保险杠材料复介电常数的测试方法、装置、设备及介质与流程

1.本技术涉及微波测试技术领域，尤其涉及一种保险杠材料复介电常数的测试方法、装置、设备及介质。


背景技术：

2.毫米波雷达因其探测距离远、探测精度高、角分辨力强等特点成为adas系统的主要传感器。毫米波雷达一般安装在汽车保险杠后面，保险杠设计的合理与否对毫米波雷达性能有较大的影响，因此在保险杠设计前期分析保险杠对毫米波雷达性能的影响就显得尤为重要。汽车保险杠一般有基材、底漆、色漆和清漆四层材料构成，而保险杠各层材料设置的合适与否直接会对毫米波雷达性能造成较大的影响，而要合适地设计保险杠各层材料参数，就必须要准确地知道其各层材料在77ghz频段的复介电常数。
3.目前常用的方式有两种：一种是按照实际保险杠的工艺制作平板型保险杠样片，直接使用网络分析仪直接测试保险杠样片的插入损耗和反射损耗，以及等效复介电常数；第二种是直接使用雷达测试保险杠对雷达性能的影响，但是这两种方法都不能得到保险杠各层材料的复介电常数，并且第二种方法只能在保险杠设计完成后使用实际保险杠进行测试，不利于在保险杠设计前期仿真分析其对雷达性能的影响。
4.因此，迫切需要找到一种方便高效准确地测得保险杠各层材料复介电常数的方法。


技术实现要素：

5.本技术提供了一种保险杠材料复介电常数的测试方法、装置、设备及存储介质，旨在提高保险杠各层材料复介电常数测算的准确性。
6.第一方面，本技术提供一种保险杠材料复介电常数的测试方法，所述方法包括：获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样板上包括至少一层所述介质材料；基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗；基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。
7.进一步地，所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗之前，还包括：获取所述介质材料的传输矩阵；基于所述传输矩阵和所述s参数的转换关系，获取回波损耗计算公式；
其中，所述传输矩阵为：其中，t为介质材料的层数，为第i层介质材料层的等效电气长度，为第i层介质材料厚度，为电磁波波长，=c/f，c为光速，f为电磁波频率，为第i层介质材料的复介电常数，，θ为射角，j表示虚数单位，为第i层介质材料的介电常数，为第i层介质材料的损耗正切，为第i层介质材料相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：空间的归一化等效特性阻抗：其中，所述传输矩阵与所述s参数的转换关系为：其中，所述回波损耗计算公式为：其中，所述rl为回波损耗。
8.进一步地，所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，包括：基于所述预设频率范围内的频率与所述s参数的对应关系，将所述s参数划分为至少一个频段，获得至少一个子频率范围，其中，所述子频率范围包括至少一个频点；基于所述回波损耗计算公式和各所述介质材料的材料厚度，计算所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗。
9.进一步地，所述基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数，包括：基于所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗，以及各所述频点对应的回波损耗实测值，计算所述子频率范围对应的损耗正切初始值和介电常数初始值；对所述子频率范围对应的所述损耗正切初始值和所述介电常数初始值进行曲线拟合，获得各所述频点对应的损耗正切拟合值和介电常数拟合值；基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数。
10.进一步地，所述基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数，包括：获取各所述预设测试位置对应计算的各所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值；计算对应同一频点的所述损耗正切拟合值的均值，获得所述介质材料的所述损耗正切；计算对应同一频点的所述介电常数拟合值的均值，获得所述介质材料的所述介电常数。
11.进一步地，所述介质材料包括基材、底漆、色漆和清漆；所述测试样板包括基材样板，基材-底漆样板、基材-底漆-色漆样板以及基材-底漆-色漆-清漆样板。
12.进一步地，所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，包括：在所述测试样板包括多层所述介质材料时，基于已测介质材料的所述介电常数和所述损耗正切、待测介质材料的材料厚度以及所述预设测试位置对应的所述s参数，计算所述预设测试位置处所述待测介质材料在所述预设频率范围内的至少一个回波损耗。
13.第二方面，本技术还提供一种保险杠材料复介电常数的测试装置，所述保险杠材料复介电常数的测试装置包括：样板测量模块，用于获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样板上包括至少一层所述介质材料；回波损耗计算模块，用于基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗；介电常数计算模块，用于基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。
14.第三方面，本技术还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如上述的保险杠材料复介电常数的测试方法的步骤。
15.第四方面，本技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中所述计算机程序被处理器执行时，实现如上述的保险杠材料复介电常数的测试方法的步骤。
16.本技术提供一种保险杠材料复介电常数的测试方法、装置、设备及存储介质，本技术方法包括获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样板上包括至少一层所述介质材料；基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗；基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，
