一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备与流程

1.本发明涉及集成电路设计领域，更具体的说是，涉及一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备。


背景技术：

2.芯片在设计过程中为了达到目标参数的高精度要求，往往采用电熔丝烧写的方法去消除在生产制造过程中固有的系统误差。通过烧断芯片内不同熔丝组合可以消除生产制造过程中的系统误差及随机误差，从而使每颗芯片的目标参数趋于一致。
3.相对传统的方式，往往采用是历遍的方式搜索，从小到大全历遍搜索，找到芯片离中心理想值v_ideal最小的偏差值，进而进行芯片熔丝fuse烧写，但是这个过程相对比较花费时间，比如芯片5根电熔丝，2的5次方一共是32种组合，历遍的这32种组合是比较花费测试时间的，进而增加测试的成本。


技术实现要素：

4.本发明的目的是提供一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备。
5.本发明要解决的是现有的寻找电熔丝理想烧写值的过程中存在的成本高、耗时长的问题。
6.与现有技术相比，本发明技术方案及其有益效果如下：
7.在本公开的第一方面，提供了一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，包括：设定中心理想值v_ideal，获得第一次测量档位l_meas1及所述第一次测量档位的测量值v_meas1；计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1；根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则判断所述第一偏差值v_diff1的绝对值与所述第二偏差值v_diff2的绝对值的大小；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值小于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值大于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；将所述中心档位l_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。
8.在本公开的第二方面，提供了一种快速寻找电熔丝理想烧写值的装置，包括：计算模块，被配置为计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；所述计算模块还被配置为根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_
offset计算第一档位偏差值l_diff1；所述计算模块还被配置为根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；所述计算模块还被配置为计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；判断模块，被配置为判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；所述判断模块还被配置为若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则所述判断模块判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的大小；执行模块，被配置为若所述第一偏差值v_diff1大于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1小于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；所述执行模块还被配置为将所述中心档位l_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。
9.在本公开的第三方面，一种电子设备，包括：存储器和处理器；其中所述存储器用于存储一条或多条计算机指令，其中所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行以实现根据本公开的第一方面所述的方法。
10.本发明的有益效果为：
11.本发明的方法根据每次测量值不断的更新步进值和起始测量档位值，实时修正芯片电熔丝档位偏差，若实际测量值大于v_ideal，则自适应减小测量档位，若实际测量值小于v_ideal，则增加测量档位；
12.本发明提出了一种快速自适应的电熔丝档位逼近定位方法，使得在测试过程中快速找到离中心理想值最近的档位值而减少测试的时间，实现较高的片内目标参数精度，同时维持很高的烧写效率，进而减少测试时间，节约成本。
附图说明
13.图1是本发明实施例提供的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法第一示意图。
14.图2是本发明实施例提供的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法第二示意图。
15.图3是本发明实施例提供的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的装置示意图。
具体实施方式
16.为使本发明实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
17.在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
18.参照图1和图2所示，在本公开的第一方面，一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，包括：
19.设定中心理想值v_ideal，获得第一次测量档位l_meas1及所述第一次测量档位的测量值v_meas1；计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1；根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；
20.判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则判断所述第一偏差值v_diff1的绝对值与所述第二偏差值v_diff2的绝对值大小；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值小于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值大于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；
21.将所述中心档位l_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位，。
