芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质与流程

1.本发明涉及半导体测试技术领域，具体而言，涉及芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术：

2.随着芯片越来越多的被使用，市场上也涌现了越来越多的芯片测试厂家和芯片数据分析厂家。芯片测试厂家对芯片进行测试后以各自的存储格式存储测试结果，并将存储的测试结果提交给芯片数据分析厂家，以对芯片的测试结果进行数据分析。
3.但是，由于不同的芯片测试厂家存储测试数据的存储格式不同，使测试结果互不兼容，导致芯片数据分析厂家难以对所有测试结果进行有效的数据分析。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术的目的在于提供一种芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，以使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。
5.第一方面，本技术实施例提供了一种芯片测试数据的存储方法，该芯片测试数据的存储方法包括：
6.判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；
7.若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；
8.将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；
9.将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；并将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。
10.在一种可能的实施方式中，将测试条件数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：
11.将测试条件数据以json的形式组成条件字符串；
12.在条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。
13.在一种可能的实施方式中，将测试结果数据或测试属性数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：
14.将测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。
15.在一种可能的实施方式中，根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据，包括：
16.从待存储测试数据对应的数据格式中，获取测试条件数据、测试结果数据以及测
试属性数据分别对应的位置信息；
17.根据位置信息，从待存储测试数据中提取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。
18.在一种可能的实施方式中，根据位置信息，从待存储测试数据中提取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据，包括：
19.在待存储测试数据中与测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取测试条件数据；
20.在待存储测试数据中与测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取测试结果数据；
21.在待存储测试数据中与测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取测试属性数据。
22.第二方面，本技术实施例还提供了一种芯片测试数据的存储装置，该芯片测试数据的存储装置包括：
23.判断模块，用于判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；
24.提取模块，用于若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；
25.转换模块，用于将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；
26.分隔模块，用于将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；
27.存储模块，用于将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。
28.在一种可能的实施方式中，转换模块，具体用于将测试条件数据以json的形式组成条件字符串；在条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。
29.在一种可能的实施方式中，转换模块，具体用于将测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。
30.在一种可能的实施方式中，提取模块，具体用于从待存储测试数据对应的数据格式中，获取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别对应的位置信息；根据位置信息，从待存储测试数据中提取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。
31.在一种可能的实施方式中，提取模块，还用于：
32.在待存储测试数据中与测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取测试条件数据；
33.在待存储测试数据中与测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取测试结果数据；
34.在待存储测试数据中与测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取测试属性数据。
35.第三方面，本技术实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储介质和总线，存储介质存储有处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，处理器与存储介质之
间通过总线通信，处理器执行机器可读指令，以执行如第一方面任一项芯片测试数据的存储方法的步骤。
36.第四方面，本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器运行时执行如第一方面任一项芯片测试数据的存储方法的步骤。
37.本技术实施例提供了一种芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。本技术通过将不符合预置数据格式的测试数据中的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据进行格式转换后，将得到的中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到符合预置数据格式的测试数据，并以字符分隔值文件格式进行存储，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，以使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。
附图说明
38.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
39.图1示出了本技术实施例提供的一种芯片测试数据的存储方法的流程图；
40.图2示出了本技术实施例提供的另一种芯片测试数据的存储方法的流程图；
41.图3示出了本技术实施例提供的一种芯片测试数据的存储装置的结构示意图；
42.图4示出了本技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
43.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本技术中附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本技术的保护范围。另外，应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本技术中使用的流程图示出了根据本技术的一些实施例实现的操作。应该理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本技术内容的指引下，可以向流程图添加一个或多个其他操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。
44.另外，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做
出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
45.为了使得本领域技术人员能够使用本技术内容，结合特定应用场景“半导体测试技术领域”，给出以下实施方式。对于本领域技术人员来说，在不脱离本技术的精神和范围的情况下，可以将这里定义的一般原理应用于其他实施例和应用场景。虽然本技术主要围绕“半导体测试技术领域”进行描述，但是应该理解，这仅是一个示例性实施例。
