振动样品杆及振动样品磁强计

未命名 07-27 阅读:96 评论:0


1.本发明涉及磁性测量技术领域,特别是涉及一种振动样品杆及振动样品磁强计。


背景技术:

2.振动样品磁强计是测量物质磁学性能的一种重要手段,通过电磁感应现象来测量物质的磁化率、矫顽场、饱和磁化强度、剩余磁化强度、磁相变等基本的磁学性质。物质的磁学性质测量是人类生活与生产所不可或缺的基石之一,且物质的磁学性质测量的结果自古至今都有着广泛和重要的应用,例如导航用的指南针、使用高剩磁材料的永磁电动机、使用低矫顽场材料的磁存储器和利用外磁场和磁性药物之间的作用力精准将药物投送到肿瘤病灶的磁靶向技术。振动样品磁强计中最重要的部分即为振动头,振动头振动的振幅、频率和稳定性,是决定振动样品磁强计的动态范围和灵敏度的重要因素。目前振动样品磁强计基本都是铁芯式振动头,在低磁场下具有高动态范围和灵敏度。但是,目前的振动样品磁强计的灵敏度会在强磁场下大幅降低,例如,将目前振动样品磁强计中的振动头置于1 t以内的磁场中,振动样品磁强计的灵敏度从低场下的10-5
emu大幅降低到高场下的10-3
emu。


技术实现要素:

3.基于此,有必要针对目前的振动样品磁强计的灵敏度会在强磁场下大幅降低的问题,提供一种振动样品杆及振动样品磁强计。
4.其技术方案如下:一方面,提供了一种振动样品杆,包括:杆本体,所述杆本体用于穿过杜瓦;安装件,所述安装件套设于所述杆本体的外侧壁,所述安装件位于所述杜瓦的一侧,并用于与所述杜瓦配合形成密封空间;压电陶瓷振动件,所述压电陶瓷振动件设置于所述杆本体上,所述压电陶瓷振动件位于所述杜瓦远离所述安装件的一侧;及样品件,所述样品件与所述压电陶瓷振动件传动连接,所述样品件设有用于容纳试验样品的样品腔。
5.下面进一步对技术方案进行说明:在其中一个实施例中,所述安装件设有通孔,所述通孔的内壁设有内螺纹,所述杆本体的外侧壁设有外螺纹,所述外螺纹与所述内螺纹螺纹配合。
6.在其中一个实施例中,所述杆本体远离所述压电陶瓷振动件的一端设有操作件,所述操作件与所述杆本体传动连接,并用于承接使得所述杆本体相对所述安装件转动的扭力。
7.在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括密封组件,所述密封组件套设于所述杆本体的外侧壁并位于所述安装件远离所述杜瓦的一侧,所述密封组件用于将所述安装件与所述杆本体密封配合。
8.在其中一个实施例中,所述安装件靠近所述杜瓦的一侧设有密封槽,所述密封槽的外侧壁设有第一法兰,所述第一法兰用于与所述杜瓦密封连接,以使所述密封槽的内壁能够与所述杜瓦配合形成所述密封空间,所述安装件的外侧壁设有开口,所述振动样品杆还包括接头,所述接头设置于所述开口处并与所述开口的内侧壁密封配合,所述振动样品杆还包括电线,所述电线的一端与所述压电陶瓷振动件电连接,所述电线的另一端伸入所述密封空间内并与所述接头的一端电连接。
9.在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括盖体,所述盖体盖设于所述开口以封闭所述开口,所述盖体设有与所述密封槽连通的安装孔,所述接头与所述安装孔的内侧壁密封配合。
10.在其中一个实施例中,所述杆本体包括相互连接的实心段和空心段,所述压电陶瓷振动件与所述空心段远离所述实心段的一端的连接,所述空心段靠近所述压电陶瓷振动件的一端的外侧壁设有第一穿线孔,所述空心段靠近所述实心段的一端的外侧壁设有第二穿线孔。
11.在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括传振件,所述传振件的一端与所述压电陶瓷振动件传动连接,所述传振件的另一端与所述样品件传动连接。
12.在其中一个实施例中,所述振动样品杆还包括第一转接件及第二转接件,所述第一转接件用于将所述杆本体的一端与所述压电陶瓷振动件的一端传动连接,所述第一转接件用于将所述压电陶瓷振动件的另一端与所述传振件远离所述样品件的一端传动连接。
13.另一方面,提供了一种振动样品磁强计,包括所述的振动样品杆。
