一种小口径光斑均匀性检测工装及检测方法与流程

1.本发明属于光学检测技术领域，具体涉及一种小口径光斑均匀性检测工装及检测方法。


背景技术：

2.随着对夜间作战能力，夜间探测技术要求的不断提升，红外摄像机、微光夜视仪等夜间探测手段难以满足对微小目标(如微型无人机)的远距离探测，而采用激光主动照明，利用红外波段激光照射目标，则可辅助可见光探测器进行目标的探测识别。作为照明光源的激光器光斑均匀性越好，越有利于夜间远距离微小目标的探测。用于夜视的红外激光光斑的光斑直径一般小于等于1mm，检测光斑均匀性时，对采样孔的位置精确度要求很高，如专利号为cn102192706a的专利公开了一种原位测量聚焦激光光斑能量分布的装置及方法，采用高精度平移台通过粗调节和压电调节结合调节小孔位置，使小孔沿着激光光斑扫描，进而得到激光光斑的能量分布。上述专利对设备的精密程度要求较高，设备造价高，检测成本高，而且对操作人员的要求也高；另外，光斑采样点的位置分布直接影响光斑均匀性检测的精准度。因此急需一种用于小口径光斑均匀性检测的简易装置，解决上述问题。


技术实现要素：

3.针对现有技术存在的上述缺陷，本发明提供了一种小口径光斑均匀性检测工装，包括固定座，所述固定座安装在探测器上，所述固定座上设有与探测器配合的检测板，所述检测板上设有多个采样孔，多个采样孔包括一个中心孔，其余采样孔位于以中心孔为圆心的多层采样圆周上，采样圆周具体设置的层数与采样孔的个数可根据检测的光斑的口径灵活调整；检测板的一侧设有定位轴，检测板上相对于定位轴的另一侧设有多个定位槽，定位槽相对于定位轴位于不同的径向位置；
4.所述采样孔的圆心位于以定位轴为圆心的多层定位圆周上，且位于定位槽与定位轴的连线上；
5.所述采样孔配合有挡片，所述挡片上设有通光孔，挡片的一侧设有与定位轴配合的限位孔，挡片上相对于限位孔的另一侧设有定位孔，限位孔和定位孔均为条形孔，限位孔和定位孔的轴线重合，且通光孔的中心位于限位孔和定位孔的轴线上，所述定位孔与定位槽配合有定位销，定位销与定位槽的配合为锥孔配合，定位销可插拔，用以限制挡片的位置；
6.所述限位孔沿长度方向设有多个锁紧位，锁紧位的数量与定位圆周的层数一致，且锁紧位的间距与定位圆周的径向距离对应，所述锁紧位与定位轴相配合。
7.优选的，所述定位轴为锁紧螺钉,锁紧螺钉侧面为滚花螺纹设计，增大摩擦力，方便调整；定位轴松开时，挡片可沿限位孔方向移动，亦可以所述定位轴为中心进行旋转，挡片移动后，定位销穿过定位孔后插入对应的定位槽实现定位，综合保证测试时，检测板上的采样孔仅漏出一个与通光孔对应。
8.优选的，所述采样圆周的层数为一，采样圆周上均匀分布有四个采样孔。
9.优选的，所述采样圆周的层数为二，各采样圆周上均匀分布有四个采样孔，相邻采样圆周上的采样孔交错分布。
10.优选的，所述中心孔与探测器的中心对应。
11.优选的，所述通光孔的直径不小于采样孔的直径。
12.本发明在检测板上以待检测的光斑中心为基准按照多层圆周阵列设置采样孔；可沿限位孔方向移动挡片，或以定位轴为中心旋转挡片，进而保证挡片将检测板上其余采样孔均挡住，只留一个采样孔接收光斑信息，对各采样孔处的光斑信心逐一进行采集，并根据所测信息进行后续处理，获得光斑均匀性测试结果。本发明设计简单合理、操作简便、检测成本低、对操作人员的要求低，且采样孔的分布均匀合理，极大的提高了光斑均匀性检测的精准度。在实际工程应用中实用性强。
13.本发明还公开了一种小口径光斑均匀性检测方法，采用上述一种小口径光斑均匀性检测工装进行检测，至少包括以下步骤：
14.步骤一，待检测的光斑投射至检测板上，光斑的中心与中心孔对应；
15.步骤二，根据采样孔的分布逐一进行采样：通过移动挡片，使限位孔的不同锁紧位与定位轴配合，并转动挡片，使通光孔与相应的采样孔一一对应，采集光斑不同位置的信息，并将信息传递给探测器，上述采样过程中，通光孔与一个采样孔对应时，其余采样孔均被挡片挡住；
