高度跟随系统测试方法、装置、设备及可读存储介质与流程

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1.本发明涉及高度跟随系统技术领域,尤其涉及一种高度跟随系统测试方法、装置、设备及可读存储介质。


背景技术:

2.在镜头景深非常小的光学系统中,采用高度跟随系统可以很好的解决小景深光学系统在飞拍过程中的快速对焦问题。评价高度跟随系统的跟随速度与跟随精度尤为重要。目前,采用振动发生装置产生特定频率、振幅的波形,高度跟随系统对振动发生装置产生的特定频率、振幅的波形进行响应跟随,通过对比高度跟随系统的高度测量数据与实际高度数据,获得高度跟随系统在不同跟随速度下的跟随精度。然而,采用振动发生装置的测试方法会导致测试装置与条件复杂,测试效率低。


技术实现要素:

3.本发明的主要目的在于提供一种高度跟随系统测试方法、装置、设备及可读存储介质,旨在解决现有技术中采用振动发生装置的测试方法的测试装置与条件复杂,测试效率低的技术问题。
4.第一方面,本发明提供一种高度跟随系统测试方法,所述高度跟随系统测试方法包括:
5.获取高度测量模块对量块上预设位置的初始测量值;
6.确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值;
7.开启高度跟随控制模块,以使所述高度调节模块基于所述高度测量模块的测量值沿所述高度方向移动;
8.控制所述量块以预设速度沿水平方向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向;
9.获取所述高度测量模块的多个实时测量值和所述高度调节模块的多个实时高度值;
10.根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度;
11.根据所述初始测量值、所述初始高度值、多个所述实时测量值和多个所述实时高度值计算得到跟随精度。
12.可选地,所述确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值的步骤包括:
13.沿高度方向移动高度调节模块,以使固定于所述高度调节模块上的光学系统对焦所述量块;
14.获取所述高度调节模块在所述高度方向上的初始高度值。
15.可选地,所述控制所述量块以预设速度沿水平方向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向的步骤包括:
16.控制所述量块以预设速度沿水平方向正向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块的第一边缘位置至第二边缘位置的路径上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向,所述第一边缘位置和所述第二边缘位置分别位于所述量块沿所述水平方向的两侧边缘;
17.控制所述量块以所述预设速度沿所述水平方向反向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块的所述第二边缘位置至所述第一边缘位置的路径上高度不同的多个位置。
18.可选地,所述量块朝向所述高度测量模块的一侧设有相对所述高度方向和所述水平方向倾斜的测量斜面;
19.所述根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度的步骤包括:
20.根据所述测量斜面与所述水平方向的夹角计算得到换算系数;
21.将所述预设速度乘以所述换算系数得到所述跟随速度。
22.可选地,所述量块为等腰三棱柱,所述量块的底面垂直于所述高度方向,所述量块的横截面平行于所述水平方向;
23.所述根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度的步骤包括:
24.根据所述量块的高度和底部宽度计算得到换算系数;
25.将所述预设速度乘以所述换算系数得到所述跟随速度。
26.可选地,所述预设位置的高度为所述量块的高度的一半。
27.可选地,所述根据所述初始测量值、所述初始高度值、多个所述实时测量值和多个所述实时高度值计算得到跟随精度的步骤包括:
28.将多个所述实时测量值分别减去所述初始测量值,得到多个量块表面高度位移量;
