一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质与流程

1.本发明涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质。


背景技术：

2.芯片测试是用来检测芯片的功能是否正确，目前关于芯片测试大多数需要自行设计并搭建测试系统。自行搭建的测试系统更加注重单项测试功能的实现，但会忽视其易用性和准确性。测试过程中一般需要机械的劳动和统计，测试的准确性往往取决于测试人员的经验，导致测试效率低。
3.上电异常是在通电之后某个模块不能正常工作，它是一种常见的芯片故障，需要测试人员仔细排查。这种故障可能出现的地方有很多，设计、版图、光刻、封装、甚至固件都有可能导致上电异常。而概率性的上电异常需要对大量芯片进行筛选，并对异常状况做统计。由于手头上的测试工具相对简陋，一批测试就可能需要手动拨动测试开关数万次，便捷性和精确性都难以保证。由于精确性差，将会导致统计结果不够准确，可能会忽视很多细节问题，导致异常的原因更加难以排查。
4.因此，如何解决芯片测试效率低、精确性难以保证的问题，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。


技术实现要素：

5.有鉴于此，本发明的目的在于提供一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质，可以简化测试步骤，提升测试结果和统计结果的准确性，改善测试效率和质量。其具体方案如下：
6.一种芯片测试方法，包括：
7.控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；所述继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；所述拨动开关在测试过程中为常开状态；
8.实时读取芯片每次上电的测试日志；
9.根据所述测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；若否，则获取测试过程中芯片状态，生成芯片的统计测试结果。
10.优选地，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，控制所述继电器的开启或关断，包括：
11.向继电器发送开启指令，控制所述继电器的开启；
12.当等待所述开启指令对应的开启时间后，向所述继电器发送关断指令，控制所述继电器的关断，关断之后按照设定的时间等待；
13.循环执行向所述继电器发送所述开启指令和所述关断指令的操作。
14.优选地，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，在控制继电器的开启或关断之前，还包括：
15.将待统计参数置零，打开日志文件和统计文件，输出日志文件句柄和统计文件句柄；所述待统计参数包括已测片数、通过数、首次异常数、概率异常数、概率异常时间统计数组。
16.优选地，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，根据所述测试日志获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试，包括：
17.判断所述测试日志中是否包含测试通过的段落或测试异常的段落，得到读取日志的判断结果；
18.判断循环次数是否大于设定次数，得到循环次数的判断结果；
19.根据读取日志和循环次数的判断结果，获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试。
20.优选地，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，在获取测试过程中芯片状态的同时，还包括：
21.选择点亮连续测试指示灯、异常标志指示灯或系统故障指示灯；
22.若所述异常标志指示灯被点亮，则判断芯片是否是首次上电异常；若是，则更新所述首次异常数；若否，则更新所述概率异常数，并将循环次数写入所述概率异常时间统计数组；
23.若所述异常标志指示灯未被点亮，则判定芯片测试通过，更新所述通过数。
24.优选地，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，生成芯片的统计测试结果，包括：
25.创建格式化字符串，将所述已测片数、所述通过数、所述首次异常数、所述概率异常数按设定格式写入所述格式化字符串；
26.使用所述概率异常时间统计数组中的每个元素索引关断时间数组，并转换为字符串写入所述格式化字符串；
27.将最后得到的所述格式化字符串写入到所述统计文件中。
28.优选地，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，还包括：