16.步骤三，分析：探测器对每个采样孔采集的光斑信息进行后续处理，即可获得光斑均匀性测试结果。
17.当采样圆周设置为一层时，检测板上设有五个采样孔，分别为p0、p1、p2、p3、p4；所述限位孔上限位孔的方向依次设置有锁紧位a、锁紧位b及锁紧位c，多个定位槽分别为槽一、槽二及槽三，此时，采用五点法进行光斑均匀性检测，步骤二的具体操作如下：
18.锁紧螺钉与限位孔的锁紧位b配合，定位销穿过定位孔与槽二配合时，挡片的通光孔与采样孔p0对应，可对光斑中心位置进行采样，随后松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向左旋转，定位销穿过定位孔与槽一配合时，此时通光孔与采样孔p4对应，对该处的光斑进行采样，再次松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向右旋转，定位销穿过定位孔与槽三配合，此时通光孔与采样孔p2对应，对该处的光斑进行采样；松开锁紧螺钉及定位销，沿限位孔方向移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位c配合，此时通光孔与采样孔p1对应，对该处的光斑进行采样；再次松开锁紧螺钉及定位销，移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位a配合，此时通光孔与采样孔p3对应，对该处的光斑进行采样。如此即可完成待检测的光斑的五个采样孔处的光斑信息采样。
19.当采样圆周设置为二层时，检测板上设有九个采样孔，分别为p0、p1、p2、p3、p4、p5、p6、p7、p8；所述限位孔上限位孔的方向依次设置有锁紧位d、锁紧位a、锁紧位b及锁紧位c，多个定位槽分别为槽一、槽二、槽三、槽四、槽五，此时，采用九点法进行光斑均匀性检测，步骤二的具体操作如下：
20.锁紧螺钉与限位孔的锁紧位b配合，定位销穿过定位孔与槽二配合时，挡片的通光孔与采样孔p0对应，可对光斑中心位置进行采样，随后松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向左旋转，定位销穿过定位孔与槽一配合时，此时通光孔与采样孔p4对应，对该处的光斑进行
采样，再次松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向右旋转，定位销穿过定位孔与槽三配合，此时通光孔与采样孔p2对应，对该处的光斑进行采样；松开锁紧螺钉及定位销，沿限位孔方向移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位c配合，此时通光孔与采样孔p1对应，对该处的光斑进行采样；松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向右旋转，定位销与槽五配合，此时通光孔与采样孔p5对应，对该处的光斑进行采样；松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向左旋转，定位销与槽四配合，此时通光孔与采样孔p8对应，对该处的光斑进行采样；再次松开锁紧螺钉及定位销，移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位a配合，此时通光孔与采样孔p3对应，对该处的光斑进行采样；
21.松开锁紧螺钉及定位销，移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位d配合，并以锁紧螺钉为中心向右旋转，定位销与槽五配合，此时通光孔与采样孔p6对应，对该处的光斑进行采样；松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向左旋转，定位销与槽四配合，此时通光孔与采样孔p7对应，对该处的光斑进行采样。如此即可完成待检测的光斑的九个采样孔处的光斑信息采样。
