四通道测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种四通道测试装置。


背景技术：

2.对于lpddr4芯片的366球和556球这两种封装方式而言，采用的是四通道设计，有abcd四个独立的通道，主要应用于高通平台，采用pop(package on packag，芯片堆叠技术)的贴片方式，就是将芯片直接贴在soc芯片的表面上，这种方式有利于减少走线，提高主板的稳定性。
3.对于高通平台所采用的pop的贴片方式，不利于对lpddr4芯片进行测试，测试治具的设计难度和成本较高，测试耗费资源大；而对于联发科或展锐平台的soc芯片，则一般只有两个通道的控制器，只能测试两通道，无法测试lpddr4芯片的四个通道。


技术实现要素：

4.本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出了一种四通道测试装置，便于测试lpddr4芯片的四个通道。
5.根据本实用新型实施例的四通道测试装置，包括：
6.第一底座，设置有容纳槽；
7.测试主板，设置于所述第一底座内部；
8.测试治具，包括第二底座和多个探针，所述第二底座设置于所述容纳槽内，所述第二底座设置有测试槽；所述多个探针设置于所述测试槽内，并与待测芯片的多个测试引脚对应分布，所述探针的一端与所述测试主板电连接，所述探针的另一端与所述待测芯片对应的所述测试引脚电连接；
9.所述多个探针围合形成矩形的测试区，所述测试区与所述待测芯片相适配；所述待测芯片为四通道设计的lpddr4芯片，具有a通道、b通道、c通道和d通道；所述a通道的引脚与所述d通道的引脚关于所述待测芯片的中心点中心对称，所述b通道的引脚与所述c通道的引脚关于所述待测芯片的中心点中心对称；所述待测芯片的reset_n引脚与所述待测芯片的nc引脚电连接，所述reset_n引脚与所述nc引脚关于所述待测芯片的中心点中心对称。
10.根据本实用新型的一些实施例，所述待测芯片为366球封装的lpddr4芯片，或者，所述待测芯片为556球封装的lpddr4芯片。
11.根据本实用新型的一些实施例，所述测试治具还包括限位框，所述限位框设置于所述测试槽内，用于对所述待测芯片进行限位。
12.根据本实用新型的一些实施例，所述测试治具还包括盖板，所述盖板的一侧与所述第二底座的一侧铰接连接，所述盖板用于盖合所述第二底座。
13.根据本实用新型的一些实施例，所述盖板朝向所述第二底座的一面设置有用于压紧所述待测芯片的压块。
14.根据本实用新型的一些实施例，所述盖板还设置有用于调节所述压块的压紧程度
的调节机构。
15.根据本实用新型的一些实施例，所述调节机构包括：
16.旋钮，设置于所述盖板远离所述第二底座的一面；
17.螺纹杆，穿设于所述盖板，所述螺纹杆的一端与所述旋钮固定连接，所述螺纹杆的另一端与所述压块螺纹连接。
18.根据本实用新型的一些实施例，所述四通道测试装置还包括设置于所述第一底座上的电流表，所述电流表与所述测试主板电连接。
19.根据本实用新型的一些实施例，所述四通道测试装置还包括设置于所述第一底座上的多个功能按键，每个所述功能按键分别与所述测试主板电连接。
20.根据本实用新型的一些实施例，所述四通道测试装置还包括显示屏，所述显示屏与所述测试主板电连接。
21.根据本实用新型实施例的四通道测试装置，至少具有如下有益效果：由于lpddr4芯片的a通道的引脚与d通道的引脚关于待测芯片的中心点中心对称，b通道的引脚与c通道的引脚关于待测芯片的中心点中心对称，同时，将待测芯片的reset_n引脚与待测芯片的nc引脚电连接，且reset_n引脚与nc引脚关于待测芯片的中心点中心对称，这样便可以采用双通道控制器的soc芯片，如使用联发科的mt8168等型号的soc芯片，先对lpddr4芯片的a通道与b通道进行测试，测试完成后，将lpddr4芯片旋转180
°
，即可对lpddr4芯片的c通道与d通道进行测试，从而实现对lpddr4芯片的四个通道的测试。
22.本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
23.本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
24.图1为本实用新型实施例的四通道测试装置的结构示意图；
25.图2为本实用新型实施例的四通道测试装置在闭合盖板后的结构示意图；
26.图3为本实用新型实施例的366球封装的lpddr4芯片的引脚分布示意图；
