一种调光膜检膜台及检测方法与流程

1.本发明涉及调光膜检测领域，更具体地说，涉及一种调光膜检膜台及检测方法。


背景技术：

2.检膜台就是检测电子产品加工覆膜的工具，以往的检膜台在使用时由于一体性太强，这就导致检膜台不能够根据实际场地规模进行快速拼接使用，也不方便后期进行拆装，造成使用不便，现有的检膜台不能够根据实际需要拼接使用，因此亟需一种可以拆卸拼装的调光膜检膜台来解决上述问题。


技术实现要素：

3.本发明针对现有技术的上述缺陷，提供一种调光膜检膜台及检测方法。
4.本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种调光膜检膜台，该检膜台由至少两个分检台可拆卸拼接组成，该分检台包括第一矩形框架、位于该第一矩形框架正下方的第二矩形框架、固定连接并支撑该第一矩形框架的第一直角和第二矩形框架的第一直角位置处的第一支撑腿、固定连接并支撑该第一矩形框架的第二直角和第二矩形框架的第二直角位置处的第二支撑腿、固定连接并支撑该第一矩形框架的第三直角和第二矩形框架的第三直角位置处的第三支撑腿、固定连接并支撑该第一矩形框架的第四直角和第二矩形框架的第四直角位置处的第四支撑腿；
5.该第一矩形框架的第一边框外侧面设有第一拼接槽，该第一矩形框架的第二边框外侧面设有可插入至该第一拼接槽内的第一拼接块，该第一矩形框架的第一边框和该第一矩形框架的第二边框为该第一矩形框架的相对两个框架；
6.该第一支撑腿的外端面上设有第一挂扣，该第四支撑腿的外端面上设有第一挂件，在相邻的两个分检台拼接时，该第一挂扣可插入至该第一挂件的第一挂孔内。
7.在本发明所述的调光膜检膜台中，该第一拼接块外套设有第一橡胶套，该第一橡胶套外设有第一防滑纹。
8.在本发明所述的调光膜检膜台中，该第二矩形框架的第五边框外侧面设有第二拼接槽，该第二矩形框架的第六边框外侧面设有可插入至该第二拼接槽内的第二拼接块，该第二矩形框架的第五边框和该第二矩形框架的第六边框为该第二矩形框架的相对两个框架。
9.在本发明所述的调光膜检膜台中，该第二拼接块外套设有第二橡胶套，该第二橡胶套外设有第二防滑纹。
10.在本发明所述的调光膜检膜台中，该第二支撑腿的外端面上设有第二挂扣，该第三支撑腿的外端面上设有第二挂件，在相邻的两个分检台拼接时，该第二挂扣可插入至该第二挂件的第二挂孔内。
11.在本发明所述的调光膜检膜台中，该第一挂件与该第四支撑腿可转动连接，该第二挂件与该第三支撑腿可转动连接。
12.在本发明所述的调光膜检膜台中，该第四支撑腿的外侧面设有向该第四支撑腿内凹陷的电插座，该第一支撑腿的外侧面设有可插入至该电插座内的电插头。
13.在本发明所述的调光膜检膜台中，该分检台还包括与该电插座电连接的导电夹，该第一矩形框架内设有可供该导电夹的导线穿过的内孔，该第一矩形框架上设有可供该导电夹挂设的挂架。
14.在本发明所述的调光膜检膜台中，该第一支撑腿底部设有第一橡胶底座，该第二支撑腿底部设有第二橡胶底座，该第三支撑腿底部设有第三橡胶底座，该第四支撑腿底部设有第四橡胶底座，该第一矩形框架内固设有第一玻璃板，该第二矩形框架内固设有第二玻璃板。
15.本发明解决其技术问题所采用的另一技术方案是：公开一种调光膜检测方法，使用如上述检膜台，该检测方法包括：
16.拼接至少两个分检台形成所述检膜台；
17.该调光膜两侧电极设置在调光膜两侧不同面上，在调光膜两侧电极上每隔30-200cm夹一个导电夹，通过该导电夹加在调光膜两侧电极上的电压为ac 0-220v；