14.上述实施例中的振动样品杆及振动样品磁强计,使用时,首先,将试验样品放置在样品件的样品腔内,将安装件与杜瓦对应密封连接,使得样品件位于两组反绕串联的探测线圈之间。然后,压电陶瓷振动件工作,使得压电陶瓷振动件通过样品件带动试验样品在两组反绕串联的探测线圈之间振动,进而使得两组反绕串联的探测线圈感应出电压信号。最后,对两组反绕串联的探测线圈感应出的电压信号进行分析以得到试验样品的磁学性能。相对于目前的振动样品磁强计,本技术中的振动样品杆至少具有以下几个优点:1、通过采用压电陶瓷振动件作为振动源,而压电陶瓷振动件不受低温和强磁场的影响,保证振动样品杆及振动样品磁强计在极低温和强磁场下仍能保持较高的灵敏度,具体地,将本技术中的振动样品磁强计置于2 t的强磁场中,振动样品杆的灵敏度最高可达10-6
emu。2、压电陶瓷振动件工作时能耗较低,比传统的铁芯式振动头的能耗低一到两个数量级,大幅度节省能耗。3、压电陶瓷振动件体积较小,能够集成到杆本体上,使得振动样品磁强计的体积缩小,简化结构。4、压电陶瓷振动件的工作频率较高(200 hz以上),可以避免纹波等低频噪声的影响,提高了振动样品杆及振动样品磁强计检测的可靠性及准确性。
附图说明
15.构成本技术的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解,本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术,并不构成对本技术的不当限定。
16.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他
的附图。
17.图1为一个实施例的振动样品杆的结构示意图。
18.图2为图1中振动样品杆的上部分的结构示意图。
19.图3为图2中振动样品杆的上部分的结构剖视图。
20.图4为图1中振动样品杆的下部分的结构示意图。
21.附图标记说明:10、振动样品杆;100、杆本体;110、实心段;120、空心段;121、第一穿线孔;122、第二穿线孔;200、安装件;210、通孔;220、密封槽;230、第一法兰;240、开口;300、压电陶瓷振动件;400、样品件;500、操作件;600、密封组件;700、接头;800、盖体;810、安装孔;900、传振件;1000、第一转接件;1100、第二转接件。
具体实施方式
22.为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进,因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
23.如图1及图2所示,在一个实施例中,提供了一种振动样品杆10,包括杆本体100、安装件200、压电陶瓷振动件300及样品件400。杆本体100用于穿过杜瓦;安装件200套设于杆本体100的外侧壁,安装件200位于杜瓦的一侧,并用于与杜瓦配合形成密封空间;压电陶瓷振动件300设置于杆本体100上,压电陶瓷振动件300位于杜瓦远离安装件200的一侧;样品件400与压电陶瓷振动件300传动连接,样品件400设有用于容纳试验样品的样品腔。
24.上述实施例中的振动样品杆10,使用时,首先,将试验样品放置在样品件400的样品腔内,将安装件200与杜瓦对应密封连接,使得样品件400位于两组反绕串联的探测线圈之间。然后,压电陶瓷振动件300工作,使得压电陶瓷振动件300通过样品件400带动试验样品在两组反绕串联的探测线圈之间振动,进而使得两组反绕串联的探测线圈感应出电压信号。最后,对两组反绕串联的探测线圈感应出的电压信号进行分析以得到试验样品的磁学性能。相对于目前的振动样品磁强计,本技术中的振动样品杆10至少具有以下几个优点:1、通过采用压电陶瓷振动件300作为振动源,而压电陶瓷振动件300不受低温和强磁场的影响,保证振动样品杆10在极低温和强磁场下仍能保持较高的灵敏度,具体地,将本技术中的振动样品杆10置于2 t的强磁场中,振动样品杆10的灵敏度最高可达10-6
emu。2、压电陶瓷振动件300工作时能耗较低,比传统的铁芯式振动头的能耗低一到两个数量级,大幅度节省能耗。3、压电陶瓷振动件300体积较小,能够集成到杆本体100上,使得振动样品磁强计的体积缩小,简化结构。4、压电陶瓷振动件300的工作频率较高(200 hz以上),可以避免纹波等低频噪声的影响,提高了振动样品杆10检测的可靠性及准确性。
