配件在位测试方法及相关设备与流程

1.本技术涉及新能源技术领域，具体涉及一种配件在位测试方法、电子设备、测试系统及计算机可读存储介质。


背景技术：

2.在相关技术中，当多个配件同时接入同一电子设备时，不同配件发送给电子设备的在位信号可能会产生通信干扰，导致测试设备不能够正常工作。因此，为了使电子设备能够正常工作，达到出厂标准，需要提前对电子设备进行配件在位测试，以检测电子设备是否存在上述缺陷。
3.在配件在位测试中，电子设备上的不同端口需要接入不同的配件，以测试对应的配件组合是否会发生通信干扰，电子设备能否正常检测各个配件的在位信号。进行该测试时，通常需要测试人员反复拔插配件和遍历所有的配件排列组合，操作繁琐且耗时长。


技术实现要素：

4.鉴于此，本技术提供一种配件在位测试方法、电子设备、测试系统和计算机可读储存介质，能够检测电子设备启用不同排列组合的配件时，电子设备的通信情况，节省时间和人力的投入。
5.本技术实施例第一方面提供一种配件在位测试方法，应用于测试设备，包括：测试设备获取配件测试信息，并根据配件测试信息生成控制指令；配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件；向待测试设备发送控制指令，控制指令用于指示待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件；获取待测试设备检测到的在位信息；在位信息用于指示待测试设备检测到的启用中的配件；根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。
6.如此，测试设备获取配件测试信息后，可以根据配件测试信息生成控制指令，并向待测试设备发送控制指令，以使待测试设备可以根据控制指令启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件。其中，待测试配件生产在位信息，非待测试配件不产生在位信息。接着，测试设备从待测试设备获取在位信息，比较在位信息指示的启用的配件与配件测试信息指示的待测试配件是否匹配，以确定测试结果，根据测试结果可以确定开启待测试配件的待测试设备是否存在通信干扰。同时，将待测试设备所有配件的排列组合依次设定为配件测试信息后，以此类推，测试设备遍历不同的排列组合测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰。通过上述方法，测试设备可以通过控制指令控制待测试设备自行启用待测试配件，停用非待测试配件，不需要测试人员手动插拔相应的配件，极大地减少了测试人员的工作量，节省时间和人力的投入。
7.在一些实施例中，测试设备根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果，包括：当在位信息与配件测试信息相匹配时，确定配件测试信息对应的测试
结果为测试通过；当在位信息与配件测试信息不匹配时，确定配件测试信息对应的测试结果为测试失败。
8.在一些实施例中，测试设备获取待测试设备检测到的在位信息，向服务器发送信息获取请求，信息获取请求用于请求服务器返回待测试设备上传至服务器的在位信息；接收服务器发送的在位信息。
9.本技术实施例第二方面提供一种配件在位测试方法，应用于待测试设备，方法包括：待测试设备接收测试设备发送的控制指令，控制指令携带有配件测试信息，配件测试信息用于指示待测试设备的各个端口对应的待测试配件；启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件；检测各个端口对应的在位信号，并根据各个端口对应的在位信号生成在位信息；向测试设备发送在位信息，以使测试设备根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。