22.其中，(v_diff1*v_diff2《0则说明两次测量中，其中一个测量值大于v_ideal，另外一个测量值小于v_ideal，l_diff1等于1则说明了两次测量档位是是相邻档位，则v_ideal就在两次测量值之间)，若满足判断条件，进而判断第一测量值和第二次测量值离v_ideal的偏差的绝对值大小。若第一偏差值v_diff1的绝对值更小，则中心理想档位值(l_ideal)等于l_meas1，否则是l_ideal等于l_meas2。
23.本方法还包括：若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，或所述第一档位偏差值l_diff1不等于1，则返回根据所述第二偏差值v_diff2和所述步进值v_offset计算第二档位偏差值l_diff2；根据所述第二次测量档位l_meas2和所述第二档位偏差值l_diff2计算第三次测量档位l_meas3，获取第三次测量档位的测量值v_meas3，以及后续数据处理。即，返回计算并判断所述第二偏差值v_diff2与所述第三偏差值v_diff3的乘积是否小于0，且判断所述第二档位偏差值l_diff1是否等于1；以及重复上述步骤。重复上面的判断条件和步骤，不断的更新v_offset，逼近v_ideal。
24.由于l_diff不断趋向于1，所以v_offset的误差不断减小，进而获得最接近设定中心理想的档位值，并把此次的档位值l_ideal加入到统计中，统计每一次中心理想档位，以统计次数最多的档位更新测量起始档位l_meas1。
25.所述根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2，还包括：
26.根据第一次测量档位的测量值v_meas1和第二次测量档位的测量值v_meas2计算测量值的绝对值d_fabs，d_fabs＝|v_meas2-v_meas1|；根据第一次测量档位l_meas1和第二次测量档位l_meas2计算测量档位的绝对值l_fabs，l_fabs＝|l_meas2-l_meas1|；根据测量值的绝对值d_fabs和测量档位的绝对值l_fabs计算步进值v_offset，v_offset＝d_fabs/l_fabs；更新步进值v_offset。
27.所述计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1，包括：v_diff1＝v_ideal-v_meas1。
28.所述根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1，包括：l_diff1＝v_diff1/v_offset。
29.所述根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，包括：l_meas2＝l_meas1+l_diff1。可知，l_diff1的正负值控制了第二次测量档位值的增加或者减少。
30.所述计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2，包括:v_diff2＝v_ideal-v_meas2。
31.所述根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1，其中，设定所述步进值v_offset大于0。尤其是第一次测量时，允许v_offset存在误差。
32.以根据经验得知，档位的分布一般符合高斯分布，而统计次数最多的档位是高斯分布中心值，采用高斯分布的中心值档位为起始档位，而这个起始档位值离其他档位值距离最近，进而达到快速搜索效果。
33.本发明提供的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法的原理为：
34.在理想状态下，目标参数值随着电熔丝档位从小到大都是以一个固定的步进值递增或者递减，测量不同的电熔丝档位以获得不同的目标参数测量值，以寻找最接近设定中心理想档位的目标参数测量值。通过设定中心理想值(v_ideal)减去测量值(v_meas)除以步进值(v_offset)就可以知道当前测量档位(l_meas)离v_ideal对应的档位值(l_ideal)偏差的档位值(l_diff)，离v_ideal最近档位值l_ideal等于l_meas加上l_diff。但是由于制造过程中的系统误差及随机误差，使得每一档之间的v_offset、芯片与芯片之间的v_offset都存在差异，若一个固定v_offset去求得l_diff，不同芯片之间差异可能需要很多次迭代才能逼近v_ideal，或者是没有办法逼近个别差异比较大的芯片v_ideal。
35.本发明的方法根据每次测量值不断的更新步进值和起始测量档位值，实时修正芯片电熔丝档位偏差，若实际测量值大于v_ideal，则自适应减小测量档位，若实际测量值小于v_ideal，则增加测量档位；
36.本发明提出了一种快速自适应的电熔丝档位逼近定位方法，使得在测试过程中快速找到离中心理想值最近的档位值而减少测试的时间，实现较高的片内目标参数精度，同时维持很高的烧写效率，进而减少测试时间，节约成本。
37.参照图3所示，本公开的第二方面，提供了一种快速寻找电熔丝理想烧写值的装置，包括：
38.计算模块210，被配置为计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；所述计算模块210还被配置为根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1；所述计算模块210还被配置为根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；所述计算模块210还被配置为计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；
39.判断模块220，被配置为判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2
的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；所述判断模块220还被配置为若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则所述判断模块220判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的大小；
40.执行模块230，被配置为若所述第一偏差值v_diff1大于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1小于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；所述执行模块230还被配置为将所述中心档位l_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。
41.在本公开的第三方面，一种电子设备，包括：存储器和处理器；其中所述存储器用于存储一条或多条计算机指令，其中所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行以实现根据本公开的第一方面所述的方法。
42.以上实施例仅用以解释说明本发明的技术方案而非对其限制。本领域技术人员应当理解，未脱离本发明精神和范围的任何修改和等同替换，均应落入本发明权利要求的保护范围中。

