准直系统的制作方法

1.本技术涉及光学测量技术领域，尤其涉及一种准直系统。


背景技术：

2.自准直仪是利用光学自准直原理，用于小角度测量的重要测量仪器。由于它具有较高的准确度和测量分辨力，因而被广泛应用于精密的测量工作中。例如，在角度测量、平板的平面度测量、轴系的角晃动测量、导轨的线度测量等方面，自准直仪均发挥着重要的作用。
3.在实现现有技术的过程中，发明人发现：
4.随着应用环境温度的不同，现有的光电自准直仪会存在较大的成像误差，无法清晰成像，从而影响了光电自准直仪的测量精度。尤其的，在对准直精度要求较高的场景中，现有的光电自准直仪根本无法满足相应的使用需求。例如，对准直精度要求较高的航空航天装备中，由于周边温度的急剧变化，其自准直系统的成像误差将导致相应的航空航天装备有着较低的准直精度，从而影响飞行精度。
5.因此，需要提供一种受环境温度影响较小的光电准直系统，以解决环境温度变化导致光电自准直仪的测量精度低的技术问题。


技术实现要素：

6.本技术实施例提供一种受环境温度影响较小的准直系统，以解决环境温度变化导致光电自准直仪的测量精度低的技术问题。
7.具体的，一种准直系统，包括：
8.用于发出可见光、红外光的光源；
9.分划板，被配置为与所述光源同轴，用于与所述光源配合产生探测光束；
10.设置于所述探测光束传播方向的分光镜，用于反射所述探测光束以改变探测光束的传播方向；
11.设置于经所述分光镜反射的反射光束传播方向上、且与反射的探测光束同轴分布的准直镜；
12.在所述准直镜的、背离经所述分光镜反射的反射光束传播方向一侧、与所述准直镜同轴分布的光电探测元件，被配置为与所述准直镜的焦平面重合，用于接收被测物体反射的校准光束。
13.进一步的，用于发出红外光的光源经由聚酰亚胺电热膜加工而成。
14.进一步的，用于发出可见光的光源为led光源。
15.进一步的，所述分光镜为分光棱镜。
16.进一步的，所述分光棱镜为半透半反分光棱镜。
17.进一步的，经分光镜反射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直；
18.经分光镜透射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直；
19.经分光镜反射的探测光束的方向背离经分光镜透射的探测光束的方向。
20.进一步的，所述系统还包括：
21.反射镜，被配置为固定于被测物体，用于反射经准直镜射出的探测光束。
22.进一步的，所述光电探测元件为电荷耦合ccd光电探测元件。
23.进一步的，所述分划板预设有十字靶图案。
24.本技术实施例提供的技术方案，至少具有如下有益效果：
25.通过将可见光、红外光共同作为准直系统的光源，能够在环境温度变化时，避免光束抖动，有效保证了最终成像的成像精度，从而提升了准直系统最终的准直精度，避免了温度变化导致准直系统的测量精度降低。
附图说明
26.此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
27.图1为本技术实施例提供的一种准直系统的结构示意图。
28.图2为本技术实施例提供的一种在理想状况下准直系统的成像示意图。
29.图3为本技术实施例提供的一种在被测物体反射光束存在偏转时准直系统的成像示意图。
30.图4为本技术实施例提供的一种光束在分光镜作用下的分光示意图。
31.图中附图标记表示为：
32.100
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准直系统；
33.11
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光源；
34.111
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第一光束；
35.111
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第二光束；
36.113
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第三光束；
37.12
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分划板；
38.13
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分光镜；
39.14
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准直镜；
40.15
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光电探测元件。