29.控制前面板实时显示所述芯片状态和所述统计测试结果。
30.本发明实施例还提供了一种芯片测试系统，包括：
31.控制开关模块，用于控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；所述继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；所述拨动开关在测试过程中为常开状态；
32.日志读取模块，用于实时读取芯片每次上电的测试日志，根据所述测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；
33.结果统计模块，用于当所述日志读取模块判定不继续测试时，生成芯片的统计测试结果。
34.本发明实施例还提供了一种芯片测试设备，包括处理器和存储器，其中，所述处理器执行所述存储器中存储的计算机程序时实现如本发明实施例提供的上述芯片测试方法。
35.本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如本发明实施例提供的上述芯片测试方法。
36.从上述技术方案可以看出，本发明所提供的一种芯片测试方法，包括：控制继电器
的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；拨动开关在测试过程中为常开状态；实时读取芯片每次上电的测试日志；根据测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；若否，则生成芯片的统计测试结果。
37.本发明提供的上述芯片测试方法，采用继电器省去了人力手动拨开关的操作，极大地简化了测试步骤；控制继电器的开启或关断，可以使测试结果的准确性有了质的提升，测试结果不再受测试人员的手法干扰；实时读取日志的方式可以准确判断出测试过程中芯片的状态，判断接下来是继续测试还是统计结果，一旦发现异常，可立即停止接下来的测试，生成芯片的统计测试结果，使测试人员不必时刻根据测试日志手动选择是否继续测试，也不必每次测试完成后手动记录测试结果，减轻了测试人员的负担，提高了统计结果的准确性，进而极大地改善了测试的效率和质量。
38.此外，本发明还针对芯片测试方法提供了相应的系统、设备及计算机可读存储介质，进一步使得上述方法更具有实用性，该系统、设备及计算机可读存储介质具有相应的优点。
附图说明
39.为了更清楚地说明本发明实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
40.图1为本发明实施例提供的芯片测试方法的流程图；
41.图2为本发明实施例提供的芯片测试方法的状态转换图；
42.图3为本发明实施例提供的日志读取模块的结构示意图；
43.图4为本发明实施例提供的前面板的结构示意图；
44.图5为本发明实施例提供的芯片测试系统的结构示意图。
具体实施方式
45.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
46.本发明提供一种芯片测试方法，如图1所示，包括以下步骤：
47.s101、控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；拨动开关在测试过程中为常开状态；
48.需要说明的是，芯片测试板的拨动开关是一种机械开关，通过用手拨动开关柄使电路接通或断开。本发明使用的继电器也是一种机械开关，本发明通过程序控制继电器的开启或关断，从而精确控制芯片的上电时间，进而一次性完成一块芯片的所有测试。
49.较佳地，本发明的继电器可以选用usb继电器，是一种usb智能控制开关，通过从usb端口接收信号实现开关功能。继电器采用usb端口的电源引脚供电，采用usb端口的数据
引脚传输数据，不需要像传统继电器那样另外配置电源模块和通信模块。继电器的控制端口为常闭端、常开端、和公共端，分别将公共端和常开端接入芯片测试板的拨动开关，并在测试过程中将拨动开关打开，使其为常开状态，就可以用继电器来多次调控芯片测试板的上电和断电。较佳地，usb继电器可以选择lcus-1型usb继电器，当然也可以选取其他型号，在此不做限定。
50.s102、实时读取芯片每次上电的测试日志；
51.可以理解的是，一个芯片测试通过意味着连续多次不同等待时间的上电断电测试都通过，每次上电都将产生测试测试日志，在本发明中可实时抓取测试日志，一旦发现异常，可停止测试。步骤s102可以是由本发明设计的日志读取模块来执行，可以实时跟进最新的测试日志，抓取关键信息。
52.s103、根据测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；若否，则生成芯片的统计测试结果。
53.具体地，根据读取的测试日志可以判断出芯片是否异常、系统是否故障，获取测试过程中芯片状态，根据芯片状态可判断是否继续测试还是统计结果；例如芯片异常，则不需要继续测试，直接生成芯片的统计测试结果，实际应用中可以报告的形式展示；若芯片没有发生异常，则继续测试。
