一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法与流程

1.本发明涉及发光二极管的技术领域，具体为一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法。


背景技术：

2.发光二极管是一种将电能直接转换成光能的半导体固体显示器件，发光二极管一般都是成批生产，在成批的发光二极管生产出来后，需要抽样对发光二极管进行导电性能的检测，以确保同批次的发光二极管的良品率。
3.由于发光二极管具有单向导电性，根据这一特性可以对其电阻值进行测试以判断发光二极管的导电性能，而在现有的检测中，需要检测人员依次将发光二极管的正负极与万用表的正负极正反两次对接，测试其正向电阻与反向电阻，并记录检测数据，反复操作比较繁琐，且此种方式并不适用大批量的抽样检测，大大影响其检测效率。


技术实现要素：

4.本发明提供发光二极管导电性能自动测试设备及方法,以解决相关技术中检测操作繁琐以及检测效率的问题。
5.本发明提供了一种发光二极管导电性能自动测试设备，包括基座，基座上端通过固定连接在基座上呈矩阵分布的安装板设置有传送机构，传送机构的左侧上方设置有下料机构，传送机构的中间设置有两组测试机构，传送机构的右侧且位于基座上固定连接有回收箱。
6.其中，传送机构包括转动连接在前后两侧安装板上的转动轴，转动轴上转动连接有输送带，输送带上固定连接有固定组件，位于任意一个转动轴上连接有第一驱动源。
7.测试机构包括两个左右相邻设置的测试箱，测试箱通过安装架连接在基座上端，基座上端且位于测试箱的前侧放置有万用表，测试箱内设置有限位组件，限位组件的下方设置有弹性导电组件，位于左侧测试箱的左侧固定连接有矫正组件。
8.在一种可能实施的方式中，下料机构包括矩形框，矩形框通过连接架固定连接在基座上，矩形框内壁上左右交错连接有缓冲件，矩形框底端出口出通过连接轴连接有挡板，所述连接轴贯穿矩形框的后侧设置，且另一端转动连接在矩形框内壁前侧，所述连接轴上且与矩形框贯穿处连接有第一扭簧，所述矩形框的后侧设置有驱动组件。
9.在一种可能实施的方式中，固定组件包括连接杆，连接杆固定连接在输送带上，连接杆上固定连接有固定框，固定框的内部底端固定连接有伸缩弹簧，伸缩弹簧的上端固定连接有放置板，放置板上开设有用于放置发光二极管的卡槽，放置板上端左右两侧铰接有抵接板，两个抵接板的相背侧固定连接有第一楔形块，所述固定框的内壁左右两侧固定连接有与第一楔形块对应的第二楔形块。
10.在一种可能实施的方式中，位于上下两个所述缓冲件的距离高度大于发光二极管的高度，缓冲件由第二扭簧和橡胶杆组成，第二扭簧固定连接在矩形框的内壁和橡胶杆的
一端，且第二扭簧的扭矩力小于发光二极管的重力，橡胶杆的长度小于矩形框内侧宽度。
11.在一种可能实施的方式中，驱动组件包括同步带，同步带的一端连接在转动轴上，另一端连接在转轴上，转轴转动连接在矩形框的外侧，所述转轴上固定连接有凸轮，所述连接轴上固定连接有连接框。
12.在一种可能实施的方式中，限位组件包括有矩形板，矩形板固定连接在测试箱内壁的前后两侧上，矩形板上转动连接有双向螺纹杆，双向螺纹杆上且位于矩形板的两侧螺纹连接有移动块，所述移动块滑动连接在测试箱的内壁后侧，所述移动块的下端固定连接有l形压块，两个l形压块的相对端固定连接有橡胶块，矩形板下方设置有两个引导框，引导框通过圆柱杆固定连接在测试箱内壁的前后两侧。
13.在一种可能实施的方式中，引导框内开设有引导孔，引导孔的上端的直径大于下端的直径，引导孔的内壁周向开设有让位槽，让位槽的内壁固定连接有抵紧弹簧，抵紧弹簧的另一端固定连接有弧形抵紧块。
14.在一种可能实施的方式中，弹性导电组件包括导电块，导电块的上端开设有导电孔，导电孔的直径与引导孔的下端直径相同，导电孔的周向固定连接有弧形导电片，弧形导电片弧形向下设置，导电块的底端固定连接有导电弹簧，导电弹簧的底端固定连接有弧形导电抵触块。
15.在一种可能实施的方式中，矫正组件包括矩形块，矩形块固定连接在位于左侧的测试箱的左侧，矩形块的底端开设有弧形矫正槽，弧形矫正槽从左往右直径逐步减少。