具体实施方式
41.为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术具体实施例及相应的附图对本技术技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
42.可以理解的是，准直仪是角度测量应用最广、最多的仪器之一。准直仪具有精度高、自动读数等优点，已成为准直仪发展的主流。准直仪的基本原理就是根据被测物体反射的光线的成像变化，进行偏转角的测量，从而实现探测方位/被测物体方位的调整。随着准直技术的不断成熟，准直仪也逐渐朝着大量程、高分辨力以及动态测量的发展趋势发展，并在航空航天、武器装备等高精领域有着越来越重要的应用。
43.在实际应用中，根据准直仪测量方式的不同，可将准直仪分为光学准直仪、光电准直仪。其中，光学准直仪往往选用人眼进行瞄准；光电准直仪可利用光电探测器代替人眼进行瞄准测量。并且，根据光源的不同，光电准直仪一般可以分为激光自准直仪、光电自准直仪。其中，激光准直仪由激光器作为光源的发射系统；光学准直仪一般选用可见光作为光源。虽然激光具有能量高、方向性好等优点，可提供直线性极好的可见激光束从而使得激光自准直仪的测量距离大且精度较高，但激光同样因为能量高会对人体造成一定的不可逆伤害。并且，激光易受温度和气流等因素的影响，因此需要对仪器采取一些防范措施外，并对其测量环境中的防震、防热、防气流抖动等都提出较高的要求，否则将会影响测量精度。因此，实际应用中激光自准直仪的应用存在一定的限制。而与激光自准直仪相对的光电准直仪，一般选用可见光作为光源，进行准直测量。但可见光穿透性较弱，且易受大气状况的影响。例如，大气温度的变化将对可见光穿透性以及方向性产生一定的影响，使得可见光存在一定的消光以及抖动。由此可知，实际应用中，环境温度的变化将导致采用可见光作为光源的光电准直仪的成像精度存在一定的误差，从而使得最终测量精度存在一定误差。为了防止温度变化导致准直仪测量精度降低，本技术实施例提供一种能够减小温度对测量精度影响的光电准直系统，以满足不同温度下的使用需求。
44.具体的，请参照图1，为本技术实施例提供的一种准直系统100，包括：
45.用于发出可见光、红外光的光源11；
46.分划板12，被配置为与所述光源11同轴，用于与所述光源11配合产生探测光束；
47.设置于所述探测光束传播方向的分光镜13，用于反射所述探测光束以改变探测光束的传播方向；
48.设置于经所述分光镜13反射的反射光束传播方向上、且与反射的探测光束同轴分布的准直镜14；
49.在所述准直镜14的、背离经所述分光镜13反射的反射光束传播方向一侧、与所述准直镜14同轴分布的光电探测元件15，被配置为与所述准直镜14的焦平面重合，用于接收被测物体反射的校准光束。
50.本技术实施例提供的准直系统100可以理解为光电准直仪，通过光电效应进行被测物体反射光束的成像。之后，根据被测物体反射光束的成像以及标准成像之间的偏移量，即可进行准直仪与被测物体之间相对方位的调整。具体的，光源11在电力作用下将产生相应的光束，经分划板12的配合，即可得到具有相应外形的探测光束。之后，经分光镜13改变所述探测光束的传播光路，可得到相应的反射探测光束。所述反射的探测光束继续传播，在准直镜14的作用下即可得到平行的出射光束。所述出射光束继续传播，将照射在被测物体表面并被其反射至准直仪进行被测物体反射光束的成像，从而可继续进行被测物体反射光束的成像以及标准成像之间的偏移量的计算。
51.为了便于区分，这里将经由分划板12出射的、具有一定外形的探测光束视为第一光束；将经由分光镜13的反射得到的、传播方向改变的探测光束视为第二光束；将经由分光镜13的透射得到的、传播方向改变的探测光束视为第三光束。
52.详细的，本技术实施例提供的光源11能够发出可见光、红外光。可以理解的是，可见光的波长范围为380nm到700nm。具体的，可将发出可见光的光源11理解为可见光光源。例如，常见的白炽灯、卤素灯、荧光灯、节能灯、led灯、高压钠灯、金卤灯、无极灯、霓虹灯等灯
体在电力作用下发出的光均可视为可见光。相应的，白炽灯、卤素灯、荧光灯、节能灯、led灯、高压钠灯、金卤灯、无极灯、霓虹灯等灯体均可视为可见光光源。
53.此外，可以理解的是，红外光又可称为红外线，波长范围为770nm到1mm之间，是一种不可见光。红外光具有极强的热效应，并且由于其具有较强的衍射能力，因此还具有较强的穿透能力。将红外线作为准直系统100的光源11，正是基于其具有较强的穿透能力。当环境温度变化时，相较于可见光，红外光传播受影响较小，易被侦测。具体的，本技术中将可发出红外光的光源11理解为红外光光源11。即，将可产生红外辐射的电光源视为红外光源11。例如，热辐射红外光源、激光红外光源、气体放电红外光源等。
