用于在粘弹性介质中进行微观流变测量的方法和装置与流程

用于在粘弹性介质中进行微观流变测量的方法和装置
1.相关申请的交叉引用
2.本技术要求于2021年2月15日提交的专利申请号ep21382121.8的优先权。
技术领域
3.本公开涉及一种通过采用作用于位于粘弹性介质中的单个颗粒上的至少两个光陷阱来在所述介质中执行微流变测量的方法和装置。


背景技术：

4.光镊(或光陷阱)是高度聚焦的激光器，其允许捕获悬浮介质中的颗粒，而无需与物体进行任何物理接触。使用高倍率透镜(例如显微镜物镜)，聚焦在透镜焦平面上的激光束可以对微米大小的物体施加吸引力。通过偏转激光，颗粒也可以在悬浮介质内偏移。
5.通过使用一些能够改变光束的波前的装置，可以进一步提高该技术的操控能力，从而从单个激光源开始在样品处生成多个光陷阱。这允许设计更复杂的实验，其中同时操纵多个颗粒或将单个大物体固定在不同的点。用于产生多个陷阱的装置分为两组：那些例如通过偏振分离光束来同时创建多个陷阱的装置，以及那些例如通过使用声光偏转器(aod)能够高速在多个位置之间切换激光束的位置的装置，使得通过分时光束能量来有效地创建不同的陷阱。这些技术可以与通常称为后焦平面干涉测量(bfpi)的技术结合使用，以测量激光束施加在颗粒上的力以及捕获颗粒的位移。
6.在改进的bfpi程序中，如us 8,637,803 b2的程序，聚光透镜用于捕获被颗粒散射和未被颗粒散射的光，并将这种光投射到光电检测器上，该光电检测器提供与光陷阱中的颗粒位移成比例的电压。比例常数取决于颗粒的形状、其光学特性以及介质的光学特性。
7.光镊施加在可捕获物体或颗粒上的力可以被示出与物体平衡位置的(小)位移成正比，即光陷阱的捕获势阱在其底部可以被认为是二次的。在树维情况下，二次势通常是具有三个主轴的椭圆抛物面。在瑞利状态的情况下，对于小于激光束波长的颗粒有效(例如，如果波长lambda＝1064nm，则颗粒应小于1um)，主轴之一沿形成陷阱的聚焦的激光束的传播方向定向。该方向由正交参考系的z轴确定。其他两个主轴(x和y)的方向取决于激光束的强度分布，其主方向用于定义x轴和y轴。在较大颗粒的情况下，主轴的方向通常取决于光陷阱的强度分布和颗粒的形状。然而，在实践中，选择颗粒的形状，或者至少其方向，以保证它们的方向与瑞利体系所描述的方向相匹配。这是球形颗粒或具有z轴对称性的颗粒的情况。
8.激光束在颗粒上施加的力和激光焦点相对于颗粒的“光”心的位置x(即颗粒内部激光束不施加任何力的点)之间的比例常数被称为陷阱刚度k。一般来说，k是矩阵，其通过选择表示光陷阱的二次势的椭圆抛物面的三个主轴作为用于表示相对于光心和力矢量f的位置矢量d的优选参考系统的方向轴。在这种情况下，以下关系成立：fx＝k
x
·
x，fy＝ky·
y，fz＝kz·
z，其中d＝(x，y，z)并且f＝(fx，fy，fz)。
9.bfpi程序中使用的光电检测器也以主轴为参考进行定向，以获得与(x，y)成比例的两个电压(vx，vy)。
10.如上所述，us 8,637,803 b2中公开了一种改进的且优选的bfpi程序。在此程序中，高数值孔径透镜被定位为捕获颗粒散射的大部分激光束，将光投射到特定类型的光电检测器上，该光电检测器提供与光束偏转成比例的信号。通过使用bfpi的优化版本，检测器提供的电压是光陷阱施加在颗粒上的光力的直接度量。在这种情况下，电压和力之间的比例常数是绝对的，即与颗粒的物理特性无关。与使用需要利用“被动”校准技术来确定k的通用bfpi过程相比，这种直接力测量还可以更简单、更精确地估计kx或ky。与改进的bfpi方法以便估计嵌入高粘性介质中的颗粒的k相比，“被动”方法变得非常不精确。
11.在使用光镊进行微流变研究时，需要精确了解力f和随后的颗粒的偏移xp。


技术实现要素：

12.在第一方面，一种在粘弹性介质中进行微流变测量的方法采用作用于位于所述介质中的单个颗粒的至少两个光陷阱，并且包括以下步骤：