10.如此，待测试设备接收测试设备发送的控制指令后，可以根据控制指令启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件。接着，待测试设备再检测各个端口对应的在位信号，并根据各个端口对应的在位信号生成在位信息。最后，待测试设备将在位信息发送给测试设备，以使测试设备可以根据在位信息指示的启用的配件，和配件测试信息中指示的待测试配件是否匹配，确定测试结果，根据测试结果可以确定启用待测试配件的待测试设备是否存在通信干扰。将待测试设备所有配件的排列组合依次设定为配件测试信息后，以此类推，测试设备遍历不同的排列组合测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰。通过上述方法，测试设备可以待测试设备可以在接收到控制指令后，自行启用待测试配件，停用非待测试配件，不需要测试人员手动插拔相应的配件，极大地减少了测试人员的工作量，节省时间和人力的投入。
11.在一些实施例中，待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件，包括：向各个端口对应的待测试配件发送启用指令，以及，向各个端口对应的非待测试配件发送静默指令；启用指令用于指示待测试配件向待测试设备发送在位信号，静默指令用于指示非待测配件停止向待测试设备发送在位信号。
12.在一些实施例中，待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件，包括：控制各个端口对应连接的开关电路闭合与待测试配件连接的开关，以及，断开与非待测试配件连接开关。
13.本技术实施例第三方面提供一种电子设备，包括处理器及存储器，存储器用于存储指令，处理器用于调用存储器中的指令，使得电子设备执行上述第一方面涉及的方法。
14.本技术实施例第四方面提供一种电子设备，包括处理器及存储器，电子设备包括多个端口，各个端口用于连接不同类型的配件，存储器用于存储指令，处理器用于调用存储器中的指令，使得电子设备执行上述第二方面涉及的方法。
15.本技术实施例第五方面提供一种测试系统，包括如第三方面涉及的电子设备和如第四方面涉及的电子设备。
16.本技术实施例第六方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有至少一条计算机指令，计算机指令由处理器加载并用于执行如第一方面涉及的方法和第二方面涉及的方法。
附图说明
17.图1是本技术实施例的待测试设备的结构示意图。
18.图2是本技术实施例的待测试设备的另一结构示意图。
19.图3是本技术实施例的配件在位测试方法的应用场景图。
20.图4是本技术实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
21.图5是本技术实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
22.图6是本技术实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
23.图7是本技术实施例的配件在位测试方法的另一应用场景图。
24.图8是本技术实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
25.图9是本技术实施例的配件在位测试方法的又一应用场景图。
26.图10是本技术实施例的电子设备的结构示意图。
27.图11是本技术实施例的另一电子设备的结构示意图。
28.图12是本技术实施例的测试系统的结构示意图。
29.图13是本技术实施例的测试系统的应用场景图。
具体实施方式
30.需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”是用于区别类似的对象，而不是用于描述特定的顺序或先后次序。
31.另外需要说明的是，本技术实施例中公开的方法或流程图所示出的方法，包括用于实现方法的一个或多个步骤，在不脱离权利要求的范围的情况下，多个步骤的执行顺序可以彼此互换，其中某些步骤也可以被删除。
32.在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
33.下面先对相关技术的情况做简要说明：
34.有多个端口的电子设备可以连接多个配件，多个配件可以以不同组合的方式同时接入电子设备，当多个配件同时接入电子设备时，不同配件发送给电子设备的在位信号可能会相互干扰，使得电子设备检测不到对应的在位信号，或者，检测到错误的在位信号，导致电子设备不能够正常工作。例如，在一些场景中，将配件插入电子设备后，如果电子设备无法识别到该配件的在位信号，则无法正常使用配件对应的功能；在另一些场景中，用户想要通过电子设备为配件进行固件升级，将配件插入电子设备，此时，如果电子设备无法识别到该配件的在位信号，则电子设备不会为该配件进行固件升级。