54.本技术优选能够发出可见光、红外光的光源11作为准直系统100的光源，即选用可见光光源、红外光光源共同组成准直系统100的光源11。实际应用中，使用者可以根据实际需要选用相应的可见光光源或红外光光源进行准直测量。例如，应用环境中温度变化范围较小，且与被测物体距离较近时，可以单独选用可见光光源进行准直测量。此时，准直系统100射出的探测光束为可见光光束。当应用环境中温度变化范围较大且与被测物体距离较远，则可根据实际需求选用红外光光源单独作为准直光源，或则将可见光光源、红外光光源共同作为准直光源。相应的，光电准直系统100射出的探测光束为红外光光束，或者由可见光、红外光共同构成。这样，能够结合实际的测试环境选用不同的准直光源11，使得准直系统100能够在不同在应用条件下均可得到误差较小的成像，从而使得准直系统100具有较高的测量精度。
55.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，用于发出红外光的光源11经由聚酰亚胺电热膜加工而成。
56.这里的聚酰亚胺电热膜可以理解为一种柔性薄膜加热器，是一种由蚀刻金属箔片产生的电阻元件与聚酰亚胺绝缘层组成、具有一定厚度的薄膜，具有良好的柔性。并且，柔性薄膜型加热器尺寸和形状不受限制，可根据准直系统100的需要进行定制化设计。
57.在本技术提供的一种具体实施方式中，酰亚胺电热膜厚度设计为0.12mm-0.5mm。经实际测试，该电热膜的最高使用温度可保持为长期的250℃，且最低耐温达-195℃，最高功率密度为7.8w/cm2。并且，经基于mtf的光电成像系统建模分析得到，选用本技术实施例提供的电加热膜作为红外光源，在-20℃-50℃的温度范围内，红外成像的清晰度可达到满足使用要求，具有较高的成像清晰度。
58.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，用于发出可见光的光源11为led光源。
59.可以理解的是，led(light-emitting diode light，简称led)灯是一种能够将电能转化为可见光的固态半导体元器件，即发光二极管，可直接将电能转化为光能。led灯具有构造简单、使用寿命长、发光效率高、不易破碎的优点。值得注意的是，led灯制作工艺为led晶片封装在透明的环氧树脂中，因此led灯具有极好的抗震动性能，且灯体内没有松动的部分。此外，led灯也不存在灯丝发光易烧、热沉积、光衰等缺点，使用寿命可达6万-10万小时。相较于其它的灯体，led灯具有体积小、能耗低、使用寿命长等优势。最重要的是，led性能稳定，可在-30℃至+50℃的温度范围下正常工作。因此，本技术优选地选用led灯作为可见光的光源，从而使得准直系统100能够具有稳定的可见光光源，并在不同温度中均可正常清晰成像。
60.在本技术提供的一种具体实施方式中，选用的led光源的参数为：led灯功耗为1.2w；使用寿命为10000小时；色温为2800k；光谱范围为360nm-800nm；输入电压为5v。并且，经基于mtf的光电成像系统建模分析得到，选用本技术实施例提供的led光源，在-20℃-50℃的温度范围内，可见光成像的清晰度可达到满足使用要求，具有较高的成像清晰度。
61.分划板12被配置为与所述光源11同轴，用于与所述光源11配合产生探测光束。分划板12被配置为与光源11同轴，即分划板12的轴心与光源11的轴心重合，从而使得光源11产生的红外光或可见光，在所述轴心方向上、以最大的光强通过分划板12。可以理解的是，分划板12可以设有一定的形状。当光源11正常工作时，在分划板12的作用下，即可形成具有相应形状的光束(第一光束)。即，分划板12可与光源11配合产生探测光束(第一光束)。例如，分划板12预设有圆形的图案，当光源11正常工作时，在分划板12配合下，可以得到外形为圆形的探测光束(第一光束)。又例如，分划板12预设有三角形的图案，当光源11正常工作时，在分划板12配合下，可以得到外形为所述三角形的探测光束(第一光束)。
62.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，分划板12预设有十字靶图案。
63.可以理解的是，分划板12可与光源11配合，产生相应形状的探测光束。因此，准直系统100发最终发出的探测光束的形状与分划板12的图案息息相关。当分划板12预设的图案为圆形是，探测光束的外形为圆形。相应的，被测物体反射至准直系统100的反射光线为圆形，准直系统100的最终成像也为圆形。之后，根据反射光束实际成像对应的位置与标准成像位置之间的具体位移，即可计算准直系统100射出的探测光束轴线与被测物体反射的校准光束轴线之间的偏转角度，从而进行后续的准直系统100/被测物体的方位调整。
