母板检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及相控阵天线母板检测技术领域，具体为母板检测装置。


背景技术：

2.相控阵天线母板是为波控板提供电源与信号传递的重要平台，波控板所有的控制信号、反馈信号、采样信号都要经过母板来传递给负载(tr组件)。电源包括24v电压输入、24v电压输出、
±
5v电压输入、
±
5v电压控制、8v电压输入、8v电压控制；控制信号包括波控板与总站通信控制、相扫功能的相位计算(包括多种相位幅度补偿)，四通道t/r组件(简称：t/r组件)控制，电源自检、激励功放控制、温度检测等信号。因此，母板的正常运行决定着波控板的运行。
3.现阶段的母板检测需要在实验阶段测试电压以及控制信号的有无，需要试验人员在母板各个检测点测试，需要很强的专业性以及对母板非常熟悉才可以完成，另外测试项繁多，需要的测试设备也多，程序繁琐易出错，且耗费的人力物力很大，故而提出母板检测装置。


技术实现要素：

4.针对现有技术的不足，本实用新型提供了母板检测装置，具备方便对母板进行检测，可节省人力物力的优点，解决了传统的母板检测装置测试设备多，程序繁琐易出错，且耗费的人力物力的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：母板检测装置，包括有测试板，所述测试板的顶部分别固定连接有转接器一和转接器二，所述转接器一在转接器二的左方，所述转接器一和转接器二上分别电连接有母板测试装置，所述母板测试装置包括有电压测试项和信号测试项，所述电压测试项包括有24v、5v、-5v、8v、5v_tcl、8v_tcl、-5v_tcl和gnd，所述信号测试项包括有电平测试和脉冲测试。
6.进一步，所述电平测试包括有温度检测信号、波控板检测信号、串口检测信号、flash检测信号、dpram检测信号和ram检测信号。
7.进一步，所述脉冲测试包括有tr控制信号，时钟clock信号、校验数据、微波开关信号、tr检查信号、误码率检查信号。
8.进一步，所述测试板的内部左方和后方分别固定连接有导电铜片，所述导电铜片的顶部与测试板的顶部在同一端面上。
9.进一步，所述转接器一和转接器二分别靠近导电铜片的一端固定连接有检测电线，所述检测电线的另外一端与导电铜片固定连接。
10.进一步，所述测试板的顶部分别固定连接有弹性钢片，所述弹性钢片在检测电线的正上方。
11.进一步，所述弹性钢片远离测试板顶部的一端固定连接有压头，所述压头与导电铜片的顶部相接触。
12.进一步，所述转接器一和转接器二相互靠近的一侧分别固定连接有电缆，所述转接器一和转接器二分别通过电缆与电压测试项和信号测试项相连接。
13.与现有技术相比，本技术的技术方案具备以下有益效果：
14.该母板检测装置，可以实现产品检测归一化，不用检测重复性繁琐的工作，不用检测人员检查原理图去找检测点，检测设备的性价比高，且不需要很强的专业性，可以节约很多人力物力，提高母板的检测效率。
附图说明
15.图1为本实用新型的具体结构正视图；
16.图2为本实用新型的结构外观俯视图；
17.图3为本实用新型母板测试装置框架图。
18.图中：1测试板、2转接器一、3转接器二、4弹性钢片、5压头、6检测电线、7导电铜片、8电缆。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
20.实施例一：请参阅图1-2，本实施例中的母板检测装置，包括有测试板1，测试板1的顶部分别固定连接有转接器一2和转接器二3，转接器一2在转接器二3的左方，转接器一2和转接器二3上分别电连接有母板测试装置，母板测试装置包括有电压测试项和信号测试项，转接器一2和转接器二3相互靠近的一侧分别固定连接有电缆8，转接器一2和转接器二3分别通过电缆8与电压测试项和信号测试项相连接。
21.其中，通过电缆8将所有母板上所有需检测的电源以及信号转接到测试板1上的转接器一2和转接器二3上，转接器一2和转接器二3为现有结构，转接器一2和转接器二3内部设置有电铜排，图中未视出，电缆8与转接器一2和转接器二3上的电铜排固定连接，然后将电缆8的另外一端与母板上需要检测的电压和信号上的电路连接在一起，从而实现在对母板的电压和信号进行检测时，只需要对连接在测试板1上的电压和信号进行检测，从而实现方便进行检测的目的。
22.本实施例中，测试板1的内部左方和后方分别固定连接有导电铜片7，导电铜片7的顶部与测试板1的顶部在同一端面上，转接器一2和转接器二3分别靠近导电铜片7的一端固定连接有检测电线6，检测电线6的另外一端与导电铜片7固定连接，测试板1的顶部分别固定连接有弹性钢片4，弹性钢片4在检测电线6的正上方，弹性钢片4远离测试板1顶部的一端固定连接有压头5，压头5与导电铜片7的顶部相接触。
23.其中，检测电线6分别与转接器一2和转接器二3内部的电铜排相连接，导电铜片7与检测电线6相连接，从而使电缆8与导电铜片7之间电连接，电缆8分别与母板的电压和信号的电路连接在一起，从而使导电铜片7与母板的电压和信号电路连接在一起，压头5为绝缘塑料材质，弹性钢片4为弹性较好的钢片，当要对母板的电压和信号进行检测时，只需将
外界检测设备的检测探头放置在导电铜片7与压头5之间，弹性钢片4由于自身较好的弹性，会使压头5向下压住检测探头，使检测探头与导电铜片7相接触，此时可通过外界检测设备的探头，对母板的电压和信号进行检测。