16.此外，本发明还提供了一种发光二极管导电性能自动测试方法，具体包括以下步骤：s1、准备测试设备：选择合适的测试仪器万用表，并将万用表的测试连接杆连接在测试箱内，通过限位组件固定限位且通过弹性导电组件导电。
17.s2、抽样测试样本：将抽取待测试的发光二极管将灯管朝下放入到下料机构内，并通过传送机构依次通过两个测试箱。
18.s3、导电性能测试：依次将经过的测试箱发光二极管与弹性导电组件接触自动进行导电性能测试。
19.s4、观察测试结果：通过观察两组万用表的测试数据，进而判断发光二极管的导电性能。
20.本发明实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：
21.1、根据本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法，通过设置的传送机构与测试机构的相配合，依次与发光二极管的正反极与万用表的正反极依次自动连接，自动测试出正向电阻值与反向电阻值，无需反复的将发光二极管与万用表的正负极一一进行对接，不仅可以改善人工反复操作的繁琐性，还大大提高了检测的效率，相应的提高了本发明的便捷度。
22.2、根据本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法，通过两个测试箱的设置，可以一次性同时对两个发光二极管进行测试，且可以对万用表的测试进行实时观察，且通过下料机构、输送机构形成完整的流水线检测，且仅通过一个驱动源即可实现整个流水线的运转，同时实现对固定组件和下料机构的联动，提高了本发明的利用率。
23.3、根据本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法，通过
固定组件的设置，可以通过发光二极管的自身重力进行夹持固定，且在检测结束后，发光二极管能够自动脱落，均无需驱动源的设置，且整体结构设计简单。
附图说明
24.图1是本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法的第一视角结构示意图。
25.图2是本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法的第二视角结构示意图。
26.图3是本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法的正视剖视图。
27.图4是本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法的驱动组件结构示意图。
28.图5是本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法的固定组件的结构局部剖视示意图。
29.图6是本发明发光二极管与万用表的测试连接杆检测时状态示意图。
30.图7是本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法的测试箱结构示意图。
31.图8是本发明图7中a—a处结构剖视图。
32.图9是本发明图7中b处结构放大图。
33.图10是本发明实施例提供的一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法的矫正组件仰视图。
34.图中：1、基座；11、安装板；2、传送机构；21、转动轴；22、输送带；23、固定组件；231、连接杆；232、固定框；233、伸缩弹簧；234、放置板；235、矩形板；236、第一楔形块；237、第二楔形块；3、下料机构；31、矩形框；32、缓冲件；33、连接轴；34、挡板；35、驱动组件；351、同步带；352、转轴；353、凸轮；354、连接框；4、测试机构；41、测试箱；42、万用表；43、限位组件；431、矩形板；432、双向螺纹杆；433、移动块；434、l形压块；435、引导框；4351、引导孔；4352、抵紧弹簧；4353、弧形抵紧块；44、弹性导电组件；441、导电块；442、弧形导电片；443、导电弹簧；444、弧形导电抵触块；45、矫正组件；451、矩形块；452、弧形矫正槽；5、回收箱。
具体实施方式