18.每通电时长n秒后断电一次，每次通断电时间长度分别为n和m秒，总通断电时间长度为h小时；
19.通过高电压和长时间通电老化检测调光膜内的缺陷点。
20.实施本发明的调光膜检膜台及检测方法，具有以下有益效果：使用本发明的调光膜检膜台时，可将相邻两个分检台中第一个分检台的第一拼接块插入至第二个分检台的第一拼接槽内，然后将第一挂扣对准第一挂件的第一挂孔扣入，实现对相邻两个分检台的拼装，组成所需大小的检膜台进行调光膜检测。在检测完成之后，可将第一挂件与第一挂扣分开，将第一拼接块从第一拼接槽内取出，实现对多个分检台的拆分。
附图说明
21.下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
22.图1是本发明调光膜检膜台的结构示意图；
23.图2是本发明调光膜检膜台中第一支撑腿的侧面结构示意图。
具体实施方式
24.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
25.如图1、2所示，在本发明的调光膜检膜台第一实施例中，该检膜台由至少两个分检台10可拆卸拼接组成，该分检台10包括第一矩形框架11、位于该第一矩形框架11正下方的第二矩形框架12、固定连接并支撑该第一矩形框架11的第一直角和第二矩形框架12的第一直角位置处的第一支撑腿13、固定连接并支撑该第一矩形框架11的第二直角和第二矩形框架12的第二直角位置处的第二支撑腿14、固定连接并支撑该第一矩形框架11的第三直角和第二矩形框架12的第三直角位置处的第三支撑腿15、固定连接并支撑该第一矩形框架11的第四直角和第二矩形框架12的第四直角位置处的第四支撑腿16。
26.该第一矩形框架11的第一边框外侧面设有第一拼接槽17，该第一矩形框架11的第
二边框外侧面设有可插入至该第一拼接槽17内的第一拼接块18，该第一矩形框架11的第一边框和该第一矩形框架11的第二边框为该第一矩形框架11的相对两个框架。
27.该第一支撑腿13的外端面上设有第一挂扣19，该第四支撑腿16的外端面上设有第一挂件20，在相邻的两个分检台10拼接时，该第一挂扣19可插入至该第一挂件20的第一挂孔21内。
28.使用本发明的调光膜检膜台时，可将相邻两个分检台10中第一个分检台10的第一拼接块18插入至第二个分检台10的第一拼接槽17内，然后将第一挂扣19对准第一挂件20的第一挂孔21扣入，实现对相邻两个分检台10的拼装，组成所需大小的检膜台进行调光膜检测。在检测完成之后，可将第一挂件20与第一挂扣19分开，将第一拼接块18从第一拼接槽17内取出，实现对多个分检台10的拆分。
29.进一步的，为防止第一拼接块18轻易从第一拼接槽17内脱出，该第一拼接块18外套设有第一橡胶套22，该第一橡胶套22外设有第一防滑纹23。
30.通过设置第一橡胶套22，并在第一橡胶套22上设置第一防滑纹23，可增加第一拼接块18与第一拼接槽17配合的摩擦力，防止第一拼接块18轻易从第一拼接槽17内脱出。
31.同样的，该第二矩形框架12的第五边框外侧面设有第二拼接槽24，该第二矩形框架12的第六边框外侧面设有可插入至该第二拼接槽24内的第二拼接块25，该第二矩形框架12的第五边框和该第二矩形框架12的第六边框为该第二矩形框架12的相对两个框架。
32.在拼接相邻两个分检台10时，还可同时将第二拼接块25插入至第二拼接槽24内，使得相邻两个分检台10连接更加稳固。