29.将多个所述实时高度值分别减去所述初始高度值,得到多个实际跟随位移量;
30.将各所述量块表面高度位移量减去对应的所述实际跟随位移量,得到多个实时偏差值;
31.计算多个所述实时偏差值的平均值,得到跟随精度。
32.第二方面,本发明还提供一种高度跟随系统测试装置,所述高度跟随系统测试装置包括:
33.第一初始模块,用于获取高度测量模块对量块上预设位置的初始测量值;
34.第二初始模块,用于确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值;
35.开启模块,用于开启高度跟随控制模块,以使所述高度调节模块基于所述高度测量模块的测量值沿所述高度方向移动;
36.控制模块,用于控制所述量块以预设速度沿水平方向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向;
37.获取模块,用于获取所述高度测量模块的多个实时测量值和所述高度调节模块的多个实时高度值;
38.第一计算模块,用于根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度;
39.第二计算模块,用于根据所述初始测量值、所述初始高度值、多个所述实时测量值和多个所述实时高度值计算得到跟随精度。
40.第三方面,本发明还提供一种高度跟随系统测试设备,所述高度跟随系统测试设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的高度跟随系统测试程序,其中所述高度跟随系统测试程序被所述处理器执行时,实现上述高度跟随系统测试方法的步骤。
41.第四方面,本发明还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有高度跟随系统测试程序,其中所述高度跟随系统测试程序被处理器执行时,实现上述高度跟随系统测试方法的步骤。
42.本发明通过设置高度随水平位置变化的量块,控制量块以预设速度沿水平方向运动,使高度测量模块待测表面的高度能够随量块的水平运动而变化,高度调节模块能够基于高度测量模块的测量值沿高度方向移动。根据量块的尺寸数据和预设速度计算得到跟随速度,根据高度测量模块的测量值和高度调节模块的高度值计算得到跟随精度,通过改变预设速度或量块尺寸,即可获得高度跟随系统在不同跟随速度下的跟随精度。本发明提供的高度跟随系统测试方法无需使用振动发生装置,简化了测试装置与条件,提高了测试效率。
附图说明
43.图1为本发明一实施例中高度跟随系统测试方法的流程示意图;
44.图2为本发明一实施例中高度跟随系统测试方法涉及的相关结构示意图;
45.图3为本发明一实施例中量块的结构示意图;
46.图4为本发明一实施例中高度跟随系统测试装置与图2中相关结构的连接示意图;
47.图5为本发明一实施例中高度跟随系统测试设备的硬件结构示意图。
48.本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
49.应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
50.第一方面,本发明实施例提供了一种高度跟随系统测试方法。
51.图1示出了本发明一实施例中高度跟随系统测试方法的流程示意图。
52.参照图1,一实施例中,高度跟随系统测试方法包括如下步骤:
53.s11、获取高度测量模块对量块上预设位置的初始测量值;
54.高度跟随系统包括高度测量模块、高度调节模块和高度跟随控制模块,高度测量模块用于测量待测物表面高度位移量,高度调节模块用于带动固定于其上的装置沿高度方向移动以实现高度调节,例如,带动光学系统移动实现对焦,高度跟随控制模块用于基于高度测量模块的测量数据控制高度调节模块的移动,以实现高度跟随的作用。可选地,高度测量模块可采用激光测距传感器或超声波测距传感器,高度测量模块的测量值为自身与待测物表面之间的距离。
55.可以理解,高度测量模块测量待测物表面高度位移量的方式是,针对待测物表面确定一个初始测量值,然后将后续待测物表面高度变化过程中所测得的实时测量值减去初始测量值,从而得到待测物表面高度位移量。具体到本实施例中,待测物为量块,高度测量模块对量块上预设位置进行测量得到初始测量值,作为后续反馈量块表面高度位移量的比
对基准。预设位置根据实际需要进行设置,本发明对此不做限定。
