一种测试硬盘与产品配合最优性能方法与流程

1.本发明涉及硬盘的性能测试领域，特别涉及一种测试硬盘与产品配合最优性能方法。


背景技术：

2.当前测试硬盘性能的主要参数来源于厂商spec，不同服务器cpu与配置的测试参数并不一致，当前测试按照厂商提供参数测试会出现不满足情况，需要重复加压参数调整达到性能最优，浪费时间人力。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于提供一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，在没有spec情况也能在不同配置下摸底出最优参数，节约时间人力，同时也满足线程深度性能测试要求。
4.本发明解决其技术问题，采用的技术方案是：一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，包括如下步骤：获取待测试硬盘的种类；为不同种类的待测试硬盘设置对应的前置条件；在待测试硬盘在进行性能测试之前，获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数；基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数；以最优深度参数为基准，获取最优线程参数；采用最优线程参数和最优深度参数对硬盘进行性能测试。
5.作为进一步优化，所述待测试硬盘的种类包括固态硬盘ssd和机械硬盘hdd。
6.作为进一步优化，针对机械硬盘hdd，所述获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数，具体为：对待测机械硬盘的盘片直接进行深度测试，默认线程为1，深度由32递增到1024变化；分别进行小块随机写和随机读，判定数据图形iops，获取到深度的饱和点，即获取到随机场景测试下的深度数；分别进行大块顺序写和顺序读，判定数据图形bw，获取到深度的饱和点，即获取到顺序场景测试下的深度数。
7.作为进一步优化，所述基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数，是指：当获取到机械硬盘hdd随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数后，查询数据图形iops和数据图形bw；当数据图形iops中的深度数和数据图形bw中的深度数均达到平衡时，确认此时的
深度数为机械硬盘hdd的最优深度参数。
8.作为进一步优化，所述以最优深度参数为基准，获取最优线程参数，具体为：当获取到机械硬盘hdd的最优深度参数后，以最优深度参数为基准，进行小块随机读写线程由1递增到64变化判定数据图形iops；获取数据图形iops中线程的饱和点，顺序默认线程为1，此时线程的饱和点即为机械硬盘hdd的最优线程参数。
9.作为进一步优化，所述固态硬盘ssd在获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数之前进行写数据预埋。
10.作为进一步优化，针对固态硬盘ssd，所述获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数，具体为：对待测固态硬盘ssd的盘片进行擦除，全盘顺序写两遍；默认线程为1，分别进行大块顺序写和顺序读，进行深度测试，深度由32递增到1024变化；判定数据图形bw，获取到深度的饱和点，即获取到顺序场景测试下的深度数；获取到顺序场景下的深度数后，进行小块随机写到稳态，并分别进行小块随机写和随机读，进行深度测试，深度由32递增到1024变化；判定数据图形iops，获取到深度的饱和点，即获取到随机场景测试下的深度数。
11.作为进一步优化，所述基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数，是指：当获取到固态硬盘ssd随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数后，查询数据图形iops和数据图形bw；当数据图形iops中的深度数和数据图形bw中的深度数均达到平衡时，确认此时的深度数为固态硬盘ssd的最优深度参数。
12.作为进一步优化，所述以最优深度参数为基准，获取最优线程参数，具体为：当获取到机械硬盘ssd的最优深度参数后，以最优深度参数为基准，进行小块随机读写线程由1递增到64变化判定数据图形iops；获取数据图形iops中线程的饱和点，顺序默认线程为1，此时线程的饱和点即为固态硬盘ssd的最优线程参数。
13.本发明的有益效果是：通过上述一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，首先，获取待测试硬盘的种类；其次，为不同种类的待测试硬盘设置对应的前置条件；然后，在待测试硬盘在进行性能测试之前，获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数；然后，基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数；然后，以最优深度参数为基准，获取最优线程参数；最后，采用最优线程参数和最优深度参数对硬盘进行性能测试。
14.因此，本发明能够在进行性能测试前对硬盘的线程变化和深度变化进行摸底，产生数据的图形进行分析，分析得出最优的线程数和深度数，获取到此参数后进行基本性能测试或者长时间稳定性测试，更快达到此配置最优性能，并且，在没有spec情况也能在不同配置下摸底出最优参数，节约时间人力，同时也满足线程深度性能测试。
附图说明
15.图1为本发明实施例1中一种测试硬盘与产品配合最优性能方法的流程图；图2为本发明实施例2中4k随机写，线程为1，深度从1-128变化获取到iops数据趋势图；图3为本发明实施例2中128k顺序读带宽测试，深度为s3/s4获取到最优深度值，线程从1-128变化获取到bw数据趋势图。
