显示面板检测方法及系统与流程

1.本发明涉及显示面板技术领域，尤其涉及一种显示面板检测方法及系统。


背景技术：

2.坏点是显示面板常见的不良现象，当显示面板中的某一子像素存在坏点时，即整个子像素区域完全变暗不发光或只能发出一种颜色的光，使得该子像素区域永远是显示同一种颜色，影响显示面板的显示效果，降低用户体验。现有技术中，当子像素存在坏点时，对于完全变暗的情况通常无法进行处理修复，对于只发出一种颜色的光的情况，是采用将整个子像素暗化处理的方式将子像素变成暗点，以弱化坏点的影响。
3.显示面板工艺之后，通常会进行光学检测，检测显示面板上是否存在坏点。在显示面板中坏点数量少于预设数量时，才会认为显示面板合格，并流入后续的工艺流程。
4.现阶段经常会出现在坏点检测时合格，但是，用户使用一段时间后出现暗点增加的现象，导致额外的售后维修或更换成本。


技术实现要素：

5.本发明提供一种显示面板检测方法及系统，能够在出厂阶段提前检出潜在的坏点，降低售后成本。
6.第一方面，本发明提供了一种显示面板检测方法，包括：
7.从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并确定所述第一面板样本的坏点数量作为第一数量；
8.对所述第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长；
9.驱动所述第一面板样本显示，并确定所述第一面板样本的坏点数量作为第二数量；
10.计算所述第二数量与所述第一数量的差值，得到所述第一面板样本的坏点增加数量；
11.基于所述第一面板样本的坏点增加数量确定所述多个待测显示面板是否合格。
12.在本发明的可选实施例中，所述反向电压的预设电压值为13v-26v。
13.在本发明的可选实施例中，所述反向电压的预设时长为40秒-60秒。
14.在本发明的可选实施例中，基于所述第一面板样本的坏点增加数量确定所述多个待测显示面板是否合格，包括：
15.判断所述第一面板样本的坏点增加数量是否大于或等于预设的第一合格阈值；
16.在所述第一面板样本的坏点增加数量大于或等于所述第一合格阈值时，判定所述多个待测显示面板不合格；
17.在所述第一面板样本的坏点增加数量小于所述第一合格阈值时，判定所述多个待测显示面板合格。
18.在本发明的可选实施例中，所述方法还包括：
19.在所述第一面板样本的坏点增加数量大于或等于所述第一合格阈值时，从所述多个待测显示面板中随机抽取预设数量的显示面板作为第二面板样本，并确定包括所述第一面板样本和所述第二面板样本在内的所有面板样本的坏点数量作为第三数量；
20.依次对所有面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长；
21.依次驱动所有面板样本显示，并确定所有面板样本的坏点数量作为第四数量；
22.计算所述第四数量与所述第三数量的差值得到所有面板样本的坏点增加总数量；
23.计算所有面板样本的坏点增加总数量与所有面板样本的数量的商，得到所有面板样本的坏点增加数量的平均值；
24.基于所有面板样本的坏点增加数量的平均值确定所述多个待测显示面板是否合格。
25.在本发明的可选实施例中，基于所有面板样本的坏点增加数量的平均值确定所述多个待测显示面板是否合格，包括：
26.判断所有面板样本的坏点增加数量的平均值是否大于或等于预设的第二合格阈值；
27.在所有面板样本的坏点增加数量的平均值大于或等于所述第二合格阈值时，判定所述多个待测显示面板不合格；
28.在所有面板样本的坏点增加数量的平均值小于所述第二合格阈值时，判定所述多个待测显示面板合格。
29.在本发明的可选实施例中，在确定所述多个待测显示面板不合格后，还包括：
30.从所述多个待测显示面板的历史工序记录中查找存在异常记录的异常工序；
31.确定所述异常工序的异常记录的记录时间；
32.追溯所述记录时间所在的生产时间区间内所述异常工序生产的所有显示面板作为风险面板；
33.将所有风险面板作为待测显示面板，并返回执行从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并返回执行确定所述第一面板样本的坏点数量作为第一数量的步骤。
34.在本发明的可选实施例中，在确定所述多个待测显示面板不合格后，还包括：
35.控制报警设备发出异常报警，并暂定所述多个待测显示面板流向下游工序。
36.第二方面，本发明还提供了一种显示面板检测系统，包括：
37.驱动设备，所述驱动设备用于驱动待检测显示面板显示；
38.连接器，所述连接器用于连接所述驱动设备和所述待检测显示面板；
39.电源，所述电源与所述连接器连接，所述电源通过所述连接器向所述待检测显示面板施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长；
40.坏点检测设备，所述坏点检测设备用于检测所述待检测显示面板的坏点数量。