54.在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，采用继电器省去了人力手动拨开关的操作，极大地简化了测试步骤，测试人员可以只关注系统测试系统的报告即可；控制继电器的开启或关断，可以使测试结果的准确性有了质的提升，测试结果不再受测试人员的手法干扰；实时读取日志的方式可以准确判断出测试过程中芯片的状态，判断接下来是继续测试还是统计结果，一旦发现异常，可立即停止接下来的测试，生成芯片的统计测试结果，使测试人员不必时刻根据测试日志手动选择是否继续测试，也不必每次测试完成后手动记录测试结果，减轻了测试人员的负担，提高了统计结果的准确性，进而极大地改善了测试的效率和质量。
55.进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，步骤s101控制继电器的开启或关断，具体可以包括：向继电器发送开启指令，控制继电器的开启；当等待开启指令对应的开启时间后，向继电器发送关断指令，控制继电器的关断，关断之后按照设定的时间等待；循环执行向继电器发送开启指令和关断指令的操作。
56.需要说明的是，继电器的通信模式为串口通信，可以直接用电脑控制继电器的开关，即继电器的开关命令由程序控制，开关时间精确可调。在实际应用中，将继电器的usb端口插入电脑，可以安装usb转串口芯片的驱动程序ch340，之后就通过程序控制该继电器。例如：可以设置串口波特率为9600，以16进制向继电器串口发送a00101a2，即可打开继电器；发送a00100a1即可关闭继电器。通过设计命令发送的时间间隔，便可以控制继电器的开启时间和断开时间，连续发送开关命令，即可一次性完成一块芯片的所有测试。
57.举例来说，有一部分芯片存在上电异常问题，现在需要对这些芯片做筛选，区分出首次上电异常、概率上电异常(即延迟一段时间上电异常)和上电通过的芯片，并对概率上电异常的芯片做统计。测试方案为连续上电20次，每次上电时间一样，断开间隔时间从小到大递增。可以使用sscom串口调试软件，给继电器设置一串通信命令。第一条以16进制发送a00101a2打开继电器，顺序为1，延时为1000ms，第二条以16进制发送a00100a1关闭继电器，
顺序为2，延时100ms。之后第奇数次发送a00101a2，延时1000ms，偶数次发送a00100a1，延时为次数/2*100ms。设置串口之后，点击循环发送，通过读取每次上电的日志，就可以判断芯片是否存在上电异常。于是可以一次性完成一块芯片的所有测试。
58.需要指出的是，本发明的控制程序架构可以理解为一个有限状态自动机，如图2所示，本发明的有限状态自动机可以在七个状态之间切换，七个状态分别为初始化、等待操作、新增样品、单次测试、抓取日志、统计结果、写入统计文档。各状态的具体工作方式在下文中进行描述。
59.在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，在执行步骤s101控制继电器的开启或关断之前，还可以包括：将待统计参数置零，打开日志文件和统计文件，输出日志文件句柄lh和统计文件句柄sh；这里的待统计参数可以包括已测片数an、通过数pn、首次异常(即第一次上电之后芯片就出现了异常)数fe、概率异常(也称延迟异常，可理解为多次上电之后才会出现异常，可能和上电次数或者两次上电的间隔时间有关)数de、概率异常时间统计数组dt[]。
[0060]
上述过程为有限状态自动机的初始化状态。有限状态自动机启动时立即进入初始化状态，执行初始化操作：对需要统计的参数置零，打开日志文件和统计文件。其中需要置零的参数有：已测片数an，通过数pn，首次异常数fe，概率异常数de，概率异常时间统计数组dt[]。日志文件路径的浏览选项为文件-现有，操作为打开，权限为只读。统计文件路径的浏览选项为文件-新建或现有，操作为打开或创建，权限为读写。文件打开之后，输出日志文件句柄lh和统计文件句柄sh。初始化完成之后立即进入等待操作状态。
[0061]
在等待操作状态，需要等待事件(如前面板上的事件)发生。有限状态自动机添加了对三个事件的响应，分别是新增测试按钮被按下、结果统计按钮被按下和初始化按钮被按下，分别对应跳转到新增样品状态、写入统计文档状态和初始化状态。
[0062]
在新增样品状态，将循环次数ci置零，将样品异常指示灯和系统故障指示灯熄灭，在正常测试时进入单次测试状态。
[0063]
在单次测试状态，分为四个步骤顺序执行：首先向继电器发送开启命令a00101a2，第二步按设定的开启时间ot等待，第三步向继电器发送关断命令a00100a1，第四步使用循环次数ci索引关断时间数组ct[]，按索引时间等待。完成之后跳转到日志读取状态。
[0064]