计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。通过上述方式，通过测量测试样板上预设测试位置的s参数以及各介质材料的材料厚度，依次计算各介质材料在预设频率范围内的回波损耗，根据各介质材料的回波损耗，计算各层介质材料的损耗正切和介电常数。通过对多层样板上各层介质材料的介电常数的测量和计算，实现对介质材料的分层测量，提高不同介质材料的介电常数的测量准确性。
附图说明
17.为了更清楚地说明本技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1为本技术提供的一种保险杠材料复介电常数的测试方法第一实施例的流程示意图；图2为本技术实施例提供的s参数的无源二端口网络传输通道的信号传输示意图；图3为本技术实施例提供的测试样板、测试夹具与网络分析仪的连接示意图；图4为本技术提供的一种回波损耗计算公式获取方式的流程示意图；图5为本技术实施例提供的一种保险杠材料复介电常数的测试方法第二实施例的流程示意图；图6为本技术实施例提供的一种保险杠材料复介电常数的测试方法第三实施例的流程示意图；图7为本技术实施例提供的一种保险杠材料复介电常数的测试方法测得的色漆介电常数曲线示意图；图8为本技术实施例提供的一种保险杠材料复介电常数的测试方法测得的色漆损耗正切曲线示意图；图9是本技术提供的一种保险杠材料复介电常数的测试装置的结构示意图；图10是本技术实施例提供的一种计算机设备的结构示意性框图。
19.本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
20.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
21.附图中所示的流程图仅是示例说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
22.下面结合附图，对本技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
23.请参照图1，图1为本技术提供的一种保险杠材料复介电常数的测试方法第一实施例的流程示意图。
24.如图1所示，该保险杠材料复介电常数的测试方法包括步骤s101至步骤s103。
25.步骤s101、获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样板上包括至少一层所述介质材料；在一实施例中，所述介质材料包括基材、底漆、色漆和清漆；所述测试样板包括基材样板，基材-底漆样板、基材-底漆-色漆样板以及基材-底漆-色漆-清漆样板。
26.在一实施例中，保险杠通常有四层组成，从内到外依次是基材、底漆、色漆、清漆，采用车辆保险杠相同工艺分别制作合适尺寸（比如100mm*100mm）的基材样板pc、基材+底漆样板pd、基材+底漆+色漆样板pe、基材＋底漆+色漆+清漆样板pf四种类型的平板型样件各b件（b≥5），并分别编号为pc1~pcb、pd1~pdb、pe1~peb和pf1~pfb。
27.在一实施例中，连接网络分析仪和 swiss to 12 materials characterization kit测试设备（下文简称mck），在校准后分别测试四种平板型样件的每一块测试样板在[f_down，f_up]频率范围内的s参数。
[0028]
其中，s参数的全称为scatter 参数，即散射参数，是在传输线两端有终端的条件下定义出来的。如图2所示，把传输通道作为一个黑盒子看待，s参数描述的是这个黑盒子本身的频域特性。通过s参数，能看到传输通道的几乎全部特性，例如信号的反射，串扰，损耗等。
[0029]
其中，s参数可以表示为：
[0030]
在一实施例中，如图3所示，将网络分析仪两个端口分别与mck的两个端口对应相连接，使用网线将电脑与网络分析仪相连，打开电脑上mck的控制程序，设置好需要测试的预设频率范围[f_down,f_up]，将金属校准片放入校准mck的夹具中并夹紧，校准mck的s11，然后取出金属校准片，将mck夹具的两端口直接对接紧密，校准mck的s21。
[0031]
在一实施例中，将基材样板pc1~pcb，依次放入mck夹具中并夹紧，每块样板测试四处不同位置的s参数s_pcip，并将测试结果与样板上的测试位置做好一一对应的标记。其中，s_pcip表示编号为pci的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0032]
在一实施例中，可以使用千分尺测量每块基材样板每个测试位置的厚度h_pcip，其中，h_pcip表示编号为pci的基材样板第p个位置的厚度。
[0033]
在一实施例中，每块测试样板可以分别选取四处预设测试位置进行测试，记录下所测的s参数s_tes，并标识好每一次的测试位置，切片测试每个测试位置基材的厚度h1、底漆厚度h2、色漆厚度h3、清漆厚度h4，如果某种类型的样板缺少某层材料，那么对应的材料厚度就记为0，比如样件pc只有基材，那么其他几层材料的厚度就为0。
[0034]
进一步地，如图4所示，所述步骤s101之前，还包括：步骤s201、获取所述介质材料的传输矩阵；
步骤s202、基于所述传输矩阵和所述s参数的转换关系，获取回波损耗计算公式。
[0035]
其中，所述传输矩阵为：其中，t为介质材料的层数，为第i层介质材料层的等效电气长度，为第i层介质材料厚度，为电磁波波长，=c/f，c为光速，f为电磁波频率，为第i层介质材料的复介电常数，，θ为射角，j表示虚数单位，为第i层介质材料的介电常数，为第i层介质材料的损耗正切，为第i层介质材料相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：空间的归一化等效特性阻抗：其中，所述传输矩阵与所述s参数的转换关系为：其中，所述回波损耗计算公式为：其中，所述rl为回波损耗。
[0036]
步骤s102、基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗。
[0037]
在一实施例中，在所述测试样板包括多层所述介质材料时，基于已测介质材料的所述介电常数和所述损耗正切、待测介质材料的材料厚度以及所述预设测试位置对应的所述s参数，计算所述预设测试位置处所述待测介质材料在所述预设频率范围内的至少一个回波损耗。
[0038]
在一实施例中，根据测试得到的s参数，根据测试样板中介质材料的不同，代入回波损耗计算公式中的数据不同。对于基材样板，只需要将s参数和厚度代入回波损耗计算公式中，而对于包括多层不同介质材料的其他测试样板，则需要将当前s参数、介质材料的厚度以及已测介质材料的介电常数和损耗正切代入到回波损耗计算公式中，以计算当前测试样板中多层介质材料的回波损耗。