41.在本发明的可选实施例中，所述连接器为桥接电路板，所述电路板包括电源接口、面板接口和驱动接口；
42.所述电源接口连接所述电源，所述面板接口连接所述待检测显示面板，所述驱动接口连接所述驱动设备。
43.本发明提供的显示面板检测方法，包括：从多个待测显示面板中随机抽取显示面
板作为第一面板样本，并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量，对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长，驱动第一面板样本显示，并确定第一面板样本的坏点数量作为第二数量，计算第二数量与第一数量的差值，得到第一面板样本的坏点增加数量，基于第一面板样本的坏点增加数量确定多个待测显示面板是否合格。在出厂检测阶段，向显示面板施加反向电压，在反向电压的激励下，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点，在出厂前就能检测出来，避免用户使用过程中新增坏点导致售后成本增加的问题，降低了售后成本。
44.应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
45.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
46.图1为一种子像素的结构示意图；
47.图2为本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的流程图；
48.图3为本发明实施例提供的另一种显示面板检测方法的流程图；
49.图4为本发明实施例提供的另一种显示面板检测方法的流程图；
50.图5为本发明实施例提供的一种显示面板检测系统的结构示意图。
51.通过上述附图，已示出本技术明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本技术构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本技术的概念。
具体实施方式
52.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
53.需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
54.显示面板上的坏点通常是由于子像素的阳极或阴极断路，或者由于子像素的阳极和阴极短路造成的。通常，阳极或阴极断路在出厂前容易被检测出来，而出厂后，也不易发
生阳极或阴极断路的情况，因此，通常不会在出厂检测后出现新增坏点的情况。因此，出厂检测后出现新增坏点大多是由于阳极和阴极短路造成的。出厂检测后出现阳极和阴极短路的可能原因为：由于工艺缺陷或异物，导致阳极和阴极之间的距离过小，导致在用户使用时，阳极和阴极之间容易被电击穿导致短路。图1为一种子像素的结构示意图，如图1所示，由于异物10的存在，会导致异物10处阳极20和阴极30之间的距离变小。且正常情况下，阳极20的表面会形成有一层绝缘层40(例如，氧化铝)，起到绝缘的作用。但是，由于异物10的存在，阳极20的表面与异物10的接触处50无法形成绝缘层，会导致电荷在接触处50堆积。由于上述原因，随着用户使用时长的增加，阳极20和阴极30之间的发光层60容易被电击穿，从而导致阳极20和阴极30短路，出现坏点。
55.针对上述问题，本发明实施例提供了一种显示面板检测方法，在出厂检测阶段，向显示面板施加反向电压，在反向电压的激励下，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点，在出厂前就能检测出来，避免用户使用过程中新增坏点导致售后成本增加的问题。
56.图2为本发明实施例提供的一种显示面板检测方法的流程图，本实施例可适用于在显示面板出厂前提前检测出潜在的坏点的情况，该显示面板检测方法包括：
57.s101、从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量。
58.示例性的，多个待测显示面板可以是同一批次的待测显示面板。在本发明实施例中，从多个待测显示面板中随机抽取一块显示面板作为第一面板样本，并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量。示例性的，正常驱动第一面板样本，使得第一面板样本显示待测画面，然后采用坏点检测设备(例如，工业相机)检测第一面板样本的坏点数量作为第一数量。
59.s102、对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。
