信号测量装置和信号测量方法与流程

1.本技术涉及计算机设备技术领域，特别是涉及一种信号测量装置和信号测量方法。


背景技术：

2.在当前的互联网大数据时代，随着互联网数据中心(internet data center，idc)的算力和容量的增长，idc的散热方案、整体能效的要求也逐渐提高，逐步出现了浸没式液冷产品来对idc进行高效散热。
3.目前，浸没式液冷进行散热的过程是把所有电子器件浸泡在液体里，通过液体的流动快速带走热量。在该散热过程中需要量测电子器件端口的信号时，会将电子器件断电，并使用示波器的探头直接采集电子器件的端口上的输出信号进行测量。
4.然而，上述方法测量方法存在准确度低的问题。


技术实现要素：

5.基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高测量准确度的信号测量装置和信号测量方法。
6.第一方面，本技术提供了一种信号测量装置。所述信号测量装置包括第一接线、隔离电阻和第二接线；第一接线的一端连接待测的电子器件，隔离电阻一端与第一接线的另一端连接，隔离电阻的另一端与第二接线的一端连接，第二接线的另一端连接测试设备；测试设备用于对电子器件的管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。
7.本技术实施例提供的信号测量装置可以用于对液态环境中的电子器件上输出的信号进行测量，且在测量过程中，该信号测量装置中的第二接线可以将电子器件输出的信号对接到测试设备上进行测试，而不需要测试设备直接连接电子器件的管脚进行测量，相比于传统使用测试探头直接接触电子器件管脚进行信号测量的方式，上述信号测量装置在测量电子器件输出的信号时不会受到液态环境的干扰，进而在一定程度上可以提高信号测量的准确性。另外，上述信号测量装置中通过使用第一接线将隔离电阻设置在电子器件的信号输出端，可以使电子器件与隔离电阻形成了一种串联谐振电路，并通过隔离电阻耦合输出特定谐振频点和谐振幅度的信号到测试设备上进行测量，而由于第一接线的长度与谐振频点相关，以及隔离电阻的阻值与谐振幅度相关，从而通过设置匹配的第一接线的长度和隔离电阻的阻值即可实现调整信号测量装置的带宽，使信号测量装置的带宽大于电子器件输出的信号的带宽，进而降低信号传输的损耗，提高测量设备测量信号的准确性。
8.在其中一个实施例中，信号测量装置还包括：壳体，壳体用于承载第一接线、隔离电阻和第二接线。
9.本技术实施例中通过设置壳体，一方面用于承载冷却液、电子器件、第一接线、隔离电阻和第二接线，另一方面用于将第二接线从液体冷却液中引出到外部环境，从而实现隔离测试设备与电子器件进行测量，在一定程度上避免了冷却液对信号的干扰，从而提高
测量准确性。
10.在其中一个实施例中，信号测量装置还包括：连接器，连接器的一端与第二接线的另一端连接，连接器的另一端与测试设备连接；连接器固定于壳体上。
11.本技术实施例中通过在壳体上设置连接器，可以实现将冷却液中第二接线上的信号准确的转接到壳体外部的接线上，从而实现隔离测试设备与电子器件进行测量，在一定程度上避免了冷却液对信号的干扰，从而提高测量准确性。
12.在其中一个实施例中，信号测量装置中的隔离电阻的阻值与第二接线的阻抗的阻值相同，对应的第二接线的阻抗的阻值不大于预设倍数的电子器件的阻抗的阻值。
13.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围，能够使得在待测信号处于低频状态下，整个信号测量装置10对待测信号能量强度的影响不超过2.5％。
14.在其中一个实施例中，信号测量装置中的第一接线的长度为小于1.0毫米的值。
15.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围和长度范围，能够使得在待测信号处于高频状态下，整个信号测量装置10对待测信号能量强度的影响不超过2.5％，且信号测量装置的带宽大于待测信号的带宽。
16.在其中一个实施例中，信号测量装置中的隔离电阻的阻值为75欧姆至100欧姆之间的任一值。
17.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围和长度范围，能够使得在待测信号处于高频状态下，整个信号测量装置10对待测信号能量强度的影响不超过2.5％，且信号测量装置的带宽大于待测信号的带宽。
18.在其中一个实施例中，信号测量装置中的第一接线包括第一正接线和第一地接线；第二接线包括第二正接线和第二地接线；
19.第一正接线的一端连接电子器件的信号输出管脚，隔离电阻一端与第一正接线的另一端连接，隔离电阻的另一端与第二正接线的一端连接，第二正接线的另一端连接测试设备；