[0039]
其中，回波损耗是以对数形式(db) 表示反射系数的一种方法。回波损耗是反射信号低于入射信号的db 数。回波损耗总是负数，介于0db（全反射）和负无限大（理想匹配）之
间。
[0040]
步骤s103、基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。
[0041]
本实施例中，根据预设频率范围，将s参数按照频率划分，然后计算每一个频率段的回波损耗，对于每一频率段，将其中使得回波损耗最小的损耗正切和介电常数作为初始值，然后计算多个样板计算得到的各介质材料的初始值均值，作为介质材料的损耗正切和介电常数。
[0042]
本技术实施例提供了一种保险杠材料复介电常数的测试方法，该方法通过测量测试样板上预设测试位置的s参数以及各介质材料的材料厚度，依次计算各介质材料在预设频率范围内的回波损耗，根据各介质材料的回波损耗，计算各层介质材料的损耗正切和介电常数。通过对多层样板上各层介质材料的介电常数的测量和计算，实现对介质材料的分层测量，提高不同介质材料的介电常数的测量准确性。
[0043]
请参照图5，图5为本技术实施例提供的一种保险杠材料复介电常数的测试方法第二实施例的流程示意图。
[0044]
本实施例中，基于上述图1所示实施例，所述步骤s102，具体包括：步骤s301、基于所述预设频率范围内的频率与所述s参数的对应关系，将所述s参数划分为至少一个频段，获得至少一个子频率范围，其中，所述子频率范围包括至少一个频点。
[0045]
在一实施例中，对于测试样板上每个测试位置所测得的s参数，s参数的第一列是在[f_down,f_up]范围内的多个离散频点组成的列向量sf，将s参数按照频率划分成m个频段，每个频段n个频点。
[0046]
其中，对于基材样板pc上每个测试位置所测得的s参数可以记作s_pcip，表示编号为pci的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0047]
对于基材+底漆样板pd上每个测试位置所测得的s参数可以记作s_pdip，表示编号为pdi的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0048]
对于基材+底漆+色漆样板pe上每个测试位置所测得的s参数可以记作s_peip，表示编号为pei的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0049]
对于基材+底漆+色漆+清漆样板pf上每个测试位置所测得的s参数可以记作s_pfip，表示编号为pfi的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0050]
步骤s302、基于所述回波损耗计算公式和各所述介质材料的材料厚度，计算所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗。
[0051]
在一实施例中，把每个测试位置对应的s参数和厚度代入到回波损耗计算公式中，当每个频段很小时，就可以认为在该频段范围，基材样板pc所用材料的dk和df都是不变的，这样通过对dk和df进行参数扫描的方式计算每段频率范围内每个频点的回波损耗。
[0052]
其中，对于基材样板pc，基材样板pc上每个测试位置所测得的厚度记作h_pcip，表示编号为pci的基材样板第p个位置的厚度。
[0053]
对于基材+底漆样板pd，将每块基材+底漆样板pd在每个测试位置进行切片，然后使用影像测试仪测量每个测试位置的基材厚度h1_pdip和底漆厚度h2_pdip，其中，h1_pdip和h2_pdip分别表示编号为pdi的基材+底漆样板第p个位置的基材厚度和底漆厚度。
[0054]
对于基材+底漆+色漆样板pe，将每块基材+底漆+色漆样板pe在每个测试位置进行切片，然后使用影像测试仪测量每个测试位置的基材厚度h1_peip、底漆厚度h2_peip和色漆厚度h3_peip其中，h1_peip、h2_peip和h3_peip分别表示编号为pei的基材+底漆+色漆样板第p个位置的基材厚度、底漆厚度和色漆厚度。
[0055]
对于基材+底漆+色漆+清漆样板pf，将每块基材+底漆+色漆+色漆样板pf在每个测试位置进行切片，然后使用影像测试仪测量每个测试位置的基材厚度h1_pfip、底漆厚度h2_pfip、色漆厚度h3_pfip和清漆厚度h4_pfip，其中，h1_peip、h2_peip、h3_peip和h4_pfip分别表示编号为pfi的基材+底漆+色漆+清漆样板第p个位置的基材厚度、底漆厚度、色漆厚度和清漆厚度。
[0056]
进一步地，如图6所示，基于上述图5所示实施例，所述步骤s103，包括：步骤s401、基于所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗，以及各所述频点对应的回波损耗实测值，计算所述子频率范围对应的损耗正切初始值和介电常数初始值。
[0057]
本实施例中，对于测试样板上每一个预设测试位置所测得的s参数，按照频率划分成m个频段，每个频段n个频点，将该预设测试位置测得的介质材料厚度代入回波损耗计算公式中，计算回波损耗。通过参数扫描的方式分别计算每段频率范围内每个频点的回波损耗，对于第p段频率范围，使得rl_del最小的介电常数和损耗正切即为该段频率范围内的基材pc的介电常数初始值和损耗正切初始值：其中，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗计算值，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗实测值，，s11_tes_p_i表示第p段频率范围内第i个频点的s11实测值。
[0058]
步骤s402、对所述子频率范围对应的所述损耗正切初始值和所述介电常数初始值进行曲线拟合，获得各所述频点对应的损耗正切拟合值和介电常数拟合值。
[0059]
在一实施例中，然后将所得到的m*n个dk和df经过拟合平滑处理，即可得到测试样板所用介质材料在[f_down，f_up]频率范围内介电常数拟合值和损耗正切拟合值。
[0060]
步骤s403、基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数。
[0061]
进一步地，获取各所述预设测试位置对应计算的各所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值；计算对应同一频点的所述损耗正切拟合值的均值，获得所述介质材料的所述损耗正切；计算对应同一频点的所述介电常数拟合值的均值，获得所述介质材料的所述介电常数。