60.在本发明实施例中，在确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量之后，撤掉原来的正常驱动，然后对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。通过对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点。
61.示例性的，在本发明的一些实施例中，反向电压的预设电压值为13v-26v。在本发明的一具体实施例中，反向电压的预设电压值为13v。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设电压值为20v。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设电压值为26v。
62.示例性的，在本发明的一些实施例中，反向电压的预设时长为40秒-60秒。在本发明的一具体实施例中，反向电压的预设时长为40秒。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设时长为50秒。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设时长为60秒。
63.s103、驱动第一面板样本显示，并确定第一面板样本的坏点数量作为第二数量。
64.在施加反向电压之后，正常驱动第一面板样本，使得第一面板样本显示待测画面，然后采用坏点检测设备检测第一面板样本的坏点数量作为第二数量。
65.s104、计算第二数量与第一数量的差值，得到第一面板样本的坏点增加数量。
66.在本发明实施例中，计算第二数量与第一数量的差值，得到第一面板样本的坏点增加数量，即施加反向电压前后，第一面板样本的坏点增加数量。
67.s105、基于第一面板样本的坏点增加数量确定多个待测显示面板是否合格。
68.在确定第一面板样本的坏点增加数量之后，基于第一面板样本的坏点增加数量确定多个待测显示面板是否合格。
69.示例性的，在本发明一实施例中，将第一面板样本的坏点增加数量与预设的第一合格阈值进行比对，判断第一面板样本的坏点增加数量是否大于或等于预设的第一合格阈值。在第一面板样本的坏点增加数量大于或等于第一合格阈值时，判定多个待测显示面板不合格。在第一面板样本的坏点增加数量小于第一合格阈值时，判定多个待测显示面板合格。示例性的，第一合格阈值可以7个，即在第一面板样本的坏点增加数量大于或等于7时，判定多个待测显示面板不合格。在第一面板样本的坏点增加数量小于7时，判定多个待测显示面板合格。
70.在本发明的一些实施例中，多个待测显示面板可以是同一批次的显示面板，若判定该批次显示面板合格，则对该批次显示面板放行，使其流向下一工序。若判定该批次显示面板不合格，则控制报警设备发出异常报警，并暂停该批次显示面板流向下游工序，对该批次显示面板进行逐个检测，对不合格的显示面板进行维修或直接报废。
71.本发明实施例提供的显示面板检测方法，包括：从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量，对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长，驱动第一面板样本显示，并确定第一面板样本的坏点数量作为第二数量，计算第二数量与第一数量的差值，得到第一面板样本的坏点增加数量，基于第一面板样本的坏点增加数量确定多个待测显示面板是否合格。在出厂检测阶段，向显示面板施加反向电压，在反向电压的激励下，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点，在出厂前就能检测出来，避免用户使用过程中新增坏点导致售后成本增加的问题，降低了售后成本。
72.图3为本发明实施例提供的另一种显示面板检测方法的流程图，如图3所示，该显示面板检测方法包括：
73.s201、从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量。
74.示例性的，多个待测显示面板可以是同一批次的待测显示面板。在本发明实施例中，从多个待测显示面板中随机抽取一块显示面板作为第一面板样本，并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量。示例性的，正常驱动第一面板样本，使得第一面板样本显示待测画面，然后采用坏点检测设备(例如，工业相机)检测第一面板样本的坏点数量作为第一数量。
75.s202、对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。
76.在本发明实施例中，在确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量之后，撤掉原来的正常驱动，然后对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。通过对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点。