22.本发明中未加限定的装置或组件均采用本领域中的常规技术手段，如探测器等均是本领域常规设备。
23.本方案只需要控制装置的加工精度，使检测板上的采样孔的位置精度达到要求，检测时的操作对采样孔的位置精度无影响，因此，本方案中对光斑进行均匀性检测时，对操作人员的要求较低，操作简单，同时检测装置的造价低，检测成本低，检测精度好。
24.本发明的有益效果，设计简单合理、操作简便、检测成本低、对操作人员的要求低，且采样孔的分布均匀合理，极大的提高了光斑均匀性检测的精准度，实用性强。
附图说明
25.下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
26.图1是本发明实施例1中一种小口径光斑均匀性检测工装的结构示意图；
27.图2是图1中挡片与采样孔的位置关系图；
28.图3是本发明实施例2中一种小口径光斑均匀性检测工装的结构示意图；
29.图4是图3中挡片与采样孔的位置关系图；
30.图5是实施例2中对采样孔p4、p0、p2进行采样时挡片的位置关系图；
31.图6是实施例2中对采样孔p8、p1、p5进行采样时挡片的位置关系图；
32.图7是实施例2中对采样孔p6、p7进行采样时挡片的位置关系图；
33.图8是实施例2中对采样孔p3进行采样时挡片的位置关系图。
34.图中：1、检测板；2、挡片；3、固定座；4、定位轴；5、定位销；6、探测器；7、通光孔；8、光斑；9、槽三；10、限位孔；11、定位孔；12、槽一；13、槽四；14、槽五；15、中心孔；16、采样圆周；17、定位圆周。
具体实施方式
35.下面结合本发明实施例中的附图以及具体实施例对本发明进行清楚地描述，在此处的描述仅仅用来解释本发明，但并不作为对本发明的限定。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
36.实施例1
37.如图1-2所示，本发明提供了一种小口径光斑均匀性检测工装，包括固定座3，所述固定座3安装在探测器6上，所述固定座上设有与探测器配合的检测板1，所述检测板1上设有多个采样孔，多个采样孔包括一个中心孔15，其余采样孔位于以中心孔为圆心的多层采样圆周16上，采样圆周具体设置的层数与采样孔的个数可根据检测的光斑8的口径灵活调整；检测板的一侧设有定位轴4，检测板上相对于定位轴4的另一侧设有多个定位槽，定位槽相对于定位轴位于不同的径向位置；
38.所述采样孔的圆心位于以定位轴4为圆心的多层定位圆周17上，且位于定位槽与定位轴的连线上；
39.所述采样孔配合有挡片2，所述挡片上设有通光孔7，挡片的一侧设有与定位轴配合的限位孔10，挡片上相对于限位孔的另一侧设有定位孔11，限位孔和定位孔均为条形孔，限位孔和定位孔的轴线重合，且通光孔的中心位于限位孔和定位孔的轴线上，所述定位孔与定位槽配合有定位销5，定位销5与定位槽的配合为锥孔配合，定位销5可插拔，用以限制挡片的位置，定位销顶部设有顶尖孔，可利用工具将定位销轻轻敲进定位槽内，压紧所述挡片；定位销侧面设有通孔，可利用工具将定位销拔出，方便调整挡片位置。
40.所述限位孔沿长度方向设有多个锁紧位，锁紧位的数量与定位圆周17的层数一致，且锁紧位的间距与定位圆周17的径向距离对应，所述锁紧位与定位轴4相配合。
41.所述定位轴4为锁紧螺钉,锁紧螺钉侧面为滚花螺纹设计，增大摩擦力，方便调整；定位轴松开时，挡片2可沿限位孔10方向移动，亦可以所述定位轴为中心进行旋转，挡片移动后，定位销5穿过定位槽11后插入对应的定位槽实现定位，综合保证检测时，检测板上的采样孔仅漏出一个与通光孔对应。
42.所述采样圆周16的层数为一，采样圆周上均匀分布有四个采样孔。
43.所述中心孔15与探测器6的中心对应。
44.所述通光孔7的直径不小于采样孔的直径，确保光斑信息的顺利采集。