35.为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于下面所描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施方式的限制。
36.请参阅图1、图2、图3、图4和图9，一种发光二极管导电性能自动测试设备，包括基座1，基座1上端通过固定连接在基座1上的安装板11设置有传送机构2，传送机构2的左侧上方设置有下料机构3，传送机构2的中间设置有两组测试机构4，传送机构2的右侧且位于基座1上固定连接有回收箱5；其中，传送机构2包括转动连接在前后两侧安装板11上的转动轴
21，转动轴21上转动连接有输送带22，输送带22上固定连接有固定组件23，位于任意一个转动轴21上连接有第一驱动源；测试机构4包括两个左右相邻设置的测试箱41，测试箱41通过安装架连接在基座1上端，基座1上端且位于测试箱41的前侧放置有万用表42，测试箱41内设置有限位组件43，限位组件43的下方设置有弹性导电组件44，位于左侧测试箱41的左侧固定连接有矫正组件45。
37.具体工作时，打开第一驱动源，这里的第一驱动源为间歇电机，间歇电机带动输送带22转动，进而带动输送带22上的固定组件23间歇通过下料机构3，发光二极管掉落进固定组件23中，然后进入矫正组件45，对发光二极管上端的正负极连接杆进行位置矫正，再然后依次两个测试机构4，启动万用表42，两个万用表42的正反极左右方向相反，以确保可以对发光二极管进行正反向的电阻测试根据二极管的单向导电性这一特点，性能良好的二极管正向电阻小，反向电阻大；这两个数值相差越大越好；若相差不多说明二极管的性能不好或已经损坏：如果两次测量的阻值都很小，说明二极管已经击穿；如果两次测量的阻值都很大，说明二极管内部已经断路，两次测量的阻值相差不大，说明二极管性能欠佳，在这些情况下，二极管就不能使用了进而判断二极管的导电性能，导电性能差的二极管在通过两次测试后可以人工提前拿出单独放置，导电性能正常的二极管正常输送，在经过输送带22的最右侧时能自动落进回收箱5内。
38.参阅图3，下料机构3包括矩形框31，矩形框31通过连接架固定连接在基座1上，矩形框31内壁上左右交错连接有缓冲件32，矩形框31底端出口出通过连接轴33连接有挡板34，所述连接轴33贯穿矩形框31的后侧设置，且另一端转动连接在矩形框31内壁前侧，所述连接轴33上且与矩形框31贯穿处连接有第一扭簧，所述矩形框31的后侧设置有驱动组件35。
39.继续参阅图3，位于上下两个所述缓冲件32的距离高度大于发光二极管的高度，缓冲件32由第二扭簧和橡胶杆组成，第二扭簧固定连接在矩形框31的内壁和橡胶杆的一端，且第二扭簧的扭矩力小于发光二极管的重力，橡胶杆的长度小于矩形框31内侧宽度。
40.参阅图4，驱动组件35包括同步带351，同步带351的一端连接在转动轴21上，另一端连接在转轴352上，转轴352转动连接在矩形框31的外侧，所述转轴352上固定连接有凸轮353，所述连接轴33上固定连接有连接框354。
41.具体工作时，将发光二极管灯管朝下放入矩形框31中，发光二极管依次经过矩形框31内壁的缓冲件32，缓冲件32的第二扭簧的扭矩力小于发光二极管的重力，在第二扭簧的初始状态下，橡胶杆处于水平状态，每当落下一个发光二极管，橡胶管向下转动，发光二极管掉落至下一个橡胶管上，直至掉落在最底端的挡板34上，缓冲件32的设置，可以在矩形框31中一次性放入多个发光二极管，以方便形成后续的流水线的检测流程，当间歇电机启动时，带动转轴352同步转动，转轴352带动凸轮353同步带动，转轴352每转动一圈带动凸轮353间歇抵触到连接框354，连接框354带动连接轴33转动，进而带动挡板34向下转动，发光二极管掉落刚好至输送带22上的固定组件23上。
42.参阅图5，固定组件23包括连接杆231，连接杆231固定连接在输送带22上，连接杆231上固定连接有固定框232，固定框232的内部底端固定连接有伸缩弹簧233，伸缩弹簧233的上端固定连接有放置板234，放置板234上开设有用于放置发光二极管的卡槽，放置板234上端左右两侧铰接有抵接板235，两个抵接板235的相背侧固定连接有第一楔形块236，所述
固定框232的内壁左右两侧固定连接有与第一楔形块236对应的第二楔形块237。
