一种板式阵列电容器的电性能测量方法与流程

1.本发明涉及电容器电性能测量技术领域，具体涉及一种板式阵列电容器的电性能测量方法。


背景技术：

2.板式阵列电容器是一种穿心电容器的集成元件，引出端数量多是它的突出特点。引出端类型可分为接地极引出端和信号极引出端两种，通常对于单只产品而言，接地极引出端只有一个，位于产品的外缘电极部位；而信号极引出端则有多个，位于产品上各个孔的电极部位。在耐电压和绝缘电阻参数测量时，不仅需要测量每个信号极对地的参数值，而且需要测量相邻信号极(以下简称相邻孔或孔间)之间的参数值。
3.在板式阵列电容器上，一个孔往往与多个孔相邻，若以一对相邻孔构成一组孔间参数的测量组合，则可以形成多个测量组合。图1中虚线框选的则是1#孔和所有与之相邻的孔，若将板式阵列电容器上所有孔的相邻组合都统计出来，则这个数量是非常庞大的。传统的测量方法是：由人工进行一个组合、一个组合的测量，直至完成所有组合的测量，工作强度大，且数据多防呆效果差，难以快速判别良品与不良品，即难以满足快速判别所有相邻孔之间的耐电压、绝缘电阻参数是否符合要求。因此，亟需一种能够快速判别板式阵列电容器电性能是否达标的测量方法。