[0062]
在一实施例中，将多个同样的测试样板在不同预设测试位置对应的介电常数拟合值和损耗正切拟合值，在每个频点分别求介电常数和损耗正切的均值，即可得到测试样板所用介质材料在[f_down，f_up]频率范围内介电常数和损耗正切。
[0063]
在一实施例中，为便于本领域技术人员更清晰的理解本技术技术方案，本技术实施例就包含不同介质材料的测试样板的完整测试过程进行详细说明，测试过程如下：
在一具体实施例中，对于基材样板pc，其只有一层介质材料，其传输矩阵为：其中， 为介质层的等效电气长度，j为虚数单位，d为介质厚度，为电磁波波长，=c/f，c为光速，f为电磁波频率，为介质的复介电常数，z为相对于自由空间的归一化等效特性阻抗；其中，θ为入射角。
[0064]
其中，z为相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：z为相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：其中，θ为入射角。
[0065]
进一步地，对于基材样板pc上每个测试位置所测得的s参数s_pcip，s参数的第一列是在[f_down,f_up]范围内的多个离散频点组成的列向量sf，将s参数按照频率划分成m个频段，每个频段n个频点。
[0066]
其中，s_pcip表示编号为pci的基材样板第p个位置所测得的s参数，h_pcip表示编号为pci的基材样板第p个位置的厚度。
[0067]
进一步地，把预设测试位置对应的厚度h_pcip带入回波损耗计算公式中。通过对dk和df进行参数扫描的方式计算每段频率范围内每个频点的回波损耗。
[0068]
可以理解的是，当每个频段很小时，就可以认为在该频段范围，基材样板pc所用材料的dk和df都是不变的。
[0069]
进一步地，对于第p段频率范围，使得rl_del_p值最小的dk和df即为该段频率范围内的基材样板pc所用基材的介电常数初始值dk_pc_p和损耗正切初始值df_pc_p；其中，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗计算值，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗实测值，，s11_tes_p_i表示第p段频率范围内第i个频点的s11实测值。
[0070]
由此，可以得到在[f_down，f_up]频率范围内预设测试位置上pc样板所用基材的介电常数初始值dk_pcip_init和损耗正切初始值df_pcip_init两条关于列向量sf的曲线。
[0071]
其中，dk_pcip_init和df_pcip_init分别表示编号为pci的基材样板第p个测试位置得到基材的介电常数初始值和损耗正切初始值。
[0072]
进一步地，将介电常数初始值dk_pcip_init和损耗正切初始值df_pcip_init两条曲线先使用多项式函数polyfit(x,y,n)分别进行曲线拟合，得到拟合后的基材介电常数和损耗正切关于频率的两条曲线dk1_poly和df1_poly。然后使用函数polyval计算sf中每个频点对应的介电常数拟合值dk_pcip_poly和损耗正切拟合值df_pcip_poly。
[0073]
其中，x对应列向量sf的每个频点，y对应介电常数初始值dk_pcip_init或损耗正
切初始值df_pcip_init，n为最高拟合的阶数。
[0074]
进一步地，将b个pc样板共计4*b条在[f_down，f_up]频率范围内基材介电常数拟合值dk_pcip_poly和损耗正切拟合值df_pcip_poly，在列向量sf每个频点上分别求介电常数和损耗正切均值，即可得到pc样板所用基材在[f_down，f_up]频率范围内介电常数dk_pc和损耗正切df_pc。
[0075]
其中，b为基材pc样板的数量，为保证测试结果，可以是5块以上的基材样板。
[0076]
在另一具体实施例中，对于基材+底漆样板pd，先连接好电脑、mck和网络分析仪，在完成校准后，将基材+底漆样板pd1~pdb，依次放入mck夹具中并夹紧，每块样板可以测试四处不同位置的s参数s_pdip，并将测试结果与样板上的测试位置做好一一对应的标记。
[0077]
其中，s_pdip表示编号为pdi的pd样板第p个位置所测得的s参数。
[0078]
进一步地，对每块基材+底漆样板pd，在每个测试位置进行切片，然后使用影像测试仪测量每个测试位置的基材厚度h1_pdip和底漆厚度h2_pdip其中，h1_pdip和h2_pdip分别表示编号为pdi的基材+底漆样板第p个位置的基材厚度和底漆厚度。
[0079]
可以理解的是，对于基材+底漆样板pd，它有2层介质，第i层介质的传输矩阵为：其中， 为第i层介质层的等效电气长度，为第i层介质厚度，为电磁波波长，=c/f，c为光速，f为电磁波频率，为第i层介质的复介电常数，，θ为入射角，为第i层介质材料的介电常数，为第i层介质材料的损耗正切，j为虚数单位。
[0080]
其中，为第i层介质相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：为第i层介质相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：那么，t层介质的总的传输矩阵为：其中，对于基材+底漆样板pd，t即为2。
[0081]
利用传输矩阵与s参数的转换关系式，可以得到回波损耗rl计算公式如下：进一步地，对于基材+底漆样板pd上每个测试位置所测得的s参数s_pdip，s参数的第一列是在[f_down,f_up]范围内的多个离散频点组成的列向量sf，将s参数按照频率划分成m个频段，每个频段n个频点。其中，s_pdip表示编号为pdi的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0082]
进一步地，把预设测试位置对应的基材厚度h1_pdip、底漆厚度h2_pdip以及基于基材pc样板测量所得的基材的介电常数dk_pc和损耗正切df_pc带入回波损耗计算公式中。
[0083]
可以理解的是，当每个频段很小时，就可以认为在该频段范围，基材+底漆样板pd所用底漆的介电常数dk_pd和损耗正切df_pd都是不变的。
[0084]
进一步地，通过对底漆的介电常数dk_pd和损耗正切df_pd进行参数扫描的方式计算每段频率范围内每个频点的回波损耗。
[0085]