77.示例性的，在本发明的一些实施例中，反向电压的预设电压值为13v-26v。在本发明的一具体实施例中，反向电压的预设电压值为13v。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设电压值为20v。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设电压值为26v。
78.示例性的，在本发明的一些实施例中，反向电压的预设时长为40秒-60秒。在本发明的一具体实施例中，反向电压的预设时长为40秒。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设时长为50秒。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设时长为60秒。
79.s203、驱动第一面板样本显示，并确定第一面板样本的坏点数量作为第二数量。
80.在施加反向电压之后，正常驱动第一面板样本，使得第一面板样本显示待测画面，然后采用坏点检测设备检测第一面板样本的坏点数量作为第二数量。
81.s204、计算第二数量与第一数量的差值，得到第一面板样本的坏点增加数量。
82.在本发明实施例中，计算第二数量与第一数量的差值，得到第一面板样本的坏点增加数量，即施加反向电压前后，第一面板样本的坏点增加数量。
83.s205、判断第一面板样本的坏点增加数量是否大于或等于预设的第一合格阈值。
84.将第一面板样本的坏点增加数量与预设的第一合格阈值进行比对，在第一面板样本的坏点增加数量大于或等于第一合格阈值时，执行步骤s106。在第一面板样本的坏点增加数量小于第一合格阈值时，判定多个待测显示面板合格。
85.s206、从多个待测显示面板中随机抽取预设数量的显示面板作为第二面板样本，并确定包括第一面板样本和第二面板样本在内的所有面板样本的坏点数量作为第三数量。
86.在第一面板样本的坏点增加数量大于或等于第一合格阈值时，为了提高判断准确度，从多个待测显示面板中随机抽取预设数量(例如3个)的显示面板作为第二面板样本，并确定包括第一面板样本和第二面板样本在内的所有面板样本的坏点数量作为第三数量。示例性的，依次正常驱动所有面板样本，使得面板样本显示待测画面，然后采用坏点检测设备(例如，工业相机)检测面板样本的坏点数量，并统计所有面板样本的坏点数量作为第三数量。
87.s207、依次对所有面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。
88.示例性的，在本发明实施例中，在统计所有面板样本的坏点数量作为第三数量之后，撤掉原来的正常驱动，然后依次对所有面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。通过对面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点。
89.示例性的，在本发明的一些实施例中，反向电压的预设电压值为13v-26v。在本发明的一具体实施例中，反向电压的预设电压值为13v。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设电压值为20v。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设电压值为26v。
90.示例性的，在本发明的一些实施例中，反向电压的预设时长为40秒-60秒。在本发明的一具体实施例中，反向电压的预设时长为40秒。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设时长为50秒。在本发明的另一具体实施例中，反向电压的预设时长为60秒。
91.s208、依次驱动所有面板样本显示，并确定所有面板样本的坏点数量作为第四数量。
92.在施加反向电压之后，依次正常驱动所有面板样本，使得面板样本显示待测画面，然后采用坏点检测设备检测面板样本的坏点数量，并统计所有面板样本的坏点数量作为第四数量。
93.s209、计算第四数量与第三数量的差值得到所有面板样本的坏点增加总数量。
94.在本发明实施例中，计算第四数量与第三数量的差值得到所有面板样本的坏点增
加总数量，即施加反向电压前后，所有面板样本的坏点增加总数量。
95.s210、计算所有面板样本的坏点增加总数量与所有面板样本的数量的商，得到所有面板样本的坏点增加数量的平均值。
96.在本发明实施例中，将所有面板样本的坏点增加总数量除以所有面板样本的数量，得到所有面板样本的坏点增加数量的平均值。
97.s211、判断所有面板样本的坏点增加数量的平均值是否大于或等于预设的第二合格阈值。