64.为了便于根据被测物体反射的校准光束成像位置，计算实际成像与标准成像两者之间的位移，本技术优选地选用预设有十字靶图案的分划板12，从而得到十字靶外形的探测光束以及最终成像。相较于其他的形状，十字靶图形有明确的中心坐标，并且十字靶图案中的两条相互垂直的线段便于辅助定位。具体的，请参照图2-3，如准直系统100射出的探测光束轴线与被测物体反射的校准光束轴线之间的偏转角度为零，最终成像的十字靶图案中的十字线将位于图像中心。如所述偏差角不为零，则十字线在图像中有相应的纵向偏移值de和水平偏移值da。由此可知，根据十字靶图案中的十字线能够快速确定最终成像与标准成像区域的偏移量，从而便于快速地根据上述偏移量确定相应的方位调整量。
65.设置于所述探测光束传播方向的分光镜13，用于反射所述探测光束以改变探测光束的传播方向。可以理解的是，在光源11以及分划板12的配合下，得到的探测光束(第一光束)具有一定的方向。为了实现准直系统100的小型化，往往需要借助分光镜13调整经分划板12出射的探测光束的传播方向。分光镜13是用于以制定比率将入射光分割成两个不同光束的光学元件。即，分光镜13既可以对入射光线进行反射，又可以对入射光线进行透射，从而分别得到传播方向改变的两条光线。这里将能够根据入射光束分别得到反射光束以及透射光束的光学元件，均可理解为分光镜13。
66.本技术将经由分划板12出射的探测光束视为第一光束；将经由分光镜13的反射得到的、传播方向改变的探测光束视为第二光束；将经由分光镜13的透射得到的、传播方向改变的探测光束视为第三光束。具体的，请参照图4，第一光束111经分光镜13的反射，得到第二光束112；第一光束经分光镜13的透射，得到第三光束113。其中，第二光束112将继续向前传播，并经准直镜14的光束准直作用，作为准直系统100出射至被测物体的被测物体探测光
束射出。第三光束第三光束113经由分光镜13的透射，同样将继续传播，并最终在光电探测元件15处形成标准成像。
67.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，分光镜13为分光棱镜。
68.可以理解的是，分光镜13能够根据入射光束分别得到反射光束以及透射光束。在实际应用中，根据分光镜13中透射光束是否存在位移，一般可以将分光镜13分为分光棱镜(立方体分光镜)以及平板分光镜。具体的，若经分光镜13透射的光束与入射光束相比存在一定的位移，则可将该分光镜视为平板分光镜。若经分光镜透射的光束与入射光束相比不存在位移，则可将该分光镜视为立方体分光镜。
69.实际应用中，考虑到经由被测物体反射的校准光束的传播光路同样可能经过分光镜13，在分光镜13作用下，若所述校准光束存在位移，将进一步影响最终的实际成像与标准成像之间的位移量。因此，本技术实施例优选地选择分光棱镜(立方体分光镜)作为分光镜13，以避免因分光镜13作用导致的光束位移。这样，可以减小最终实际呈现于标准成像之间的位移误差，保证最终成像的位置精度，从而最终有效保证了准直系统100的测量精度。
70.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，分光棱镜为半透半反分光棱镜。
71.这里的半透半反可以理解为一半穿透一半反射。即，分光棱镜的透射率和反射率各占比50％。也即，当光束入射至分光镜13，其透过的光强和被反射的光强各占50％。具体的，可以在光学玻璃上镀制半反射膜，以改变入射光束的透射和反射的比例，并且具有低吸收的特性。特别的，这里的半透半反分光棱镜尤其适用于红外光的传播。同时，还可兼顾可见光的传播。分光棱镜的透射率和反射率各占比50％时，分光镜13透射的光束(第三光束)的标准成像以及被测物体反射光束的实际成像，均具有较好的清晰度。并且，还能够在不损失光强的情况下，改变相应光束的传播方向，有利于实现光路传播组件结构的小型化设计。
72.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，分经分光镜13反射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直；经分光镜13透射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直；经分光镜13反射的探测光束的方向背离经分光镜13透射的探测光束的方向。
73.这里分光镜13透射的探测光束可以理解为第三光束，分光镜13反射的探测光束可以理解为第二光束，入射的探测光束可以理解为第一光束。分光镜13反射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直，即第一光束传播方向与第二光束传播方向垂直。也可理解为，第一光束在分光镜13处的入射角、反射角均为45