具体实施方式
16.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
17.实施例1本实施例提供的是一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其流程图见图1，其中，该方法包括如下步骤：s1、获取待测试硬盘的种类；s2、为不同种类的待测试硬盘设置对应的前置条件；s3、在待测试硬盘在进行性能测试之前，获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数；s4、基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数；s5、以最优深度参数为基准，获取最优线程参数；s6、采用最优线程参数和最优深度参数对硬盘进行性能测试。
18.本实施例的上述方法，对于硬盘性能测试线程和深度对性能的影响来确保两者参数配合达到硬盘性能最优的饱和点，而不同服务器不同cpu的差异会导致盘片的压力不同，所以能确保每个场景下发挥出盘片最大能力的最优参数；针对不同类型盘片如机械盘、固态硬盘，所需前置条件不一致，为了更好让盘片性能趋于稳定，固态硬盘特性导致需要写数据预埋；机械盘与固态硬盘随机场景与顺序场景间差异，顺序场景不涉及多线程，当顺序场景下采用多线程最终性能会趋于随机场景下的性能，所以对此顺序的线程不作为参考点，按照常规默认1线程为主。
19.另外，本实施例可以在进行性能测试前对硬盘的线程变化和深度变化进行摸底，产生数据的图形进行分析，分析得出最优的线程数和深度数，获取到此参数后进行基本性能测试或者长时间稳定性测试，更快达到此配置最优性能，并且，在没有spec情况也能在不同配置下摸底出最优参数，节约时间人力，同时也满足线程深度性能测试。
20.实施例2本实施例以实施例1为基础，参见图2和图3，其中，待测试硬盘的种类包括固态硬盘ssd和机械硬盘hdd。
21.图2为4k随机写，线程为1，深度从1-128变化获取到iops数据趋势图，纵坐标为iops值，横坐标为深度值，从图2趋势图中可以获取到深度为4时，硬盘iops值已经饱和，从
而确定最优深度数。
22.图3为128k顺序读带宽测试，深度为s3/s4获取到最优深度值，线程从1-128变化获取到bw数据趋势图，纵坐标为bw值，横坐标为线程值，从图3趋势图中可以获取到线程为16时，硬盘bw值已经饱和，从而确定最优线程数。
23.针对机械硬盘hdd，获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数，具体为：对待测机械硬盘的盘片直接进行深度测试，默认线程为1，深度由32递增到1024变化，大部分盘片32基本达到饱和，排除服务器压力不够对深度进行递增；分别进行小块随机写和随机读，判定数据图形iops，获取到深度的饱和点，即获取到随机场景测试下的深度数；分别进行大块顺序写和顺序读，判定数据图形bw，获取到深度的饱和点，即获取到顺序场景测试下的深度数。
24.需要指出的是，基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数，是指：当获取到机械硬盘hdd随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数后，查询数据图形iops和数据图形bw；当数据图形iops中的深度数和数据图形bw中的深度数均达到平衡时，确认此时的深度数为机械硬盘hdd的最优深度参数。
25.其中，对于机械硬盘hdd，以最优深度参数为基准，获取最优线程参数，具体为：当获取到机械硬盘hdd的最优深度参数后，以最优深度参数为基准，进行小块随机读写线程由1递增到64变化判定数据图形iops；获取数据图形iops中线程的饱和点，顺序默认线程为1，此时线程的饱和点即为机械硬盘hdd的最优线程参数。
26.本实施例中，针对不同类型盘片如机械盘、固态硬盘，所需前置条件不一致，为了更好让盘片性能趋于稳定，固态硬盘特性导致需要写数据预埋，因此，固态硬盘ssd在获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数之前进行写数据预埋。
27.针对固态硬盘ssd，获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数，具体为：对待测固态硬盘ssd的盘片进行擦除，全盘顺序写两遍；默认线程为1，分别进行大块顺序写和顺序读，进行深度测试，深度由32递增到1024变化；判定数据图形bw，获取到深度的饱和点，即获取到顺序场景测试下的深度数；获取到顺序场景下的深度数后，进行小块随机写到稳态，并分别进行小块随机写和随机读，进行深度测试，深度由32递增到1024变化；判定数据图形iops，获取到深度的饱和点，即获取到随机场景测试下的深度数。
28.这里，基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数，是指：当获取到固态硬盘ssd随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数后，查询数据图形iops和数据图形bw；
当数据图形iops中的深度数和数据图形bw中的深度数均达到平衡时，确认此时的深度数为固态硬盘ssd的最优深度参数。
29.其中，对于固态硬盘ssd，以最优深度参数为基准，获取最优线程参数，具体为：当获取到机械硬盘ssd的最优深度参数后，以最优深度参数为基准，进行小块随机读写线程由1递增到64变化判定数据图形iops；获取数据图形iops中线程的饱和点，顺序默认线程为1，此时线程的饱和点即为固态硬盘ssd的最优线程参数。
30.本实施例中，采取上述获取的到最优测试的线程深度参数后，即可使用此参数继续其他性能测试达到最优。
31.以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

