λ/4板的缺点检查方法与流程

λ
/4板的缺点检查方法
技术领域
1.本发明涉及λ/4板的缺点检查方法。


背景技术：

2.在液晶显示装置(lcd)、有机电致发光显示装置(oled)等图像显示装置中，以显示特性的提高、抗反射等作为目的而大多使用了相位差膜。在相位差膜的制造工序中，有时因局部的外观不良而产生缺点，要求可灵敏度良好地检查该缺点的方法。特别是相位差膜由液晶材料构成的λ/4板越是通过以往方法无法检测越容易产生轻微的缺点，要求也可检测这样的缺点的检查方法。
3.现有技术文献
4.专利文献
5.专利文献1：日本特开2013-15766号公报


技术实现要素：

6.发明所要解决的课题
7.本发明是为了解决上述课题而进行的，其目的在于提供可灵敏度良好地检查λ/4板的缺点的缺点检查方法。
8.用于解决课题的手段
9.本发明的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行，将该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35
°
～55
°
，并且将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ/4板的慢轴所成的角设定为35
°
～55
°
，根据第一λ/4板的缺点部分的相位差，调整该第一λ/4板的正常部分的相位差rp与该第二λ/4板的相位差rf的合计值。
10.在一个实施方式中，上述第一λ/4板的正常部分的相位差rp与上述第二λ/4板的相位差rf的合计值为300nm～321nm。
11.在一个实施方式中，上述第一λ/4板的正常部分的相位差rp与上述第二λ/4板的相位差rf的合计值为269nm～290nm。
12.在一个实施方式中，上述第一λ/4板由液晶材料构成。
13.发明效果
14.根据本发明，能够提供可灵敏度良好地检查包含λ/4板的光学层叠体的缺点的缺点检查方法。
附图说明
15.图1是说明本发明的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
16.图2是说明本发明的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
17.图3是说明本发明的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
18.图4是说明本发明的一个实施方式的检查方法的概略立体图。
19.图5是表示由液晶材料构成的λ/4板中产生的缺点(亮点)的例子的照片图。
20.符号的说明
21.11第一起偏器
22.12第二起偏器
23.21第一λ/4板
24.22第二λ/4板
25.30各向同性基材
具体实施方式
26.a.缺点检查方法
27.本发明的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点。在上述缺点检查方法中，第一起偏器与第二起偏器按照第一起偏器的吸收轴与第二起偏器的吸收轴变得平行的方式配置。此外，第一λ/4板与第二λ/4板按照第一λ/4板的慢轴与第二λ/4板的慢轴变得平行的方式配置。此外，第一起偏器与第一λ/4板按照第一起偏器的吸收轴与第一λ/4板的慢轴所成的角成为35
°
～55
°
的方式配置。此外，第二起偏器与第二λ/4板按照第二起偏器的吸收轴与第二λ/4板的慢轴所成的角成为35
°
～55
°
的方式配置。进而，上述缺点检查方法包含根据第一λ/4板的缺点部分的相位差来调整第一λ/4板的正常部分的相位差rp与第二λ/4板的相位差rf的合计值。需要说明的是，只要是可得到本发明的效果，如果第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器被依次配置，则也可以在其间夹杂其他的膜。例如也可以在第一起偏器与第一λ/4板之间夹杂其他的相位差膜(例如正c板)。此外，为了方便起见，图示了从上观察第二起偏器的外观的样子，但实际上也可以将上下颠倒来构成检查系统。
28.在本说明书中，“平行”也包含实质上平行的状态。所谓“实质上平行”包含2个方向所成的角度为0
°±7°