13.—选择比介质硬的颗粒；
14.—将颗粒放入介质内；
15.—从单个激光源生成单个激光束；
16.—将单个激光束分成第一激光束和第二激光束；
17.—通过将第一激光束聚焦在颗粒中来产生作用于颗粒的第一光陷阱；
18.—通过将第二激光束聚焦在颗粒中产生作用于颗粒的第二光陷阱；
19.—将第一和第二光陷阱定位在颗粒的光心；
20.—以与时间相关的运动将第二光陷阱移出颗粒的光心；
21.—利用光电检测器使用后焦平面干涉测量法(bfpi)以获取代表由所述第一光陷阱施加在所述颗粒上的力的电压信号v1(t)的第一时间序列；
22.—利用所述光电检测器使用bfpi来获取代表由所述第二光陷阱施加在所述颗粒上的力的电压信号v2(t)的第二时间序列；
23.—将由所述第一和第二光陷阱施加在所述颗粒上的力计算为时间序列f(t)＝a
·
(v1(t)+v2(t))，其中a是取决于所述颗粒的形状、所述颗粒的光学性质和所述介质的光学性质的比例常数；
24.—将所述颗粒的位移xp(t)计算为时间序列xp(t)＝-a
·
v1(t)/k，其中k是所述第一光陷阱的陷阱刚度；和
25.—从两个时间序列f(t)和xp(t)的对应值导出所述介质的至少一个微流变量值。
26.在第二方面，用于执行这种方法的装置包括被配置为产生作用于颗粒的光陷阱的光学装置，所述光学装置包括适合于生成单个激光束的单个激光源，以及被配置为提供了与光束偏转成比例的电压信号的光电检测器。
27.本公开的进一步的优点、特性、方面和特征可以从下面描述的示例中得出。如果需要的话，上述特征和/或在权利要求和/或以下实施例的描述中公开的特征也可以彼此组合，即使没有明确地详细描述。
附图说明
28.附图是与聚丙烯酰胺凝胶的流变性质相关的两个曲线图。
具体实施方式
29.光陷阱与bfpi测量相结合能够有助于表征软材料的流变特性。流变学涉及软材料的变形和流动的研究。这对于细胞、聚合物、凝胶和任何其他既表现为弹性材料(保守)又表现为粘性材料(耗散)的材料的机械表征特别感兴趣。弹性材料的弹性行为由两个二阶张量表示，即应变张量ε和应力张量σ，其通过胡克定律相互连接，涉及四阶张量，通常称为弹性张量。在软材料的情况下，做出许多假设来简化问题。在生物学中，软材料被认为是不可压缩的，弹性份额模量和杨氏模量通过已知因素相连。通常，仅静态地并通过使用简单的模型来考虑机械各向异性，例如横向各向同性纤维模型，其特征在于与树无关的参数。当动态进行研究时，为了观察材料耗散部分的影响，该方法进一步简化，并且变得类似于表征粘性各向同性液体的方法。
30.在下文描述的方法中，可被光陷阱捕获的颗粒被嵌入需要表征的粘弹性介质中，并且通过沿着主轴x或y(z轴是聚焦捕获光束的传播方向)移动光陷阱将力f施加到颗粒。
31.颗粒被认为与力共线移动。标量函数f(t)和xp(t)分别对应于力和颗粒位移矢量的标量矢量分量fx(t)或fy(t)以及xp(t)或yp(t)。介质剪切模量g成为标量时间函数，其通过积分方程p
·
\int g(t-t')
·
xp(t')dt'＝f(t)将颗粒的位移xp(t)与力f(t)相连，其中p是取决于半径为r的球形颗粒的探针p＝6\pi r的几何形状(形状)的常数。
32.有时使用线性响应函数x(t)代替剪切模量函数会很方便，因为后者描述了施加到颗粒f(t)上的力与其位移xp(t)之间的因果关系：xp(t)＝\int\x(t-t')
·
f(t')
·
dt'，其中\int\表示“积分”。
33.两个函数g(t)和x(t)之间的连接在傅里叶空间中很明显，其中g*(ω)
·
x*(ω)＝1/p，g*并且chi*是频率ω的复函数。
34.微观流变学研究主要使用三种标准测试。两种在时域中工作，一种在频域中工作。在时域中执行的测试是：(i)蠕变测试，其中将力f(t)＝f
·
h(t)(h(t)是heaviside阶跃函数)施加到颗粒和时间行为颗粒的位移行为允许计算蠕变函数j(t)＝-\int\x(t-t')
·