20.第一地接线的一端连接电子器件的地信号输出管脚，隔离电阻一端与第一地接线的另一端连接，隔离电阻的另一端与第二地接线的一端连接，第二地接线的另一端连接测试设备；
21.测试设备用于对电子器件的信号输出管脚和地信号输出管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。
22.本技术实施例提供的信号测量装置中的第一接线通过第一正接线和第一地接线将隔离电阻并联连接在电子器件的输出端，从而形成串联谐振电路，进而通过隔离电阻耦合输出特定谐振频点和谐振幅度的信号到测试设备上进行测量，而由于第一接线的长度与谐振频点相关，以及隔离电阻的阻值与谐振幅度相关，从而通过设置匹配的第一接线的长度和隔离电阻的阻值即可实现调整信号测量装置的带宽，使信号测量装置的带宽大于电子器件输出的信号的带宽，进而降低信号传输的损耗，提高测量设备测量信号的准确性。
23.第二方面，本技术还提供了一种信号测量方法。所述信号测量方法包括：
24.获取待测电子器件的输出信号；
25.根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数；
26.根据配置参数构建得到信号测量装置。
27.本技术实施例提供的信号测量方法，可以对液态环境中的电子器件上输出的信号进行测量，且在测量过程中，该信号测量装置中的第二接线可以将电子器件输出的信号对接到测试设备上进行测试，而不需要测试设备直接连接电子器件的管脚进行测量，相比于传统使用测试探头直接接触电子器件管脚进行信号测量的方式，上述信号测量装置在测量电子器件输出的信号时不会受到液态环境的干扰，进而在一定程度上可以提高信号测量的准确性。另外，上述信号测量装置中通过使用第一接线将隔离电阻设置在电子器件的信号输出端，可以使电子器件与隔离电阻形成了一种串联谐振电路，并通过隔离电阻耦合输出特定谐振频点和谐振幅度的信号到测试设备上进行测量，而由于第一接线的长度与谐振频点相关，以及隔离电阻的阻值与谐振幅度相关，从而通过设置匹配的第一接线的长度和隔离电阻的阻值即可实现调整信号测量装置的带宽，使信号测量装置的带宽大于电子器件输出的信号的带宽，进而降低信号传输的损耗，提高测量设备测量信号的准确性。
28.在其中一个实施例中，根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数，包括：
29.在输出信号为低频信号的情况下，将信号测量装置中的隔离电阻与第二接线的阻抗设置为相同的阻值，对应的将信号测量装置中的第二接线的阻抗设置为不大于预设倍数的电子器件的阻抗的阻值。
30.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围，能够使得在待测信号处于低频状态下，整个信号测量装置对待测信号能量强度的影响不超过2.5％。
31.在其中一个实施例中，根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数，包括：
32.在输出信号为高频信号的情况下，将信号测量装置中的隔离电阻设置为75欧姆至100欧姆之间的任一值，对应的将信号测量装置中的第一接线的阻抗设置为小于1.0毫米的值。
33.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围和长度范围，能够使得在待测信号处于高频状态下，整个信号测量装置对待测信号能量强度的影响不超过2.5％。
34.上述信号测量装置和信号测量方法，信号测量装置包括：第一接线、隔离电阻和第二接线；第一接线的一端连接待测的电子器件，隔离电阻一端与第一接线的另一端连接，隔离电阻的另一端与第二接线的一端连接，第二接线的另一端连接测试设备；测试设备用于对电子器件的管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。本信号测量装置可以用于对液态环境中的电子器件上输出的信号进行测量，且在测量过程中，该信号测量装置中的第二接线可以将电子器件输出的信号对接到测试设备上进行测试，而不需要测试设备直接连接电子器件的管脚进行测量，相比于传统使用测试探头直接接触电子器件管脚进行信号测量的方式，上述信号测量装置在测量电子器件输出的信号时不会受到液态环境的干扰，进而在一定程度上可以提高信号测量的准确性。另外，上述信号测量装置中通过使用第一接线将隔离电阻设置在电子器件的信号输出端，可以使电子器件与隔离电阻形成了一种串联谐振电路，并通过隔离电阻耦合输出特定谐振频点和谐振幅度的信号到测试设备上进行测量，而由于第一接线的长度与谐振频点相关，以及隔离电阻的阻值与谐振幅度相关，从而通过设置匹配的第一接线的长度和隔离电阻的阻值即可实现调整信号测量装置的带宽，使信号测量装置的带宽大于电子器件输出的信号的带宽，进而降低信号传输的损耗，提高测量设备测量信号的准确性。