24.实施例二：请参阅图3，在实施例一的基础上，电压测试项包括有24v、5v、-5v、8v、5v_tcl、8v_tcl、-5v_tcl和gnd，信号测试项包括有电平测试和脉冲测试，电平测试包括有温度检测信号、波控板dsp检测信号、串口检测信号、flash检测信号、dpram检测信号和ram检测信号，脉冲测试包括有tr控制信号，时钟clock信号、校验数据、微波开关信号、tr检查信号、误码率检查信号。
25.其中，本检测装置是使用电缆8将所有母板上需检测的电源以及信号转接到测试板1上的一种便携式检测装置，由电压检测装置和信号检测装置构成，电压检测主要包含24v、5v、-5v、8v、5v_tcl、8v_tcl、-5v_tcl等电压测试，使用数字万用表即可测试；信号测试按高低电平和脉冲信号可分为两类，高低电平信号主要包括温度检测信号、波控板dsp检测信号、串口检测信号、flash检测信号、dpram检测信号、ram检测信号等，脉冲信号主要包括tr控制信号，时钟clock信号、校验数据、微波开关信号、tr检查信号、误码率检查信号等。
26.上述实施例的工作原理为：
27.通过电缆8将所有母板上所有需检测的电源以及信号转接到测试板1上的转接器一2和转接器二3上，转接器一2和转接器二3内部设置有电铜排，电缆8与转接器一2和转接器二3上的电铜排固定连接，然后将电缆8的另外一端与母板上需要检测的电压和信号上的电路连接在一起。
28.当要对母板的电压和信号进行检测时，只需将外界检测设备的检测探头放置在导电铜片7与压头5之间，弹性钢片4由于自身较好的弹性，会使压头5向下压住检测探头，使检测探头与导电铜片7相接触，由于检测电线6分别与转接器一2和转接器二3内部的电铜排相连接，导电铜片7与检测电线6相连接，从而使电缆8与导电铜片7之间电连接，电缆8分别与母板的电压和信号的电路连接在一起，从而使导电铜片7与母板的电压和信号电路连接在一起，此时可通过外界检测设备的探头，对母板的电压和信号进行检测，从而实现方便对母板的电压和信号进行检测的目的。
29.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
30.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：
1.母板检测装置，包括有测试板(1)，其特征在于：所述测试板(1)的顶部分别固定连接有转接器一(2)和转接器二(3)，所述转接器一(2)在转接器二(3)的左方，所述转接器一(2)和转接器二(3)上分别电连接有母板测试装置，所述母板测试装置包括有电压测试项和信号测试项，所述电压测试项包括有24v、5v、-5v、8v、5v_tcl、8v_tcl、-5v_tcl和gnd，所述信号测试项包括有电平测试和脉冲测试。2.根据权利要求1所述的母板检测装置，其特征在于：所述电平测试包括有温度检测信号、波控板dsp检测信号、串口检测信号、flash检测信号、dpram检测信号和ram检测信号。3.根据权利要求1所述的母板检测装置，其特征在于：所述脉冲测试包括有tr控制信号，时钟clock信号、校验数据、微波开关信号、tr检查信号、误码率检查信号。4.根据权利要求1所述的母板检测装置，其特征在于：所述测试板(1)的内部左方和后方分别固定连接有导电铜片(7)，所述导电铜片(7)的顶部与测试板(1)的顶部在同一端面上。5.根据权利要求4所述的母板检测装置，其特征在于：所述转接器一(2)和转接器二(3)分别靠近导电铜片(7)的一端固定连接有检测电线(6)，所述检测电线(6)的另外一端与导电铜片(7)固定连接。6.根据权利要求5所述的母板检测装置，其特征在于：所述测试板(1)的顶部分别固定连接有弹性钢片(4)，所述弹性钢片(4)在检测电线(6)的正上方。7.根据权利要求6所述的母板检测装置，其特征在于：所述弹性钢片(4)远离测试板(1)顶部的一端固定连接有压头(5)，所述压头(5)与导电铜片(7)的顶部相接触。8.根据权利要求1所述的母板检测装置，其特征在于：所述转接器一(2)和转接器二(3)相互靠近的一侧分别固定连接有电缆(8)，所述转接器一(2)和转接器二(3)分别通过电缆(8)与电压测试项和信号测试项相连接。

技术总结
本实用新型涉及母板检测装置，包括有测试板，所述测试板的顶部分别固定连接有转接器一和转接器二，所述转接器一在转接器二的左方，所述转接器一和转接器二上分别电连接有母板测试装置，所述母板测试装置包括有电压测试项和信号测试项，所述电压测试项包括有24V、5V、-5V、8V、5V_TCL、8V_TCL、-5V_TCL和GND，所述信号测试项包括有电平测试和脉冲测试，所述电平测试包括有温度检测信号、波控板检测信号、串口检测信号、FLASH检测信号、DPRAM检测信号和RAM检测信号，所述脉冲测试包括有TR控制信号，时钟CLOCK信号、校验数据、微波开关信号、TR检查信号、误码率检查信号。该母板检测装置，具有方便对母板进行检测，可节省人力物力的优点。可节省人力物力的优点。可节省人力物力的优点。


技术研发人员：师拴平 李元
受保护的技术使用者：西安朗信电子技术有限公司
技术研发日：2022.11.24
技术公布日：2023/7/19