45.本发明在检测板上以待检测的光斑中心为基准按照多层圆周阵列设置采样孔，提高了光斑均匀度检测的精准度；可沿限位孔方向移动挡片，或以定位轴为中心旋转挡片，进而保证挡片将检测板上其余采样孔均挡住，只留一个采样孔接收光斑信息，对各采样孔处的光斑信心逐一进行采集，并根据所测信息进行后续处理，获得光斑均匀性测试结果。本发明设计简单合理、操作简便、检测成本低、对操作人员的要求低，且采样孔的分布均匀合理，极大的提高了光斑均匀性检测的精准度。在实际工程应用中实用性强。
46.本发明还公开了一种小口径光斑均匀性检测方法，采用上述一种小口径光斑均匀性检测工装进行检测，至少包括以下步骤：
47.步骤一，待检测的光斑投射至检测板上，光斑的中心与中心孔对应；
48.步骤二，根据采样孔的分布逐一进行采样：通过移动挡片，使限位孔的不同锁紧位与定位轴配合，并转动挡片，使通光孔与相应的采样孔一一对应，采集光斑不同位置的信息，并将信息传递给探测器，上述采样过程中，通光孔与一个采样孔对应时，其余采样孔均被挡片挡住；
49.步骤三，分析：探测器对每个采样孔采集的光斑信息进行后续处理，即可获得光斑均匀性测试结果。
50.具体的，检测板上设有五个采样孔，分别为p0、p1、p2、p3、p4；所述限位孔上限位孔的方向依次设置有锁紧位a、锁紧位b及锁紧位c，多个定位槽分别为槽一12、槽二及槽三9，此时，采用五点法进行光斑均匀性检测，步骤二的具体操作如下：
51.锁紧螺钉与限位孔的锁紧位b配合，定位销穿过定位孔与槽二配合时，挡片的通光孔与采样孔p0对应，可对光斑中心位置进行采样，随后松开定位销5，并以锁紧螺钉为中心向左旋转8
°
，定位销5穿过定位孔与槽一12配合，此时通光孔与采样孔p4对应，对该处的光斑进行采样，再次松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向右旋转16
°
，定位销穿过定位孔与槽三9配合，此时通光孔与采样孔p2对应，对该处的光斑进行采样；松开锁紧螺钉及定位销，沿限位孔方向移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位c配合，定位销穿过定位孔与槽二配合，此时通光孔与采样孔p1对应，对该处的光斑进行采样；再次松开锁紧螺钉及定位销，移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位a配合，定位销穿过定位孔与槽二配合，此时通光孔与采样孔p3对应，对该处的光斑进行采样。如此即可完成待检测的光斑的五个采样孔处的光斑信息采样。
52.实施例2
53.如图3-8所示，本发明提供了一种小口径光斑均匀性检测工装，包括固定座3，所述固定座3安装在探测器6上，所述固定座上设有与探测器配合的检测板1，所述检测板1上设有多个采样孔，多个采样孔包括一个中心孔15，其余采样孔位于以中心孔为圆心的多层采样圆周16上，采样圆周具体设置的层数与采样孔的个数可根据检测的光斑8的口径灵活调整；检测板的一侧设有定位轴4，检测板上相对于定位轴4的另一侧设有多个定位槽，定位槽相对于定位轴位于不同的径向位置；
54.所述采样孔的圆心位于以定位轴4为圆心的多层定位圆周17上，且位于定位槽与定位轴的连线上；
55.所述采样孔配合有挡片2，所述挡片上设有通光孔7，挡片的一侧设有与定位轴配合的限位孔10，挡片上相对于限位孔的另一侧设有定位孔11，限位孔和定位孔均为条形孔，限位孔和定位孔的轴线重合，且通光孔的中心位于限位孔和定位孔的轴线上，所述定位孔与定位槽配合有定位销5，定位销5与定位槽的配合为锥孔配合，定位销5可插拔，用以限制挡片的位置，定位销顶部设有顶尖孔，可利用工具将定位销轻轻敲进定位槽内，压紧所述挡片；定位销侧面设有通孔，可利用工具将定位销拔出，方便调整挡片位置。
56.所述限位孔沿长度方向设有多个锁紧位，锁紧位的数量与定位圆周17的层数一致，且锁紧位的间距与定位圆周17的径向距离对应，所述锁紧位与定位轴4相配合。