进一步地，对于第p段频率范围，使得rl_del_p值最小的dk_pd和df_pd即为该段频率范围内的基材+底漆样板pd所用底漆的介电常数初始值dk_pd_p和损耗正切初始值df_pd_p；其中，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗计算值，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗实测值，，s11_tes_p_i表示第p段频率范围内第i个频点的s11实测值。
[0086]
由此，得到在[f_down，f_up]频率范围内预设测试位置上样板pd所用底漆的介电常数初始值dk_pdip_init和损耗正切初始值df_pdip_init两条关于列向量sf的曲线。
[0087]
其中，dk_pdip_init和df_pdip_init分别表示编号为pdi的基材+底漆样板第p个测试位置得到底漆的介电常数初始值和损耗正切初始值。
[0088]
进一步地，将介电常数初始值dk_pdip_init和损耗正切初始值df_pdip_init两条曲线先使用多项式函数polyfit(x,y,n)分别进行曲线拟合，得到拟合后的介电常数和损耗正切关于频率的两条曲线dk2_poly和df2_poly。然后使用函数polyval计算sf中每个频点对应的介电常数拟合值dk_pdip_poly和损耗正切拟合值df_pdip_poly。
[0089]
其中，x对应列向量sf的每个频点，y对应介电常数初始值dk_pdip_init或损耗正切初始值df_pdip_init，n为最高拟合的阶数。
[0090]
进一步地，将b个pd样板共计4*b条在[f_down，f_up]频率范围内底漆介电常数拟合值dk_pdip_poly和损耗正切拟合值df_pdip_poly，在列向量sf每个频点上分别求介电常数和损耗正切均值，即可得到pd样板所用底漆在[f_down，f_up]频率范围内介电常数dk_pd和损耗正切df_pd。
[0091]
其中，b为基材+底漆样板pd的数量，为保证测试结果，可以是5块以上的基材样板。
[0092]
在另一具体实施例中，对于基材+底漆+色漆样板pe，先连接好电脑、mck和网络分析仪，在完成校准后，将基材+底漆+色漆样板pe1~peb，依次放入mck夹具中并夹紧，每块样板测试四处不同位置的s参数s_peip，并将测试结果与样板上的测试位置做好一一对应的标记。
[0093]
其中，s_peip表示编号为pei的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0094]
进一步地，对于每块基材+底漆+色漆样板pe，在每个测试位置进行切片，然后使用影像测试仪测量每个测试位置的基材厚度h1_peip、底漆厚度h2_peip和色漆厚度h3_peip；其中，h1_peip、h2_peip和h3_peip分别表示编号为pei的基材+底漆+色漆样板第p个位置的基材厚度、底漆厚度和色漆厚度。
[0095]
可以理解的是，根据多层介质传输矩阵与s参数的转换关系同样可以得到回波损耗的计算公式：
进一步地，对于基材+底漆+色漆样板pe上每个测试位置所测得的s参数s_peip，s参数的第一列是在[f_down,f_up]范围内的多个离散频点组成的列向量sf，将s参数按照频率划分成m个频段，每个频段n个频点。
[0096]
其中，s_peip表示编号为pei的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0097]
进一步地，把预设测试位置对应的基材厚度h1_peip、底漆厚度h2_peip、色漆厚度h3_peip、基于基材pc样板测得的基材的介电常数dk_pc和损耗正切df_pc以及基于pd样板测得的底漆介电常数dk_pd和损耗正切df_pd带入回波损耗计算公式中。通过对色漆的介电常数dk_pe和损耗正切df_pe进行参数扫描的方式计算每段频率范围内每个频点的回波损耗。
[0098]
可以理解的是，当每个频段很小时，就可以认为在该频段范围，基材+底漆+色漆样板pe所用色漆的介电常数dk_pe和损耗正切df_pe都是不变的。
[0099]
进一步地，对于第p段频率范围，使得rl_del_p值最小的dk_pe和df_pe即为该段频率范围内的基材+底漆+色漆样板pe所用色漆的介电常数初始值dk_pe_p和损耗正切初始值df_pe_p；其中，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗计算值，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗实测值，，s11_tes_p_i表示第p段频率范围内第i个频点的s11实测值。
[0100]
由此，如图7和图8所示，可以得到在[f_down，f_up]频率范围内，预设测试位置上样板pe所用色漆的介电常数初始值dk_peip_init和损耗正切初始值df_peip_init两条关于列向量sf的曲线。
[0101]
其中，dk_peip_init和df_peip_init分别表示编号为pei的基材+底漆+色漆样板第p个测试位置得到色漆的介电常数初始值和损耗正切初始值。
[0102]
进一步地，将介电常数初始值dk_peip_init和损耗正切初始值df_peip_init两条曲线先使用多项式函数polyfit(x,y,n)分别进行曲线拟合，得到拟合后的介电常数和损耗正切关于频率的两条曲线dk2_poly和df2_poly。然后使用函数polyval计算sf中每个频点对应的介电常数拟合值dk_peip_poly和损耗正切拟合值df_peip_poly。
[0103]
其中，x对应列向量sf的每个频点，y对应介电常数初始值dk_peip_init或损耗正切初始值df_peip_init，n为最高拟合的阶数。
[0104]
进一步地，将b个pe样板共计4*b条在[f_down，f_up]频率范围内色漆介电常数拟合值dk_peip_poly和损耗正切拟合值df_peip_poly，在列向量sf每个频点上分别求介电常数和损耗正切均值，即可得到pe样板所用色漆在[f_down，f_up]频率范围内介电常数dk_pe和损耗正切df_pe。
[0105]
其中，b为基材+底漆+色漆样板pe的数量，为保证测试结果，可以是5块以上的pe样板。
[0106]
在另一具体实施例中，对于基材+底漆+色漆+清漆样板pf，先连接好电脑、mck和网络分析仪，在完成校准后，将基材+底漆+色漆样板pf1~pfb，依次放入mck夹具中并夹紧，每块样板测试四处不同位置的s参数s_pfip，并将测试结果与样板上的测试位置做好一一对应的标记。
[0107]
其中，s_pfip表示编号为pfi的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0108]