25.其中,安装件200可以为安装柱、安装座、安装壳、安装舱或其他安装结构。安装件200能够通过卡接或螺接等连接方式与杜瓦装配形成密封空间,也可以借助中间元件(例如卡箍和o型密封圈)与杜瓦装配形成密封空间。
26.具体到本实施例中,杜瓦设置为带有探测线圈的低温真空杜瓦。密封空间为真空密封。压电陶瓷振动件300设置为压电陶瓷振动头,压电陶瓷振动头的驱动电压较高,目前
商业压电陶瓷振动头的驱动电压为60 v

150 v及以上;样品件400设置为无磁性的塑料样品舱,样品件400包括上壳体及下壳体,上壳体与下壳体能够通过卡接、螺接或插接的方式配合形成样品腔。
27.具体地,压电陶瓷振动头包含压电陶瓷堆栈,压电陶瓷堆栈包括压电陶瓷弹片。压电陶瓷堆栈的振动行程很小为几十个微米。在其他实施例中,压电陶瓷振动头也可以包含压电陶瓷弹片。vsm测量原理为:试验样品在外场下会被磁化,如果试验样品足够小,那可以将试验样品近似成一个磁偶极子,它的周围会产生一个磁场分布。当试验样品振动时,即磁偶极子产生的磁场在相对于探测线圈振动,使得探测线圈内的磁通量产生变化,从而感应产生试验样品的电压信号。由于外场的大小不同会引起磁偶极子磁化强度的大小的变化,该电压信号会随着外场的变化而变化。同时外场变化时,探测线圈也会产生出外场引起的磁通量的变化,即外场的变化也会产生电压信号,但是由于探测线圈反绕串联,将外场产生的电压信号抵消了。
28.如图2及图3所示,进一步地,安装件200设有通孔210,通孔210的内壁设有内螺纹,杆本体100的外侧壁设有外螺纹,外螺纹与内螺纹螺纹配合。如此,杆本体100能够带样品件400沿杆本体100的轴线方向往复移动,使得样品件400能够位于鞍区内,提高了振动样品杆10检测的可靠性及准确性。在其他实施例中,杆本体100也可以与安装件200沿杆本体100的轴线方向滑动配合。
29.需要说明的是,两组反绕串联的探测线圈之间的间距为d,探测线圈半径为a,试验样品的振动方向为x,两组探测线圈的中心为原点,当设计合理的探测线圈尺寸时,电压信号在原点附近的范围内最大,形成一个类似于马鞍的形状,称为鞍区,鞍区处,探测线圈的感应电压不会随着试验样品在x的位置产生变化,这样试验样品振动时产生的感应电压就会是最大的。
30.如图2及图3所示,可选地,杆本体100远离压电陶瓷振动件300的一端设有操作件500,操作件500与杆本体100传动连接,并用于承接使得杆本体100相对安装件200转动的扭力。如此,检测人员能够通过操作部500驱动杆本体100相对安装件200转动,使得杆本体100能够带动样品件400沿杆本体100的轴线方向往复移动以保证样品件400位于鞍区内,提高了振动样品杆10的便利性。
31.其中,操作件500可以为手轮、驱动手柄或其他操作结构。具体到本实施例中,操作件500设置为手轮,手轮的一侧设有安装槽,安装槽与杆本体100的一端对应插接配合,手轮的外侧壁设有与安装槽连通的螺纹孔,振动样品杆10还包括螺栓,螺栓与螺纹孔的内壁螺纹连接并与安装槽内的杆本体100抵触配合。如此,螺栓能够将手轮与杆本体100固定为一体,提高了振动样品杆10的可靠性。
32.如图2及图3所示,可选地,样品件400还包括密封组件600,密封组件600套设于杆本体100的外侧壁并位于安装件600远离杜瓦的一侧,密封组件600用于将安装件200与杆本体100密封配合。如此,密封组件600能够阻挡外部空气和水等杂物通过通孔210并进入密封空间内,提高了振动样品杆10的可靠性。
33.具体到本实施例中,密封组件600包括第一o形密封圈、垫片及锁母,第一o形密封圈密封于杆本体100的外侧壁与通孔210的内侧壁之间,锁母与安装件200远离杜瓦的一端锁止配合,垫片夹设于锁母与安装件200之间。
34.如图1、图2及图3所示,在一个实施例中,安装件200靠近杜瓦的一侧设有密封槽220,密封槽220的外侧壁设有第一法兰230,第一法兰230用于与杜瓦密封连接,以使密封槽220的内壁能够与杜瓦配合形成密封空间,安装件200的外侧壁设有开口240,振动样品杆10还包括接头700,接头700设置于开口240处并与开口240的内侧壁密封配合,振动样品杆10还包括电线,电线的一端与压电陶瓷振动件300电连接,电线的另一端伸入密封空间内并与接头700的一端电连接。如此,杜瓦能够稳定、可靠的向密封空间内喷射少量的液氦以进行降温,提高了振动样品杆10的可靠性。