附图说明
35.图1为一个实施例中信号传输装置的结构图；
36.图2为另一个实施例中信号传输装置的结构图；
37.图3为另一个实施例中信号传输装置的结构图；
38.图4为无损信号带宽和信号传输装置带宽分别与信号频率之间的关系图；
39.图5为另一个实施例中信号传输装置的结构图；
40.图6为一个实施例中信号传输方法的流程示意图。
具体实施方式
41.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
42.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术；本技术的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
43.在本技术实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本技术实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。
44.在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
45.在当前“互联网大数据”时代下，随着互联网数据中心(internet data center，idc)算力和容量的逐步增长，传统风冷产品会导致idc机房功耗激增，为保证绿色发展，政府各部门不断出台互联网数据中心能耗(power usage effectiveness，pue)指标，因此，浸没式液冷产品成为未来最具优势的低pue方案，其中会广泛使用氟化液为导热冷却液。
46.现有的浸没式液冷进行散热的过程是把所有电子器件浸泡在冷却液里，并通过冷却液的流动快速带走热量。由于所有电子器件全部都浸泡在了冷却液中，相比于传统的风冷产品，在使用浸没式液冷方式对电子器件进行散热的过程中需要对电子器件的管脚处的输出信号进行测量时，会先将电子器件断电，再使用示波器的探头直接采集电子器件的管脚处的输出信号进行测量，由于冷却液对探头有一定的腐蚀作用，以及测量时探头与管脚处仅是虚连接，存在间隙，导致冷却液对管脚处的输出信号造成干扰，从而极大的影响了信号测量的准确性，故现有对冷却液中电子器件输出信号的测量方式存在测量准确度低的问题，本技术旨在解决该问题。
47.在上述介绍完本技术实施例提供的信号测量装置的背景技术之后，下面通过实施例将重点介绍本技术提出的信号测量装置。
48.在一个实施例中，如图1所示，提供了一种信号测量装置10，包括第一接线100、隔离电阻101和第二接线102；第一接线100的一端连接待测的电子器件20，隔离电阻101一端
与第一接线100的另一端连接，隔离电阻101的另一端与第二接线102的一端连接，第二接线102的另一端连接测试设备30；测试设备30用于对电子器件20的管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。
49.上述第一接线100为一种具有特定长度的焊接线，用于将隔离电阻101焊接在电子器件20的管脚处的信号输出端；第一接线100的长度可以根据实际测量准确度的需求确定；一种长度可选的方式，可以根据电子器件20的管脚处输出的信号的高频信号的谐振频点确定，比如，电子器件20的管脚处输出的信号的谐振频点为f0，则选取与f0对应的第一接线的长度，其具体可以为小于1.0毫米的值，比如，第一接线的长度为0.5毫米，或0.6毫米。
50.上述隔离电阻101用于降低电子器件20和信号测量装置10的整体结构的阻抗。隔离电阻101的阻值可以根据实际测量准确度的需求确定；一种阻值可选的方式，可以根据电子器件20的管脚处输出的高频信号的谐振幅值确定，比如，隔离电阻101的阻值为75欧姆至100欧姆之间的任一值。
51.上述第二接线102为一种线缆，其用于传输从隔离电阻101上耦合输出的信号，即电子器件20管脚处输出的信号。第二接线102的长度可以根据实际的信号测量装置10测试设备30的距离确定。
52.上述电子器件20是采用液冷方式进行散热的任意电子器件，比如，液冷服务器中的任意芯片。
53.上述测试设备30用于对电子器件的管脚上输出的信号进行测量，测试设备30上设置有测试探头，具体在测量电子器件输出的信号时，可以使用测试探头连接第二接线102进行信号测量。例如，上述测试设备30可以为一种示波器，或其他配备探头的信号测量器件。