dt'；(ii)应力关系测试，其中对颗粒施加阶跃位移，xp(t)＝x0
·
h(t)，力的时间行为通过方程f(t)/p*x0＝\int\g(t-t')
·
dt'与剪切模量函数相关。
35.为了研究粘弹性介质在时域中的物理特性，通过改变搜索参数使用如kelvin-voigt的简单模型来拟合函数j(t)和f(t)。在最简单的情况(开尔文-沃伊特)中，参数只有两个：弹性和粘度。
36.对于频域研究，在外部振荡力的作用下测量颗粒的位移xp(t)，f(t)＝f
·
sin(ω
·
t)，复响应函数x*(ω)＝p
·
xp*(ω)/f*(ω)，或者可替代性地，可以确定介质的复剪切模量g*(ω)＝f*(ω)/(p
·
xp*(ω))，其中xp*(ω)和f*(ω)分别通过时间相关信号xp(t)和f(t)的傅里叶变换获得。
37.这些大小提供了有关介质粘弹性的信息，即介质在压力下如何变形和流动。粗略地说，实部g'＝re{g*}描述弹性，而虚部g”＝im{g*}描述粘度。
38.光镊允许在对颗粒施加外力的同时测量颗粒位移，并且它们可以成为表征具有使用该技术可达到的g*范围内的流变特性的材料(介质)的有用工具。光陷阱可寻址的典型值从几十pa到kpa。光陷阱施加的力通常限制在数百皮牛顿(取决于激光的最大功率)，并且测量的g*的上限由当介质变硬时系统检测越来越小的颗粒位移的能力(示踪剂)确定。
39.对于软材料或单分子研究，使用单个陷阱对颗粒施加力f(t)并确定颗粒的位移xp(t)。只需使用激光焦点的位移xl(t)和施加的力f(t)通过使用陷阱的(标量)刚度k来计算颗粒的位移xp(t)。事实上，很容易证明xp(t)＝xl(t)-f(t)/k。
40.这种方法可达到的g*上限限于剪切模量为数十pa的材料。这是因为xl(t)迅速变成比x(t)大几个数量级，并且xl(t)和f(t)/k之间的差异引入的误差变得太大而无法给出准确的结果。然而，这种方法主要用于使用多个光陷阱的配置，这些光陷阱从单个激光源开始作用于不同的颗粒，如上所述。在与流变学研究相关的文献中，不同的光陷阱总是作用于不同的颗粒，以研究嵌入它们的介质的粘弹性特性。
41.对于刚性或相对刚性的材料，通常引入第二激光(通常称为检测激光)，只是为了使用通用bfpi过程直接和精确地测量颗粒位移xp(t)。所得设置包括由两个独立激光源产生的并且具有不同波长的两个激光束，一束是强大的激光，通常是1064nm激光，用于操纵样品，即产生力f，另一束是弱得多的检测激光，其工作在不同的波长。本领域普遍认为，检测激光的功率应该非常低，并且两个激光应该在不同的波长下工作，以便物理上将力f(t)的测量与位移xp(t)的测量解耦。
42.然而，本发明人发现这种普遍看法并不正确，特别是对于刚性材料。关键是直接获取颗粒位移xp(t)，而不必知道光陷阱位移xl(t)。两个激光的耦合实际上对于力测量的准确性并不重要，如下所述。
43.在下文公开的方法中，使用由同一激光源产生的两个光陷阱，一个用于测量位置xp(t)，并且两个光陷阱都向颗粒施加外力f(t)。在刚性材料的情况下，该方法可以达到与上述激光检测方法可达到的精度相当的精度。
44.已知的激光检测方法允许测量kpa范围内的复数剪切模量，因为可以检测纳米级颗粒的位移。然而，这种设置有几个重要的缺点。一个重要的限制是，由于使用两个激光源，两个激光必须在颗粒上完美对准，以便对于颗粒在微流变研究期间将经历的所有位移，检测器信号与颗粒位移成比例。这需要非常精确的光学对准以及将两个激光器集中于探头光心的能力，特别是当颗粒由于介质的弹性组件产生的限制效应而无法自然落入潜在捕获阱的底部时。
45.当前公开的方法从单个激光束开始产生两个光陷阱的事实使得所得设置的光学对准变得更加容易。两个光陷阱自然聚焦在同一(x,y)平面上。用于产生两个光陷阱的装置可以是光偏转装置，其在两个位置之间引导激光束，从而产生两个永久陷阱的效果；或者是任何类型的偏振分束器，后续设置至少一个电流镜以将偏振光束中的至少一束偏转到第二位置。