35.具体到本实施例中,杜瓦靠近安装件200的一侧设有第二法兰。振动样品杆10还包括第二o型密封圈及卡箍,第二o型密封圈设置于第一法兰230与第二法兰之间,卡箍用于将第一法兰230与第二法兰固定连接,使得所述第一法兰230、第二o型密封圈及第二法兰能够配合形成密封空间。
36.具体到本实施例中,电线的数量为两个,两个电线伸入密封空间内的一端均与接头焊接。接头700设置为bnc接头700,bnc接头700远离密封空间的一端用于与外部电路进行连接。
37.如图2及图3所示,可选地,振动样品杆10还包括盖体800,盖体800盖设于开口240以封闭开口240,盖体800设有与密封槽220连通的安装孔810,接头700与安装孔810的内侧壁密封配合。如此,接头700可以预选固定在盖体800后,再将盖体800对应盖设与开口240处,提高了振动样品杆10的便利性。
38.其中,盖体800可以通过插接、卡接、螺接或其他连接方式盖设于开口240以封闭开口240。
39.具体到本实施例中,安装件200的外侧壁还有第三o型密封圈,开口240位于第三o型密封圈的内侧,第三o型密封圈设置于安装件200的外侧壁与盖板800之间,保证盖板800能够与安装件200的外侧壁密封配合以封闭开口240。
40.如图2、图3及图4所示,可选地,杆本体100包括相互连接的实心段110和空心段120,压电陶瓷振动件300与空心段120远离实心段110的一端的连接,空心段120靠近压电陶瓷振动件300的一端的外侧壁设有第一穿线孔121,空心段120靠近实心段110的一端的外侧壁设有第二穿线孔122。如此,电线能够通过第一穿线孔121进入空心段内并从第二穿线孔122穿出,使得部分电线能够隐藏在空心段120内,进而使得电线与杆本体100或杜瓦之间发生干涉的概率减小,提高了振动样品杆10的可靠性。
41.其中,实心段110与空心段120可以通过一体成型的方式加工形成,也可以通过焊接、铰接、螺接或卡接等装配的方式形成一体。具体到本实施例中,实心段110为316l不锈钢实心圆棒支撑杆,空心段120为薄壁316l不锈钢管支撑杆,实心段110与空心段120通过焊接的方式连接成一体。
42.如图1及图4所示,在一个实施例中,振动样品杆10还包括传振件900,传振件900的一端与压电陶瓷振动件300传动连接,传振件900的另一端与样品件400传动连接。如此,压电陶瓷振动件300能够通过传振件900与样品件400间隔设置,保证压电陶瓷振动件300能够位于两组反绕串联的探测线圈之间的间隙外,避免压电陶瓷振动件300与两组反绕串联的探测线圈发生电干涉(例如击穿),提高了振动样品杆10的可靠性。
43.其中,传振件900可以为传振杆、传振管或其他传振结构。具体到本实施例中,传振
件900设置为碳纤维管。
44.如图1及图4所示,可选地,振动样品杆10还包括第一转接件1000及第二转接件1100,第一转接件1000用于将杆本体100的一端与压电陶瓷振动件300的一端传动连接,第一转接件1000用于将压电陶瓷振动件300的另一端与传振件900远离样品件400的一端传动连接。如此,第一转接件1000能够将杆本体100与压电陶瓷振动件300快速、稳定的连接为一体,第一转接件1000能够将压电陶瓷振动件300与传振件900快速、稳定的连接为一体,提高了振动样品杆10的装配性及便利性。
45.其中,第一转接件1000及第二转接件1100均可以为转接头700、转接座、转接器或其他转接结构。第一转接件1000用于将杆本体100的一端与压电陶瓷振动件300的一端传动连接,第一转接件1000用于将压电陶瓷振动件300的另一端与传振件900远离样品件400的一端传动连接,均可以通过卡接、螺接、胶接或其他固定连接的方式。