27.图4为本实用新型实施例的556球封装的lpddr4芯片的引脚分布示意图；
28.附图标记：
29.第一底座100、容纳槽110、测试治具200、第二底座210、探针220、测试槽230、测试区240、限位框300、盖板400、压块500、旋钮600、电流表700、功能按键800、显示屏900。
具体实施方式
30.本部分将详细描述本实用新型的具体实施例，本实用新型之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
31.在本实用新型的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第
一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
32.本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
33.参照图1至图4，根据本实用新型实施例的四通道测试装置，包括第一底座100、测试主板和测试治具200；其中，第一底座100设置有容纳槽110，测试主板(图未示)设置于第一底座100的内部；测试治具200包括第二底座210和多个探针220，第二底座210设置于容纳槽110内，第二底座210设置有测试槽230；多个探针220设置于测试槽230内，并与待测芯片的多个测试引脚对应分布，探针220的一端与测试主板电连接，探针220的另一端与待测芯片对应的测试引脚电连接。多个探针220围合形成矩形的测试区240，测试区240与待测芯片相适配；待测芯片为四通道设计的lpddr4芯片，具有a通道、b通道、c通道和d通道；a通道的引脚与d通道的引脚关于待测芯片的中心点中心对称，b通道的引脚与c通道的引脚关于待测芯片的中心点中心对称；待测芯片的reset_n引脚与待测芯片的nc引脚电连接，reset_n引脚与nc引脚关于待测芯片的中心点中心对称。
34.具体地，请参照图3，图3示出了366球封装的lpddr4芯片的引脚分布图；其中，a7、b2、b3、b4、b6、b7、b8、b9、b11、b12、b13、c1、c3、c5、c8、c10、c12、c14、d2、d4、d6、d7、d9、d11、d13、e1、e3、e5、e7、e8、e9、e10、e12、e14这几个引脚构成a通道；ae1、ae3、ae5、ae7、ae8、ae9、ae10、ae12、ae14、af2、af4、af6、af7、af9、af11、af13、ag1、ag3、ag5、ag8、ag10、ag12、ag14、ah2、ah3、ah4、ah6、ah7、ah8、ah9、ah11、ah12、ah13、aj7这几个引脚构成b通道；a23、b17、b18、b19、b21、b22、b23、b24、b26、b27、b28、c16、c18、c20、c22、c25、c27、c29、d17、d19、d21、d23、d24、d26、d28、e16、e18、e20、e21、e22、e23、e25、e27、e29这几个引脚构成c通道；ae16、ae18、ae20、ae21、ae22、ae23、ae25、ae27、ae29、af17、af19、af21、af23、af24、af26、af28、ag16、ag18、ag20、ag22、ag25、ag27、ag29、ah17、ah18、ah19、ah21、ah22、ah23、ah24、ah26、ah27、ah28、aj23这几个引脚构成d通道。可以看到，a通道与d通道关于待测芯片的中心点中心对称，b通道与c通道关于待测芯片的中心点中心对称；当对待测芯片的a通道和b通道测试完成后；只需将待测芯片旋转180
°
，即可对待测芯片的c通道和d通道进行测试。由于待测芯片只有一个reset_n引脚(即c15，复位引脚)，由于在旋转180
°
后，也需要连接reset_n引脚，而reset_n引脚旋转后的位置是ag15，本身是nc引脚，无信号定义，因此，可以将该nc引脚与reset_n引脚电连接，从而能够在待测芯片旋转180
°
后，仍能够使用复位引脚，从而能够在旋转后对待测芯片的c通道和d通道进行测试。
35.请参照图4，图4示出了5566球封装的lpddr4芯片的引脚分布图；可以看到，366球的lpddr4芯片和556球的lpddr4芯片，它们的有效信号是一致的，556球的芯片比366球的芯片多了190个引脚，而这些引脚主要分布在芯片的两侧，都是地信号引脚，不影响实际功能，所以366球和556球的芯片在原理上可以做到兼容。对于探针220的分布，可以优先按最多球位的556球设计，同时，该设计可以兼容366球封装。