的情况，优选为0
°±5°
，进一步优选为0
°±3°
。“正交”也包含实质上正交的状态。“实质上正交”包含2个方向所成的角为90
°±7°
的情况，优选为90
°±5°
，进一步优选为90
°±3°
。此外，本说明书中言及角度时，包含相对于基准方向为顺时针及逆时针这两者。此外，所谓“观察第二起偏器侧的面的外观”是指观察透过第二起偏器的光的有无及量。此外，在本说明书中，所谓相位差是指面内相位差。
29.图1是说明本发明的一个实施方式的检查方法的概略立体图。在图1中，示出了将第一起偏器11、第一λ/4板21、第二λ/4板22和第二起偏器12依次配置的构成、和透过各层的光的偏振光方向。在本发明的检查方法中，对透过第一起偏器11而生成的偏振光a利用两块λ/4板(第一λ/4板21、第二λ/4板22)给予相位差。在图1中所示的状态下，按照对偏振光a给予相位差而使偏振光方向旋转大致90
°
，并且以像这样产生的偏振光b作为正常的光而到达至第二起偏器12的方式，配置第一起偏器11、第一λ/4板21、第二λ/4板22和第二起偏器12。本发明中，将在第一λ/4板21中未正常地被给予相位差地到达至第二起偏器12的光设定为
透过第一λ/4板的缺点的异常的光，通过使该异常的光透过第二起偏器，将第一λ/4板的缺点作为明缺点(与周边的正常部分相比亮度高的点)进行检测。
30.本发明中，通过根据第一λ/4板的缺点部分的相位差来调整第一λ/4板的正常部分的相位差rp与第二λ/4板的相位差rf的合计值，也能够检测与正常部分的相位差之差小而通过以往的技术难以检测的缺点。
31.在一个实施方式中，第一λ/4板的正常部分的相位差rp与第二λ/4板的相位差rf的合计值优选为300nm～321nm，更优选为307nm～314nm。如果为这样的范围，则可提供可灵敏度良好地检测第一λ/4板的缺点的检查方法。特别是对于相位差比正常部分高而以筋状成为不均产生的缺点(以下，也称为白筋)，以往难以检测，但根据本发明的方法，也能够检测该缺点。此外，也能够灵敏度良好地检测缺点范围非常窄的点缺点(以下，也称为亮点)。
32.在另一实施方式中，第一λ/4板的正常部分的相位差rp与第二λ/4板的相位差rf的合计值优选为269nm～290nm，更优选为276nm～283nm。通过设定为这样的范围，能够设定为相对于相位差比正常部分低的缺点的灵敏度显著优异的检查方法。
33.代表性而言，第一起偏器及第二起偏器与保护膜一起作为偏振片适用。
34.第一λ/4板和/或第二λ/4板(特别是第一λ/4板)也可以与任意适宜的其他的层和/或膜一起构成层叠体。作为其他的层及其他的膜，例如可列举出粘合剂层、粘接剂层、基材等。其他的层及其他的膜优选在光学上为各向同性。
35.在一个实施方式中，第一λ/4板或第二λ/4板(特别是第一λ/4板)由液晶材料构成。在一个实施方式中，由液晶材料构成的第一λ/4板成为检查对象。本发明中，在也可灵敏度良好地检查由液晶材料构成的λ/4板的轻微的缺点的方面是有利的。
36.在一个实施方式中，第一λ/4板21由液晶材料构成，第二λ/4板22可为高分子膜的拉伸膜。该第二λ/4板22可为形成第一λ/4板21时的取向基材。此外，如图2中示意性所示的那样，第一λ/4板21及第二λ/4板22可构成层叠体。此外，该层叠体也可以为长条状。本实施方式的检查方法例如可在将规定的制品中具备的λ/4板(第一λ/4板)组入该制品之前进行的检查中采用。
37.在一个实施方式中，第一λ/4板21由液晶材料构成，如图3中示意性所示的那样，包含第一λ/4板21和配置于第一λ/4板21的第一起偏器11侧的面的各向同性基材30的层叠体a成为检查对象。各向同性基材具有在光学上各向同性的性质。代表性而言，各向同性基材30在第一λ/4板21侧的面具有取向层。取向层可以为取向膜，也可以为通过摩擦处理而形成的层。取向膜只要根据液晶性单体的种类、基板的材质等而选择任意适宜的膜即可。作为用于使液晶分子沿规定方向均匀取向的取向膜，适宜使用对聚酰亚胺系膜及聚乙烯醇系膜的取向膜进行摩擦处理而得到的膜。此外，也可以使用光取向膜。层叠体a也可以为长条状。本实施方式的检查方法例如可在将规定的制品中具备的λ/4板(第一λ/4板)组入该制品之前进行的检查中采用。