46.具体到本实施例中,第一转接件1000设置为第一铝合金转接器,第一铝合金转接器的一端与空心段120螺纹连接,第一铝合金转接器的另一端设有第一凹槽,压电陶瓷振动件300的一端伸入第一凹槽并通过环氧树脂与第一凹槽的内壁固定连接。第一铝合金转接器的外侧壁设有卡槽,卡槽用于与电线卡接固定。第二转接件1100设置为第二铝合金转接器,第二铝合金转接器的两端分别设有第二凹槽及第三凹槽,压电陶瓷振动件300的另一端伸入第二凹槽并通过环氧树脂与第二凹槽的内壁固定连接,传振件900远离样品件400的一端伸入第三凹槽并通过环氧树脂与第三凹槽的内壁固定连接。样品件400靠近传振件900的一侧设有第四凹槽,传振件900靠近样品件400的一端伸入第四凹槽并通过环氧树脂与第四凹槽的内壁固定连接。
47.在一个实施例中,提供了一种振动样品磁强计,包括上述任一实施例中的振动样品杆10。
48.上述实施例中的振动样品磁强计,使用时,首先,将试验样品放置在样品件400的样品腔内,将安装件200与杜瓦对应密封连接,使得样品件400位于两组反绕串联的探测线圈之间。然后,压电陶瓷振动件300工作,使得压电陶瓷振动件300通过样品件400带动试验样品在两组反绕串联的探测线圈之间振动,进而使得试验样品能够切磁场以产生感应电压信号。最后,采集试验样品产生的感应电压信号的振幅及频率等信息,以能够分析得到试验样品的磁学性能数据。相对于目前的振动样品磁强计,本技术中的振动样品杆10至少具有以下几个优点:1、通过采用压电陶瓷振动件300作为振动源,而压电陶瓷振动件300不受低温和强磁场的影响,保证振动样品磁强计在极低温和强磁场下仍能保持较高的灵敏度,具体地,将本技术中的振动样品杆10置于2 t的强磁场中,振动样品杆10的灵敏度最高可达10-6
emu。2、压电陶瓷振动件300工作时能耗较低,比传统的铁芯式振动头的能耗低一到两个数量级,大幅度节省能耗。3、压电陶瓷振动件300体积较小,能够集成到杆本体100上,使得振动样品磁强计的体积缩小,简化结构。4、压电陶瓷振动件300的工作频率较高(200 hz以上),可以避免纹波等低频噪声的影响,提高了振动样品磁强计检测的可靠性及准确性。
49.在本技术的描述中,需要理解的是,若有出现这些术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等,这些术语指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示
或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
50.此外,若有出现这些术语“第一”、“第二”,这些术语仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中,若有出现术语“多个”,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
51.在本技术中,除非另有明确的规定和限定,若有出现术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等,这些术语应做广义理解。例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
52.在本技术中,除非另有明确的规定和限定,若有出现第一特征在第二特征“上”或“下”等类似的描述,其含义可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
53.需要说明的是,若元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。若一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。如若存在,本技术所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
54.还应当理解的是,在解释元件的连接关系或位置关系时,尽管没有明确描述,但连接关系和位置关系解释为包括误差范围,该误差范围应当由本领域技术人员所确定的特定值可接受的偏差范围内。例如,“大约”、“近似”或“基本上”可以意味着一个或多个标准偏差内,在此不作限定。
55.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