技术实现要素：

4.(一)要解决的技术问题
5.鉴于现有技术的上述缺点和不足，本发明提供一种板式阵列电容器的电性能测量方法，其解决了板式阵列电容器的电性能测量方法的测量数据多、速度慢的技术问题。
6.(二)技术方案
7.为了达到上述目的，本发明的板式阵列电容器的电性能测量方法包括：
8.s1、将板式阵列电容器上所有近似行分布的信号孔通过多根导线电连接；
9.s2、将s1中所有间隔行分布的多根导线电连接，形成第一导线编组和第二导线编组，所述第一导线编组和所述第二导线编组分别与测量仪电连接，完成所有相邻行的组合测量；
10.s3、将所述板式阵列电容器上所有近似列分布的所述信号孔通过多根导线电连接；
11.s4、将s3中所有间隔列分布的多根导线电连接，形成第三导线编组和第四导线编组，所述第三导线编组和所述第四导线编组分别与所述测量仪电连接，完成所有相邻列的组合测量；
12.s5、综合s2和s4的组合测量结果，分析所述板式阵列电容器的电性能是否达标。
13.可选地，执行s1和s2时，通过第一插针组进行辅助测量；
14.将所述第一导线编组和所述第二导线编组提前设置于所述第一插针组上；
15.将所述第一插针组的多根插针一一对应地同步插入多个所述信号孔内；
16.将所述第一导线编组和所述第二导线编组分别与所述测量仪电连接。
17.可选地，执行s3和s4时，通过第二插针组进行辅助测量；
18.将所述第三导线编组和所述第四导线编组提前设置于所述第二插针组上；
19.将所述第二插针组的多根插针一一对应地同步插入多个所述信号孔内；
20.将所述第三导线编组和所述第四导线编组分别与所述测量仪电连接。
21.可选地，执行s1或s3时，同一行上的导线呈s形依次穿过多个信号孔。
22.可选地，执行s1或s3时，导线上阵列焊接有多根插针，将多根插针一一对应地插入所述信号孔。
23.可选地，根据s2的组合测量结果判别是否执行s3；
24.若s2的组合测量结果达标，则执行s3；
25.若s2的组合测量结果不达标，则进行下一板式阵列电容器的测量。
26.可选地，根据s5的组合测量结果判别良品、第一残次品、第二残次品和不良品。
27.(三)有益效果
28.本发明的有益效果是：
29.通过第一导线编组和第二导线编组将板式阵列电容器上所有近似行分布的信号孔电连接，通过测量仪对板式阵列电容器所有行分布方式下的信号孔的电性能进行统一测量，能够快速判别行分布方式下的多个信号孔的电性能是否达标。同理，再通过测量仪对板式阵列电容器所有列分布方式下的信号孔的电性能进行统一测量，能够快速判别列分布方式下的多个信号孔的电性能是否达标。综合行分布方式下和列分布方式下的测量结果，就能够快速判别所测板式阵列电容器的电性能是否达标，大大减少了测量数据，缩短了检测工时，能够适用于大批量规模性的板式阵列电容器的电性能检测。
附图说明
30.图1为本发明的板式阵列电容器的结构示意图；
31.图2为本发明的非矩形板式阵列电容器的行间编组测量的电路示意图；
32.图3为本发明的非矩形板式阵列电容器的列间编组测量的电路示意图；
33.图4为本发明的第一插针组与板式阵列电容器的连接示意图；
34.图5为本发明的第一导线编组和第二导线编组的电路示意图；
35.图6为本发明的第三导线编组和第四导线编组的电路示意图；
36.图7为本发明的矩形板式阵列电容器的行间编组测量的电路示意图；
37.图8为本发明的矩形板式阵列电容器的列间编组测量的电路示意图。
38.【附图标记说明】
39.1：板式阵列电容器；11：信号孔；
40.2：测量仪；
41.3：第一导线编组；
42.4：第二导线编组；
43.5：第一插针组；
44.6：第三导线编组；
45.7：第四导线编组。
具体实施方式
46.为了更好的解释本发明，以便于理解，下面结合附图，通过具体实施方式，对本发明作详细描述。
47.需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
48.另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
49.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；“连接”可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
50.本发明提供一种板式阵列电容器的电性能测量方法，测量方法包括：
51.s1、参见图1和图2，将板式阵列电容器1上所有近似行分布的信号孔11通过多根导线电连接；
52.s2、如图5所示，将s1中所有间隔行分布的多根导线电连接，形成第一导线编组3和第二导线编组4，第一导线编组3和第二导线编组4分别与测量仪2电连接，完成所有相邻行的组合测量；
53.s3、参见图3，将板式阵列电容器1上所有近似列分布的信号孔11通过多根导线电连接；
54.s4、如图6所示，将s3中所有间隔列分布的多根导线电连接，形成第三导线编组6和第四导线编组7，第三导线编组6和第四导线编组7分别与测量仪2电连接，完成所有相邻列的组合测量；
55.s5、综合s2和s4的组合测量结果，分析板式阵列电容器1的电性能是否达标。
56.通过第一导线编组3和第二导线编组4将板式阵列电容器1上所有近似行分布的信号孔11电连接，通过测量仪2对板式阵列电容器1所有行分布方式下的信号孔11的电性能进行统一测量，能够快速判别行分布方式下的多个信号孔11的电性能是否达标。同理，再通过测量仪2对板式阵列电容器1所有列分布方式下的信号孔11的电性能进行统一测量，能够快速判别列分布方式下的多个信号孔11的电性能是否达标。综合行分布方式下和列分布方式下的测量结果，就能够快速判别所测板式阵列电容器1的电性能是否达标，大大缩短了检测工时，能够适用于大批量规模性的板式阵列电容器1的电性能检测。