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，步骤s103根据测试日志获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试，具体可以包括：判断测试日志中是否包含测试通过的段落或测试异常的段落，得到读取日志的判断结果；判断循环次数是否大于设定次数，得到循环次数的判断结果；根据读取日志和循环次数的判断结果，获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试。
[0065]
进一步地，在具体实施时，在获取测试过程中芯片状态的同时，还可以包括：选择点亮连续测试指示灯、异常标志指示灯或系统故障指示灯；若异常标志指示灯被点亮，则判断芯片是否是首次上电异常；若是，则更新首次异常数；若否，则更新概率异常数，并将循环次数写入概率异常时间统计数组；若异常标志指示灯未被点亮，则判定芯片测试通过，更新通过数。
[0066]
上述过程为有限状态自动机的日志读取状态。在日志读取状态需要实现以下功能：抓取刚才测试之后最新生成的一段日志，判断日志中是否包含测试通过的段落、测试异
常的段落。给循环次数加一，并判断其是否大于设定次数。根据读取的日志和循环次数的判断结果，选择点亮连续测试指示灯、异常标志指示灯或系统故障指示灯，并跳转到单次测试状态、结果统计状态或者等待操作状态。
[0067]
要在日志读取状态实现相应功能，需要设计并编写日志读取模块。如图3所示，首先是抓取最新的测试日志，判断日志中是否包含测试通过段落或者测试异常段落，需要做如下操作：首先调用日志文件句柄lh，接入设置文件位置函数，设置当前位置为自文件结尾开始向前数300个字符。调用读取文本文件函数，读取当前位置到文件结尾的300个字符，并将读取之后的文件句柄写入lh，供下次调用。从读取的字符串中，搜索测试通过的特征字符串，如果存在认为单次测试通过，记为事件a，搜索测试异常的特征字符串，如果存在，认为单次测试异常，记为事件b。其次是判断测试状态。给循环次数ci加一，同时测量关断时间数组维数大小s_ct[]，如果ci小于s_ct[]，记为事件c。如果事件a和事件c同时为真，点亮连续测试指示灯，跳转到单次测试状态。如果事件b为真，点亮异常标志指示灯。如果事件b为真或者事件c为假，跳转到结果统计状态。如果事件a为假并且事件b为假，点亮系统异常指示灯，跳转到等待操作状态。
[0068]
在结果统计状态，首先将已测片数an加一，判断异常标志指示灯是否被点亮，如果没有点亮，意味着芯片测试通过，将通过数pn加一，将枚举指示器打到“通过测试”。如果异常标志指示灯被点亮，需要判断芯片是首次上电异常还是延迟上电异常，判断循环次数是否等于1，如果为真，将首次异常数fe加一，将枚举指示器打到“首次异常”；如果为假，将概率异常数de加一，将枚举指示器打到“概率异常”，并将循环次数写入概率异常时间统计数组dt[]。
[0069]
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，步骤s103生成芯片的统计测试结果，具体可以包括：创建格式化字符串，将已测片数an、通过数pn、首次异常数fe、概率异常数de按设定格式写入格式化字符串；使用概率异常时间统计数组dt[]中的每个元素索引关断时间数组ct[]，并转换为字符串写入格式化字符串；将最后得到的格式化字符串写入到统计文件中。
[0070]
上述过程为有限状态自动机的写入统计文档状态。具体地，当从等待操作状态跳转到写入统计文档状态之后，有限状态自动机将执行写入统计文档操作。创建格式化字符串，将已测片数an、通过数pn、首次异常数fe、概率异常数de按设定格式写入字符串。创建循环，使用概率异常时间统计数组dt[]中的每个元素索引关断时间数组ct[]，并转化为字符串写入刚才创建的格式字符串中。调用统计文件句柄sh，将统计文件句柄sh设置到文件结尾，然后将最终的格式字符串写入到统计文件中，并将输出的文件句柄写入统计文件句柄。
[0071]
以上便是七个状态的全部功能，在实际操作中，有限状态自动机在这七个状态之间跳转，实现循环测试、芯片状态统计、系统监测、输出统计文件等功能。
[0072]
进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试方法中，还可以包括：控制前面板实时显示芯片状态和统计测试结果。
[0073]
在实际应用中，前面板是labview虚拟仪器中的用户界面。labview是一种图形化编程软件，可以用来设计虚拟仪器，方便修改、复制、分发。整个程序可以采用labview图形化编程，设计了前面板界面，如图4所示，提供了自行设计测试参数部分和实时显示芯片状态并统计测试结果部分，只需要点击确认按钮，就可以完成芯片测试和写入统计文件的功
能。这样采用人性化的操作界面，可以实时读出在测芯片状态、已测芯片统计结果、系统的工作状态，并且操作简单、测试参数放在前面板，可以自行设计和灵活调节测试参数，提升了测试方案的多样性，还可以检测系统故障。