56.s12、确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值;
57.评估高度跟随系统的跟随精度,需要将高度测量模块测得的待测物表面高度位移量与高度调节模块在高度跟随控制模块的控制作用下实际产生的实际跟随位移量进行对比。获取高度调节模块的实际跟随位移量的方式是,在开始高度跟随控制前,确定高度调节模块的初始高度值,然后将后续高度跟随控制过程中高度调节模块的实时高度值减去初始高度值,从而得到高度调节模块的实际跟随位移量。具体到本实施例中,确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值,作为后续反馈实际跟随位移量的比对基准。
58.图2示出了本发明一实施例中高度跟随系统测试方法涉及的相关结构示意图。
59.参照图2,进一步地,一实施例中,高度跟随系统包括高度测量模块11、高度调节模块12和高度跟随控制模块13,高度调节模块12上固定有光学系统20,高度方向为图中z方向。步骤s12的步骤包括:
60.沿高度方向移动高度调节模块,以使固定于高度调节模块上的光学系统对焦量块;
61.获取高度调节模块在高度方向上的初始高度值。
62.本实施例中,综合考虑了高度跟随系统的应用场景,当高度跟随系统用于光学系统在飞拍过程中实现快速对焦时,在光学系统对焦量块的情况下获取高度调节模块的初始高度值,一方面测试过程模拟了实际应用情况,提高了测试结果的实用性,另一方面也可通过光学系统的实时对焦情况进一步地评估跟随速度和跟随精度对光学系统对焦效果的影响。
63.s13、开启高度跟随控制模块,以使高度调节模块基于高度测量模块的测量值沿高度方向移动;
64.本实施例中,步骤s11和步骤s12中在确定初始测量值和初始高度值时,高度跟随控制模块尚未开启,即高度调节模块还不会基于高度测量模块的测量值沿高度方向移动,确保操作人员能够根据需要设置初始测量值和初始高度值,初始测量值与初始高度值不存在特定关联。在初始测量值和初始高度值确定后,进行步骤s13,开启高度跟随控制模块,使得高度调节模块能够提供与高度测量模块的实时测量值相关联的实时高度值。
65.s14、控制量块以预设速度沿水平方向运动,以使高度测量模块测量量块上高度不同的多个位置,其中,水平方向垂直于高度方向;
66.本实施例中,量块的高度随水平位置的变化而变化,在高度测量模块的位置固定不变时,高度测量模块的待测表面的高度随量块的水平运动而变化,从而提供不断变化的实时测量值,高度调节模块基于高度测量模块的测量值沿高度方向移动,从而提供不断变化且与实时测量值相关联的实时高度值。本实施例利用沿水平方向运动的量块替代振动发生装置,提供高度不断变化的待测表面,有助于简化测试装置与条件,提高测试效率。
67.继续参照图2,进一步地,一实施例中,量块30固定在载台40上,载台40能够以预设速度沿水平方向(图中x1、x2方向)运动,从而带动量块30以预设速度沿水平方向运动。可选地,本实施例中,载台40还能够沿垂直于水平方向和高度方向的方向(垂直于屏幕的方向)移动,便于调整量块30与高度测量模块11的相对位置。
68.进一步地,一实施例中,步骤s14的步骤包括:
69.控制量块以预设速度沿水平方向正向运动,以使高度测量模块测量量块的第一边缘位置至第二边缘位置的路径上高度不同的多个位置,其中,水平方向垂直于高度方向,第一边缘位置和第二边缘位置分别位于量块沿水平方向的两侧边缘;
70.控制量块以预设速度沿水平方向反向运动,以使高度测量模块测量量块的第二边缘位置至第一边缘位置的路径上高度不同的多个位置。
71.继续参照图2,本实施例中,量块30具有第一边缘位置a和第二边缘位置b,水平方向正向为图中x1方向,水平方向反向为图中x2方向。在量块30沿水平方向正向运动的过程中,高度测量模块11测得呈第一趋势变化的多个实时测量值,在量块30沿水平方向反向运动的过程中,高度测量模块11测得呈第二趋势变化的多个实时测量值,第一趋势与第二趋势相反。如此,能够获取更多有效数据,从而提高测试结果的可靠性。
72.s15、获取高度测量模块的多个实时测量值和高度调节模块的多个实时高度值;
73.本实施例中,高度测量模块以预设频率测量量块表面的高度数据,从而获得不同时刻下的多个实时测量值,高度跟随控制模块根据实时测量值控制高度调节模块移动,高度调节模块也以相同的预设频率反馈自身在对应时刻下的多个实时高度值。可以理解,本实施例中获取的多个实时测量值和多个实时高度值具有一一对应的关系,即,一实时测量值对应一实时高度值。