54.本技术实施例中，将电子器件20放置于液冷液中进行散热，其中的液冷液可以为常用的散热液氟化液，也可以为其他类型的冷却液。当需要对浸没在该冷却液中的电子器件20输出的信号进行测量时，可以使用如图1所示的信号测量装置10中的第一接线的信号输入端连接到电子器件20上，具体可以将第一接线100焊接到电子器件20的测量管脚处，同时将信号测量装置10的信号输出端连接到测试设备30上。在测试开始时，控制电子器件20上电，且驱动电子器件20运行，使其测量管脚处输出信号，该信号通过信号测量装置10中的隔离电阻101耦合到第二接线102上进行传输，测试设备30即可检测第二接线102上的信号，以获取到电子器件20管脚处的输出信号后进行测量，从而得到测量结果。
55.本技术实施例提供的信号测量装置，包括第一接线、隔离电阻和第二接线；第一接线的一端连接待测的电子器件，隔离电阻一端与第一接线的另一端连接，隔离电阻的另一端与第二接线的一端连接，第二接线的另一端连接测试设备；测试设备用于对电子器件的管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。上述信号测量装置可以用于对液态环境中的电子器件上输出的信号进行测量，且在测量过程中，该信号测量装置中的第二接线可以将电子器件输出的信号对接到测试设备上进行测试，而不需要测试设备直接连接电子器件的管脚进行测量，相比于传统使用测试探头直接接触电子器件管脚进行信号测量的方式，上述信号测量装置在测量电子器件输出的信号时不会受到液态环境的干扰，进而在一定程度上可以提高信号测量的准确性。另外，上述信号测量装置中通过使用第一接线将隔离电阻设置在电子器件的信号输出端，可以使电子器件与隔离电阻形成了一种串联谐振电路，并通过隔离电阻耦合输出特定谐振频点和谐振幅度的信号到测试设备上进行测量，而由于第
一接线的长度与谐振频点相关，以及隔离电阻的阻值与谐振幅度相关，从而通过设置匹配的第一接线的长度和隔离电阻的阻值即可实现调整信号测量装置的带宽，使信号测量装置的带宽的带宽大于电子器件输出的信号的带宽，进而降低信号传输的损耗，提高测量设备测量信号的准确性。
56.在一个实施例中，如图2所示，提供了一种信号测量装置，上述信号测量装置10还包括：壳体105，壳体105用于承载第一接线100、隔离电阻101和第二接线102。
57.其中，壳体105可以为球形壳体，还可以为方形壳体、椭球型壳体等，对于壳体105的形状不限定。壳体105可以为密闭壳体，也可以为开放壳体，壳体105用于盛放冷却液，并将第一接线100、隔离电阻101和第二接线102，以及电子器件20放置于液态冷却液中，构造出电子器件20处于液冷状态的液体环境。
58.上述壳体105可以为绝缘体，具备导热性能。该壳体105可以为一种密闭的壳体，其上设置可灵活打开的盖体，从而便于将第一接线、隔离电阻和第二接线、冷却液放置于壳体105中，而且壳体105的侧壁上设置有穿线开孔，第二接线102可以通过穿过壳体105靠近测试设备30的一侧壁上设置的穿线开孔与测试设备连接。壳体105的侧壁上的穿线开孔与第二接线之间可以通过密封胶或其他密封材料进行密封。
59.本技术实施例中，当需要对浸没在该冷却液中的电子器件20输出的信号进行测量时，可以使用如图1所示的信号测量装置10的信号输入端连接到电子器件20上，具体可以将第一接线100焊接到电子器件20的测量管脚处，同时将信号测量装置10的信号输出端连接到测试设备30上，具体可以将第二接线102穿过壳体105一侧的穿线开孔连接到壳体105的外部的测试设备30上。在测试开始时，控制电子器件20上电，且驱动电子器件20运行，使其测量管脚处输出信号，该信号通过信号测量装置10中的隔离电阻101耦合到第二接线102上进行传输，测试设备30即可检测第二接线102上的信号，以获取到电子器件20管脚处的输出信号后进行测量，从而得到测量结果。
60.本技术实施例中通过设置壳体，一方面用于承载冷却液、电子器件、第一接线、隔离电阻和第二接线，另一方面用于将第二接线从液体冷却液中引出到外部环境，从而实现隔离测试设备与电子器件进行测量，在一定程度上避免了冷却液对信号的干扰，从而提高测量准确性。
61.在一个实施例中，如图3所示，提供了一种信号测量装置，上述信号测量装置10还包括：连接器106，连接器106的一端与第二接线102的另一端连接，连接器106的另一端与测试设备30连接；连接器106固定于壳体105上。