35.因此，为了使电子设备能够正常工作，达到出厂标准，需要提前对电子设备进行配件在位测试，以检测电子设备是否存在上述缺陷。
36.在配件在位测试中，电子设备上的不同端口需要接入不同的配件，以测试对应的配件组合是否会发生通信干扰，电子设备能否正常检测各个配件的在位信号。进行该测试时，通常需要测试人员反复拔插配件和遍历所有的配件排列组合，操作繁琐且耗时长。
37.例如，检测某个电子设备的配件组合，该电子设备有4种端口，每种端口各有1个，其中一种端口可以接2种不同的配件，一个端口可以接3种不同的配件，剩下的两个端口虽然不一样，但是可以接入的配件是相同的，可以接3种不同的配件。电子设备的每个端口只能接入一个配件，如果要对电子设备上所有端口接入的配件都进行检测的话，需要遍历188
种情况，至少需要一个人花费一天时间才能完成，而且实际上，人工较难遍历所有配件组合。遍历公式如下所示：
38.m＝2
×
c(a,1)
×2×
c(c,1)
×2×
a(e,f)
39.其中，m表示遍历次数，在本示例中，m为188，c()表示组合的数学符号，c(a,1)表示其中1个端口可以接入a种配件,在本示例中，c(a,1)可以为c(3,1)表示1个端口可以接入3种配件；c(c,1)表示其中1个端口可以接入c种配件，在本示例中，c(c,1)可以为c(2,1)，表示其中1个端口可以接入2种配件，a()表示排列的数学符号，a(a,c)可表示f个端口，从e种配件种选择f种配件接入的排列情况，在本示例中，a(a,c)可以为a(3,2)，表示2个端口从3种配件中选择两种配件的排列情况。
40.鉴于此，本技术提供一种配件在位测试方法、电子设备、测试系统和储存介质，能够检测电子设备启用不同排列组合的配件时，电子设备的通信情况，节省时间和人力的投入。
41.本技术提供的配件在位测试方法可以用于对待测试设备进行测试。上述待测试设备设有多个端口，端口用于电连接配件。待测试设备可以为储能设备、遥控器或制冷设备等类型的电子设备。待测试设备以储能设备为例，储能设备的端口电连接的配件可以包括无线接入点(access point，ap)设备、遥控器、充电配枪、并机组件、配电箱、电源、空调和油机等。
42.在一些示例中，如图1所示，待测试设备100设有第一端口区域110、第二端口区域120、第三端口区域130和第四端口区域140。第一端口区域110设有通信引出端口，例如rj45(registered jack 45，rj45)端口，rj45端口可以用于连接网络，第二端口区域120设有3+8个引脚的端口，第三端口区域130设有4+8个引脚的端口，第四端口区域140设有另一种4+8个引脚的端口。
43.在另一些示例中，如图2所示，待测试设备200左侧侧面的上端设有第五端口区域210，左侧侧面的下端设有第六端口区域220，右侧侧面的上端设有第七端口区域230，右侧侧面的下端设有第八端口区域240，其中，第五端口区域210、第六端口区域220、第七端口区域230和第八端口区域240的端口可以根据实际需求设定。
44.请参阅图3，图3为本技术实施例的配件在位测试方法的应用场景图，配件在位测试方法可以应用在测试设备310和待测试设备320中。
45.测试设备310可以是个人电脑(personal computer，pc)、云端服务器、台式机、网络服务器、服务集群、掌上电脑(personal digital assistant，pda)、移动手机、无线终端设备、嵌入式设备或其他具有数据处理功能的设备。
46.待测试设备320以储能设备为例，在测试设备310和待测试设备320执行配件在位测试方法之前，将所有配件与待测试设备320的端口建立连接。
47.示例性地，如图3所示，待测试设备的第一端口321可以电连接无线接入点设备和电连接遥控器，第二端口322可以电连接充电配枪、并机组件和配电箱，第三端口323可以电连接加电包、空调和油机，第四端口324可以电连接加电包、空调和油机。
48.其中，通常一个端口只可以与一个配件，所以，当需要使用一个端口连接多个配件时，可以将该端口与一分多集线器(也可以称为多端口转发器)的第一端连接，将该端口对应的配件分别与一分多集线器的各个第二端连接。