[0074]
具体地，前面板上可以具有以下控件：连接继电器和文件的控件、设置测试参数的控件、显示测试状态的控件、显示统计结果的控件、以及操作状态转化的控件。其中，连接继电器的控件包括visa资源名称；连接文件的控件包括日志文件路径输入控件，统计文件路径输入控件；设置测试参数的控件包括开启时间数值输入控件、关断时间数值输入数组控件；显示测试状态的控件包括连续测试指示灯、系统故障指示灯、异常标志指示灯、芯片测试结果枚举控件；显示统计结果的控件包括已测片数、通过数、首次异常数、概率异常数、循环次数、概率异常时间统计数组；操作状态转化的控件包括新增测试按钮、结果统计按钮、初始化按钮。
[0075]
从前面板看，程序的工作方式为：将visa资源名称连接到继电器端口，日志文件路径输入控件连接到日志文件，统计文件路径输入控件连接到统计文件。程序启动时，系统进入初始化状态，成功连接继电器和文件，并将所有显示统计结果的控件归零，系统进入等待操作状态。安装测试芯片之后点击新增测试按钮，系统进入新增样品状态，循环次数归零，样品异常指示灯和系统故障指示灯熄灭，系统进入单次测试状态。继电器完成一次开关动作之后，系统进入日志读取状态。在日志读取状态，循环次数加一，如果刚才的测试通过并且循环次数小于关断时间数组的设定维度，则连续测试指示灯点亮，系统又进入单次测试状态；如果刚才的测试报错，则异常标志指示灯点亮；如果刚才的测试报错或者循环次数大于关断时间数组的维度，连续测试指示灯熄灭，系统进入结果统计状态；如果没有检测到测试通过或者测试报错，则系统故障灯点亮，连续测试指示灯熄灭，系统进入等待测试状态。在结果统计状态，已测片数加一，系统将会根据异常标志指示灯是否被点亮和循环次数，判断该芯片是测试通过、首次异常、还是概率异常，并对相应的数字加一。如果存在概率异常，系统还将记录概率异常的位置。之后系统进入等待操作。在等待操作状态，如果按下结果统计按钮，系统将进入写入统计文件状态，将统计结果以追加写入的方式写入到统计文件的末尾，并进入等待操作状态。如果在等待操作状态按下初始化按钮，系统将重新进行初始化操作。
[0076]
在此要补充的是，本发明采用的继电器来实现连续可调的数控开关方案不仅适用于芯片测试，还适用于其他需要重复多次实施精确开关的场合。有限状态自动机的设计使得程序不仅适用于上电异常测试，还适用于其他概率事件的测试。
[0077]
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种芯片测试系统，由于该系统解决问题的原理与前述一种芯片测试方法相似，因此该系统的实施可以参见芯片测试方法的实施，重复之处不再赘述。
[0078]
在具体实施时，本发明实施例提供的芯片测试系统，如图5所示，具体包括：
[0079]
控制开关模块1，用于控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；拨动开关在测试过程中为常开状态；
[0080]
日志读取模块2，用于实时读取芯片每次上电的测试日志，根据测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；
[0081]
结果统计模块3，用于当日志读取模块判定不继续测试时，生成芯片的统计测试结
果。
[0082]
在本发明实施例提供的上述芯片测试系统中，可以通过上述三个模块的相互作用，简化测试步骤，提升测试结果的准确性，使测试人员不必时刻根据测试日志选择是否继续测试，也不必每次测试完成后手动记录测试结果，减轻测试人员的负担，提高统计结果的准确性，进而极大地改善测试的效率和质量。
[0083]
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试系统中，控制开关模块1具体可以用于向继电器发送开启指令，控制继电器的开启；当等待开启指令对应的开启时间后，向继电器发送关断指令，控制继电器的关断，关断之后按照设定的时间等待；循环执行向继电器发送开启指令和关断指令的操作。
[0084]
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试系统中，还可以包括：初始化模块，用于将待统计参数置零，打开日志文件和统计文件，输出日志文件句柄lh和统计文件句柄sh。
[0085]
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试系统中，日志读取模块2具体可以包括：
[0086]
日志判断单元，用于判断测试日志中是否包含测试通过的段落或测试异常的段落，得到读取日志的判断结果；
[0087]
次数判断单元，用于判断循环次数是否大于设定次数，得到循环次数的判断结果；
[0088]