进一步地，将每块基材+底漆+色漆+色漆样板pf在每个预设测试位置进行切片，然后使用影像测试仪测量每个测试位置的基材厚度h1_pfip、底漆厚度h2_pfip、色漆厚度h3_pfip和清漆厚度h4_pfip。
[0109]
其中，h1_peip、h2_peip、h3_peip和h4_pfip分别表示编号为pfi的基材+底漆+色漆+清漆样板第p个位置的基材厚度、底漆厚度、色漆厚度和清漆厚度。
[0110]
可以理解的是，根据多层介质传输矩阵与s参数的转换关系，可以得到回波损耗计算公式：进一步地，对于基材+底漆+色漆+清漆样板pf上每个测试位置所测得的s参数s_pfip，s参数的第一列是在[f_down,f_up]范围内的多个离散频点组成的列向量sf，将s参数按照频率划分成m个频段，每个频段n个频点。
[0111]
其中，s_pfip表示编号为pfi的基材样板第p个位置所测得的s参数。
[0112]
进一步地，把预设测试位置对应的基材厚度h1_pfip、底漆厚度h2_pfip、色漆厚度h3_pfip、清漆厚度h4_pfip、基于pc板材测得的基材的介电常数dk_pc和损耗正切df_pc、基于pd板材测得的底漆介电常数dk_pd和损耗正切df_pd以及基于pe板材测得的色漆介电常数dk_pe和损耗正切df_pe带入回波损耗计算公式中，通过对清漆的介电常数dk_pf和损耗正切df_pf进行参数扫描的方式计算每段频率范围内每个频点的回波损耗。
[0113]
可以理解的是，当每个频段很小时，就可以认为在该频段范围，基材+底漆+色漆+清漆样板pf所用清漆的介电常数dk_pf和损耗正切df_pf都是不变的。
[0114]
进一步地，对于第p段频率范围，使得rl_del_p值最小的dk_pf和df_pf即为该段频率范围内的基材+底漆+色漆+清漆样板pf所用色漆的介电常数初始值dk_pf_p和损耗正切初始值df_pf_p；其中，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗计算值，表示第p段频率范围内第i个频点的回波损耗实测值，，s11_tes_p_i表示pf样板第p段频率范围内第i个频点的s11实测值。
[0115]
由此，可以得到在[f_down，f_up]频率范围内，预设测试位置上样板pf所用清漆的介电常数初始值dk_pfip_init和损耗正切初始值df_pfip_init两条关于列向量sf的曲线。
[0116]
其中，dk_pfip_init和df_pfip_init分别表示编号为pfi的基材+底漆+色漆+清漆样板第p个测试位置得到清漆的介电常数初始值和损耗正切初始值。
[0117]
进一步的，将介电常数初始值dk_pfip_init和损耗正切初始值df_pfip_init两条
曲线先使用多项式函数polyfit(x,y,n)分别进行曲线拟合，得到拟合后的介电常数和损耗正切关于频率的两条曲线dk2_poly和df2_poly。然后使用函数polyval计算sf中每个频点对应的介电常数拟合值dk_pfip_poly和损耗正切拟合值df_pfip_poly。
[0118]
其中，x对应列向量sf的每个频点，y对应介电常数初始值dk_pfip_init或损耗正切初始值df_pfip_init，n为最高拟合的阶数。
[0119]
进一步地，将b个pf样板共计4*b条在[f_down，f_up]频率范围内底漆介电常数拟合值dk_pfip_poly和损耗正切拟合值df_pfip_poly，在列向量sf每个频点上分别求介电常数和损耗正切均值，即可得到pf样板所用清漆在[f_down，f_up]频率范围内介电常数dk_pf和损耗正切df_pf。
[0120]
其中，b为基材+底漆+色漆+清漆样板pf的数量，为保证测试结果，可以是5块以上的pf样板。
[0121]
请参阅图9，图9是本技术提供的一种保险杠材料复介电常数的测试装置的结构示意图，该保险杠材料复介电常数的测试装置用于执行前述的保险杠材料复介电常数的测试方法。其中，该保险杠材料复介电常数的测试装置可以配置于服务器中。
[0122]
如图9所示，该保险杠材料复介电常数的测试装置300，包括：流程编排执行模块301、目标节点选择模块302和事件流程生成模块303。
[0123]
样板测量模块301，用于获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样板上包括至少一层所述介质材料；回波损耗计算模块302，用于基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗；介电常数计算模块303，用于基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。
[0124]
在一个实施例中，所述保险杠材料复介电常数的测试装置300还包括回波损耗公式获取模块，用于获取所述介质材料的传输矩阵；基于所述传输矩阵和所述s参数的转换关系，获取回波损耗计算公式。
[0125]
在一个实施例中，所述回波损耗计算模块302，还用于基于所述预设频率范围内的频率与所述s参数的对应关系，将所述s参数划分为至少一个频段，获得至少一个子频率范围，其中，所述子频率范围包括至少一个频点；基于所述回波损耗计算公式和各所述介质材料的材料厚度，计算所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗。
[0126]
在一个实施例中，所述介电常数计算模块303，还用于基于所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗，以及各所述频点对应的回波损耗实测值，计算所述子频率范围对应的损耗正切初始值和介电常数初始值；对所述子频率范围对应的所述损耗正切初始值和所述介电常数初始值进行曲线拟合，获得各所述频点对应的损耗正切拟合值和介电常数拟合值；基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数。
[0127]
在一个实施例中，所述介电常数计算模块303，还用于获取各所述预设测试位置对应计算的各所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值；计算对应同一频点的所述损耗正
切拟合值的均值，获得所述介质材料的所述损耗正切；计算对应同一频点的所述介电常数拟合值的均值，获得所述介质材料的所述介电常数。
[0128]
在一个实施例中，所述介质材料包括基材、底漆、色漆和清漆；所述测试样板包括基材样板，基材-底漆样板、基材-底漆-色漆样板以及基材-底漆-色漆-清漆样板。
[0129]