49.或者，当需要使用一个端口连接多个配件时，也可以将该端口与开关电路的第一端连接，将该端口对应的配件分别与开关电路的各个第二端连接。
50.测试设备310与待测试设备320建立通信连接后，测试设备310获取配件测试信息，假设配件测试信息指示待测试配件为第一端口321对应的遥控器和第二端口322对应的配电箱。测试设备310可以根据配件测试信息生产控制指令。接着，测试设备310向待测试设备320发送该控制指令。待测试设备320接收控制指令后，根据控制指令启用第一端口321连接的遥控器和第二端口322连接的配电箱，并停用其他已连接的各个配件。接着，待测试设备320检测各个端口的对应的在位信号，并根据检测出的在位信号，生成对应的在位信息，例如，在位信息可以指示第一端口321接收到无线接入点设备的在位信号和第二端口322接收到遥控器的在位信号。最后，待测试设备320将该在位信息发送给测试设备310。测试设备310将在位信息和配件测试信息进行比较，得出在位信息与配件测试信息不一致，从而可以确定配件测试信息的测试结果为测试失败。以此类推，测试设备310遍历不同的配件测试信息对待测试设备320进行测试，以确定待测试设备320启用不同排列组合的配件时，待测试设备320的通信是否受干扰。
51.请参阅图4，图4为本技术实施例配件在位测试方法的流程示意图，本技术实施例的配件在位测试方法可以应用在测试设备中，配件在位测试方法包括以下步骤：
52.s101：获取配件测试信息，并根据配件测试信息生成控制指令。
53.测试设备可以从测试设备的内部存储器、待测试设备、外部存储器等存储设备或云存储中获取预存储的配件测试信息，也可以从测试人员实时输入的信息中获取，配件测试信息的具体获取方式不做限制。
54.配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件。待测试配件是指需要被测试的配件，例如，如图3所示的应用场景，假设需要测试待测试设备第一端口的遥控器和第二端口的配电箱，此时，遥控器和配电箱为待测试配件。
55.配件测试信息可以指示待测试配件的排列组合，具体地，当配件测试信息指示某一个或某几个配件为待测试配件时，即为指示了待测试配件的组合，当配件测试信息指示某一个端口的某一个配件为待测试配件或指示某几个端口的某几个配件同时为待测试配件时，即为指示了待测试配件的排列组合。
56.配件测试信息的待测试配件的排列组合可以根据实际测试需求设定，待测试设备的所有配件的排列组合都可以设定为待测试配件的排列组合。
57.可以理解地，待测试设备的每个端口都可以接入一个配件，为了测试多个端口连接的某一个或几个配件启用时，是否会产生通信干扰，可以通过待测试信息指示待测试设备的该某一个或该几个配件为待测试配件，以区分不需要被测试的配件。也即，可以通过设定配件测试信息得到待测试配件的排列组合。
58.s102：向待测试设备发送控制指令。
59.控制指令用于指示待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件。
60.非待测试配件指不需要被测试的配件，可以理解为待测试设备的各个端口连接的各个配件种，除待测试配件以外的其他配件。例如，如图3所示，假设测试设备指示待测试设备第一端口的遥控器和第二端口的配电箱为待测试配件后，待测试设备的各个端口连接的
其他配件均为非待测试配件，例如，第一端口连接的无线接入点设备、第二端口连接的充电配枪、第二端口连接的并机组件、第三端口连接的加电包等配件均为非待测试配件。
61.可以理解地，测试设备启用待测试配件，停用非待测试配件，从而使待测试设备的待测试配件和非待测试配件的状态不一样。
62.s103：获取待测试设备检测到的在位信息。
63.在位信息用于指示待测试设备检测到的启用中的配件，例如，测试设备从待测试设备获取在位信息，在位信息指示待测试设备的第一端口连接的无线接入点设备和第二端口连接的配电箱正启用。
64.可以理解地，待测试设备根据正在启用的配件生成的在位信息。测试设备可以通过在位信息确定待测试设备检测到的正在启用的配件具体是哪个或哪些。
65.s104：根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。