33.同样的，为防止第二拼接块25轻易从第二拼接槽24内脱出，该第二拼接块25外套设有第二橡胶套26，该第二橡胶套26外设有第二防滑纹27。
34.通过设置第二橡胶套26，并在第二橡胶套26上设置第二防滑纹27，可增加第二拼接块25与第二拼接槽24配合的摩擦力，防止第二拼接块25轻易从第二拼接槽24内脱出。
35.同样的，该第二支撑腿14的外端面上设有第二挂扣，该第三支撑腿15的外端面上设有第二挂件，在相邻的两个分检台10拼接时，该第二挂扣可插入至该第二挂件的第二挂孔内。
36.具体的，该第一挂件20与该第四支撑腿16可转动连接，该第二挂件与该第三支撑腿15可转动连接。
37.该第一挂件20和第二挂件均为板状结构，其上分别设有第一挂孔21和第二挂孔，其通过转轴与第四支撑腿16和第三支撑腿15转到连接(如活页的转动结构)。在将相邻两个分检台10拼接在一起时，可转动第一挂件20直至第一挂扣19插入至第一挂孔21内，同样可转动第二挂件直至第二挂扣插入至第二挂孔内，即可实现相邻两个分检台10的稳固连接。
38.进一步的，为便于相邻两个分检台10之间实现电连接，该第四支撑腿16的外侧面设有向该第四支撑腿16内凹陷的电插座28，该第一支撑腿13的外侧面设有可插入至该电插座28内的电插头29。
39.在将相邻两个分检台10拼接在一起时，电插头29可插入至电插座28内，实现相邻两个分检台10之间电连接。
40.进一步的，该分检台10还包括与该电插座28电连接的导电夹30，该第一矩形框架11内设有可供该导电夹30的导线穿过的内孔，该第一矩形框架11上设有可供该导电夹30挂
设的挂架31。
41.在非使用状态时，可将导电夹30挂在挂架31上。优选的，该挂架31为“c”形挂架31。
42.进一步的，该第一支撑腿13底部设有第一橡胶底座32，该第二支撑腿14底部设有第二橡胶底座33，该第三支撑腿15底部设有第三橡胶底座34，该第四支撑腿16底部设有第四橡胶底座35，该第一矩形框架11内固设有第一玻璃板，该第二矩形框架12内固设有第二玻璃板。
43.在本发明的一种调光膜检测方法，该检测方法使用如上述检膜台，该检测方法包括：
44.拼接至少两个分检台形成该检膜台；
45.该调光膜两侧电极设置在调光膜两侧不同面上，在调光膜两侧电极上每隔30-200cm夹一个导电夹，通过该导电夹加在调光膜两侧电极上的电压为ac 0-220v；
46.每通电时长n秒后断电一次，每次通断电时间长度分别为n和m秒，总通断电时间长度为h小时；
47.通过高电压和长时间通电老化检测调光膜内的缺陷点。
48.优选的，该通电时长n为3-5秒后断电一次。该断电时长m为5-10秒，该总通断电时间长度h为30mi n-数个小时。在本技术中，该m、n、h可以根据测试需求进行调整。
49.实施本发明的调光膜检测方法时，根据调光膜的长度拼接检膜台，将调光膜放在拼接完成的检膜台上，然后将导电夹每隔30-200cm夹在调光膜上，每通电时长3-5秒后断电一次，如此循环进行30mi n-数个小时，检测调光膜上的缺陷点。
50.此外，在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“层叠”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
51.以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