°
角。分光镜13透射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直；即第一光束传播方向与第三光束传播方向垂直。并且，第三光束与第二光束传播方向相反。这样，能够实现第一光束-第二光束以及第一光束-第三光束传播路径的水平转换，简化了光束传播路径，从而便于实现准直系统100的小型化发展。
74.经分光镜13反射得到的第二光束随着光的传播方向，将作为入射光线入射至准直镜14。准直镜14设置于分光镜13反射的反射光束传播方向上、且与反射的探测光束同轴分布。即，准直镜14设于第二光束的传播光路，且与第二光束同轴。这里的准直镜14可以理解为用于将经分光镜13反射的光束转换为平行光束的光学件。可以理解的是，经分光镜13反射的探测光束(第二光束)存在一定的发散角。准直镜14的入射光线即为存在一定发散角的第二光束。经准直镜14的折射，出射的光束将转换为平行光束。在实际应用中，准直镜14一
般为凸透镜。或者，根据实际情况，可以选用相应的镜片组合共同构成准直镜14，以充分保证准直系统100出射光束的平行度。可以理解的是，光线经凸透镜传播，经过光心的光线传播方向不变；与主光轴平行的光线折射后过其焦点；经过焦点的光线折射后平行于主光轴。因此，准直镜14还需与经分光镜13反射的探测光束(第二光束)同轴分布。这样，第二光束能够尽可能地经由准直镜14的广信，并平行地经由准直镜14射出。这里准直镜14的具体制备材料以及形状可根据实际情况灵活选取。
75.经由准直镜14射出的平行光束可视为准直系统100射出的被测物体探测光束。为了便于区分，这里将经由准直镜14射出的平行光束视为第四光束。第四光束经由准直系统100射出，将作用于被测物体表面。在被测物体的反射作用下，第四光束将改变传播方向，重新入射至准直系统100。
76.这里将第四光束经由被测物体反射所得到的传播方向改变的光束视为第五光束。第五光束经由被测物体射出，入射至准直镜14，并有准直镜14射出，最终传播至准直系统100的成像平面进行第五光束的成像。这时，得到经由被测物体反射的校准光束的实际成像。
77.需要说明的是，第一光束经由分光镜13透射得到的第三光束，同样是传播至准直系统100的成像平面进行成像，并得到标准成像。可以理解的是，准直系统100的成像平面接收到的第三光束或第五光束为光信号。在光电效应下，准直系统100的成像平面接收到的第三光束或第五光束的光信号将转换为电信号并进行成像显示，从而分别得到第三光束或第五光束所对应的、带有十字靶图案的最终成像。根据第三光束对应的标准成像、第五光束对应的实际成像，即可计算第五光束(经由被测物体反射的校准光束)相对第四光束(准直系统100射出至被测物体的探测光束)的偏转角，从而可进行后续的准直系统100/被测物体的方位调整。
78.这里将准直系统100中进行光电效应的成像平面视为光电探测元件15。并且，光电探测元件15位于准直镜14、背离经所述分光镜13反射的反射光束(第二光束)传播方向的一侧，且与准直镜14同轴分布。准直系统100中进行光电效应的成像平面可理解为准直镜14的焦平面。即，光电探测元件15在准直镜14的焦平面处，与焦平面重合，与准直镜14的距离为焦距f。这里焦平面可以理解为垂直于准直镜14光轴、且经过准直镜14焦点的平面。这时，经由被测物体反射的第五光束，将在光电探测元件15处有较好的汇聚效果。即，具有较好的成像效果，有效避免了第五光束成像效果的失真。
79.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，所述光电探测元件15为电荷耦合ccd光电探测元件。
80.这里的电荷耦合ccd光电探测元件可以理解为安装有电荷耦合ccd(charge coupled device，简称ccd)传感器的光电探测元件。即，准直系统100的成像平面通过ccd传感器成像。或者，也可理解为准直系统100的成像原理为ccd相机的成像原理，并且具有抗震动和撞击的特性。
81.可以理解的是，利用光电效应成像的传感器有多种，例如，电荷耦合传感器(charge coupled device，简称ccd)、电荷注入检测器(charge injection device，简称cid)、互补金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor，简称cmos)等。其中，ccd可直接将光学信号转换为模拟电流信号，电流信号经过放大和模数转换，可实