在一个实施例中，所述回波损耗计算模块302，还用于在所述测试样板包括多层所述介质材料时，基于已测介质材料的所述介电常数和所述损耗正切、待测介质材料的材料厚度以及所述预设测试位置对应的所述s参数，计算所述预设测试位置处所述待测介质材料在所述预设频率范围内的至少一个回波损耗。
[0130]
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的装置和各模块的具体工作过程，可以参考前述保险杠材料复介电常数的测试方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0131]
上述实施例提供的装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图10所示的计算机设备上运行。
[0132]
请参阅图10，图10是本技术实施例提供的一种计算机设备的结构示意性框图。该计算机设备可以是服务器。
[0133]
参阅图10，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口，其中，存储器可以包括非易失性存储介质和内存储器。
[0134]
非易失性存储介质可存储操作系统和计算机程序。该计算机程序包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器执行任意一种保险杠材料复介电常数的测试方法。
[0135]
处理器用于提供计算和控制能力，支撑整个计算机设备的运行。
[0136]
内存储器为非易失性存储介质中的计算机程序的运行提供环境，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行任意一种保险杠材料复介电常数的测试方法。
[0137]
该网络接口用于进行网络通信，如发送分配的任务等。本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
[0138]
应当理解的是，处理器可以是中央处理单元 (central processing unit，cpu)，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器 (digital signal processor，dsp)、专用集成电路 (application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列 (field-programmable gate array，fpga) 或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
[0139]
其中，在一个实施例中，所述处理器用于运行存储在存储器中的计算机程序，以实现如下步骤：获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样板上包括至少一层所述介质材料；基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一
个回波损耗；基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。
[0140]
在一个实施例中，所述处理器在实现所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗之前，还用于实现：获取所述介质材料的传输矩阵；基于所述传输矩阵和所述s参数的转换关系，获取回波损耗计算公式；其中，所述传输矩阵为：其中，t为介质材料的层数，为第i层介质材料层的等效电气长度，为第i层介质材料厚度，为电磁波波长，=c/f，c为光速，f为电磁波频率，为第i层介质材料的复介电常数，，θ为射角，j表示虚数单位，为第i层介质材料的介电常数，为第i层介质材料的损耗正切，为第i层介质材料相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：空间的归一化等效特性阻抗：其中，所述传输矩阵与所述s参数的转换关系为：其中，所述回波损耗计算公式为：其中，所述rl为回波损耗。
[0141]
在一个实施例中，所述处理器在实现所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗时，用于实现：基于所述预设频率范围内的频率与所述s参数的对应关系，将所述s参数划分为至少一个频段，获得至少一个子频率范围，其中，所述子频率范围包括至少一个频点；基于所述回波损耗计算公式和各所述介质材料的材料厚度，计算所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗。
[0142]
在一个实施例中，所述处理器在实现所述基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数时，用于实现：基于所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗，以及各所述频点对应的回波损耗实测值，计算所述子频率范围对应的损耗正切初始值和介电常数初始值；对所述子频率范围对应的所述损耗正切初始值和所述介电常数初始值进行曲线拟合，获得各所述频点对应的损耗正切拟合值和介电常数拟合值；基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数。
[0143]
在一个实施例中，所述处理器在实现所述基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数时，用于实现：获取各所述预设测试位置对应计算的各所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值；计算对应同一频点的所述损耗正切拟合值的均值，获得所述介质材料的所述损耗正切；计算对应同一频点的所述介电常数拟合值的均值，获得所述介质材料的所述介电常数。
[0144]
在一个实施例中，所述介质材料包括基材、底漆、色漆和清漆；所述测试样板包括基材样板，基材-底漆样板、基材-底漆-色漆样板以及基材-底漆-色漆-清漆样板。
[0145]
在一个实施例中，所述处理器在实现所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗时，用于实现：在所述测试样板包括多层所述介质材料时，基于已测介质材料的所述介电常数和所述损耗正切、待测介质材料的材料厚度以及所述预设测试位置对应的所述s参数，计算所述预设测试位置处所述待测介质材料在所述预设频率范围内的至少一个回波损耗。
[0146]