46.为了正常工作，本方法假设两个光陷阱聚焦在其上的颗粒的剪切模量比其中颗粒嵌入或悬浮的介质的剪切模量大几个数量级，其粘弹性为微观流变学研究的对象。这是为了避免颗粒的内部变形叠加到颗粒质心的位移并扰乱f(t)和x(t)的数学解耦。例如，颗粒的剪切模量可以比介质的(真实)剪切模量高10、100或1000倍。或者颗粒可以是刚体。
47.通过使用改进的bfpi程序，分别获得与trap1(第一光陷阱)和trap2(第二光陷阱)对同一颗粒独立施加的力成比例的两个电压信号v1(t)和v2(t)：f1(t)＝a1
·
v1(t)和f2(t)＝a2
·
v2(t)。取决于力是沿x轴还是y轴施加，v1(t)和v2(t)分别是一对标量矢量分量v1x(t)、v2x(t)或v1y(t)、v2y(t)。在正确校准后，在两个原始信号之间，比例常数a1＝a2＝
a可以认为是相同的。通常a取决于颗粒的形状及其光学特性，还取决于其中颗粒嵌入的介质的光学特性。
48.如果使用分时技术来产生两个光陷阱，则使用与用于切换激光位置的信号同步的单个光电检测器以分离两个信号就足够了。为了获得相同的比例常数，必须在分时周期内对两个原始瞬时信号v1'(t)和v2'(t)进行平均。
49.在使用偏振技术的情况下，需要配备各自偏振滤光片的两个光电检测器来提取v1'(t)和v2'(t)。两个偏振陷阱的强度分布、两个后焦平面干涉仪的电子跨导和光学传输的差异使得原始比例常数a1'和a2'不同。然而，重新标准化v1(t)＝v1'(t)
·
a1'/a2'并考虑v2(t)＝v2'(t)不变就足以为两个信号v1(t)和v2(t)获得相同的比例a＝a1＝a2常数。
50.在开始数据获取之前，trap1位于颗粒的光心，即捕获势阱的底部，其中由于陷阱的存在导致没有外力作用在该点(光心)上。捕获势阱在3维空间中定义。它在(x,y)捕获平面和z轴上的被确定中心必须以不同的方式处理，如下所述。
51.一旦trap1被确定中心，trap2就会在颗粒内部移动到与trap1相同的位置。然后trap2移出光心，从而产生净外力f(t)。在频域研究中，trap2开始围绕与其周期性交叉的光心振荡，并以频率ω产生颗粒的谐波位移，而trap1保持固定。在等待一段时间后，获取bfpi提供的信号v1(t)和v2(t)。两个光陷阱trap1和trap2对颗粒施加的外力仅为两个部分f1和f2的总和。由此可见f(t)＝a
·
(v1(t)+v2(t))。
52.颗粒位移xp(t)可以直接从trap1的信号推导出：xp(t)＝-x(t)＝-f1(t)/k＝-a
·
v1(t)/k，其中k是trap1的kx或ky陷阱刚度。这是因为，一旦被确定中心，trap1相对于光镊系统保持固定，因此颗粒位移xp(t)对应于颗粒的光心相对于trap1位置的位置。由于信号x(t)是trap1相对于颗粒光心的位置，因此xp(t)＝-x(t)。
53.在频域研究的情况下，一旦获取两个信号v1(t)和v2(t)并获得它们各自的傅里叶变换v1*(ω)和v2*(ω)，就可以利用方程g*(ω)＝-f*(ω)/(p
·
x*(ω))＝-k
·
(v1*(ω)+v2*(ω))/(v1*(ω))
·
p)计算复剪切模量g*(ω)。
54.应当注意，按照所公开的方法获得的复数剪切模量不取决于信号与光陷阱施加的力之间的比例常数a。使用通用bfpi程序，常数a的有效性仅限于陷阱刚度k的线性区域，而改进的bfpi提供了光力的直接测量，使得上述g*(ω)方程有效，即使当trap2的振荡很大使得光陷阱位移与光力之间的关系不是线性时。此外，改进的bfpi程序以更高的精度和更简单的方式提供了第一个光陷阱的刚度k。
55.如前所述，该方法将光陷阱放置在颗粒光心的能力也很重要。否则，激发力f与质点位移x不共线，并且计算出的g*(ω)结果不准确。