74.s16、根据量块的尺寸数据和预设速度计算得到跟随速度;
75.本实施例中,跟随速度即为待测表面的高度变化速度,由量块的尺寸数据和量块沿水平方向移动的预设速度决定。具体地,量块的尺寸一定时,预设速度越大,待测表面的高度变化越快,跟随速度也越大。预设速度一定时,量块朝向高度测量模块的一侧表面倾斜程度越大,待测表面的高度变化越快,跟随速度也越大。相比振动发生装置改变波形的频率和振幅来获得不同跟随速度的方式,本发明通过改变预设速度或量块尺寸来获得不同的跟随速度,有助于简化测试装置与条件,提高测试效率。
76.进一步地,一实施例中,量块朝向高度测量模块的一侧设有相对高度方向和水平方向倾斜的测量斜面,步骤s16的步骤包括:
77.根据测量斜面与水平方向的夹角计算得到换算系数;
78.将预设速度乘以换算系数得到跟随速度。
79.本实施例中,量块具有倾斜程度不变的测量斜面,当高度测量模块的测量位置保持在测量斜面上时,一预设速度对应一固定的跟随速度,且跟随速度与预设速度的比值为换算系数。
80.具体地,基于第一速度换算公式,计算得到跟随速度,第一速度换算公式为:
81.′
82.v=vtanα
83.其中,v

为跟随速度,v为预设速度,α为测量斜面与水平方向的夹角。
84.图3示出了本发明一实施例中量块的结构示意图。
85.参照图3,进一步地,一实施例中,量块30为等腰三棱柱,量块30的底面垂直于高度方向,量块的横截面平行于水平方向。步骤s16的步骤包括:
86.根据量块的高度和底部宽度计算得到换算系数;
87.将预设速度乘以换算系数得到跟随速度。
88.本实施例中,量块30具有倾斜程度不变的两个测量斜面,且两个测量斜面的倾斜程度相同、倾斜方向相反,当高度测量模块的测量位置保持在量块上时,一预设速度对应一固定的跟随速度,且跟随速度与预设速度的比值为换算系数。
89.具体地,基于第二速度换算公式,计算得到跟随速度,第二速度换算公式为:
[0090][0091]
其中,v

为跟随速度,v为预设速度,h
δ
为量块的高度,l为量块的底部宽度。
[0092]
更进一步地,一实施例中,预设位置的高度为量块的高度的一半,即图3中的c1或c2位置。如此,多个实时测量值中,约有一半的实时测量值大于初始测量值,另一半的实时测量值小于初始测量值,多个实时高度值中,约有一半的实时高度值大于初始高度值,另一半的实时高度值小于初始高度值,从而获取更多有效数据,以提高测试结果的可靠性。
[0093]
s17、根据初始测量值、初始高度值、多个实时测量值和多个实时高度值计算得到跟随精度。
[0094]
本实施例中,将高度测量模块在不同时刻的实时测量值减去初始测量值,能够得到量块表面高度位移量。将高度调节模块在不同时刻的实时高度值减去初始高度值,能够得到高度调节模块的实际跟随位移量。通过对比量块表面高度位移量与实际跟随位移量,评估高度跟随系统的跟随精度。
[0095]
进一步地,一实施例中,步骤s17的步骤包括:
[0096]
将多个实时测量值分别减去初始测量值,得到多个量块表面高度位移量;
[0097]
将多个实时高度值分别减去初始高度值,得到多个实际跟随位移量;
[0098]
将各量块表面高度位移量减去对应的实际跟随位移量,得到多个实时偏差值;
[0099]
计算多个实时偏差值的平均值,得到跟随精度。
[0100]
本实施例中,对同一跟随速度下各量块表面高度位移量与对应的实际跟随位移量的差值求和并取平均值,得到该跟随速度下的跟随精度。
[0101]
具体地,基于精度计算公式,计算得到跟随精度,精度计算公式为:
[0102][0103]
其中,a为跟随精度,n为实时测量值和实时高度值的数量,hi为实时测量值,h0为初始测量值,hi为实时高度值,h0为初始高度值。
[0104]
由此,本实施例通过设置高度随水平位置变化的量块,控制量块以预设速度沿水平方向运动,使高度测量模块待测表面的高度能够随量块的水平运动而变化,高度调节模块能够基于高度测量模块的测量值沿高度方向移动。根据量块的尺寸数据和预设速度计算得到跟随速度,根据高度测量模块的测量值和高度调节模块的高度值计算得到跟随精度,通过改变预设速度或量块尺寸,即可获得高度跟随系统在不同跟随速度下的跟随精度。本实施例提供的高度跟随系统测试方法无需使用振动发生装置,简化了测试装置与条件,提高了测试效率。