62.其中，连接器106用于将第二接线102与外部接线进行转接，或者用于将第二接线102上传输的信号进行放大调整后转接到外部接线上。连接器106可以设置在壳体105的任意位置，例如，连接器106可以设置在如图3所示的壳体105的右侧中心位置，还可以设置在壳体105的上方任意位置、下方任意位置，本技术实施例在此处不加以限定。连接器106可以是密闭连接器，还可以是非密闭连接器；需要说明的是，若壳体105中的液体高度超过连接器106位于壳体105上的高度，则连接器106需要设置为密闭连接器；若壳体105中的液体高度未超过连接器106位于壳体105上的高度，则连接器106可以设置为非密闭连接器。
63.本技术实施例中，当需要对浸没在该冷却液中的电子器件20输出的信号进行测量时，可以使用如图1所示的信号测量装置10的信号输入端连接到电子器件20上，具体可以将
第一接线100焊接到电子器件20的测量管脚处，同时将信号测量装置10的信号输出端连接到测试设备30上，具体可以将第二接线102的一端接入到连接器106的输入端，连接器106的输出端连接外部接线，从而将第二接线102上传输的信号转接到外部接线上继续进行传输至测试设备30。
64.本技术实施例中通过在壳体上设置连接器，可以实现将冷却液中第二接线上的信号准确的转接到壳体外部的接线上，从而实现隔离测试设备与电子器件进行测量，在一定程度上避免了冷却液对信号的干扰，从而提高测量准确性。
65.在一个实施例中，在上述图1-3实施例的基础上，上述实施例中的隔离电阻101的阻值与第二接线102的阻抗的阻值相同，对应的第二接线的阻抗的阻值不大于预设倍数的电子器件20的阻抗的阻值。
66.本技术实施例中，电子器件20输出的待测信号的类型不同，对于隔离电阻和第二接线的参数设置也不同。本实施例涉及电子器件20输出的待测信号为低频信号的情况，在此情况下，为保证引入信号测量装置10后，对待测信号能量强度的影响在预设的范围内；可选地，根据对测得的待测信号的不同要求，隔离电阻的阻值、第二接线的阻抗的阻值和电子器件的阻抗的阻值的大小设置方式也不同。例如，在低频状态下，为保证引入信号测量装置10后，对待测信号能量强度的影响程度不超过2.5％，此时，需要将隔离电阻101的阻值设置成与第二接线102的阻抗的阻值相同，且保证第二接线102的阻抗的阻值不大于9.75倍的电子器件20的阻抗的阻值。
67.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围，能够使得在待测信号处于低频状态下，整个信号测量装置10对待测信号能量强度的影响不超过2.5％。
68.在一个实施例中，在上述图1-3实施例的基础上，上述第一接线的长度为小于1.0毫米的值，隔离电阻的阻值为75欧姆至100欧姆之间的任一值。
69.本实施例涉及电子器件20输出的待测信号为高频信号的情况，在此情况下，为保证引入信号测量装置10后，对待测信号能量强度的影响在预设的范围内，且保证信号测量装置的带宽大于待测信号的带宽；可选地，可以根据对测得的待测信号的不同要求，隔离电阻的阻值、第一接线的长度的设置方式也不同。例如，在高频状态下，为保证引入信号测量装置10后，对待测信号能量强度的影响程度不超过2.5％，此时，需要将第一接线的长度设置为小于1.0毫米的值，隔离电阻的阻值设置为75欧姆至100欧姆之间的任一值。
70.根据上述数值进行隔离电阻的阻值和第一接线的长度进行设置后，参见图4所示，可以确定对应的电子器件输出的低频信号(10mhz)形成的谐振信号的谐振频点为图4中的线m8，幅值为0.97，其靠近无损信号带宽(1.0)；另外，对应的电子器件输出的高频信号(》10mhz)形成的谐振信号的谐振频点为图4中的线m10，幅值为0.95，也靠近无损信号带宽(1.0)。因此，使用该信号测量装置传输信号至测量设备可以达到接近无损传输的效果，从而提高测试设备测量的准确性。
71.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围和长度范围，能够使得在待测信号处于高频状态下，整个信号测量装置10对待测信号能量强度的影响不超过2.5％，且信号测量装置的带宽大于待测信号的带宽。
72.在一个实施例中，在上述图1实施例的基础上，如图5所示，上述第一接线100包括第一正接线1001和第一地接线1002；第二接线102包括第二正接线1021和第二地接线1022；
73.第一正接线1001的一端连接电子器件20的信号输出管脚201，隔离电阻101一端与第一正接线1001的另一端连接，隔离电阻101的另一端与第二正接线1021的一端连接，第二正接线1021的另一端连接测试设备30；
74.第一地接线1002的一端连接电子器件20的地信号输出管脚202，隔离电阻101一端与第一地接线1002的另一端连接，隔离电阻101的另一端与第二地接线1022的一端连接，第二地接线1022的另一端连接测试设备；