技术特征：
1.一种调光膜检膜台，其特征在于，所述检膜台由至少两个分检台可拆卸拼接组成，所述分检台包括第一矩形框架、位于所述第一矩形框架正下方的第二矩形框架、固定连接并支撑所述第一矩形框架的第一直角和第二矩形框架的第一直角位置处的第一支撑腿、固定连接并支撑所述第一矩形框架的第二直角和第二矩形框架的第二直角位置处的第二支撑腿、固定连接并支撑所述第一矩形框架的第三直角和第二矩形框架的第三直角位置处的第三支撑腿、固定连接并支撑所述第一矩形框架的第四直角和第二矩形框架的第四直角位置处的第四支撑腿；所述第一矩形框架的第一边框外侧面设有第一拼接槽，所述第一矩形框架的第二边框外侧面设有可插入至所述第一拼接槽内的第一拼接块，所述第一矩形框架的第一边框和所述第一矩形框架的第二边框为所述第一矩形框架的相对两个框架；所述第一支撑腿的外端面上设有第一挂扣，所述第四支撑腿的外端面上设有第一挂件，在相邻的两个分检台拼接时，所述第一挂扣可插入至所述第一挂件的第一挂孔内。2.根据权利要求1所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述第一拼接块外套设有第一橡胶套，所述第一橡胶套外设有第一防滑纹。3.根据权利要求2所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述第二矩形框架的第五边框外侧面设有第二拼接槽，所述第二矩形框架的第六边框外侧面设有可插入至所述第二拼接槽内的第二拼接块，所述第二矩形框架的第五边框和所述第二矩形框架的第六边框为所述第二矩形框架的相对两个框架。4.根据权利要求3所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述第二拼接块外套设有第二橡胶套，所述第二橡胶套外设有第二防滑纹。5.根据权利要求1所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述第二支撑腿的外端面上设有第二挂扣，所述第三支撑腿的外端面上设有第二挂件，在相邻的两个分检台拼接时，所述第二挂扣可插入至所述第二挂件的第二挂孔内。6.根据权利要求5所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述第一挂件与所述第四支撑腿可转动连接，所述第二挂件与所述第三支撑腿可转动连接。7.根据权利要求1所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述第四支撑腿的外侧面设有向所述第四支撑腿内凹陷的电插座，所述第一支撑腿的外侧面设有可插入至所述电插座内的电插头。8.根据权利要求7所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述分检台还包括与所述电插座电连接的导电夹，所述第一矩形框架内设有可供所述导电夹的导线穿过的内孔，所述第一矩形框架上设有可供所述导电夹挂设的挂架。9.根据权利要求1所述的调光膜检膜台，其特征在于，所述第一支撑腿底部设有第一橡胶底座，所述第二支撑腿底部设有第二橡胶底座，所述第三支撑腿底部设有第三橡胶底座，所述第四支撑腿底部设有第四橡胶底座，所述第一矩形框架内固设有第一玻璃板，所述第二矩形框架内固设有第二玻璃板。10.一种调光膜检测方法，使用如权利要求1-9中任一项所述检膜台，其特征在于，所述检测方法包括：拼接至少两个分检台形成所述检膜台；所述调光膜两侧电极设置在调光膜两侧不同面上，在调光膜两侧电极上每隔30-200cm
夹一个导电夹，通过所述导电夹加在调光膜两侧电极上的电压为ac 0-220v；每通电时长n秒后断电一次，每次通断电时间长度分别为n和m秒，总通断电时间长度为h小时；通过高电压和长时间通电老化检测调光膜内的缺陷点。

技术总结
本发明公开了一种调光膜检膜台及检测方法，其中，该检膜台由至少两个分检台可拆卸拼接组成，分检台包括第一矩形框架、位于第一矩形框架正下方的第二矩形框架、固定连接并支撑第一矩形框架的第一直角和第二矩形框架的第一直角位置处的第一支撑腿、固定连接并支撑第一矩形框架的第二直角和第二矩形框架的第二直角位置处的第二支撑腿、固定连接并支撑第一矩形框架的第三直角和第二矩形框架的第三直角位置处的第三支撑腿、固定连接并支撑第一矩形框架的第四直角和第二矩形框架的第四直角位置处的第四支撑腿；第一矩形框架的第一边框外侧面设有第一拼接槽，第一矩形框架的第二边框外侧面设有可插入至第一拼接槽内的第一拼接块。接块。接块。


技术研发人员：高攀 朱厚山 许鹏 赵明奎
受保护的技术使用者：上海膜本新材料科技有限公司
技术研发日：2022.12.07
技术公布日：2023/9/23