46.需要说明的是，本技术实施例中将会用到术语“包括”，用于指出其后所声明的特征的存在，但并不排除增加其它的特征。
47.下面对本技术实施例提供的一种芯片测试数据的存储方法进行详细说明。
48.参照图1所示，为本技术实施例提供的一种芯片测试数据的存储方法的流程示意图，该芯片测试数据的存储方法的具体执行过程为：
49.s101、判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式。
50.s102、若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。
51.s103、将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据。
52.s104、将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；并将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。
53.本技术实施例提供了一种芯片测试数据的存储方法，该方法包括：判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。本技术通过将不符合预置数据格式的测试数据中的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据进行格式转换后，将得到的中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到符合预置数据格式的测试数据，并以字符分隔值文件格式进行存储，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，以使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。
54.下面对本技术实施例示例性的各步骤进行说明：
55.s101、判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式。
56.在本技术实施方式中，待存储测试数据为芯片测试系统对芯片测试后得到的测试数据。待存储测试数据对应的数据格式中包含了待存储测试数据中所有数据类型对应的位置信息。数据类型包括测试条件数据类型、测试结果数据类型以及测试属性数据类型。一条待存储测试数据可以包含三种类型的数据，也可以只包含其中一种数据类型或两种数据类型的数据。
57.本技术中的预置数据格式中包含了测试数据中所有数据类型对应的位置信息、所
有数据类型对应的数据形式。数据类型包括测试条件数据类型、测试结果数据类型以及测试属性数据类型。若待存储测试数据对应的数据格式中的数据类型对应的位置信息与预置数据格式中所有数据类型对应的位置信息不同，或待存储测试数据中的各数据类型对应的数据的形式与预置数据格式中对应的数据形式不同时，认为用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式。
58.具体地，预置数据格式中所有数据类型对应的位置信息为“测试条件数据类、测试结果数据类型、测试属性数据类型”。数据类型的位置顺序可以根据实际情况进行调整。
59.测试条件数据类型对应的数据、测试结果数据类型对应的数据以及测试属性数据类型对应的数据之间通过“，”分隔开。示例：测试条件数据类型对应的数据，测试结果数据类型对应的数据，测试属性数据类型对应的数据。
60.针对于测试条件数据类型对应的数据中包含至少一个数据项，每个数据项中包含数据名称、单位和数值。测试条件数据类型对应的数据形式中，数据项之间通过“，”分隔；数据项中的数据名称、单位和数值顺序排列，数据单位通过“(”和“)”括起来，将数据名称以及括起来后的数据单位通过两个双引号引起来，得到第一字符串；数值通过两个双引号引起来，得到第二字符串，第一字符串和第二字符串之间通过“：”分隔，得到第三字符串。将第三字符串通过“{”和“}”括起来后得到一条json字符串；将json字符串通过一个双引号引起来后，即为最终的测试条件数据类型对应的数据形式。其中，先前通过两个双引号引起来是为了与后面单引号引起来的json字符串分隔开，以使在检测到一条通过单引号引起来的字符串后，就可知道这是测试条件数据类型对应的数据的json字符串。
61.示例：符合测试条件数据类型对应的数据形式的测试条件数据："{""temperature(c)"":""25"",""vforce(v)"":""3.3""}"。其中，""temperature(c)"":""25""和""vforce(v)"":""3.3""为数据项；temperature和vforce为数据名称；c和v为单位；25和3.3为数据名称对应的数值；""temperature(c)""和""vforce(v)""为第一字符串；""25""和""3.3""为第二字符串；""temperature(c)"":""25""和""vforce(v)"":""3.3""为第三字符串；{""temperature(c)"":""25"",""vforce(v)"":""3.3""}为json字符串；"{""temperature(c)"":""25"",""vforce(v)"":""3.3""}"为最终的测试条件数据类型对应的数据形式的测试条件数据。
62.测试结果数据类型对应的数据以及测试属性数据类型对应的数据中包含至少一个数据项，每个数据项中包含数据名称和对应的数值。测试结果数据类型及测试属性数据类型对应的数据形式中，数据项之间通过“，”分隔；数据项中的数据名称和对应的数值通过“：”分隔。
63.s102、若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。
64.在本技术实施方式中，如果待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，说明需要对待存储测试数据的数据格式转换成与预置数据格式一致的数据格式，在转换之前，首先需要提取出待存储测试数据中的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。测试条件数据指的是测试芯片所设置的测试条件，包括温度、电压、电流等。测试结果数据是指在测试条件数据下对芯片进行测试得到的结果信息，包括测试的结果值、测试结
果的单位、测试正确区间的最高值和最低值。测试属性数据可以包括测试芯片id、测试批次编号、测试芯片名称、测试规格参数id、测试规格参数版本、测试阶段、测试程序名称、测试程序版本、测试机台名称、操作员姓名、本次测试编号、测试项名称等。
65.具体地，通过下述方式从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据：
66.i，从待存储测试数据对应的数据格式中，获取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别对应的位置信息。
67.在本技术实施方式中，首先从数据格式中获取每种数据类型对应数据的位置信息，该位置信息是指测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据在待存储测试数据中的存储位置。
68.ii，根据位置信息，从待存储测试数据中提取所述测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。
69.具体地，在待存储测试数据中与测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取测试条件数据；在待存储测试数据中与测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取测试结果数据；在待存储测试数据中与测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取测试属性数据。
70.在本技术实施方式中，测试条件数据对应位置信息指的是待存储测试数据中测试条件数据的存储位置，测试结果数据对应位置信息指的是待存储测试数据中测试结果数据的存储位置，测试属性数据对应位置信息指的是待存储测试数据中测试属性数据的存储位置。
71.s103、将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据。
72.在本技术实施方式中，测试条件数据、测试结果数据、测试属性数据的数据类型不同，对应的数据形式不同，对应的格式转换的方式也就不同。
73.具体地，通过下述步骤测试条件数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据：
74.i、将测试条件数据以json的形式组成条件字符串。
75.在本技术实施方式中，通过测试条件数据对应的数据形式可知，首先将数据项中的数据名称、单位和数值顺序排列，数据单位通过“(”和“)”括起来，并将数据名称以及括起来后的数据单位通过两个双引号引起来，得到第一字符串；数值通过两个双引号引起来，得到第二字符串，第一字符串和第二字符串之间通过“：”分隔，得到第三字符串。将第三字符串通过“{”和“}”括起来后得到一条json字符串，得到条件字符串。