75.测试设备30用于对电子器件20的信号输出管脚201和地信号输出管脚202上输出的信号进行测量，得到测量结果。
76.本技术实施例中，电子器件20包括至少两个输出管脚，即正输出管脚和负输出管脚，正输出管脚即为如图5所示电子器件20中的信号输出管脚201，负输出管脚即为如图5所示电子器件20中的地信号输出管脚202，信号输出管脚201通过焊接第一正接线1001，将电子器件20的正信号传输给第一接线1001，地信号输出管脚202通过焊接第一负接线1002，将电子器件20的负信号传输给第一接线1001；进一步的，第一接线100中的第一正接线1001焊接隔离电阻101，第一接线100中的第一负接线1002焊接隔离电阻101，将电子器件20的信号传输给隔离电阻101；进一步的，隔离电阻101通过电缆连接第二接线102中的第二正接线1021和第二负接线1022，将电子器件20的信号传输给第二接线102；第二接线102中也包括两个接线，即第二正接线1021和第二负接线1022，第二正接线1021和第二负接线1022均通过线缆连接测试设备30，将电子器件20的信号传输给测试设备30，测试设备30用于对电子器件20的信号输出管脚201和地信号输出管脚202上输出的信号进行测量，并得到测量结果。
77.本技术实施例提供的信号测量装置中的第一接线通过第一正接线和第一地接线将隔离电阻并联连接在电子器件的输出端，从而形成串联谐振电路，进而通过隔离电阻耦合输出特定谐振频点和谐振幅度的信号到测试设备上进行测量，而由于第一接线的长度与谐振频点相关，以及隔离电阻的阻值与谐振幅度相关，从而通过设置匹配的第一接线的长度和隔离电阻的阻值即可实现调整信号测量装置的带宽，使信号测量装置的带宽大于电子器件输出的信号的带宽，进而降低信号传输的损耗，提高测量设备测量信号的准确性。
78.基于同样的发明构思，本技术实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的信号测量装置的信号测量方法。该方法所提供的解决问题的实现方案与上述装置中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个信号测量方法实施例中的具体限定可以参见上文中对于信号测量装置的限定，在此不再赘述。
79.在一个实施例中，如图6所示，还提供了一种用于确定上述信号测量装置的信号测量方法，该信号测量方法包括：
80.s10、获取待测电子器件的输出信号。
81.其中，待测量电子器件即为上述各实施例所述的电子器件；待测电子器件的输出信号包括高频信号和低频信号。
82.本技术实施例中，在得到上述各实施例中所述的信号测量装置之前，需要先确定信号测量装置中的第一接线、隔离电阻和第二接线的参数，本实施例提供一种确定信号测量装置中的第一接线、隔离电阻和第二接线的参数的方法，即先获取待测电子器件的输出信号。需要说明的是，输出信号的获取方式可以是在电子设备处于风冷状态下，通过探头和
示波器对电子设备的输出信号进行测量；或者，也可以是在电子设备处于液冷状态下，通过其他信号测量方式对电子设备的输出信号进行测量，本技术实施例在此不加以限制。
83.s11、根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数。
84.其中，信号测量装置的配置参数包括第一接线、隔离电阻和第二接线的配置参数。
85.本技术实施例中，可以根据上述获取到的待测电子器件的输出信号，确定输出信号的类型，再根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数；可选的，若上述获取到的待测电子器件的输出信号的类型为低频信号，则根据该低频信号确定信号测量装置中的第一接线、隔离电阻和第二接线的配置参数；可选的，若上述获取到的待测电子器件的输出信号的类型为高频信号，则根据该高频信号确定信号测量装置中的第一接线、隔离电阻和第二接线的配置参数。需要说明的是，低频信号对应的信号测量装置的配置参数，以及高频信号对应的信号测量装置的配置参数可以预先根据前述实施例中的说明确定，并预先根据各自的对应关系进行存储，以便使用时直接查找确定。
86.s12、根据配置参数构建得到信号测量装置。
87.本技术实施例中，在上述获取到信号测量装置中的各部件的配置参数后，根据该配置参数确定各部件的参数，并根据确定好的各部件的参数构建得到前述实施例中使用的信号测量装置。