[0105]
第二方面,本发明实施例还提供一种高度跟随系统测试装置。
[0106]
图4示出了本发明一实施例中高度跟随系统测试装置与图2中相关结构的连接示
意图。
[0107]
参照图4,一实施例中,高度跟随系统测试装置包括:
[0108]
第一初始模块101,用于获取高度测量模块11对量块上预设位置的初始测量值;
[0109]
第二初始模块102,用于确定高度调节模块12在高度方向上的初始高度值;
[0110]
开启模块103,用于开启高度跟随控制模块13,以使高度调节模块12基于高度测量模块11的测量值沿高度方向移动;
[0111]
控制模块104,用于控制量块以预设速度沿水平方向运动,以使高度测量模块11测量量块上高度不同的多个位置,其中,水平方向垂直于高度方向;
[0112]
获取模块105,用于获取高度测量模块11的多个实时测量值和高度调节模块12的多个实时高度值;
[0113]
第一计算模块106,用于根据量块的尺寸数据和预设速度计算得到跟随速度;
[0114]
第二计算模块107,用于根据初始测量值、初始高度值、多个实时测量值和多个实时高度值计算得到跟随精度。
[0115]
具体地,第一初始模块101连接高度测量模块11以获取初始测量值,第二初始模块102连接高度调节模块12以获取初始高度值,开启模块103连接高度跟随控制模块13以控制高度跟随控制模块13开启,控制模块104连接载台40以控制载台40带动固定于其上的量块移动,获取模块105连接高度跟随控制模块13以获取高度测量模块11和高度调节模块12反馈至高度跟随控制模块13的多个实时测量值和多个实时高度值,第一计算模块106连接控制模块104以获取用于计算跟随速度的预设速度,第二计算模块107连接第一初始模块101、第二初始模块102和获取模块105以获取用于计算跟随精度的初始测量值、初始高度值、多个实时测量值和多个实时高度值。
[0116]
进一步地,一实施例中,第二初始模块102用于:
[0117]
沿高度方向移动高度调节模块,以使固定于高度调节模块上的光学系统对焦量块;
[0118]
获取高度调节模块在高度方向上的初始高度值。
[0119]
进一步地,一实施例中,控制模块104用于:
[0120]
控制量块以预设速度沿水平方向正向运动,以使高度测量模块11测量量块的第一边缘位置至第二边缘位置的路径上高度不同的多个位置,其中,水平方向垂直于高度方向,第一边缘位置和第二边缘位置分别位于量块沿水平方向的两侧边缘;
[0121]
控制量块以预设速度沿水平方向反向运动,以使高度测量模块11测量量块的第二边缘位置至第一边缘位置的路径上高度不同的多个位置。
[0122]
进一步地,一实施例中,量块朝向高度测量模块11的一侧设有相对高度方向和水平方向倾斜的测量斜面;
[0123]
第一计算模块106用于:
[0124]
根据测量斜面与水平方向的夹角计算得到换算系数;
[0125]
将预设速度乘以换算系数得到跟随速度。
[0126]
进一步地,一实施例中,量块为等腰三棱柱,量块的底面垂直于高度方向,量块的横截面平行于水平方向;
[0127]
第一计算模块106用于:
[0128]
根据量块的高度和底部宽度计算得到换算系数;
[0129]
将预设速度乘以换算系数得到跟随速度。
[0130]
进一步地,一实施例中,所述预设位置的高度为所述量块的高度的一半。
[0131]
进一步地,一实施例中,第二计算模块107用于:
[0132]
将多个所述实时测量值分别减去所述初始测量值,得到多个量块表面高度位移量;
[0133]
将多个所述实时高度值分别减去所述初始高度值,得到多个实际跟随位移量;
[0134]
将各所述量块表面高度位移量减去对应的所述实际跟随位移量,得到多个实时偏差值;
[0135]
计算多个所述实时偏差值的平均值,得到跟随精度。
[0136]
其中,上述高度跟随系统测试装置中各个模块的功能实现与上述高度跟随系统测试方法实施例中各步骤相对应,其功能和实现过程在此处不再一一赘述。
[0137]
第三方面,本发明实施例提供一种高度跟随系统测试设备,该高度跟随系统测试设备可以是个人计算机(personal computer,pc)、笔记本电脑、服务器等具有数据处理功能的设备。
[0138]
图5示出了本发明一实施例中高度跟随系统测试设备的硬件结构示意图。