76.其中，先前通过两个双引号引起来是为了与后面单引号引起来的json字符串分隔开，以使在检测到一条通过单引号引起来的字符串后，就可知道这是测试条件数据类型对应的数据的json字符串。
77.ii、在条件字符串首尾添加第一预设符号，得到测试条件数据对应的中间测试数据。
78.在本技术实施方式中，将条件字符串通过一个双引号引起来后，即为中间测试数据。
79.具体地，通过下述步骤将测试结果数据或测试属性数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据。
80.i、将测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。
81.在本技术实施方式中，数据项中包含数据名称和对应的数值。通过测试结果数据类型及测试属性数据类型对应的数据形式可知，首先将每个数据项中的数据名称和对应的数值通过“：”分隔；然后将测试结果数据数据项之间通过“，”分隔，得到测试结果数据或测试属性数据对应的中间测试数据。
82.示例，若数据名称包含a和b，数据名称a对应的数值为a，数据名称b对应的数值为b，则首先将每个数据项中的数据名称和对应的数值通过“：”分隔，得到a：a和b：b；然后将测试结果数据数据项之间通过“，”分隔，得到a：a，b：b。
83.s104、将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；并将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。
84.在本技术实施方式中，通过预置数据格式中所有数据类型对应的位置信息可知，按测试条件数据对应的中间测试数据、测试结果数据对应的中间测试数据、测试属性数据对应的中间测试数据进行排列，然后将测试条件数据对应的中间测试数据、测试结果数据对应的中间测试数据、测试属性数据对应的中间测试数据之间通过“，”进行分隔，得到“测试条件数据对应的中间测试数据，测试结果数据对应的中间测试数据，测试属性数据对应的中间测试数据”，也就是目标测试数据。
85.其中，字符分隔值文件格式的后缀为.csv，本技术实施例中的目标测试数据是以字符分隔值文件格式进行存储的，该字符分隔值文件格式的字符以“，”进行分隔，也可以按照需求设定其他字符。采用这种文件格式进行存储，用户可以根据自身需求选择以记事本打开查看，或者以表格形式进行查看，可以满足用户的不同需求。
86.参照图2所示，为本技术实施例提供的另一种芯片测试数据的存储方法的流程示意图，步骤s201至步骤s205中与步骤s101至步骤s104重复的内容不再进行赘述，下面对本技术实施例示例性的各步骤进行说明：
87.s201、判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式。
88.s202、若待存储测试数据对应的数据格式符合预置数据格式，则将待存储测试数据确定为目标测试数据。
89.在本技术实施方式中，若待存储测试数据对应的数据格式符合预置数据格式，则说明待存储测试数据不需要进行格式的转换，因此直接将待存储测试数据确定为目标测试数据。
90.s203、若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。
91.具体地，从待存储测试数据对应的数据格式中，获取所述测试条件数据、所述测试结果数据以及测试属性数据分别对应的位置信息。
92.具体地，根据所述位置信息，从待存储测试数据中提取测试条件数据、测试结果数
据以及测试属性数据。
93.这里，在待存储测试数据中与测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取测试条件数据；在待存储测试数据中与测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取测试结果数据；在待存储测试数据中与测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取测试属性数据。
94.s204、将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据。
95.具体地，通过下述步骤测试条件数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据：
96.i、将测试条件数据以json的形式组成条件字符串。
97.ii、在条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。
98.具体地，通过下述步骤将测试结果数据或测试属性数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据。
99.i、将测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。
100.s205、将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；并将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。
101.本技术实施例提供了另一种芯片测试数据的存储方法，该方法包括：判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；若待存储测试数据对应的数据格式符合预置数据格式，则将待存储测试数据确定为目标测试数据；若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。本技术通过将不符合预置数据格式的测试数据中的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据进行格式转换后，将得到的中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到符合预置数据格式的测试数据，并以字符分隔值文件格式进行存储，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，以使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。
102.基于同一发明构思，本技术实施例中还提供了与芯片测试数据的存储方法对应的芯片测试数据的存储装置，由于本技术实施例中的装置解决问题的原理与本技术实施例上述芯片测试数据的存储方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
103.参照图3所示，为本技术实施例提供的一种芯片测试数据的存储装置的示意图，该芯片测试数据的存储装置包括：
104.判断模块301，用于判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；
105.提取模块302，用于若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；
106.转换模块303，用于将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；
107.分隔模块304，用于将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；
108.存储模块305，用于将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。
109.在一种可能的实施方式中，转换模块303，具体用于将测试条件数据以json的形式组成条件字符串；在条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。
110.在一种可能的实施方式中，转换模块303，具体用于将测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。
111.在一种可能的实施方式中，提取模块302，具体用于从待存储测试数据对应的数据格式中，获取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别对应的位置信息；根据位置信息，从待存储测试数据中提取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。
112.在一种可能的实施方式中，提取模块302，还用于：
113.在待存储测试数据中与测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取测试条件数据；
114.在待存储测试数据中与测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取测试结果数据；
115.在待存储测试数据中与测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取测试属性数据。