88.本技术实施例提供的信号测量方法，可以对液态环境中的电子器件上输出的信号进行测量，且在测量过程中，该信号测量装置中的第二接线可以将电子器件输出的信号对接到测试设备上进行测试，而不需要测试设备直接连接电子器件的管脚进行测量，相比于传统使用测试探头直接接触电子器件管脚进行信号测量的方式，上述信号测量装置在测量电子器件输出的信号时不会受到液态环境的干扰，进而在一定程度上可以提高信号测量的准确性。另外，上述信号测量装置中通过使用第一接线将隔离电阻设置在电子器件的信号输出端，可以使电子器件与隔离电阻形成了一种串联谐振电路，并通过隔离电阻耦合输出特定谐振频点和谐振幅度的信号到测试设备上进行测量，而由于第一接线的长度与谐振频点相关，以及隔离电阻的阻值与谐振幅度相关，从而通过设置匹配的第一接线的长度和隔离电阻的阻值即可实现调整信号测量装置的带宽，使信号测量装置的带宽大于电子器件输出的信号的带宽，进而降低信号传输的损耗，提高测量设备测量信号的准确性。
89.在一个实施例中，在上述图5所示的实施例的基础上，本实施例还对根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数的过程进行详述，s11“根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数”，包括：
90.在输出信号为低频信号的情况下，将信号测量装置中的隔离电阻与第二接线的阻抗设置为相同的阻值，对应的将信号测量装置中的第二接线的阻抗设置为不大于预设倍数的电子器件的阻抗的阻值。
91.本技术实施例中，在上述获取到待测电子器件的输出信号，且确定输出信号为低频信号的情况下，为保证引入信号测量装置后，对待测信号能量强度的影响在预设的范围内；可选地，根据对测得的待测信号的不同要求，隔离电阻的阻值、第二接线的阻抗的阻值和电子器件的阻抗的阻值的大小设置方式也不同。例如，在低频状态下，为保证引入信号测量装置后，对待测信号能量强度的影响程度不超过2.5％，此时，需要将隔离电阻的阻值设置成与第二接线的阻抗的阻值相同，且保证第二接线的阻抗的阻值不大于9.75倍的电子器
件的阻抗的阻值。
92.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围，能够使得在待测信号处于低频状态下，整个信号测量装置对待测信号能量强度的影响不超过2.5％。
93.在一个实施例中，在上述图5所示的实施例的基础上，本实施例还对根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数的过程进行详述，s11“根据输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数”，包括：
94.在输出信号为高频信号的情况下，将信号测量装置中的隔离电阻设置为75欧姆至100欧姆之间的任一值，对应的将信号测量装置中的第一接线的阻抗设置为小于1.0毫米的值。
95.本技术实施例中，在上述获取到待测电子器件的输出信号，且确定输出信号为高频信号的情况下，为保证引入信号测量装置后，对待测信号能量强度的影响在预设的范围内；可选地，根据对测得的待测信号的不同要求，隔离电阻的阻值、第一接线的长度的设置方式也不同。例如，在高频状态下，为保证引入信号测量装置后，对待测信号能量强度的影响程度不超过2.5％，此时，需要将第一接线的长度设置为小于1.0毫米的值，隔离电阻的阻值设置为75欧姆至100欧姆之间的任一值。
96.本技术实施例提供的信号测量装置中的各部件的阻值范围和长度范围，能够使得在待测信号处于高频状态下，整个信号测量装置对待测信号能量强度的影响不超过2.5％。
97.应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
98.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(read-only memory，rom)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(reram)、磁变存储器(magnetoresistive random access memory，mram)、铁电存储器(ferroelectric random access memory，fram)、相变存储器(phase change memory，pcm)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(random access memory，ram)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，ram可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(static random access memory，sram)或动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)等。本技术所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本技术所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