38.在另一实施方式中，第一λ/4板21由液晶材料构成，如图4中示意性所示的那样，包含第一起偏器11(优选为包含第一起偏器的偏振片)和第一λ/4板21的光学层叠体b成为检查对象。光学层叠体b也可以为长条状。代表性而言，光学层叠体b可为圆偏振片。本实施方式的检查方法可在作为制品的光学层叠体b(圆偏振片)的检查中采用。
39.例如，为了通过相位差不同来检测有多种的缺点等目的，也可以在1条线上进行多
次上述检查方法。具体而言，在图3、图4中所示的实施方式中，也可以相对于长条状的光学层叠体a、b配置多个包含(第二起偏器)/(第二λ/4板)的构成体，此时，(第二起偏器)/(第二λ/4板)构成体中的第二λ/4板可被设定为在每个构成体中相位差不同。需要说明的是，在图3中所示的实施方式中，可与(第二起偏器)/(第二λ/4板)构成体相对应地，也配置多枚第一起偏器、或配置长条状的第一起偏器。
40.入射至第一起偏器侧的面的光通过任意适宜的光源而生成。在一个实施方式中，作为光源，使用白色led。
41.第二起偏器侧的面的外观观察可通过任意适宜的方法来进行。代表性而言，通过任意适宜的照相机得到检查区域的图像，将该图像进行2值化处理等图像处理，进行缺点检测。
42.b.第一起偏器、第二起偏器
43.作为上述起偏器，使用任意适宜的起偏器。例如可列举出使聚乙烯醇系膜、部分缩甲醛化聚乙烯醇系膜、乙烯
·
乙酸乙烯酯共聚物系部分皂化膜等亲水性高分子膜吸附碘、二色性染料等二色性物质并进行单轴拉伸而成的起偏器、聚乙烯醇的脱水处理物、聚氯乙烯的脱盐酸处理物等多烯系取向膜等。它们中，使聚乙烯醇系膜吸附碘等二色性物质并进行单轴拉伸而得到的起偏器的偏振光二色比高，特别优选。起偏器的厚度优选为0.5μm～80μm。
44.使聚乙烯醇系膜吸附碘并进行单轴拉伸而得到的起偏器代表性而言通过将聚乙烯醇浸渍于碘的水溶液中而进行染色，并拉伸至原长的3～7倍来制作。拉伸可以在染色后进行，也可以一边进行染色一边进行拉伸，还可以在拉伸后进行染色。除了拉伸、染色以外，例如还可以实施溶胀、交联、调整、水洗、干燥等处理来制作。
45.如上所述，在一个实施方式中，第一起偏器及第二起偏器(有时也将它们总称为起偏器)与保护膜一起作为偏振片而适用。
46.作为上述保护膜，使用任意适宜的膜。作为成为这样的膜的主成分的材料的具体例子，可列举出三乙酰纤维素(tac)等纤维素系树脂、(甲基)丙烯酸系、聚酯系、聚乙烯醇系、聚碳酸酯系、聚酰胺系、聚酰亚胺系、聚醚砜系、聚砜系、聚苯乙烯系、聚降冰片烯系、聚烯烃系、乙酸酯系等透明树脂等。此外，还可列举出丙烯酸系、氨基甲酸酯系、丙烯酸氨基甲酸酯系、环氧系、有机硅系等热硬化型树脂或紫外线硬化型树脂等。除此以外，例如还可列举出硅氧烷系聚合物等玻璃质系聚合物。此外，也可以使用日本特开2001-343529号公报(wo01/37007)中记载的聚合物膜。作为该膜的材料，例如可以使用含有在侧链具有取代或非取代的酰亚胺基的热塑性树脂和在侧链具有取代或非取代的苯基以及腈基的热塑性树脂的树脂组合物，例如可列举出具有由异丁烯和n-甲基马来酰亚胺形成的交替共聚物和丙烯腈
·
苯乙烯共聚物的树脂组合物。上述聚合物膜例如可为上述树脂组合物的挤出成型物。
47.在一个实施方式中，作为第二起偏器，使用光透射率为42％以上的起偏器。如果使用这样的第二起偏器，则能够提高检测灵敏度。第二起偏器的光透射率更优选为43％以上，进一步优选为44％以上。此外，在使用包含第二起偏器的偏振片的情况下，该偏振片的光透射率优选为42％以上，更优选为43％以上，进一步优选为44％以上。
48.c.第一λ/4板、第二λ/4板
49.第一λ/4板及第二λ/4板(有时也将它们总称为λ/4板)可将某特定的波长的直线偏振光转换成圆偏振光(或将圆偏振光转换成直线偏振光)。
50.上述λ/4板的面内相位差re优选为95nm～180nm，更优选为110nm～160nm。λ/4板优选具有nx》ny≥nz的折射率椭圆体。需要说明的是，本说明书中面内相位差re是指在23℃、波长590nm下的面内相位差值。在将面内的折射率成为最大的方向(即，慢轴方向)的折射率设定为nx，将在面内与慢轴正交的方向(即，快轴方向)的折射率设定为ny，将膜的厚度设定为d(nm)时，re通过re＝(nx-ny)