43.具体工作时，在伸缩弹簧233的自然状态下，两个抵接板235处于互相平行的状态，且抵接板235为橡胶材质，当发光二极管掉落至放置板234上时，卡槽起到对发光二极管引导定位的作用，在发光二极管的重力作用下，放置板234向下移动，对应的第一楔形块236与第二楔形块237相配合，抵接板235相互靠近转动，并抵靠在发光二极管的外侧，起到限位的作用，对应的，抵接板235相互靠近的一侧可以设置有与发光二极管对应的弧形槽，以便于更好的对发光二极管进行限位。
44.参阅图1和图10，矫正组件45包括矩形块451，矩形块451固定连接在位于左侧的测试箱41的左侧，矩形块451的底端开设有弧形矫正槽452，弧形矫正槽452从左往右直径逐步减少。
45.具体工作时，当发光二极管经过矫正组件45时，由于发光二极管上的正负极连接杆与输送带22的输送方向并不一定呈水平状态，发光二极管上的正负极连接杆在经过弧形矫正槽452时，弧形矫正槽452由左至右直径逐步减少，最后与发光二极管上的正负极连接杆的直径相同，但仍可以使发光二极管的正负极连接杆正常穿过，发光二极管发生转动，发光二极管上的正负极连接杆逐步与输送带22的输送方向呈水平状，方便后续发光二极管上的正负极连接杆与测试箱41内进行测试作业。
46.参阅图3、图7和图8，限位组件43包括有矩形板431，矩形板431固定连接在测试箱41内壁的前后两侧上，矩形板431上转动连接有双向螺纹杆432，双向螺纹杆432上且位于矩形板431的两侧螺纹连接有移动块433，所述移动块433滑动连接在测试箱41的内壁后侧，所述移动块433的下端固定连接有l形压块434，两个l形压块434的相对端固定连接有橡胶块，矩形板431下方设置有两个引导框435，引导框435通过圆柱杆固定连接在测试箱41内壁的前后两侧。
47.参阅图7、图8和图9，引导框435内开设有引导孔4351，引导孔4351的上端的直径大于下端的直径，引导孔4351的内壁周向开设有让位槽，让位槽的内壁固定连接有抵紧弹簧4352，抵紧弹簧4352的另一端固定连接有弧形抵紧块4353。
48.具体工作时，将万用表42上的正负两极的测试连接杆分别放入测试箱41内，左右两个万用表42正负极的的位置相反，以确保同一个发光二极管在经过两个万用表42时测试出正向电阻和反向电阻，以一个测试箱41内连接为例，将万用表42上的正负两极的测试连接杆分别插入两个引导框435中，直至万用表42上的正负两极的测试连接杆穿过引导孔4351，引导孔4351上的弧形抵紧块4353抵接在万用表42上的正负两极的测试连接杆上进行限位，在此说明一点，弧形抵紧块4353在抵紧弹簧4352的作用下始终位于让位槽中，以避免抵紧弹簧4352对万用表42上的正负两极的测试连接杆插入产生影响；在抵紧弹簧4352的作用下，弧形抵紧块4353始终靠近让位槽的轴心设置，与此同时，转动双向螺纹杆432，使移动块433相互靠近，移动块433上的l形压块434直至将万用表42上的正负两极的测试连接杆的上部分贴近矩形板431，对万用表42上的正负两极的测试连接杆进行进一步的限位。
49.参阅图7、图8和图9，弹性导电组件44包括导电块441，导电块441的上端开设有导电孔，导电孔的直径与引导孔4351的下端直径相同，导电孔的周向固定连接有弧形导电片442，弧形导电片442弧形向下设置，导电块441的底端固定连接有导电弹簧443，导电弹簧443的底端固定连接有弧形导电抵触块444。
50.具体工作时，万用表42上的正负两极的测试连接杆的底端穿过引导孔4351直至抵接在导电块441上端的导电孔内，且弧形导电片442抵接在万用表42上的正负两极的测试连接杆的周向，启动万用表42时，万用表42上的正负两极的测试连接杆通过导电块441内的弧形导电片442进行导电，并传到至导电弹簧443，导电弹簧443的底端弧形导电抵触块444在接触发光二极管时以便进行测试，两个弧形导电抵触块444的距离与发光二极管上的正负极连接杆之间的距离相同；发光二极管上的正负极连接杆其中一个经过弧形导电抵触块444时，万用表42并不会产生反应，仅当发光二极管上的正负极连接杆分别与同一个测试箱41内的两个弧形导电抵触块444接触时，能够测试出发光二极管的电阻值。