现图像的获取、存储、传输、处理和重现。ccd传感器有固体器件的所有优点，并且其自扫描输出方式消除了电子束扫描造成的图像光电转换的非线性失真，具有灵敏度高，噪声低、体积小、重量轻、功耗低以及制造成本低等优点。cmos传感器具有集成性高、读出速度快等优点，但是由于cmos传感器集成度高，各元件、电路之间距离比较近，从而干扰比较严重，成像过程中产生的噪声较高，从而影响成像质量。cid传感器具有随机存取积分方式rai(randomaccess integration，简称rai)的数据读出特性，能够在积分的过程中随时检查每个检测单元的电荷数量，从而有效防止电荷溢出，从而具有最佳的信噪比。但是，cid传感器对光的敏感度比较低，在光强较弱时，cid传感器显然无法满足使用需求。因此，为了最终的成像质量，本技术实施例优选ccd传感器作为准直系统100的光电探测元件15。
82.进一步的，在本技术提供的一种优选实施方式中，所述系统100还包括：
83.反射镜，被配置为固定于被测物体，用于反射经准直镜14射出的探测光束。
84.这里的反射镜可以理解为固定于被测物体表面、用于反射经准直镜14射出的探测光束(第四光束)的光学组件。可以理解的是，根据被测物体发射的光束，可以进行被测物体相对准直仪的偏转角的测量。但是，并非所有的被测物体均具有光束反射功能。特别的，当被测物体表面存在特殊的防反射涂层时，其接收到准直仪射出的探测光束，并不会反射回相应的光束至准直仪。因此，还需配置相应的反射镜，使其能够根据准直仪射出的探测光束反射相应的校准光束，以便准直仪可以接收到被测物体发射出的校准光束，从而便于进行准直仪/探测物方位的调整。这里的反射镜也可理解为安装于被测物体的校准镜，用于辅助无法自行根据准直仪射出的探测光束反射光束的装备进行方位调整。当然，若被测物体能够主动向准直仪发射校准光束，则无需在被测物体安装反射镜。这时，准直仪根据被测物体主动发出的光束，也可进行被测物体发射光束偏转角的计算。
85.需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，有语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
86.以上所述仅为本技术的实施例而已，并不用于限制本技术。对于本领域技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的权利要求范围之内。

技术特征：
1.一种准直系统，其特征在于，包括：用于发出可见光、红外光的光源；分划板，被配置为与所述光源同轴，用于与所述光源配合产生探测光束；设置于所述探测光束传播方向的分光镜，用于反射所述探测光束以改变探测光束的传播方向；设置于经所述分光镜反射的反射光束传播方向上、且与反射的探测光束同轴分布的准直镜；在所述准直镜的、背离经所述分光镜反射的反射光束传播方向一侧、与所述准直镜同轴分布的光电探测元件，被配置为与所述准直镜的焦平面重合，用于接收被测物体反射的校准光束。2.如权利要求1所述的准直系统，其特征在于，用于发出红外光的光源经由聚酰亚胺电热膜加工而成。3.如权利要求1所述的准直系统，其特征在于，用于发出可见光的光源为led光源。4.如权利要求1所述的准直系统，其特征在于，所述分光镜为分光棱镜。5.如权利要求4所述的准直系统，其特征在于，所述分光棱镜为半透半反分光棱镜。6.如权利要求4所述的准直系统，其特征在于，经分光镜反射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直；经分光镜透射的探测光束的方向与入射的探测光束的方向垂直；经分光镜反射的探测光束的方向背离经分光镜透射的探测光束的方向。7.如权利要求1所述的准直系统，其特征在于，所述系统还包括：反射镜，被配置为固定于被测物体，用于反射经准直镜射出的探测光束。8.如权利要求1所述的准直系统，其特征在于，所述光电探测元件为电荷耦合ccd光电探测元件。9.如权利要求1所述的准直系统，其特征在于，所述分划板预设有十字靶图案。

技术总结
本申请提供一种准直系统，包括：用于发出可见光、红外光的光源；分划板，被配置为与光源同轴，用于与光源配合产生探测光束；设置于探测光束传播方向的分光镜，用于反射探测光束以改变探测光束的传播方向；设置于经分光镜反射的反射光束传播方向上、且与反射的探测光束同轴分布的准直镜；在准直镜的、背离经分光镜反射的反射光束传播方向一侧、与准直镜同轴分布的光电探测元件，被配置为与准直镜的焦平面重合，用于接收被测物体反射的校准光束。通过可见光、红外光的配合，能够在环境温度变化时，保证最终成像的成像精度，从而提升了准直系统最终的准直精度，避免了温度变化导致准直系统的测量精度降低。测量精度降低。测量精度降低。


技术研发人员：孙琼阁 郝雷 霍小明
受保护的技术使用者：北京全息威睛光学技术有限公司
技术研发日：2022.12.30
技术公布日：2023/7/17