×
d来求出。此外，在本说明书中，“ny＝nz”不仅包含ny与nz严格相等的情况，还包含ny与nz实质上相等的情况。
51.在一个实施方式中，上述第一λ/4板的缺点部位处的面内相位差re优选为141.5nm～151nm，更优选为142nm～146nm。具有这样的面内相位差re的缺点可为相位差比正常部位的面内相位差re高的缺点。在另一实施方式中，上述第一λ/4板的缺点部位处的面内相位差re优选为140.5nm～131nm，更优选为139.5nm～136nm。具有这样的面内相位差re的缺点可为相位差比正常部位的面内相位差re低的缺点。此外，第一λ/4板的正常部位处的面内相位差re与缺点部位处的面内相位差re之差(第一λ/4板的正常部位处的面内相位差re-缺点部位处的面内相位差re)例如为-10nm～10nm。根据本发明，即使正常部位处的面内相位差re与缺点部位处的面内相位差re之差小，也能够优选地进行缺点检测。
52.(由液晶材料构成的λ/4板)
53.如上所述，在一个实施方式中，第一λ/4板由液晶材料构成。作为液晶材料，可采用任意适宜的液晶单体。例如可使用日本特表2002-533742(wo00/37585)、ep358208(us5211877)、ep66137(us4388453)、wo93/22397、ep0261712、de19504224、de4408171及gb2280445等中记载的聚合性介晶化合物等。作为这样的聚合性介晶化合物的具体例子，例如可列举出basf公司的商品名lc242、merck公司的商品名e7、wacker-chem公司的商品名lc-sillicon-cc3767。
54.由液晶材料构成的λ/4板例如可通过使液晶材料取向、并在将该取向状态固定的状态下使其固化或硬化而得到。具体而言，可以通过在长条状的取向基材上涂布包含液晶材料的液晶性组合物，使液晶材料取向；以及对取向后的液晶材料实施聚合处理和/或交联处理，形成液晶硬化层，由此来形成。这里，液晶材料能够与基板的取向处理方向相应地进行取向，因此可以在与基板的取向处理方向实质上相同的方向上表现出相位差层的慢轴。作为相位差层的形成方法的具体例子，可列举出日本特开2006-178389号公报中记载的形成方法。由液晶材料构成的λ/4板的厚度优选为0.5μm～1.8μm，更优选为1μm～1.6μm。
55.在一个实施方式中，作为液晶材料，可使用通过加热表现出液晶性的热致型液晶。热致型液晶通过温度变化而产生结晶相、液晶相、各向同性相的相变。
56.(由拉伸膜构成的λ/4板)
57.由拉伸膜构成的λ/4板例如可通过将高分子膜沿规定的方向进行拉伸而得到。
58.作为形成上述高分子膜的树脂，使用任意适宜的树脂。作为具体例子，可列举出聚降冰片烯等环烯烃系树脂、聚碳酸酯系树脂、纤维素系树脂、聚乙烯醇系树脂、聚砜系树脂等构成正的双折射膜的树脂。其中，优选降冰片烯系树脂、聚碳酸酯系树脂。
59.上述聚降冰片烯是指在起始原料(单体)的一部分或全部中使用具有降冰片烯环的降冰片烯系单体而得到的(共)聚物。作为该降冰片烯系单体，例如可列举出降冰片烯、及
其烷基和/或烷叉基取代物、例如5-甲基-2-降冰片烯、5-二甲基-2-降冰片烯、5-乙基-2-降冰片烯、5-丁基-2-降冰片烯、5-乙叉基-2-降冰片烯等、它们的卤素等极性基取代物；二环戊二烯、2,3-二氢二环戊二烯等；二甲桥八氢萘、其烷基和/或烷叉基取代物、及卤素等极性基取代物、例如6-甲基-1,4：5,8-二甲桥-1,4,4a,5,6,7,8,8a-八氢萘、6-乙基-1,4：5,8-二甲桥-1,4,4a,5,6,7,8,8a-八氢萘、6-乙叉基-1,4：5,8-二甲桥-1,4,4a,5,6,7,8,8a-八氢萘、6-氯-1,4：5,8-二甲桥-1,4,4a,5,6,7,8,8a-八氢萘、6-氰基-1,4：5,8-二甲桥-1,4,4a,5,6,7,8,8a-八氢萘、6-吡啶基-1,4：5,8-二甲桥-1,4,4a,5,6,7,8,8a-八氢萘、6-甲氧基羰基-1,4：5,8-二甲桥-1,4,4a,5,6,7,8,8a-八氢萘等；环戊二烯的三聚体～四聚体、例如4,9：5,8-二甲桥-3a,4,4a,5,8,8a,9,9a-八氢-1h-苯并茚、4,11：5,10：6,9-三甲桥-3a,4,4a,5,5a,6,9,9a,10,10a,11,11a-十二氢-1h-环五蒽等。