状态获取单元，用于根据读取日志和循环次数的判断结果，获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；同时选择点亮连续测试指示灯、异常标志指示灯或系统故障指示灯；若异常标志指示灯被点亮，则判断芯片是否是首次上电异常；若是，则更新首次异常数；若否，则更新概率异常数，并将循环次数写入概率异常时间统计数组；若异常标志指示灯未被点亮，则判定芯片测试通过，更新通过数。
[0089]
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试系统中，结果统计模块3具体可以包括：
[0090]
字符串创建单元，用于创建格式化字符串，将已测片数an、通过数pn、首次异常数fe、概率异常数de按设定格式写入格式化字符串；
[0091]
文件写入单元，用于使用概率异常时间统计数组dt[]中的每个元素索引关断时间数组ct[]，并转换为字符串写入格式化字符串；将最后得到的格式化字符串写入到统计文件中。
[0092]
在具体实施时，在本发明实施例提供的上述芯片测试系统中，还可以包括：信息显示模块，用于控制前面板实时显示芯片状态和统计测试结果。
[0093]
关于上述各个模块更加具体的工作过程可以参考前述实施例公开的相应内容，在此不再进行赘述。
[0094]
相应地，本发明实施例还公开了一种芯片测试设备，包括处理器和存储器；其中，处理器执行存储器中存储的计算机程序时实现前述实施例公开的芯片测试方法。
[0095]
关于上述方法更加具体的过程可以参考前述实施例中公开的相应内容，在此不再进行赘述。
[0096]
进一步地，本发明还公开了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序；计算机程序被处理器执行时实现前述公开的芯片测试方法。
[0097]
关于上述方法更加具体的过程可以参考前述实施例中公开的相应内容，在此不再进行赘述。
[0098]
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统、设备、存储介质而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
[0099]
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本技术的范围。
[0100]
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(ram)、内存、只读存储器(rom)、电可编程rom、电可擦除可编程rom、寄存器、硬盘、可移动磁盘、cd-rom、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
[0101]
综上，本发明实施例提供的一种芯片测试方法，包括：控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；拨动开关在测试过程中为常开状态；实时读取芯片每次上电的测试日志；根据测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；若否，则生成芯片的统计测试结果。上述芯片测试方法采用继电器省去了人力手动拨开关的操作，极大地简化了测试步骤；控制继电器的开启或关断，可以使测试结果的准确性有了质的提升，测试结果不再受测试人员的手法干扰；实时读取日志的方式可以准确判断出测试过程中芯片的状态，判断接下来是继续测试还是统计结果，一旦发现异常，可立即停止接下来的测试，生成芯片的统计测试结果，使测试人员不必时刻根据测试日志手动选择是否继续测试，也不必每次测试完成后手动记录测试结果，减轻了测试人员的负担，提高了统计结果的准确性，进而极大地改善了测试的效率和质量。此外，本发明还针对芯片测试方法提供了相应的系统、设备及计算机可读存储介质，进一步使得上述方法更具有实用性，该系统、设备及计算机可读存储介质具有相应的优点。
[0102]
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0103]
以上对本发明所提供的芯片测试方法、系统、设备及存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思
想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

技术特征：