57.需要说明的是，本发明电性能指的是耐电压和绝缘电阻，本发明的目的在于快速判别板式阵列电容器1的电性能是否达标，而非精确测量电性能的具体数值。其他电性能参数的测量在采用本技术的技术方案时，依旧处于本发明的保护范围内。
58.本发明的测量原理是基于耐电压和绝缘电阻的测量原理，以耐电压的测量原理为例进行说明，具体是将一个高于正常工作的电压加在板式阵列电容器1上，并持续一段时间，如果板式阵列电容器1的绝缘性达标，加在上面的电压就只会产生很小的漏电流(由测量仪2进行监测)，如果漏电流在持续时间内保持在预设范围内，就可以确定该板式阵列电容器1的绝缘性达标，可以在正常的运行条件下安全运行。基于此，本发明通过测量仪2对第一导线编组3和第二导线编组4施加一高于正常工作的电压，如果测量仪2的表头在持续时间内的电流的测值保持在预设范围内，则该板式阵列电容器1在行分布方式下的绝缘性达标，也即耐电压达标，否则，则不达标。同理，再对第三导线编组6和第四导线编组7施加一高于正常工作的电压，确认该板式阵列电容器1在列分布方式下的绝缘性。综合行分布方式下和列分布方式下的绝缘性测量结果，若两者均达标，则该板式阵列电容器1的绝缘性达标，否则，则不达标。板式阵列电容器1的绝缘电阻的测量方法可类比耐电压的测量方法，不再赘述。
59.如图4所示，执行s1和s2时，通过第一插针组5进行辅助测量；将第一导线编组3和第二导线编组4提前设置于第一插针组5上；将第一插针组5的多根插针一一对应地同步插入多个信号孔11内；将第一导线编组3和第二导线编组4分别与测量仪2电连接。具体地，第一插针组5包括多根插针，插针的数量、尺寸与板式阵列电容器1上的信号孔11的数量、尺寸相适配。插针插入信号孔11内后，与信号孔11的电极连接，方便后续直接对插针进行操作。再将第一导线编组3和第二导线编组4焊接或黏贴在第一插针组5的顶端，完成所有行分布的插针的电气连接，也即所有行分布的信号孔11的电气连接。
60.进一步地，执行s3和s4时，通过第二插针组进行辅助测量；将第三导线编组6和第四导线编组7提前设置于第二插针组上；将第二插针组的多根插针一一对应地同步插入多个信号孔11内；将第三导线编组6和第四导线编组7分别与测量仪2电连接。第二插针组的使用方法可类比第一插针组5的使用方法，不再赘述。第一插针组5和第二插针组可以通过卡盘固定，以防止多根插针晃动错位，保证多根插针移动过程中的稳定性，以保证多根插针与多个信号孔11的对孔精度，方便操作人员对孔。第一导线编组3和第二导线编组4可以提前布置在多根插针上，将其作为一个辅助测量工具使用，进一步节省了测量工时。
61.其次，执行s1或s3时，同一行上的导线呈s形依次穿过多个信号孔11。导线为软导线，能够发生一定形变。导线呈s形依次穿过多个信号孔11，实现电连接的同时，也增强了多根导线的稳固性，便于测量；测量完后，直接抽出多根导线即可，实现了导线的快速拆装。本实施方式由人工手动穿插导线，灵活性较高，能够提高对不同类型的板式阵列电容器1测量的适应性，即不同类型的板式阵列电容器1上的多个信号孔11的分布位置可能不同，人工手动穿插导线对多类型板式阵列电容器1的电气连接的适应性强。
62.另外，执行s1或s3时，导线上阵列焊接有多根插针，将多根插针一一对应地插入信号孔11。本实施方式中，导线为软导线，插针为硬导体，导线能够承受一定形变，以便于多根插针对应插入多个信号孔11内；同时，各插针的间距能够在一定范围内变动，对多类型板式阵列电容器1的电气连接的适应性强。
63.进一步地，根据s2的组合测量结果判别是否执行s3；若s2的组合测量结果达标，则执行s3；若s2的组合测量结果不达标，则进行下一板式阵列电容器1的测量。本实施方式的目的在于筛分良品和不良品，良品即为s2和s4均达标的产品，否则为不良品。若板式阵列电
容器1的s2的检测结果不达标，则说明该板式阵列电容器1为不良品，无需再进行s3，节省产品的检测工时，实现良品和不良品的快速筛分。当然s3和s4也可以先于s1和s2执行，若s4的检测结果不达标，则无需再进行s1和s2。
64.其次，根据s5的组合测量结果判别良品、第一残次品、第二残次品和不良品。本实施方式的目的在于精确区分板式阵列电容器1的缺陷等级，如s2、s4的组合测量结果均达标，则判别为良品；如s2的组合测量结果达标，s4的组合测量结果不达标，则判别为第一残次品；如s2的组合测量结果不达标，s4的组合测量结果达标，则判别为第二残次品；如s2、s4的组合测量结果均不达标，则判别为不良品。通过检测仪自动记录产品测量结果，当完成一批次板式阵列电容器1的检测后，能够从检测仪上直观地得到本批次中良品、第一残次品、第二残次品和不良品的数量。
65.图1至图3为本发明的非矩形板式阵列电容器1，图7和图8为本发明的矩形板式阵列电容器1，矩形板式阵列电容器1相较于非矩形板式阵列电容器1而言，矩形板式阵列电容器1上的多个信号孔11分布均匀，导线布置难度低；非矩形板式阵列电容器1上的多个信号孔11分布较为分散，无规律，以近似行分布或列分布的方式布置导线。但无论是哪种实施例，本发明的测量方法均适用，对于其他形状的板式阵列电容器1，如也能够采用本发明的测量方法进行测量，则对应形状的板式阵列电容器1也处于本发明的保护范围内。
66.需要理解的是，以上对本发明的具体实施例进行的描述只是为了说明本发明的技术路线和特点，其目的在于让本领域内的技术人员能够了解本发明的内容并据以实施，但本发明并不限于上述特定实施方式。凡是在本发明权利要求的范围内做出的各种变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。