51.此外，本发明还提供了一种发光二极管导电性能自动测试方法，具体包括以下步骤：s1、准备测试设备：选择合适的测试仪器万用表42，并将万用表42上的正负两极的测试连接杆分别连接在测试箱41内，通过限位组件43固定限位且通过两个弹性导电组件44分别对万用表42上的正负两极的测试连接杆导电。
52.s2、抽样测试样本：将抽取待测试的发光二极管将灯管朝下放入到下料机构3内，根据输送带22的转动同步对发光二极管进行下料，且传送机构2依次通过两个测试箱41。
53.s3、导电性能测试：依次将经过的测试箱41发光二极管与弹性导电组件44接触自动进行导电性能测试，通过两个测试箱41即可得到正反向电阻值。
54.s4、观察测试结果：通过观察两组万用表42的测试数据，进而判断发光二极管的导电性能。
55.在本发明实施例中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
56.在本发明的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“相连”、“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接，或滑动连接；可以是机械连接,也可以是电连接；可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
57.本具体实施方式的实施例均为本发明的较佳实施例,并非依此限制本发明的保护范围,故：凡依据本发明的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本发明的保护范围之内。

技术特征：
1.一种发光二极管导电性能自动测试设备，包括基座(1)，其特征在于：基座(1)上端通过固定连接在基座(1)上呈矩阵分布的安装板(11)设置有传送机构(2)，传送机构(2)的左侧上方设置有下料机构(3)，传送机构(2)的中间设置有两组测试机构(4)，传送机构(2)的右侧且位于基座(1)上固定连接有回收箱(5)；其中，传送机构(2)包括转动连接在前后两侧安装板(11)上的转动轴(21)，转动轴(21)上转动连接有输送带(22)，输送带(22)上固定连接有固定组件(23)，位于任意一个转动轴(21)上连接有第一驱动源；测试机构(4)包括两个左右相邻设置的测试箱(41)，测试箱(41)通过安装架连接在基座(1)上端，基座(1)上端且位于测试箱(41)的前侧放置有万用表(42)，测试箱(41)内设置有限位组件(43)，限位组件(43)的下方设置有弹性导电组件(44)，位于左侧测试箱(41)的左侧固定连接有矫正组件(45)。2.根据权利要求1所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：下料机构(3)包括矩形框(31)，矩形框(31)通过连接架固定连接在基座(1)上，矩形框(31)内壁上左右交错连接有缓冲件(32)，矩形框(31)底端出口出通过连接轴(33)连接有挡板(34)，所述连接轴(33)贯穿矩形框(31)的后侧设置，且另一端转动连接在矩形框(31)内壁前侧，所述连接轴(33)上且与矩形框(31)贯穿处连接有第一扭簧，所述矩形框(31)的后侧设置有驱动组件(35)。3.根据权利要求1所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：固定组件(23)包括连接杆(231)，连接杆(231)固定连接在输送带(22)上，连接杆(231)上固定连接有固定框(232)，固定框(232)的内部底端固定连接有伸缩弹簧(233)，伸缩弹簧(233)的上端固定连接有放置板(234)，放置板(234)上开设有用于放置发光二极管的卡槽，放置板(234)上端左右两侧铰接有抵接板(235)，两个抵接板(235)的相背侧固定连接有第一楔形块(236)，所述固定框(232)的内壁左右两侧固定连接有与第一楔形块(236)对应的第二楔形块(237)。4.根据权利要求1所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：位于上下两个所述缓冲件(32)的距离高度大于发光二极管的高度，缓冲件(32)由第二扭簧和橡胶杆组成，第二扭簧固定连接在矩形框(31)的内壁和橡胶杆的一端，且第二扭簧的扭矩力小于发光二极管的重力，橡胶杆的长度小于矩形框(31)内侧宽度。