66.测试结果可以为测试通过或测试失败。测试通过表示该配件测试信息对应的待测试配件的排列组合不会使待测试设备出现通信故障，测试失败表示该配件测试信息对应待测试配件的排列组合会使待测试设备出现通信故障。
67.可以理解地，根据配件测试信息指示的待测试配件，待测试设备理应检测到对应的待测试配件启用中的在位信号。如果待测试设备获取的在位信号没有待测试配件的在位信号，或者除了待测试配件的在位信号，还检测其他配件的在位信号，说明待测试设备在启用待测试配件后，待测试设备发生了通信干扰，以使待测试设备检测到在位信号的配件和配件测试信息所指示的配件不一致。
68.如此，测试设备获取配件测试信息，配件测试信息用于指示待测试设备中测试设备获取配件测试信息后，可以根据配件测试信息生成控制指令，并向待测试设备发送控制指令。以使待测试设备可以根据控制指令启用各个端口对应的待测试配件，待测试配件在启用状态下会发送在位信号给待测试设备，停用各个端口对应的非待测试配件，非待测试配件不发送在位信号。接着，测试设备从待测试设备获取在位信息，在位信息用于指示待测试设备检测到的在位信号。测试设备比较在位信息指示的启用的配件与配件测试信息指示的待测试配件是否匹配，以确定测试结果，测试结果可以指示配件测试信息所指示的待测试配件发送的在位信号会在待测试设备中发生通信干扰。同时，根据待测试设备所有配件的排列组合依次配置对应的配件测试信息后，以此类推，测试设备遍历测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰，节省时间和人力的投入。
69.在一些实施例中，请参阅图5，步骤s104包括以下步骤：
70.步骤s201：当在位信息与配件测试信息相匹配时，确定配件测试信息对应的测试结果为测试通过。
71.在位信息与配件测试信息相匹配是指，在位信息指示的启用中的配件和配件测试信息中指示的待测试配件一致。例如，在位信息指示的启用中的配件是第一端口的遥控器和第二端口的配电箱，配件测试信息中的待测试配件是第一端口的遥控器和第二端口的配电箱，启用的配件和待测试配件一致，也即在位信息与配件测试信息相匹配。
72.可以理解地，当在位信息与配件测试信息相匹配时，说明配件测试信息中待测试配件的排列组合不会干扰待测试设备的通信，因此，待测试配件的排列组合的测试结果为
测试通过。
73.步骤s202：当在位信息与配件测试信息不匹配时，确定配件测试信息对应的测试结果为测试失败。
74.在位信息与配件测试信息不匹配是指，在位信息中指示的启用中的配件和配件测试信息中指示的待测试配件不一致。例如，在位信息中启用的配件是第一端口的无线接入点设备和第二端口的配电箱，配件测试信息中的待测试配件是第一端口的遥控器和第二端口的配电箱，启用的配件和待测试配件不一致，也即在位信息与配件测试信息不匹配。
75.可以理解地，当在位信息与配件测试信息不匹配时，说明配件测试信息中待测试配件的排列组合方式会干扰待测试设备的通信，因此，待测试配件的排列组合的测试结果为测试失败。
76.可以理解地，可以针对导致测试失败的待测试配件的排列组合进行维修等操作，使待测试设备可以实现不同组合的配件接入。
77.在一些实施例中，如图6所示，步骤s103包括以下步骤：
78.步骤s301：向服务器发送信息获取请求，信息获取请求用于请求服务器返回待测试设备上传至服务器的在位信息。
79.测试设备在获取在位信息时，可以直接接收待测试设备发送的在位信息；或者，待测试设备也可以将在位信息发送给服务器，测试设备从服务器上获取对应的在位信息。
80.测试设备从服务器上获取对应的在位信息时，可以向服务器发送信息获取请求，请求服务器返回待测试设备上传至服务器的在位信息。
81.服务器可以指物联网(internet of things，iot)平台的服务器。
82.步骤s302：接收所述服务器发送的在位信息。
83.待测试设备可以将在位信息实时上传至服务器。因此，如图7所示，测试设备可以通过局域网或广域网与服务器通信连接后，测试设备可以向服务器发送信息获取请求，服务器接收到信息获取请求后，服务器将在位信息发送给测试设备。
84.可以理解地，测试设备不但可以和待测试设备建立通信连接，从而接收待测试设备发送的在位信息，还可以直接从物联网平台的服务器获取在位信息，实现远程测试待测试设备。
85.本技术还提供一种配件在位测试方法，应用于待测试设备，请参阅图8，配件在位测试方法包括以下步骤：