[0139]
参照图5,本发明实施例中,高度跟随系统测试设备可以包括处理器1001(例如中央处理器central processing unit,cpu),通信总线1002,用户接口1003,网络接口1004,存储器1005。其中,通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信;用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard);网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真wireless-fidelity,wi-fi接口);存储器1005可以是高速随机存取存储器(random access memory,ram),也可以是稳定的存储器(non-volatile memory),例如磁盘存储器,存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。本领域技术人员可以理解,图5中示出的硬件结构并不构成对本发明的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
[0140]
继续参照图5,图5中作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及高度跟随系统测试程序。其中,处理器1001可以调用存储器1005中存储的高度跟随系统测试程序,并执行本发明实施例提供的高度跟随系统测试方法。
[0141]
第四方面,本发明实施例还提供一种可读存储介质。
[0142]
本发明可读存储介质上存储有高度跟随系统测试程序,其中所述高度跟随系统测试程序被处理器执行时,实现如上述的高度跟随系统测试方法的步骤。
[0143]
其中,高度跟随系统测试程序被执行时所实现的方法可参照本发明高度跟随系统测试方法的各个实施例,此处不再赘述。
[0144]
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
[0145]
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
[0146]
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备执行本发明各个实施例所述的方法。
[0147]
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

技术特征:
1.一种高度跟随系统测试方法,其特征在于,所述高度跟随系统测试方法包括:获取高度测量模块对量块上预设位置的初始测量值;确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值;开启高度跟随控制模块,以使所述高度调节模块基于所述高度测量模块的测量值沿所述高度方向移动;控制所述量块以预设速度沿水平方向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向;获取所述高度测量模块的多个实时测量值和所述高度调节模块的多个实时高度值;根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度;根据所述初始测量值、所述初始高度值、多个所述实时测量值和多个所述实时高度值计算得到跟随精度。2.如权利要求1所述的高度跟随系统测试方法,其特征在于,所述确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值的步骤包括:沿高度方向移动高度调节模块,以使固定于所述高度调节模块上的光学系统对焦所述量块;获取所述高度调节模块在所述高度方向上的初始高度值。3.如权利要求1所述的高度跟随系统测试方法,其特征在于,所述控制所述量块以预设速度沿水平方向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向的步骤包括:控制所述量块以预设速度沿水平方向正向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块的第一边缘位置至第二边缘位置的路径上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向,所述第一边缘位置和所述第二边缘位置分别位于所述量块沿所述水平方向的两侧边缘;控制所述量块以所述预设速度沿所述水平方向反向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块的所述第二边缘位置至所述第一边缘位置的路径上高度不同的多个位置。