5.根据权利要求2所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：驱动组件(35)包括同步带(351)，同步带(351)的一端连接在转动轴(21)上，另一端连接在转轴(352)上，转轴(352)转动连接在矩形框(31)的外侧，所述转轴(352)上固定连接有凸轮(353)，所述连接轴(33)上固定连接有连接框(354)。6.根据权利要求1所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：限位组件(43)包括有矩形板(431)，矩形板(431)固定连接在测试箱(41)内壁的前后两侧上，矩形板(431)上转动连接有双向螺纹杆(432)，双向螺纹杆(432)上且位于矩形板(431)的两侧螺纹连接有移动块(433)，所述移动块(433)滑动连接在测试箱(41)的内壁后侧，所述移动块(433)的下端固定连接有l形压块(434)，两个l形压块(434)的相对端固定连接有橡胶块，矩形板(431)下方设置有两个引导框(435)，引导框(435)通过圆柱杆固定连接在测试箱(41)内壁的前后两侧。
7.根据权利要求6所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：引导框(435)内开设有引导孔(4351)，引导孔(4351)的上端的直径大于下端的直径，引导孔(4351)的内壁周向开设有让位槽，让位槽的内壁固定连接有抵紧弹簧(4352)，抵紧弹簧(4352)的另一端固定连接有弧形抵紧块(4353)。8.根据权利要求1所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：弹性导电组件(44)包括导电块(441)，导电块(441)的上端开设有导电孔，导电孔的直径与引导孔(4351)的下端直径相同，导电孔的周向固定连接有弧形导电片(442)，弧形导电片(442)弧形向下设置，导电块(441)的底端固定连接有导电弹簧(443)，导电弹簧(443)的底端固定连接有弧形导电抵触块(444)。9.根据权利要求1所述的一种发光二极管导电性能自动测试设备，其特征在于：矫正组件(45)包括矩形块(451)，矩形块(451)固定连接在位于左侧的测试箱(41)的左侧，矩形块(451)的底端开设有弧形矫正槽(452)，弧形矫正槽(452)从左往右直径逐步减少。10.一种发光二极管导电性能自动测试方法，其特征在于：采用如权利要求1所述的发光二极管导电性能自动测试设备配合完成，包括以下步骤：s1、准备测试设备：选择合适的测试仪器万用表(42)，并将万用表(42)上的正负两极的测试连接杆连接在测试箱(41)内，通过限位组件(43)固定限位且通过弹性导电组件(44)导电；s2、抽样测试样本：将抽取待测试的发光二极管将灯管朝下放入到下料机构(3)内，并通过传送机构(2)依次通过两个测试箱(41)；s3、导电性能测试：依次将经过的测试箱(41)发光二极管与弹性导电组件(44)接触自动进行导电性能测试；s4、统计测试结果：通过观察两组万用表(42)的测试数据，进而判断发光二极管的导电性能。

技术总结
本发明涉及发光二极管的技术领域，具体为一种发光二极管导电性能自动测试设备及方法，包括基座，基座上端通过固定连接在基座上呈矩阵分布的安装板设置有传送机构，传送机构的左侧上方设置有下料机构，传送机构的中间设置有两组测试机构，传送机构的右侧且位于基座上固定连接有回收箱；通过设置的传送机构与测试机构的相配合，依次与发光二极管的正反极与万用表的正反极依次自动连接，自动测试出正向电阻值与反向电阻值，无需反复的将发光二极管与万用表的正负极一一进行对接，不仅可以改善人工反复操作的繁琐性，还大大提高了检测的效率，相应的提高了本发明的便捷度。相应的提高了本发明的便捷度。相应的提高了本发明的便捷度。


技术研发人员：汪国俊
受保护的技术使用者：江西心信光电科技有限公司
技术研发日：2023.06.01
技术公布日：2023/8/14