57.所述定位轴4为锁紧螺钉,锁紧螺钉侧面为滚花螺纹设计，增大摩擦力，方便调整；定位轴松开时，挡片2可沿限位孔10方向移动，亦可以所述定位轴为中心进行旋转，挡片移动后，定位销5穿过定位槽11后插入对应的定位槽实现定位，综合保证检测时，检测板上的采样孔仅漏出一个与通光孔对应。
58.所述采样圆周16的层数为二，各采样圆周上均匀分布有四个采样孔，相邻采样圆周上的采样孔交错分布。
59.所述中心孔15与探测器6的中心对应。
60.所述通光孔7的直径不小于采样孔的直径，确保光斑信息的顺利采集。
61.本发明在检测板上以待检测的光斑中心为基准按照多层圆周阵列设置采样孔，提高了光斑均匀度检测的精准度；可沿限位孔方向移动挡片，或以定位轴为中心旋转挡片，进
而保证挡片将检测板上其余采样孔均挡住，只留一个采样孔接收光斑信息，对各采样孔处的光斑信心逐一进行采集，并根据所测信息进行后续处理，获得光斑均匀性测试结果。本发明设计简单合理、操作简便、检测成本低、对操作人员的要求低，且采样孔的分布均匀合理，极大的提高了光斑均匀性检测的精准度。在实际工程应用中实用性强。
62.一种小口径光斑均匀性检测方法，采用上述一种小口径光斑均匀性检测工装进行检测，至少包括以下步骤：
63.步骤一，待检测的光斑投射至检测板上，光斑的中心与中心孔对应；
64.步骤二，根据采样孔的分布逐一进行采样：通过移动挡片，使限位孔的不同锁紧位与定位轴配合，并转动挡片，使通光孔与相应的采样孔一一对应，采集光斑不同位置的信息，并将信息传递给探测器，上述采样过程中，通光孔与一个采样孔对应时，其余采样孔均被挡片挡住；
65.步骤三，分析：探测器对每个采样孔采集的光斑信息进行后续处理，即可获得光斑均匀性测试结果。
66.具体的，采样圆周设置为二层，检测板上设有九个采样孔，分别为p0、p1、p2、p3、p4、p5、p6、p7、p8；所述限位孔上限位孔的方向依次设置有锁紧位d、锁紧位a、锁紧位b及锁紧位c，多个定位槽分别为槽一12、槽二、槽三9、槽四13、槽五14，此时，采用九点法进行光斑均匀性检测，步骤二的具体操作如下：
67.如图5所示，锁紧螺钉与限位孔的锁紧位b配合，定位销穿过定位孔与槽二配合时，挡片的通光孔与采样孔p0对应，可对光斑中心位置进行采样，随后松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向左旋转12
°
，定位销穿过定位孔与槽一配合时，此时通光孔与采样孔p4对应，对该处的光斑进行采样，再次松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向右旋转24
°
，定位销穿过定位孔与槽三配合，此时通光孔与采样孔p2对应，对该处的光斑进行采样；如图6所示，松开锁紧螺钉及定位销，沿限位孔方向移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位c配合，定位销穿过定位孔与槽二配合，此时通光孔与采样孔p1对应，对该处的光斑进行采样；松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向右旋转21.5
°
，定位销穿过定位孔与槽五配合，此时通光孔与采样孔p5对应，对该处的光斑进行采样；松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向左旋转43
°
，定位销穿过定位孔与槽四配合，此时通光孔与采样孔p8对应，对该处的光斑进行采样；如图8所示，再次松开锁紧螺钉及定位销，移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位a配合，定位销穿过定位孔与槽二配合，此时通光孔与采样孔p3对应，对该处的光斑进行采样；