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；所述继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；所述拨动开关在测试过程中为常开状态；实时读取芯片每次上电的测试日志；根据所述测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；若否，则生成芯片的统计测试结果。2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，控制所述继电器的开启或关断，包括：向继电器发送开启指令，控制所述继电器的开启；当等待所述开启指令对应的开启时间后，向所述继电器发送关断指令，控制所述继电器的关断，关断之后按照设定的时间等待；循环执行向所述继电器发送所述开启指令和所述关断指令的操作。3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，在控制继电器的开启或关断之前，还包括：将待统计参数置零，打开日志文件和统计文件，输出日志文件句柄和统计文件句柄；所述待统计参数包括已测片数、通过数、首次异常数、概率异常数、概率异常时间统计数组。4.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，根据所述测试日志获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试，包括：判断所述测试日志中是否包含测试通过的段落或测试异常的段落，得到读取日志的判断结果；判断循环次数是否大于设定次数，得到循环次数的判断结果；根据读取日志和循环次数的判断结果，获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试。5.根据权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，在获取测试过程中芯片状态的同时，还包括：选择点亮连续测试指示灯、异常标志指示灯或系统故障指示灯；若所述异常标志指示灯被点亮，则判断芯片是否是首次上电异常；若是，则更新所述首次异常数；若否，则更新所述概率异常数，并将循环次数写入所述概率异常时间统计数组；若所述异常标志指示灯未被点亮，则判定芯片测试通过，更新所述通过数。6.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，生成芯片的统计测试结果，包括：创建格式化字符串，将所述已测片数、所述通过数、所述首次异常数、所述概率异常数按设定格式写入所述格式化字符串；使用所述概率异常时间统计数组中的每个元素索引关断时间数组，并转换为字符串写入所述格式化字符串；将最后得到的所述格式化字符串写入到所述统计文件中。7.根据权利要求1至6任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：控制前面板实时显示所述芯片状态和所述统计测试结果。8.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：控制开关模块，用于控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时
间；所述继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；所述拨动开关在测试过程中为常开状态；日志读取模块，用于实时读取芯片每次上电的测试日志，根据所述测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断是否继续测试；结果统计模块，用于当所述日志读取模块判定不继续测试时，生成芯片的统计测试结果。9.一种芯片测试设备，其特征在于，包括处理器和存储器，其中，所述处理器执行所述存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的芯片测试方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于存储计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的芯片测试方法。

技术总结
本申请涉及芯片测试领域，公开了一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：控制继电器的开启或关断，以多次调控芯片的上电时间和断电时间；继电器与芯片测试板的拨动开关电性连接；拨动开关在测试过程中为常开状态；实时读取芯片每次上电的测试日志；根据测试日志读取的结果获取测试过程中芯片状态，以判断接下来是继续测试还是生成芯片的统计测试结果。上述方法采用继电器省去了人力手动拨开关的操作，极大地简化了测试步骤；控制继电器的开启或关断，可以提升测试结果的准确性；实时读取日志，一旦发现异常，可立即停止测试，生成统计结果，减轻了测试人员的负担，极大地改善了测试的效率和质量。改善了测试的效率和质量。改善了测试的效率和质量。


技术研发人员：石鹏 范宣荣 刘奇浩 刘洋 颜港 杨茂辉 崔子浩 苏丹丹
受保护的技术使用者：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
技术研发日：2023.05.11
技术公布日：2023/8/9