56.任何光陷阱的光学确定中心分两步进行。首先，光陷阱在光陷阱聚焦并且可以使用aod或电流镜移动它们的(x,y)平面上被确定中心。一旦(x,y)平面上确定中心，通过移动显微镜载物台或通过压电致动器将光陷阱在z轴上确定中心。
57.为了实现(x,y)上确定中心，trap1仅通过使用显微镜图像来定位颗粒，即可手动定位在颗粒的捕获势阱内。一旦在捕获势阱内，就使用涉及trap1的(v1x,v1y)和位置(x,y)的自动算法以交互方式查找势函数的局部最小值。该自动算法的实施例使用反馈环算法，其通过使用trap1的测量信号(v1x，v1y)和位置(x，y)来计算trap1的新位置(x_new，y_new)。更明确地说，(x_new,y_new)＝(x,y)-ki(v1x,v1y)，其中ki是可调常数。这可以被认
为是梯度下降算法的实际实现，以找到潜在的最小值。该算法在最大迭代后或一旦v1x^2+v1y^2的平方根变得小于误差值时停止。
58.一旦将电势中心定位在(x,y)平面上，当trap1沿x轴执行固定幅度的小振荡时，通过最大化v1x*(ω)信号的幅度来完成z轴确定中心。可以实现梯度上升算法来自动找到v1x*(ω)的最大值。找到的z点可能不对应于颗粒光心的z坐标，但在球形颗粒的情况下，对应于其几何中心或质心。然而，在射线极限近似的情况下，对于半径大于激光波长的球形颗粒，这两点之间的距离仅为颗粒半径的几个百分点。
59.与已知方法相比，所公开的方法具有许多优点。特别是，它允许通过使用光镊设置的单个激光源来研究刚度为kpa量级的硬软材料的特性，该光镊设置用于创建两个独立的陷阱，这些陷阱通过嵌入感兴趣介质中的相对刚性的颗粒进行散射。并且通过移动一个光陷阱并以简单的方式组合bfpi获得的信号，可以精确地推断出介质的复剪切模量g*(ω)，而无需使用困难的激光检测技术。
60.尽管本文仅公开了多个示例，但是其他替代、修改、使用和/或其等同物是可能的。此外，还涵盖了所描述的示例的所有可能的组合。因此，本公开的范围不应受特定示例的限制，而应仅通过公平阅读所附权利要求来确定。如果与附图相关的附图标记在权利要求中置于括号中，则它们仅是为了试图增加权利要求的可理解性，并且不应被解释为限制权利要求的范围。

技术特征：
1.一种通过采用作用于位于粘弹性介质中的单个颗粒的至少两个光陷阱来在所述介质中进行微流变测量的方法，包括以下步骤：-选择比所述介质硬的颗粒；-将所述颗粒放入所述介质内；-从单个激光源生成单个激光束；-将所述单个激光束分成第一激光束和第二激光束；-通过将所述第一激光束聚焦在所述颗粒中来产生作用于所述颗粒的第一光陷阱；-通过将所述第二激光束聚焦在所述颗粒中来产生作用于所述颗粒的第二光陷阱；-将所述第一和第二光陷阱定位在所述颗粒的光心；-以与时间相关的运动将所述第二光陷阱移出所述颗粒的光心；-利用光电检测器使用后焦平面干涉测量法(bfpi)以获取代表由所述第一光陷阱施加在所述颗粒上的力的电压信号v1(t)的第一时间序列；-利用所述光电检测器使用bfpi来获取代表由所述第二光陷阱施加在所述颗粒上的力的电压信号v2(t)的第二时间序列；-将由所述第一和第二光陷阱施加在所述颗粒上的力计算为时间序列f(t)＝a
·
(v1(t)+v2(t))，其中a是取决于所述颗粒的形状、所述颗粒的光学性质和所述介质的光学性质的比例常数；-将所述颗粒的位移xp(t)计算为时间序列xp(t)＝-a
·
v1(t)/k，其中k是所述第一光陷阱的陷阱刚度；和-从两个时间序列f(t)和xp(t)的对应值导出所述介质的至少一个微流变量值。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述介质的至少一个微流变量值是复数剪切模量g*。3.根据权利要求2所述的方法，还包括以下步骤：-以所述颗粒的光心为中心的频率ω的振荡运动偏移所述第二光陷阱；-获得作为f(t)的傅里叶变换的ω的复函数，所述第一复函数被称为f*(ω)；-获得作为xp(t)的傅立叶变换的ω的复函数，所述第一复函数被称为xp*(ω)；-通过方程g*(ω)＝f*(ω)/(p