60.作为上述聚降冰片烯，市售有各种制品。作为具体例子，可列举出日本zeon公司制的商品名“zeonex”、“zeonor”、jsr公司制的商品名“arton”、ticona公司制的商品名“topas”、三井化学公司制的商品名“apel”。
61.作为上述聚碳酸酯系树脂，优选使用芳香族聚碳酸酯。芳香族聚碳酸酯代表性而言可以通过碳酸酯前体物质与芳香族二元酚化合物的反应而得到。作为碳酸酯前体物质的具体例子，可列举出碳酰氯、二元酚类的双氯甲酸酯、碳酸二苯酯、碳酸二对甲苯酯、碳酸苯基对甲苯酯、碳酸二对氯苯酯、碳酸二萘酯等。它们中，优选为碳酰氯、碳酸二苯酯。作为芳香族二元酚化合物的具体例子，可列举出2,2-双(4-羟基苯基)丙烷、2,2-双(4-羟基-3,5-二甲基苯基)丙烷、双(4-羟基苯基)甲烷、1,1-双(4-羟基苯基)乙烷、2,2-双(4-羟基苯基)丁烷、2,2-双(4-羟基-3,5-二甲基苯基)丁烷、2,2-双(4-羟基-3,5-二丙基苯基)丙烷、1,1-双(4-羟基苯基)环己烷、1,1-双(4-羟基苯基)-3,3,5-三甲基环己烷等。它们可以单独使用、或将2种以上组合使用。优选使用2,2-双(4-羟基苯基)丙烷、1,1-双(4-羟基苯基)环己烷、1,1-双(4-羟基苯基)-3,3,5-三甲基环己烷。特别优选将2,2-双(4-羟基苯基)丙烷与1,1-双(4-羟基苯基)-3,3,5-三甲基环己烷一起使用。
62.作为拉伸方法，例如可列举出横向单轴拉伸、固定端双轴拉伸、逐次双轴拉伸。作为固定端双轴拉伸的具体例子，可列举出一边使高分子膜沿长度方向行进一边沿短边方向(横向)进行拉伸的方法。该方法显然可以是横向单轴拉伸。此外，也可以采用倾斜拉伸。通过采用倾斜拉伸，可以得到相对于宽度方向具有规定的角度的取向轴(慢轴)的长条状的拉伸膜。通过倾斜拉伸来制造λ/4板的方法例如记载于日本特开2013-54338号公报、日本特开2014-194482号公报、日本特开2014-238524号公报、日本特开2014-194484号公报等中。该公报的记载作为参考被援引于本说明书中。
63.上述拉伸膜的厚度代表性而言为5μm～80μm，优选为15μm～60μm，进一步优选为25μm～45μm。
64.在一个实施方式中，由拉伸膜构成的λ/4板(优选为通过倾斜拉伸而得到的λ/4板)可以用作制作由上述液晶材料构成的λ/4板时的取向基板。
65.实施例
66.以下，通过实施例对本发明进行具体说明，但本发明不受这些实施例的限定。需要说明的是，实施例中的测定及评价方法如下所述。
67.[实施例1]
[0068]
将显示出向列型液晶相的光聚合性液晶化合物(basf制“paliocolor lc242”)溶解于环戊酮中，制备固体成分浓度30重量％的溶液。向该溶液中添加表面活性剂(byk-chemie制“byk-360”)及光聚合引发剂(igm resins制“omnirad907”)，制备了液晶性组合物溶液。流平剂及聚合引发剂的添加量相对于光聚合性液晶化合物100重量份分别设定为0.01重量份及3重量份。
[0069]
准备了倾斜拉伸降冰片烯系膜(日本zeon制“zeonor film(zd12)”、厚度：23μm、面内相位差：140nm)。
[0070]
在上述倾斜拉伸降冰片烯系膜上，按照干燥后的厚度成为1.69μm的方式利用棒涂机涂布上述的液晶性组合物，在100℃下加热3分钟而使液晶取向。冷却至室温后，在氮气氛下、照射累积光量400mj/cm2的紫外线而进行光硬化，在倾斜拉伸降冰片烯系膜上得到均匀取向液晶层(第一λ/4板、面内相位差rp：141nm)。
[0071]
此外，在上述倾斜拉伸降冰片烯系膜上，按照干燥后的厚度成为1.54μm的方式利用棒涂机涂布上述的液晶性组合物，在100℃下加热3分钟而使液晶取向。冷却至室温后，在氮气氛下、照射累积光量400mj/cm2的紫外线而进行光硬化，在倾斜拉伸降冰片烯系膜上得到均匀取向液晶层(第二λ/4板、面内相位差rf：128nm、厚度：1.54μm)。