技术特征：
1.一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，包括：设定中心理想值v_ideal，获得第一次测量档位l_meas1及所述第一次测量档位的测量值v_meas1；计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1；根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则判断所述第一偏差值v_diff1的绝对值与所述第二偏差值v_diff2的绝对值的大小；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值小于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值大于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；将所述中心档位l_ideal、步进值v_offset更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位和步进值。2.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，还包括：若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，或所述第一档位偏差值l_diff1不等于1，则返回根据所述第二偏差值v_diff2和所述步进值v_offset计算第二档位偏差值l_diff2；根据所述第二次测量档位l_meas2和所述第二档位偏差值l_diff2计算第三次测量档位l_meas3，获取第三次测量档位的测量值v_meas3，以及后续数据处理。3.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2，还包括：根据第一次测量档位的测量值v_meas1和第二次测量档位的测量值v_meas2计算测量值的绝对值d_fabs，d_fabs＝|v_meas2-v_meas1|；根据第一次测量档位l_meas1和第二次测量档位l_meas2计算测量档位的绝对值l_fabs，l_fabs＝|l_meas2-l_meas1|；根据测量值的绝对值d_fabs和测量档位的绝对值l_fabs计算步进值v_offset，v_offset＝d_fabs/l_fabs；更新步进值v_offset。4.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_
diff1，包括：v_diff1＝v_ideal-v_meas1。5.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1，包括：l_diff1＝v_diff1/v_offset。6.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，包括：l_meas2＝l_meas1+l_diff1。7.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2，包括:v_diff2＝v_ideal-v_meas2。8.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1，其中，设定所述步进值v_offset大于0。9.一种快速寻找电熔丝理想烧写值的装置，其特征在于，包括：计算模块，被配置为计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；所述计算模块还被配置为根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1；所述计算模块还被配置为根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；所述计算模块还被配置为计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；判断模块，被配置为判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；所述判断模块还被配置为若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则所述判断模块判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的大小；执行模块，被配置为若所述第一偏差值v_diff1大于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1小于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；所述执行模块还被配置为将所述中心档位l_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。10.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器；其中所述存储器用于存储一条或多条计算机指令，其中所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行以实现根据权利要求1至8中任一项所述的方法。

技术总结
本发明提供了一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备。一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，包括：设定中心理想值V_ideal，获得第一次测量档位L_meas1及第一次测量档位的测量值V_meas1；计算第一次测量档位的测量值V_meas1与中心理想值V_ideal的第一偏差值V_diff1；根据第一偏差值V_diff1和步进值V_offset计算第一档位偏差值L_diff1；根据第一次测量档位L_meas1和第一档位偏差值L_diff1计算第二次测量档位L_meas2，获取第二次测量档位的测量值V_meas2；计算第二次测量档位的测量值V_meas2与中心理想值V_ideal的第二偏差值V_diff2；判断第一偏差值V_diff1与所述第二偏差值V_diff2的乘积是否小于0，且判断第一档位偏差值L_diff1是否等于1；将中心档位L_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。作为下一次测量的起始档位。作为下一次测量的起始档位。


技术研发人员：谭弟 沈彬 高舰艇
受保护的技术使用者：无锡靖芯科技有限公司
技术研发日：2023.05.16
技术公布日：2023/10/8