98.在本发明实施例中，将所有面板样本的坏点增加数量的平均值与预设的第二合格阈值(例如，3个)进行比对，判断所有面板样本的坏点增加数量的平均值是否大于或等于预设的第二合格阈值。在所有面板样本的坏点增加数量的平均值大于或等于第二合格阈值时，判定多个待测显示面板不合格；在所有面板样本的坏点增加数量的平均值小于第二合格阈值时，判定多个待测显示面板合格。
99.本发明实施例通过计算多个面板样本的坏点增加数量的平均值，并基于平均值判定同批次的待检测显示面板是否合格，提高了判定准确性。
100.图4为本发明实施例提供的另一种显示面板检测方法的流程图，如图4所示，该方法在前述实施例的基础上，在判定某一批显示面板不合格之后进一步追溯，追溯到与不合格的批次显示面板处于相同生产时间区间内所有潜在风险面板，并进行处理，该显示面板检测方法包括：
101.s301、从多个待测显示面板的历史工序记录中查找存在异常记录的异常工序。
102.示例性的，显示面板的每一道工序的情况都会记录，例如，记录是否存在异常、发生异常的时间等。在本发明实施例中，在确定多个待测显示面板不合格后，从多个待测显示面板的历史工序记录中查找存在异常记录的异常工序。
103.s302、确定异常工序的异常记录的记录时间。
104.从异常记录中，确定异常工序的记录时间。
105.s303、追溯记录时间所在的生产时间区间内异常工序生产的所有显示面板作为风险面板。
106.在本发明实施例中，生产过程被分为若干个生产时间区间，每一生产时间区间为几小时或一天，本发明实施例在此不做限定。一个生产工序在一个生产时间区间可以加工多批次的工件。在确定异常工序的记录时间之后，追溯记录时间所在的生产时间区间内异常工序生产的所有显示面板作为风险面板。
107.s304、将所有风险面板作为待测显示面板，并对所有风险面板的合格与否进行判定。
108.示例性，对多个待测显示面板的合格与否的判定在前述实施例中已有详细记载，本发明实施例在此不再赘述。
109.本发明实施例提供的显示面板检测方法，在判定某一批显示面板不合格之后，进一步追溯，追溯到与不合格的批次显示面板处于相同生产时间区间内所有潜在风险面板，并进一步判定所有潜在风险面板是否合格，提高了检出率。
110.图5为本发明实施例提供的一种显示面板检测系统的结构示意图，如图5所示，该显示面板检测系统包括：
111.驱动设备410，驱动设备410用于驱动待检测显示面板pnl显示。
112.连接器420，连接器420用于连接驱动设备410和待检测显示面板pnl。示例性的，在本发明一具体实施例中，连接器420为桥接电路板(bridge board)，该电路板包括电源接口、面板接口和驱动接口。电源接口连接电源430，面板接口连接待检测显示面板pnl，驱动接口连接驱动设备410。
113.电源430，电源430与连接器420连接，电源430可通过连接器420向待检测显示面板pnl施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。
114.坏点检测设备440，坏点检测设备440用于检测待检测显示面板pnl的坏点数量。
115.示例性的，从多个待测显示面板中随机抽取一块显示面板，电源430通过连接器420对待检测显示面板pnl施加正向电压，驱动设备410驱动待检测显示面板pnl显示，坏点检测设备440检测待检测显示面板pnl的坏点数量。然后，电源430通过连接器420对待检测显示面板pnl施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长。通过对待检测显示面板pnl施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点。接着，电源430通过连接器420对待检测显示面板pnl施加正向电压，驱动设备410驱动待检测显示面板pnl显示，坏点检测设备440检测待检测显示面板pnl的坏点数量。最后基于施加反向电压前后的坏点增加数量判定多个待测显示面板是否合格。具体的检测过程在前述实施例中已有详细记载，本发明实施例在此不再赘述。
116.本发明实施例提供的显示面板检测系统，能够实现本发明前述任意实施例提供的显示面板检测方法，具备执行显示面板检测方法相同的功能和效果。
117.应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
118.上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

技术特征：