56.以上实施例仅表达了本技术的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本技术构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本技术的保护范围。因此,本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。

技术特征:
1.一种振动样品杆,其特征在于,包括:杆本体,所述杆本体用于穿过杜瓦;安装件,所述安装件套设于所述杆本体的外侧壁,所述安装件位于所述杜瓦的一侧,并用于与所述杜瓦配合形成密封空间;压电陶瓷振动件,所述压电陶瓷振动件设置于所述杆本体上,所述压电陶瓷振动件位于所述杜瓦远离所述安装件的一侧;及样品件,所述样品件与所述压电陶瓷振动件传动连接,所述样品件设有用于容纳试验样品的样品腔。2.根据权利要求1所述的振动样品杆,其特征在于,所述安装件设有通孔,所述通孔的内壁设有内螺纹,所述杆本体的外侧壁设有外螺纹,所述外螺纹与所述内螺纹螺纹配合。3.根据权利要求2所述的振动样品杆,其特征在于,所述杆本体远离所述压电陶瓷振动件的一端设有操作件,所述操作件与所述杆本体传动连接,并用于承接使得所述杆本体相对所述安装件转动的扭力。4.根据权利要求2所述的振动样品杆,其特征在于,所述振动样品杆还包括密封组件,所述密封组件套设于所述杆本体的外侧壁并位于所述安装件远离所述杜瓦的一侧,所述密封组件用于将所述安装件与所述杆本体密封配合。5.根据权利要求1至4任一项所述的振动样品杆,其特征在于,所述安装件靠近所述杜瓦的一侧设有密封槽,所述密封槽的外侧壁设有第一法兰,所述第一法兰用于与所述杜瓦密封连接,以使所述密封槽的内壁能够与所述杜瓦配合形成所述密封空间,所述安装件的外侧壁设有开口,所述振动样品杆还包括接头,所述接头设置于所述开口处并与所述开口的内侧壁密封配合,所述振动样品杆还包括电线,所述电线的一端与所述压电陶瓷振动件电连接,所述电线的另一端伸入所述密封空间内并与所述接头的一端电连接。6.根据权利要求5所述的振动样品杆,其特征在于,所述振动样品杆还包括盖体,所述盖体盖设于所述开口以封闭所述开口,所述盖体设有与所述密封槽连通的安装孔,所述接头与所述安装孔的内侧壁密封配合。7.根据权利要求5所述的振动样品杆,其特征在于,所述杆本体包括相互连接的实心段和空心段,所述压电陶瓷振动件与所述空心段远离所述实心段的一端的连接,所述空心段靠近所述压电陶瓷振动件的一端的外侧壁设有第一穿线孔,所述空心段靠近所述实心段的一端的外侧壁设有第二穿线孔。8.根据权利要求1至4任一项所述的振动样品杆,其特征在于,所述振动样品杆还包括传振件,所述传振件的一端与所述压电陶瓷振动件传动连接,所述传振件的另一端与所述样品件传动连接。9.根据权利要求8所述的振动样品杆,其特征在于,所述振动样品杆还包括第一转接件及第二转接件,所述第一转接件用于将所述杆本体的一端与所述压电陶瓷振动件的一端传动连接,所述第一转接件用于将所述压电陶瓷振动件的另一端与所述传振件远离所述样品件的一端传动连接。10.一种振动样品磁强计,其特征在于,包括如权利要求1至9任一项所述的振动样品杆。

技术总结
本发明提供一种振动样品杆及振动样品磁强计,振动样品杆包括杆本体、安装件、压电陶瓷振动件及样品件。杆本体用于穿过杜瓦;安装件套设于杆本体的外侧壁,安装件位于杜瓦的一侧,并用于与杜瓦配合形成密封空间;压电陶瓷振动件设置于杆本体上,压电陶瓷振动件位于杜瓦远离安装件的一侧;样品件与压电陶瓷振动件传动连接,样品件设有用于容纳试验样品的样品腔。本申请通过采用压电陶瓷振动件作为振动源,而压电陶瓷振动件不受低温和强磁场的影响,保证振动样品杆在极低温和强磁场下仍能保持较高的灵敏度,提高了振动样品杆及振动样品磁强计的适用性及可靠性。磁强计的适用性及可靠性。磁强计的适用性及可靠性。


技术研发人员:李田 李政禹 郗传英 凌浪生 童伟 皮雳 陆轻铀
受保护的技术使用者:中国科学院合肥物质科学研究院
技术研发日:2023.06.20
技术公布日:2023/7/25
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