·
xp*(ω))计算所述介质的剪切模量g*的复函数，其中p是取决于所述颗粒的形状的常数。4.根据权利要求2所述的方法，还包括以下步骤：-以所述颗粒的光心为中心的频率ω的振荡运动偏移所述第二光陷阱；-获得作为v1(t)的傅立叶变换的ω的第一复函数，所述第一复函数被称为v1*(ω)；-获得作为v2(t)的傅立叶变换的ω的第二复函数，所述第二复函数被称为v2*(ω)；-通过方程g*(ω)＝-k
·
(v1*(ω)+v2*(ω))/(p
·
v1*(ω))计算所述介质的剪切模量g*的复函数，其中p是取决于所述颗粒的形状的常数。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中选择所述颗粒具有比所述介质的实际剪切模量高至少100倍的剪切模量。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中借助于声光偏转器(aod)将所述单个激光束分成所述第一激光束和所述第二激光束。7.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中偏振分束器将所述单个激光束分成两
个偏振光束，所述第二激光束由电流镜产生，所述电流镜将所述两个偏振光束之一偏转至所述第二光陷阱的位置，并且所述第一激光束是被偏转或不偏转但无论如何被引导至所述第一光陷阱的位置的另一偏振光束。8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括建立以所述颗粒的光心为中心的三维参考系(x，y，z)的步骤，其中z轴是产生所述第一光陷阱的聚焦的单个激光束的传播方向，并且x和y轴自然地由所述单个激光束的强度分布的取向限定，其中将所述第一或第二光陷阱定位在所述颗粒的光心处包括将所述光陷阱在所述平面(x,y)上移动，然后沿z轴移动所述光陷阱。9.根据权利要求8所述的方法，其中使所述第一或第二光陷阱在平面(x，y)上被确定中心包括以下步骤：-将带有所述颗粒的所述介质放入光学显微镜的光学系统中；-使用所述介质内的所述颗粒的显微镜图像来定位所述颗粒并将所述光陷阱手动定位在所述颗粒的捕获势阱内；和-应用反馈环路算法来计算所述光陷阱的新位置，其电势比先前位置低。10.根据权利要求9所述的方法，其中所述反馈环路算法是用于寻找潜在最小值的梯度下降算法。11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法，其中所述光电检测器被定向为使得所述bfpi程序提供代表由所述第一光陷阱施加的力的两个电压信号v1x(t)和v1y(t)，所述值v1x和v1y与所述第一光陷阱在所述平面(x，y)上的相应位移x和y成比例。12.根据权利要求4和11所述的方法，其中沿着z轴移动所述光陷阱包括通过使所述第一光陷阱执行不同组的沿x轴的固定振幅振荡来最大化v1x(t)的傅里叶变换v1x*(ω)的振幅的步骤。13.根据权利要求12所述的方法，其中v1x*(ω)的最大值通过梯度上升算法来计算。14.一种用于执行权利要求1至13中任一项所述的方法的装置，包括被配置为产生作用于颗粒的光陷阱的光学装置，所述光学装置包括适合于生成单个激光束的单个激光源，以及被配置为提供与所述光束偏转成比例的电压信号的光电检测器。15.一种用于执行根据权利要求1至13中任一项所述的方法的设备，包括光学显微镜和集成在所述显微镜的光学系统中的权利要求14所述的装置。

技术总结
一种用于在粘弹性介质中进行微流变测量的方法和装置，其通过使用由单个激光源产生的至少两个光陷阱作用于位于所述介质中的单个颗粒来进行。该方法使用改进的后焦平面干涉测量(BFPI)程序来获得介质的复剪切模量。量(BFPI)程序来获得介质的复剪切模量。


技术研发人员：P
受保护的技术使用者：英派图克斯有限公司
技术研发日：2022.02.15
技术公布日：2023/10/7