36.根据本实用新型实施例的四通道测试，测试主板可以采用双通道控制器的soc芯片，如使用联发科的mt8168等型号的soc芯片，先对366球/566球的lpddr4芯片，进行a通道和b通道的测试；等待测试完成后，再将lpddr4芯片旋转180
°
，对c通道和d通道进行测试。由
此可见，不仅能够兼容366球和556球这两种封装形式的lpddr4芯片，而且，本实用新型实施例的四通道测试能够对这两种芯片进行四通道的测试。
37.如图1所示，在本实用新型的一些实施例中，测试治具200还包括限位框300，限位框300设置于测试槽230内，用于对待测芯片进行限位。在对待测芯片进行测试时，先将限位框300固定于测试槽230内，以便对待测芯片进行限位；然后，再根据限位框300将待测芯片放进测试槽230内，并使待测芯片的测试引脚与对应的探针220接触，从而使得测试主板能够通过探针220连接待测芯片的测试引脚，对待测芯片进行测试。通过设置限位框300，方便对待测芯片进行限位，使得待测芯片的安装以及待测芯片与探针220的对位更为简便。
38.如图1和图2所示，在本实用新型的一些实施例中，测试治具200还包括盖板400，盖板400的一侧与第二底座210的一侧铰接连接，盖板400用于盖合第二底座210。在对待测芯片进行测试时，将盖板400盖住第二底座210，使得待测芯片与探针220紧密接触，避免两者接触不良，影响测试过程。
39.如图1所示，在本实用新型的一些实施例中，盖板400朝向第二底座210的一面设置有用于压紧待测芯片的压块500。通过在盖板400上设置压块500，使得盖板400盖下时，压块500能够压紧待测芯片，进一步确保待测芯片与探针220紧密接触，确保能够正常进行测试。
40.在本实用新型的一些实施例中，盖板400还设置有用于调节压块500的压紧程度的调节机构。如图1和图2所示，调节机构可以包括旋钮600和螺纹杆(图未示)，旋钮600设置于盖板400远离第二底座210的一面；螺纹杆穿设于盖板400，螺纹杆的一端与旋钮600固定连接，螺纹杆的另一端与压块500螺纹连接。在转动旋钮600的过程中，可以使得压块500沿着螺纹杆上下移动，从而调节压块500压紧待测芯片的程度，根据不同的芯片厚度，转动旋钮600到合适的位置，达到既能实现压紧待测芯片，又能避免压紧力度太大而损坏待测芯片的效果。可以理解的是，调节机构也可以采用其它常规的、能够带动压块500移动的机械结构，而不限于此。
41.如图1和图2所示，在本实用新型的一些实施例中，四通道测试装置还包括设置于第一底座100上的电流表700，电流表700与测试主板电连接。在测试过程中，可以通过电流表700查看测试电流，从而判断测试过程是否正常运行。
42.如图1和图2所示，在本实用新型的一些实施例中，四通道测试装置还包括设置于第一底座100上的多个功能按键800，每个功能按键800分别与测试主板电连接。其中，功能按键800可以包括复位键、电源键、开机键等多种不同的按键，通过按下不同的功能按键900，使得四通道测试装置执行相应的操作。
43.如图1和图2所示，在本实用新型的一些实施例中，四通道测试装置还包括显示屏900，显示屏900与测试主板电连接。显示屏900能够用于显示测试结果，便于用户直接查看待测芯片的测试结果。
44.根据本实用新型实施例的四通道测试装置，在对待测芯片进行测试时，先将限位框300通过螺丝或者磁铁固定于测试槽230内，然后根据限位框300放置待测芯片，使得待测芯片的测试引脚与探针220一一对应接触；然后，将盖板400盖下，并旋转旋钮600，使得压块500压紧待测芯片，随后便能开始对待测芯片进行测试；测试主板首先完成对待测芯片的a、b通道的测试后，打开盖板400，将待测芯片旋转180
°
，再盖下盖板400并旋转旋钮600，即可对待测芯片的c、d通道进行测试，测试结果可以在显示屏900上进行显示。
45.由此可见，根据本实用新型实施例的四通道测试，不仅能够兼容366球和556球这两种封装形式的lpddr4芯片，而且，能够对这两种芯片进行四通道的测试。
46.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“进一步实施例”、“一些具体实施例”或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
47.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