技术特征：
1.一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待测试硬盘的种类；为不同种类的待测试硬盘设置对应的前置条件；在待测试硬盘在进行性能测试之前，获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数；基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数；以最优深度参数为基准，获取最优线程参数；采用最优线程参数和最优深度参数对硬盘进行性能测试。2.根据权利要求1所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，所述待测试硬盘的种类包括固态硬盘ssd和机械硬盘hdd。3.根据权利要求2所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，针对机械硬盘hdd，所述获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数，具体为：对待测机械硬盘的盘片直接进行深度测试，默认线程为1，深度由32递增到1024变化；分别进行小块随机写和随机读，判定数据图形iops，获取到深度的饱和点，即获取到随机场景测试下的深度数；分别进行大块顺序写和顺序读，判定数据图形bw，获取到深度的饱和点，即获取到顺序场景测试下的深度数。4.根据权利要求3所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，所述基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数，是指：当获取到机械硬盘hdd随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数后，查询数据图形iops和数据图形bw；当数据图形iops中的深度数和数据图形bw中的深度数均达到平衡时，确认此时的深度数为机械硬盘hdd的最优深度参数。5.根据权利要求4所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，所述以最优深度参数为基准，获取最优线程参数，具体为：当获取到机械硬盘hdd的最优深度参数后，以最优深度参数为基准，进行小块随机读写线程由1递增到64变化判定数据图形iops；获取数据图形iops中线程的饱和点，顺序默认线程为1，此时线程的饱和点即为机械硬盘hdd的最优线程参数。6.根据权利要求2所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，所述固态硬盘ssd在获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数之前进行写数据预埋。7.根据权利要求2所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，针对固态硬盘ssd，所述获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数，具体为：对待测固态硬盘ssd的盘片进行擦除，全盘顺序写两遍；默认线程为1，分别进行大块顺序写和顺序读，进行深度测试，深度由32递增到1024变化；
判定数据图形bw，获取到深度的饱和点，即获取到顺序场景测试下的深度数；获取到顺序场景下的深度数后，进行小块随机写到稳态，并分别进行小块随机写和随机读，进行深度测试，深度由32递增到1024变化；判定数据图形iops，获取到深度的饱和点，即获取到随机场景测试下的深度数。8.根据权利要求7所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，所述基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数，是指：当获取到固态硬盘ssd随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数后，查询数据图形iops和数据图形bw；当数据图形iops中的深度数和数据图形bw中的深度数均达到平衡时，确认此时的深度数为固态硬盘ssd的最优深度参数。9.根据权利要求8所述的一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，其特征在于，所述以最优深度参数为基准，获取最优线程参数，具体为：当获取到机械硬盘ssd的最优深度参数后，以最优深度参数为基准，进行小块随机读写线程由1递增到64变化判定数据图形iops；获取数据图形iops中线程的饱和点，顺序默认线程为1，此时线程的饱和点即为固态硬盘ssd的最优线程参数。

技术总结
本发明属于硬盘的性能测试领域，提出了一种测试硬盘与产品配合最优性能方法，包括：获取待测试硬盘的种类；为不同种类的待测试硬盘设置对应的前置条件；在待测试硬盘在进行性能测试之前，获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数；基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数；以最优深度参数为基准，获取最优线程参数；采用最优线程参数和最优深度参数对硬盘进行性能测试。本发明能够在进行性能测试前对硬盘的线程变化和深度变化进行摸底，产生数据的图形进行分析，分析得出最优的线程数和深度数，获取到此参数后进行基本性能测试或者长时间稳定性测试，更快达到此配置最优性能。优性能。优性能。


技术研发人员：王祥
受保护的技术使用者：四川华鲲振宇智能科技有限责任公司
技术研发日：2023.06.14
技术公布日：2023/7/17