本技术的实施例中还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序中包括程序指令，所述处理器执行所述程序指令，实现本技术实施例提供的任一种保险杠材料复介电常数的测试方法。
[0147]
其中，所述计算机可读存储介质可以是前述实施例所述的计算机设备的内部存储单元，例如所述计算机设备的硬盘或内存。所述计算机可读存储介质也可以是所述计算机设备的外部存储设备，例如所述计算机设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smart media card，smc)，安全数字(secure digital，sd)卡，闪存卡(flash card)等。
[0148]
以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

技术特征：
1.一种保险杠材料复介电常数的测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样板上包括至少一层所述介质材料；基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗；基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。2.根据权利要求1所述的保险杠材料复介电常数的测试方法，其特征在于，所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗之前，还包括：获取所述介质材料的传输矩阵；基于所述传输矩阵和所述s参数的转换关系，获取回波损耗计算公式；其中，所述传输矩阵为：其中，t为介质材料的层数，为第i层介质材料层的等效电气长度，为第i层介质材料厚度，为电磁波波长，=c/f，c为光速，f为电磁波频率，为第i层介质材料的复介电常数，，θ为射角，j表示虚数单位，为第i层介质材料的介电常数，为第i层介质材料的损耗正切，为第i层介质材料相对于自由空间的归一化等效特性阻抗：的归一化等效特性阻抗：其中，所述传输矩阵与所述s参数的转换关系为：其中，所述回波损耗计算公式为：其中，所述rl为回波损耗。
3.根据权利要求2所述的保险杠材料复介电常数的测试方法，其特征在于，所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，包括：基于所述预设频率范围内的频率与所述s参数的对应关系，将所述s参数划分为至少一个频段，获得至少一个子频率范围，其中，所述子频率范围包括至少一个频点；基于所述回波损耗计算公式和各所述介质材料的材料厚度，计算所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗。4.根据权利要求3所述的保险杠材料复介电常数的测试方法，其特征在于，所述基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数，包括：基于所述子频率范围内各所述频点对应的所述回波损耗，以及各所述频点对应的回波损耗实测值，计算所述子频率范围对应的损耗正切初始值和介电常数初始值；对所述子频率范围对应的所述损耗正切初始值和所述介电常数初始值进行曲线拟合，获得各所述频点对应的损耗正切拟合值和介电常数拟合值；基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数。5.根据权利要求4所述的保险杠材料复介电常数的测试方法，其特征在于，所述基于各所述频点对应的所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值，计算各所述介质材料对应的所述损耗正切和介电常数，包括：获取各所述预设测试位置对应计算的各所述损耗正切拟合值和所述介电常数拟合值；计算对应同一频点的所述损耗正切拟合值的均值，获得所述介质材料的所述损耗正切；计算对应同一频点的所述介电常数拟合值的均值，获得所述介质材料的所述介电常数。6.根据权利要求1所述的保险杠材料复介电常数的测试方法，其特征在于，所述介质材料包括基材、底漆、色漆和清漆；所述测试样板包括基材样板，基材-底漆样板、基材-底漆-色漆样板以及基材-底漆-色漆-清漆样板。7.根据权利要求1-6中任一项所述的保险杠材料复介电常数的测试方法，其特征在于，所述基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，包括：在所述测试样板包括多层所述介质材料时，基于已测介质材料的所述介电常数和所述损耗正切、待测介质材料的材料厚度以及所述预设测试位置对应的所述s参数，计算所述预设测试位置处所述待测介质材料在所述预设频率范围内的至少一个回波损耗。8.一种保险杠材料复介电常数的测试装置，其特征在于，所述保险杠材料复介电常数的测试装置包括：样板测量模块，用于获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的s参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；其中，所述测试样板包括多层样板，所述多层样
板上包括至少一层所述介质材料；回波损耗计算模块，用于基于所述预设测试位置对应的所述s参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗；介电常数计算模块，用于基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至7中任一项所述的保险杠材料复介电常数的测试方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1至7中任一项所述的保险杠材料复介电常数的测试方法的步骤。

技术总结
本申请提供一种保险杠材料复介电常数的测试方法、装置、设备及介质，涉及微波测试技术领域。该方法获取测试样板，依次测量测试样板上预设测试位置的S参数以及所述预设测试位置处各介质材料的材料厚度；基于所述预设测试位置对应的所述S参数以及所述预设测试位置对应的各所述介质材料的材料厚度，计算所述预设测试位置处各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗；基于各所述介质材料在预设频率范围内的至少一个回波损耗，计算各所述介质材料对应的损耗正切和介电常数。通过对多层样板上各层介质材料的介电常数的测量和计算，实现对介质材料的分层测量，提高不同介质材料的介电常数的测量准确性。的介电常数的测量准确性。的介电常数的测量准确性。


技术研发人员：王俊涛 何凌强 黄志强 李旭阳 周恺
受保护的技术使用者：赛恩领动（上海）智能科技有限公司
技术研发日：2023.06.14
技术公布日：2023/7/18