116.本技术实施例提供了一种芯片测试数据的存储装置，该装置包括：意图，该芯片测试数据的存储装置包括：判断模块301，用于判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；提取模块302，用于若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；转换模块303，用于将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；分隔模块304，用于将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；存储模块305，用于将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。本技术通过将不符合预置数据格式的测试数据中的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据进行格式转换后，将得到的中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到符合预置数据格式的测试数据，并以字符分隔值文件格式进行存储，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，以使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。
117.如图4所示，本技术实施例提供的一种电子设备400，包括：处理器401、存储器402和总线，存储器402存储有处理器401可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，处理器401与存储器402之间通过总线通信，处理器401执行机器可读指令，以执行如上述芯片测试数据的存储方法的步骤。
118.具体地，上述存储器402和处理器401能够为通用的存储器和处理器，这里不做具体限定，当处理器401运行存储器402存储的计算机程序时，能够执行上述芯片测试数据的存储方法。
119.对应于上述芯片测试数据的存储方法，本技术实施例还提供了一种计算机可读存
储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器运行时执行上述芯片测试数据的存储方法的步骤。
120.所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统和装置的具体工作过程，可以参考方法实施例中的对应过程，本技术中不再赘述。在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
121.所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
122.另外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
123.所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述信息处理方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、rom、ram、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
124.以上仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

技术特征：
1.一种芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述芯片测试数据的存储方法包括：判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；若所述待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据所述待存储测试数据对应的数据格式，从所述待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；将所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；将所有所述中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；并将所述目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。2.根据权利要求1所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，将所述测试条件数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：将所述测试条件数据以json的形式组成条件字符串；在所述条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。3.根据权利要求1所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，将所述测试结果数据或所述测试属性数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：将所述测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。4.根据权利要求1至3任一项所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述根据所述待存储测试数据对应的数据格式，从所述待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据，包括：从所述待存储测试数据对应的数据格式中，获取所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据分别对应的位置信息；根据所述位置信息，从所述待存储测试数据中提取所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据。5.根据权利要求4所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述根据所述位置信息，从所述待存储测试数据中提取所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据，包括：在所述待存储测试数据中与所述测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取所述测试条件数据；在所述待存储测试数据中与所述测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取所述测试结果数据；在所述待存储测试数据中与所述测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取所述测试属性数据。6.一种芯片测试数据的存储装置，其特征在于，所述芯片的测试数据的存储装置包括：判断模块，用于判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；提取模块，用于若所述待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据所述待存储测试数据对应的数据格式，从所述待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；
转换模块，用于将所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；分隔模块，用于将所有所述中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；存储模块，用于将所述目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。7.根据权利要求6所述的芯片测试数据的存储装置，其特征在于，所述转换模块，具体用于：将所述测试条件数据以json的形式组成条件字符串；在所述条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。8.根据权利要求6所述的芯片测试数据的存储装置，其特征在于，所述转换模块，具体用于：将所述测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行如权利要求1至5任一项所述的芯片测试数据的存储方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至5任一项所述的芯片测试数据的存储方法的步骤。

技术总结
本申请提供了一种芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：若待存储测试数据的数据格式不符合预置数据格式，根据待存储测试数据的数据格式提取测试条件数据、测试结果数据及测试属性数据；将测试条件数据、测试结果数据及测试属性数据按照对应预置数据格式进行格式转换得到中间测试数据；将中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔得到目标测试数据；将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。通过本申请的方式，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。果进行有效的数据分析。果进行有效的数据分析。


技术研发人员：岳志强 周浩
受保护的技术使用者：上海孤波科技有限公司
技术研发日：2023.04.20
技术公布日：2023/7/18