技术特征：
1.一种板式阵列电容器的电性能测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：s1、将板式阵列电容器(1)上所有近似行分布的信号孔(11)通过多根导线电连接；s2、将s1中所有间隔行分布的多根导线电连接，形成第一导线编组(3)和第二导线编组(4)，所述第一导线编组(3)和所述第二导线编组(4)分别与测量仪(2)电连接，完成所有相邻行的组合测量；s3、将所述板式阵列电容器(1)上所有近似列分布的所述信号孔(11)通过多根导线电连接；s4、将s3中所有间隔列分布的多根导线电连接，形成第三导线编组(6)和第四导线编组(7)，所述第三导线编组(6)和所述第四导线编组(7)分别与所述测量仪(2)电连接，完成所有相邻列的组合测量；s5、综合s2和s4的组合测量结果，分析所述板式阵列电容器(1)的电性能是否达标。2.根据权利要求1所述的板式阵列电容器的电性能测量方法，其特征在于，执行s1和s2时，通过第一插针组(5)进行辅助测量；将所述第一导线编组(3)和所述第二导线编组(4)提前设置于所述第一插针组(5)上；将所述第一插针组(5)的多根插针一一对应地同步插入多个所述信号孔(11)内；将所述第一导线编组(3)和所述第二导线编组(4)分别与所述测量仪(2)电连接。3.根据权利要求1所述的板式阵列电容器的电性能测量方法，其特征在于，执行s3和s4时，通过第二插针组进行辅助测量；将所述第三导线编组(6)和所述第四导线编组(7)提前设置于所述第二插针组上；将所述第二插针组的多根插针一一对应地同步插入多个所述信号孔(11)内；将所述第三导线编组(6)和所述第四导线编组(7)分别与所述测量仪(2)电连接。4.根据权利要求1所述的板式阵列电容器的电性能测量方法，其特征在于，执行s1或s3时，同一行上的导线呈s形依次穿过多个信号孔(11)。5.根据权利要求1所述的板式阵列电容器的电性能测量方法，其特征在于，执行s1或s3时，导线上阵列焊接有多根插针，将多根插针一一对应地插入所述信号孔(11)。6.根据权利要求1所述的板式阵列电容器的电性能测量方法，其特征在于，根据s2的组合测量结果判别是否执行s3；若s2的组合测量结果达标，则执行s3；若s2的组合测量结果不达标，则进行下一板式阵列电容器(1)的测量。7.根据权利要求1所述的板式阵列电容器的电性能测量方法，其特征在于，根据s5的组合测量结果判别良品、第一残次品、第二残次品和不良品。

技术总结
本发明涉及电容器电性能测量技术领域，具体涉及一种板式阵列电容器的电性能测量方法，测量方法包括S1、将板式阵列电容器上所有近似行分布的信号孔通过多根导线电连接；S2、将S1中所有间隔行分布的多根导线电连接，形成第一导线编组和第二导线编组，第一导线编组和第二导线编组分别与测量仪电连接，完成所有相邻行的组合测量；S3、将板式阵列电容器上所有近似列分布的信号孔通过多根导线电连接；S4、将S3中所有间隔列分布的多根导线电连接，形成第三导线编组和第四导线编组，第三导线编组和第四导线编组分别与测量仪电连接，完成所有相邻列的组合测量；S5、综合S2和S4的组合测量结果，分析板式阵列电容器的电性能是否达标。析板式阵列电容器的电性能是否达标。析板式阵列电容器的电性能是否达标。


技术研发人员：史晓杰 赵丽颖 刘跃跃 刘刚
受保护的技术使用者：北京七星飞行电子有限公司
技术研发日：2023.08.11
技术公布日：2023/10/6