技术特征：
1.一种四通道测试装置，其特征在于，包括：第一底座，设置有容纳槽；测试主板，设置于所述第一底座内部；测试治具，包括第二底座和多个探针，所述第二底座设置于所述容纳槽内，所述第二底座设置有测试槽；所述多个探针设置于所述测试槽内，并与待测芯片的多个测试引脚对应分布，所述探针的一端与所述测试主板电连接，所述探针的另一端与所述待测芯片对应的所述测试引脚电连接；所述多个探针围合形成矩形的测试区，所述测试区与所述待测芯片相适配；所述待测芯片为四通道设计的lpddr4芯片，具有a通道、b通道、c通道和d通道；所述a通道的引脚与所述d通道的引脚关于所述待测芯片的中心点中心对称，所述b通道的引脚与所述c通道的引脚关于所述待测芯片的中心点中心对称；所述待测芯片的reset_n引脚与所述待测芯片的nc引脚电连接，所述reset_n引脚与所述nc引脚关于所述待测芯片的中心点中心对称。2.根据权利要求1所述的四通道测试装置，其特征在于，所述待测芯片为366球封装的lpddr4芯片，或者，所述待测芯片为556球封装的lpddr4芯片。3.根据权利要求1所述的四通道测试装置，其特征在于，所述测试治具还包括限位框，所述限位框设置于所述测试槽内，用于对所述待测芯片进行限位。4.根据权利要求1所述的四通道测试装置，其特征在于，所述测试治具还包括盖板，所述盖板的一侧与所述第二底座的一侧铰接连接，所述盖板用于盖合所述第二底座。5.根据权利要求4所述的四通道测试装置，其特征在于，所述盖板朝向所述第二底座的一面设置有用于压紧所述待测芯片的压块。6.根据权利要求5所述的四通道测试装置，其特征在于，所述盖板还设置有用于调节所述压块的压紧程度的调节机构。7.根据权利要求6所述的四通道测试装置，其特征在于，所述调节机构包括：旋钮，设置于所述盖板远离所述第二底座的一面；螺纹杆，穿设于所述盖板，所述螺纹杆的一端与所述旋钮固定连接，所述螺纹杆的另一端与所述压块螺纹连接。8.根据权利要求1所述的四通道测试装置，其特征在于，所述四通道测试装置还包括设置于所述第一底座上的电流表，所述电流表与所述测试主板电连接。9.根据权利要求1所述的四通道测试装置，其特征在于，所述四通道测试装置还包括设置于所述第一底座上的多个功能按键，每个所述功能按键分别与所述测试主板电连接。10.根据权利要求1所述的四通道测试装置，其特征在于，所述四通道测试装置还包括显示屏，所述显示屏与所述测试主板电连接。

技术总结
本实用新型公开了一种四通道测试装置，涉及芯片测试技术领域。四通道测试装置包括第一底座、测试主板和测试治具；第一底座设置有容纳槽，测试主板设置于第一底座的内部；测试治具包括第二底座和多个探针，第二底座设置于容纳槽内，第二底座设置有测试槽；多个探针设置于测试槽内，并与待测芯片的多个测试引脚对应分布，探针的一端与测试主板电连接，探针的另一端与待测芯片对应的测试引脚电连接。根据本实用新型的四通道测试装置，不仅能够兼容366球和556球这两种封装形式的LPDDR4芯片，而且，能够对这两种芯片进行四通道的测试。能够对这两种芯片进行四通道的测试。能够对这两种芯片进行四通道的测试。


技术研发人员：谢登煌 卢浩
受保护的技术使用者：深圳市晶存科技有限公司
技术研发日：2023.03.10
技术公布日：2023/7/23