内的光线以及从外部射入保护件30内的光线，以减少保护件30内的光线串扰。具体地，吸收件37的种类包括但不限于涂层、薄膜或遮挡件等。
58.请参阅图1及图9，在某些实施方式中，光路改变部35包括多个界面351。在光路改变部35为凸起的情况下，界面351为凸起的各个侧壁、顶壁、底壁以及侧壁、顶壁和底壁的连接处。在光路改变部35为凹槽的情况下，界面351为凹槽的各个内壁及各个内壁的连接处。至少一个界面351上可设有散射层391或反射层393，散射层391用于分散射入光路改变部35的光线，反射层393用于反射射入光路改变部35的光线。在一些实施方式中，射入光路改变部35的光线在反射层393上发生全反射。在另一些实施方式中，射入光路改变部35的光线在反射层393上发生漫反射。
59.请参阅图10，本技术的电子设备1000包括上述任一实施方式所述的测距装置100及本体200，测距装置100安装于本体200。测距装置100能够通过光线的发射和反射回光的接收测量物体的深度h2和幅度信息等。本体200的种类包括但不限于手机、电脑、机器人、摄影设备、投影设备、避障装置、增强现实(augmented reality，ar)设备或虚拟现实(virtual reality，vr)设备等。
60.综上，本技术的电子设备1000中，光路改变部35能够多次改变进入光路改变部35的光线的传播方向，一方面，部分未射出保护件30的光线不会直接回到测距模组10内并影响距离的测量。另一方面，光线的能量在光路改变的过程中能够逐渐减小，能量减小后的部分光线即使直接回到测距模组10内，也不会影响距离的测量。因此，光路改变部35能够有效降低测距装置100内的光学串扰，使测距装置100得到的结果更加精确。
61.在本说明书的描述中，参考术语“某些实施方式”、“一个例子中”、“示例地”等的描述意指结合所述实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
62.尽管上面已经示出和描述了本技术的实施方式，可以理解的是，上述实施方式是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施方式进行变化、修改、替换和变型。

技术特征：
1.一种测距装置，其特征在于，包括：测距模组，所述测距模组用于向物体发出光线并接收被所述物体反射的回光；及保护件，所述保护件包括第一增透区和第二增透区，所述第一增透区与所述第二增透区间隔设置，所述测距模组发出的光线从所述第一增透区出射至所述物体，由所述物体反射的回光通过所述第二增透区入射至所述测距模组，所述保护件内设有光路改变部，所述光路改变部位于所述第一增透区及所述第二增透区之间，所述光路改变部用于减小所述测距模组发出并在所述保护件内传输后直接回到所述测距模组的光线的能量。2.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述测距模组包括发射端和接收端，所述第一增透区与所述发射端对应，所述第二增透区与所述接收端对应，所述发射端用于发出光线，所述发射端发出的光线从所述第一增透区出射至所述物体，所述接收端用于接收光线，由所述物体反射的回光通过所述第二增透区入射至所述接收端。3.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述光路改变部为所述保护件开设的凹槽；或所述光路改变部为所述保护件上的凸起。4.根据权利要求3所述的测距装置，其特征在于，所述保护件包括相背的第一侧和第二侧，所述保护件的第一侧朝向所述测距模组，所述第二侧朝向所述测距装置的外部；所述第一侧和/或所述第二侧设有所述光路改变部。5.根据权利要求4所述的测距装置，其特征在于，所述保护件的第一侧至所述保护件的第二侧的距离为所述保护件的厚度，所述光路改变部具有在所述保护件的第一侧至所述保护件的第二侧的方向上的深度，所述光路改变部的深度小于所述保护件的厚度；或所述光路改变部的深度等于所述保护件的厚度。6.根据权利要求4所述的测距装置，其特征在于，所述保护件包括相背的第三侧和第四侧，所述第三侧和所述第四侧均与所述第一侧和所述第二侧连接，在所述第三侧至所述第四侧的方向上，所述光路改变部的宽度小于所述第一增透区和所述第二增透区之间的最短距离。7.根据权利要求6所述的测距装置，其特征在于，在所述第三侧至所述第四侧的方向上，所述第一增透区与所述第二增透区之间的剩余区域的中心轴和所述光路改变部的中心轴重合。8.根据权利要求4所述的测距装置，其特征在于，所述保护件包括相背的第五侧和第六侧，所述第五侧和所述第六侧均与所述第一侧和所述第二侧连接，所述第一增透区与所述第二增透区的大小不同，在所述第五侧至所述第六侧的方向上，所述光路改变部的长度至少大于所述第一增透区的最大长度。9.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述保护件上设有吸收件，所述吸收件设置于所述保护件除所述第一增透区和所述第二增透区外的至少部分区域。10.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述光路改变部包括多个界面，至少一个所述界面上设有散射层或反射层，所述散射层用于分散射入所述光路改变部的光线，所述反射层用于反射射入所述光路改变部的光线。11.一种电子设备，其特征在于，包括：权利要求1-10任意一项所述的测距装置；及
本体，所述测距装置安装于所述本体。

技术总结
本申请公开了一种测距装置及电子设备。测距装置包括测距模组及保护件。测距模组用于向物体发出光线并接收被物体反射的回光。保护件包括第一增透区和第二增透区，第一增透区与第二增透区间隔设置，测距模组发出的光线从第一增透区出射至物体，由物体反射的回光通过第二增透区入射至测距模组。保护件内设有光路改变部，光路改变部位于第一增透区及第二增透区之间，光路改变部用于减小测距模组发出并在保护件内传输后直接回到测距模组的光线的能量。光路改变部能够多次改变进入光路改变部的光线的传播方向，使光线的能量在光路改变的过程中能够逐渐减小，有效降低测距装置内光线的折射或反射对被物体反射的回光产生光学串扰，提升测距精度。测距精度。测距精度。


技术研发人员：顾标平
受保护的技术使用者：OPPO广东移动通信有限公司
技术研发日：2023.03.08
技术公布日：2023/9/3