1.一种显示面板检测方法，其特征在于，包括：从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并确定所述第一面板样本的坏点数量作为第一数量；对所述第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长；驱动所述第一面板样本显示，并确定所述第一面板样本的坏点数量作为第二数量；计算所述第二数量与所述第一数量的差值，得到所述第一面板样本的坏点增加数量；基于所述第一面板样本的坏点增加数量确定所述多个待测显示面板是否合格。2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述反向电压的预设电压值为13v-26v。3.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述反向电压的预设时长为40秒-60秒。4.根据权利要求1-3任一所述的显示面板检测方法，其特征在于，基于所述第一面板样本的坏点增加数量确定所述多个待测显示面板是否合格，包括：判断所述第一面板样本的坏点增加数量是否大于或等于预设的第一合格阈值；在所述第一面板样本的坏点增加数量大于或等于所述第一合格阈值时，判定所述多个待测显示面板不合格；在所述第一面板样本的坏点增加数量小于所述第一合格阈值时，判定所述多个待测显示面板合格。5.根据权利要求4所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述第一面板样本的坏点增加数量大于或等于所述第一合格阈值时，从所述多个待测显示面板中随机抽取预设数量的显示面板作为第二面板样本，并确定包括所述第一面板样本和所述第二面板样本在内的所有面板样本的坏点数量作为第三数量；依次对所有面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长；依次驱动所有面板样本显示，并确定所有面板样本的坏点数量作为第四数量；计算所述第四数量与所述第三数量的差值得到所有面板样本的坏点增加总数量；计算所有面板样本的坏点增加总数量与所有面板样本的数量的商，得到所有面板样本的坏点增加数量的平均值；基于所有面板样本的坏点增加数量的平均值确定所述多个待测显示面板是否合格。6.根据权利要求5所述的显示面板检测方法，其特征在于，基于所有面板样本的坏点增加数量的平均值确定所述多个待测显示面板是否合格，包括：判断所有面板样本的坏点增加数量的平均值是否大于或等于预设的第二合格阈值；在所有面板样本的坏点增加数量的平均值大于或等于所述第二合格阈值时，判定所述多个待测显示面板不合格；在所有面板样本的坏点增加数量的平均值小于所述第二合格阈值时，判定所述多个待测显示面板合格。7.根据权利要求5或6所述的显示面板检测方法，其特征在于，在确定所述多个待测显示面板不合格后，还包括：从所述多个待测显示面板的历史工序记录中查找存在异常记录的异常工序；确定所述异常工序的异常记录的记录时间；
追溯所述记录时间所在的生产时间区间内所述异常工序生产的所有显示面板作为风险面板；将所有风险面板作为待测显示面板，并返回执行从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并返回执行确定所述第一面板样本的坏点数量作为第一数量的步骤。8.根据权利要求7所述的显示面板检测方法，其特征在于，在确定所述多个待测显示面板不合格后，还包括：控制报警设备发出异常报警，并暂定所述多个待测显示面板流向下游工序。9.一种显示面板检测系统，其特征在于，包括：驱动设备，所述驱动设备用于驱动待检测显示面板显示；连接器，所述连接器用于连接所述驱动设备和所述待检测显示面板；电源，所述电源与所述连接器连接，所述电源通过所述连接器向所述待检测显示面板施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长；坏点检测设备，所述坏点检测设备用于检测所述待检测显示面板的坏点数量。10.根据权利要求9所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述连接器为桥接电路板，所述电路板包括电源接口、面板接口和驱动接口；所述电源接口连接所述电源，所述面板接口连接所述待检测显示面板，所述驱动接口连接所述驱动设备。

技术总结
本发明公开了一种显示面板检测方法及系统。方法包括：从多个待测显示面板中随机抽取显示面板作为第一面板样本，并确定第一面板样本的坏点数量作为第一数量，对第一面板样本施加预设电压值的反向电压，并持续预设时长，驱动第一面板样本显示，并确定第一面板样本的坏点数量作为第二数量，计算第二数量与第一数量的差值，得到第一面板样本的坏点增加数量，基于第一面板样本的坏点增加数量确定多个待测显示面板是否合格。在出厂检测阶段，向显示面板施加反向电压，在反向电压的激励下，使得子像素存在缺陷的阳极和阴极之间提前被击穿，提前激发坏点，在出厂前就能检测出来，避免用户使用过程中新增坏点导致售后成本增加的问题，降低了售后成本。降低了售后成本。降低了售后成本。


技术研发人员：林文勋
受保护的技术使用者：乐金显示光电科技（中国）有限公司
技术研发日：2023.04.04
技术公布日：2023/7/7