[0072]
将包含第一起偏器(单体透射率：45％)的第一偏振片、上述第一λ/4板、上述第二λ/4板和包含第二起偏器(单体透射率：45％)的第二偏振片层叠。
[0073]
此时，关于各层的轴向，将第一起偏器的吸收轴与第二起偏器的吸收轴设定为平行，将第一λ/4板的慢轴与第二λ/4板的慢轴设定为平行，将第一起偏器的吸收轴与第一λ/4板的慢轴所成的角设定为45
°
，将第二起偏器的吸收轴与第二λ/4板的慢轴所成的角设定为45
°
。
[0074]
在上述构成的两侧配置光源和摄像装置，在第一λ/4板中，以与正常部分相比厚度薄而相位差小的筋状缺点(具有比正常部分的相位差小约1.5nm的相位差的缺点)作为检测对象，进行利用透过检查的缺点检查。其结果是，能够检测该缺点。
[0075]
[实施例2]
[0076]
除了将第二λ/4板的厚度设定为1.62μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：135nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次配置，进行与实施例1同样的缺点检查。其结果是，与正常部分相比厚度薄而相位差小的筋状缺点(具有比正常部分的相位差小约1.5nm的相位差的缺点)比实施例1鲜明地检测到。
[0077]
[实施例3]
[0078]
除了将第二λ/4板的厚度设定为1.70μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：142nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次配置，进行与实施例1同样的缺点检查。其结果是，与正常部分相比厚度薄而相位差小的筋状缺点(具有比正常部分的相位差小约1.5nm的相位差的缺点)比实施例1鲜明地检测到。
[0079]
[实施例4]
[0080]
除了将第二λ/4板的厚度设定为1.79μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：
149nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次配置，进行与实施例1同样的缺点检查。其结果是，能够检测与正常部分相比厚度薄而相位差小的筋状缺点(具有比正常部分的相位差小约1.5nm的相位差的缺点)。
[0081]
[实施例5]
[0082]
除了将第二λ/4板的厚度设定为1.91μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：159nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次层叠。
[0083]
在上述构成的两侧配置光源和摄像装置，在第一λ/4板中，以与正常部分相比厚度厚而相位差大的筋状缺点(具有比正常部分的相位差大约1.5nm的相位差的缺点)作为检测对象，进行利用透过检查的缺点检查。其结果是，能够检测该缺点。
[0084]
[实施例6]
[0085]
除了将第二λ/4板的厚度设定为1.99μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：166nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次配置，进行与实施例5同样的缺点检查。其结果是，与正常部分相比厚度厚而相位差大的筋状缺点(具有比正常部分的相位差大约1.5nm的相位差的缺点)比实施例5鲜明地检测到。
[0086]
[实施例7]
[0087]
除了将第二λ/4板的厚度设定为2.08μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：173nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次配置，进行与实施例5同样的缺点检查。其结果是，与正常部分相比厚度厚而相位差大的筋状缺点(具有比正常部分的相位差大约1.5nm的相位差的缺点)比实施例5鲜明地检测到。