99.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
100.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术的保护范围应以所附权利要求为准。

技术特征：
1.一种信号测量装置，其特征在于，所述信号测量装置包括第一接线、隔离电阻和第二接线；所述第一接线的一端连接待测的电子器件，所述隔离电阻一端与所述第一接线的另一端连接，所述隔离电阻的另一端与所述第二接线的一端连接，所述第二接线的另一端连接测试设备；所述测试设备用于对所述电子器件的管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。2.根据权利要求1所述的信号测量装置，其特征在于，所述信号测量装置还包括：壳体，所述壳体用于承载所述第一接线、所述隔离电阻和所述第二接线。3.根据权利要求2所述的信号测量装置，其特征在于，所述信号测量装置还包括：连接器，所述连接器的一端与所述第二接线的另一端连接，所述连接器的另一端与所述测试设备连接；所述连接器固定于所述壳体上。4.根据权利要求1-3任一项所述的信号测量装置，其特征在于，所述隔离电阻的阻值与所述第二接线的阻抗的阻值相同，对应的所述第二接线的阻抗的阻值不大于预设倍数的电子器件的阻抗的阻值。5.根据权利要求1-3任一项所述的信号测量装置，其特征在于，所述第一接线的长度为小于1.0毫米的值。6.根据权利要求1-3任一项所述的信号测量装置，其特征在于，所述隔离电阻的阻值为75欧姆至100欧姆之间的任一值。7.根据权利要求1所述的信号测量装置，其特征在于，所述第一接线包括第一正接线和第一地接线；所述第二接线包括第二正接线和第二地接线；所述第一正接线的一端连接所述电子器件的信号输出管脚，所述隔离电阻一端与所述第一正接线的另一端连接，所述隔离电阻的另一端与所述第二正接线的一端连接，所述第二正接线的另一端连接所述测试设备；所述第一地接线的一端连接所述电子器件的地信号输出管脚，所述隔离电阻一端与所述第一地接线的另一端连接，所述隔离电阻的另一端与所述第二地接线的一端连接，所述第二地接线的另一端连接所述测试设备；所述测试设备用于对所述电子器件的信号输出管脚和地信号输出管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。8.一种信号测量方法，其特征在于，所述信号测量方法，包括：获取待测电子器件的输出信号；根据所述输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数；根据所述配置参数构建得到如权利要求1-7任一项所述的信号测量装置。9.根据权利要求8所述的信号测试方法，其特征在于，所述根据所述输出信号的类型确定信号测量装置的配置参数，包括：在所述输出信号为低频信号的情况下，将所述信号测量装置中的隔离电阻与第二接线的阻抗设置为相同的阻值，对应的将所述信号测量装置中的第二接线的阻抗设置为不大于预设倍数的电子器件的阻抗的阻值。10.根据权利要求8所述的信号测试方法，其特征在于，所述根据所述输出信号的类型确定信号测量装置的设计参数，包括：在所述输出信号为高频信号的情况下，将所述信号测量装置中的隔离电阻设置为75欧
姆至100欧姆之间的任一值，对应的将所述信号测量装置中的第一接线的阻抗设置为小于1.0毫米的值。

技术总结
本申请涉及一种信号测量装置和信号测量方法。所述信号测量装置包括：第一接线、隔离电阻和第二接线；第一接线的一端连接待测的电子器件，隔离电阻一端与第一接线的另一端连接，隔离电阻的另一端与第二接线的一端连接，第二接线的另一端连接测试设备；测试设备用于对电子器件的管脚上输出的信号进行测量，得到测量结果。本装置将液态环境中的待测电子器件上的信号引出液态环境，通过调整第一接线的长度、隔离电阻的阻值，以及第二接线的长度，使得信号测量装置的带宽大于电子器件中待测信号的带宽，以保证测量的待测信号的准确性；另外，在保证信号的测量精度的同时，无需对电子器件进行断电，也就是说不会对原待测信号产生较大影响。响。响。


技术研发人员：马聪 杨秀芳 田洪元
受保护的技术使用者：曙光信息产业股份有限公司
技术研发日：2023.06.06
技术公布日：2023/9/12