68.如图7所示，松开锁紧螺钉及定位销，移动挡片，使锁紧螺钉与锁紧位d配合，并以锁紧螺钉为中心向右旋转12
°
，定位销穿过定位孔与槽五配合，此时通光孔与采样孔p6对应，对该处的光斑进行采样；松开定位销，并以锁紧螺钉为中心向左旋转24
°
，定位销穿过定位孔与槽四配合，此时通光孔与采样孔p7对应，对该处的光斑进行采样。如此即可完成待检测的光斑的九个采样孔处的光斑信息采样。
69.以上已经描述了本发明的实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的实施例。在不偏离所说明实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

技术特征：
1.一种小口径光斑均匀性检测工装，包括固定座，所述固定座安装在探测器上，其特征在于：所述固定座上设有与探测器配合的检测板，所述检测板上设有多个采样孔，多个采样孔包括一个中心孔，其余采样孔位于以中心孔为圆心的多层采样圆周上，检测板的一侧设有定位轴，检测板上相对于定位轴的另一侧设有多个定位槽，定位槽相对于定位轴位于不同的径向位置；所述采样孔的圆心位于以定位轴为圆心的多层定位圆周上，且位于定位槽与定位轴的连线上；所述采样孔配合有挡片，所述挡片上设有通光孔，挡片的一侧设有与定位轴配合的限位孔，挡片上相对于限位孔的另一侧设有定位孔，限位孔和定位孔均为条形孔，限位孔和定位孔的轴线重合，且通光孔的中心位于限位孔和定位孔的轴线上，所述定位孔与定位槽配合有定位销；所述限位孔沿长度方向设有多个锁紧位，锁紧位的数量与定位圆周的层数一致，且锁紧位的间距与定位圆周的径向距离对应，所述锁紧位与定位轴相配合。2.根据权利要求1所述的一种小口径光斑均匀性检测工装，其特征在于：所述定位轴为锁紧螺钉,定位轴松开时，挡片可绕定位轴转动。3.根据权利要求1所述的一种小口径光斑均匀性检测工装，其特征在于：所述采样圆周的层数为一，采样圆周上均匀分布有四个采样孔。4.根据权利要求1所述的一种小口径光斑均匀性检测工装，其特征在于：所述采样圆周的层数为二，各采样圆周上均匀分布有四个采样孔，相邻采样圆周上的采样孔交错分布。5.根据权利要求1所述的一种小口径光斑均匀性检测工装，其特征在于：所述中心孔与探测器的中心对应。6.根据权利要求1所述的一种小口径光斑均匀性检测工装，其特征在于：所述通光孔的直径不小于采样孔的直径。7.一种小口径光斑均匀性检测方法，其特征在于：采用权利要求1-6任意一项所述的一种小口径光斑均匀性检测工装进行检测，至少包括如下步骤：步骤一，待检测的光斑投射至检测板上，光斑的中心与中心孔对应；步骤二，根据采样孔的分布逐一进行采样：通过移动挡片，使限位孔的不同锁紧位与定位轴配合，并转动挡片，使通光孔与相应的采样孔一一对应，采集光斑不同位置的信息，并将信息传递给探测器，上述采样过程中，通光孔与一个采样孔对应时，其余采样孔均被挡片挡住；步骤三，分析：探测器对每个采样孔采集的光斑信息进行后续处理，即可获得光斑均匀性测试结果。

技术总结
本发明涉及光学检测技术领域的一种小口径光斑均匀性检测工装及检测方法，包括安装在探测器上的固定座，固定座上设有与探测器配合的检测板，检测板上设有多个采样孔，多个采样孔包括一个中心孔，其余采样孔位于以中心孔为圆心的多层采样圆周上，检测板配合有可移动的挡片，挡片上设有通光孔、限位孔及定位孔，定位孔与检测板上的定位槽配合有定位销，限位孔沿长度方向设有多个锁紧位，锁紧位与定位轴相配合。一种小口径光斑均匀性检测方法，采用上述一种小口径光斑均匀性检测工装进行检测。本发明设计简单合理、操作简便、检测成本低、对操作人员的要求低，且采样孔的分布均匀合理，极大的提高了光斑均匀性检测的精准度，实用性强。实用性强。实用性强。


技术研发人员：王端天 尚梦杰 赵路民 魏保 张帅 曲雅臣 陈天运 常鹏飞
受保护的技术使用者：河南平原光电有限公司
技术研发日：2023.07.10
技术公布日：2023/10/15