[0088]
进而，对于亮点，确认范围1.3m
×
1m内的检测数，结果检测到4.6个缺点。将亮点的外观的代表例示于图5中。
[0089]
[实施例8]
[0090]
除了将第二λ/4板的厚度设定为2.16μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：180nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次配置，进行与实施例5同样的缺点检查。其结果是，能够检测与正常部分相比厚度厚而相位差大的筋状缺点(具有比正常部分的相位差大约1.5nm的相位差的缺点)。
[0091]
[比较例1]
[0092]
除了将第二λ/4板的厚度设定为1.85μm以外，与实施例1同样地操作，将包含第一起偏器的第一偏振片、上述第一λ/4板(相位差rp：141nm)、上述第二λ/4板(相位差rf：154nm)和包含第二起偏器的第二偏振片依次层叠。
[0093]
对于上述构成，进行与实施例1同样的缺点检查。其结果是，无法检测实施例1中可检测的缺点。此外，进行与实施例5同样的缺点检查。其结果是，无法检测实施例5中可检测的缺点。
[0094]
进而，以与实施例7同样的第一λ/4板(即，与实施例7中检测到4.6个的亮点的λ/4板同样的λ/4板)作为检查对象，与实施例7同样地对于亮点，确认范围1.3m
×
1m内的检测
数，结果检测到2.4个缺点。
[0095]
将实施例及比较例的结果汇总于下述表中。根据本发明，如由表1及2也表明的那样，通过适宜设定rp+rf，能够灵敏度良好地检测各种缺点。
[0096]
表1
[0097][0098]
表2
[0099] 实施例7比较例1第二λ/4板相位差rf[nm]123141第一λ/4板(制品)相位差rp[nm]141141rp+rf[nm]264282缺点(亮点)可检测个数4.6个2.4个

技术特征：
1.一种λ/4板的缺点检查方法，其包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行，将该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35
°
～55
°
，并且将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ/4板的慢轴所成的角设定为35
°
～55
°
，根据该第一λ/4板的缺点部分的相位差，调整该第一λ/4板的正常部分的相位差rp与该第二λ/4板的相位差rf的合计值。2.根据权利要求1所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板的正常部分的相位差rp与所述第二λ/4板的相位差rf的合计值为300nm～321nm。3.根据权利要求1所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板的正常部分的相位差rp与所述第二λ/4板的相位差rf的合计值为269nm～290nm。4.根据权利要求1～3中任一项所述的λ/4板的缺点检查方法，其中，所述第一λ/4板由液晶材料构成。

技术总结
本发明的λ/4板的缺点检查方法包含：将第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板和第二起偏器依次配置；及从第一起偏器侧的面入射光，观察第二起偏器侧的面的外观，检测第一λ/4板的缺点，其包含：将该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴设定为平行，将该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴设定为平行，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ/4板的慢轴所成的角设定为35


技术研发人员：家原惠太 铃木畅 深见空斗
受保护的技术使用者：日东电工株式会社
技术研发日：2023.02.09
技术公布日：2023/8/14