4.如权利要求1所述的高度跟随系统测试方法,其特征在于,所述量块朝向所述高度测量模块的一侧设有相对所述高度方向和所述水平方向倾斜的测量斜面;所述根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度的步骤包括:根据所述测量斜面与所述水平方向的夹角计算得到换算系数;将所述预设速度乘以所述换算系数得到所述跟随速度。5.如权利要求1所述的高度跟随系统测试方法,其特征在于,所述量块为等腰三棱柱,所述量块的底面垂直于所述高度方向,所述量块的横截面平行于所述水平方向;所述根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度的步骤包括:根据所述量块的高度和底部宽度计算得到换算系数;将所述预设速度乘以所述换算系数得到所述跟随速度。6.如权利要求5所述的高度跟随系统测试方法,其特征在于,所述预设位置的高度为所述量块的高度的一半。7.如权利要求1所述的高度跟随系统测试方法,其特征在于,所述根据所述初始测量值、所述初始高度值、多个所述实时测量值和多个所述实时高度值计算得到跟随精度的步
骤包括:将多个所述实时测量值分别减去所述初始测量值,得到多个量块表面高度位移量;将多个所述实时高度值分别减去所述初始高度值,得到多个实际跟随位移量;将各所述量块表面高度位移量减去对应的所述实际跟随位移量,得到多个实时偏差值;计算多个所述实时偏差值的平均值,得到跟随精度。8.一种高度跟随系统测试装置,其特征在于,所述高度跟随系统测试装置包括:第一初始模块,用于获取高度测量模块对量块上预设位置的初始测量值;第二初始模块,用于确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值;开启模块,用于开启高度跟随控制模块,以使所述高度调节模块基于所述高度测量模块的测量值沿所述高度方向移动;控制模块,用于控制所述量块以预设速度沿水平方向运动,以使所述高度测量模块测量所述量块上高度不同的多个位置,其中,所述水平方向垂直于所述高度方向;获取模块,用于获取所述高度测量模块的多个实时测量值和所述高度调节模块的多个实时高度值;第一计算模块,用于根据所述量块的尺寸数据和所述预设速度计算得到跟随速度;第二计算模块,用于根据所述初始测量值、所述初始高度值、多个所述实时测量值和多个所述实时高度值计算得到跟随精度。9.一种高度跟随系统测试设备,其特征在于,所述高度跟随系统测试设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的高度跟随系统测试程序,其中所述高度跟随系统测试程序被所述处理器执行时,实现如权利要求1至7中任一项所述的高度跟随系统测试方法的步骤。10.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有高度跟随系统测试程序,其中所述高度跟随系统测试程序被处理器执行时,实现如权利要求1至7中任一项所述的高度跟随系统测试方法的步骤。

技术总结
本发明提供一种高度跟随系统测试方法、装置、设备及可读存储介质,高度跟随系统测试方法包括:获取高度测量模块对量块上预设位置的初始测量值;确定高度调节模块在高度方向上的初始高度值;开启高度跟随控制模块;控制量块以预设速度沿水平方向运动;获取高度测量模块的多个实时测量值和高度调节模块的多个实时高度值;根据量块的尺寸数据和预设速度计算得到跟随速度;根据初始测量值、初始高度值、多个实时测量值和多个实时高度值计算得到跟随精度。本发明提供的高度跟随系统测试方法无需使用振动发生装置,简化了测试装置与条件,提高了测试效率。了测试效率。了测试效率。


技术研发人员:冯奇 王雷
受保护的技术使用者:武汉精测电子集团股份有限公司
技术研发日:2023.03.28
技术公布日:2023/7/17
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