86.s401：接收测试设备发送的控制指令，控制指令携带有配件测试信息。
87.配件测试信息用于指示待测试设备的各个端口对应的待测试配件。
88.s402：启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件。
89.s403：检测各个端口对应的在位信号，并根据各个端口对应的在位信号生成在位信息。
90.待测试设备的端口接入的配件启用时，该配件的端口会产生在位信号，接入的配件不启用时，该配件的端口不会产生在位信号。因此，待测试设备可以根据连接对应的配件的端口检测到的在位信号生成在位信息。例如，根据待测试设备通过第一端口检测到遥控器对应的在位信号，以及通过第二端口检测到配电箱对应的在位信号，从而可以生成第一端口的遥控器和第二端口的配电箱正启用的在位信息。
91.s404：向测试设备发送在位信息，以使测试设备根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。
92.如此，待测试设备接收测试设备发送的控制指令后，可以根据控制指令启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件。接着，待测试设备再检测各个端口对应的在位信号，并根据各个端口对应的在位信号生成在位信息。最后，待测试设备将在位信息发送给测试设备，以使测试设备可以根据在位信息指示的启用的配件，和配件测试信息中指示的待测试配件是否匹配，确定测试结果，根据测试结果可以确定启用待测试配件的待测试设备是否存在通信干扰。将待测试设备所有配件的排列组合依次设定为配件测试信息后，以此类推，测试设备遍历测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰，节省时间和人力的投入。
93.在一些实施例中，步骤s403之后，配件在位测试方法包括：获取配件测试信息，根据配件测试信息和在位信息，确定配件测试信息对应的测试结果。
94.可以理解地，待测试设备还可以在生成在位信息后，还可以获取配件测试信息，进而确定配件测试信息对应的测试结果。也即是说，判断测试结果的步骤也可以直接在待测试设备进行。
95.在一些实施例中，步骤s402具体包括：向各个端口对应的待测试配件发送启用指令，以及，向各个端口对应的非待测试配件发送静默指令。
96.启用指令用于指示待测试配件向待测试设备发送在位信号，静默指令用于指示非待测试配件停止向待测试设备发送在位信号。
97.请参阅图9，待测试设备的端口可以通过多端口转发器(hub)与配件电连接。待测试设备发送的启用指令和静默指令通过多端口转发器发送给对应的待测试配件或测试配件。
98.例如，待测试设备向第一端口的遥控器发送启用指令，启用指令经过多端口转发器后，传送给第一端口的遥控器。遥控器根据启用指令进入开启状态，生成在位信号，并将在位信号发送给待测试设备。待测试设备向第一端口的无线接入点设备发送静默指令，静默指令经过多端口转发器后，传送给第一端口的无线接入点设备，无线接入点设备根据静默指令进入静默状态(也即进入不开启状态)，不发送在位信号给待测试设备。
99.可以理解地，待测试设备可以通过多端口转发器向待测试配件发送启用指令，向非待测试配件发送静默指令，控制待测试配件开启和非待测试配件不开启，从而模拟不同配件以不同的排列组合方式接入待测试设备后开启的状态。
100.在一些实施例中，步骤s402具体包括：步骤s601：控制各个端口对应连接的开关电路闭合与待测试配件连接的开关，以及，断开与所述非待测试配件连接开关。
101.可以将多端口转发器替换成开关电路，也即待测试设备的端口与开关电路电连接，开关电路与配件电连接，开关电路可以断开或闭合配件对应的开关。
102.开关电路可以包括继电器，例如，遥控器为待测试配件，待测试设备向开关电路发送第一控制指令，开关电路的继电器根据第一控制指令闭合第一端口的遥控器的开关，使遥控器处于开启状态并生成在位信号，接着，遥控器将在位信号发送给待测试设备。又例如，无线接入点设备为非待测试配件，待测试设备向开关电路发送第二控制指令，开关电路的继电器根据第二控制指令断开第一端口的无线接入点设备的开关，使无线接入点设备处
access memory，ram)、可编程只读存储器(programmable read-only memory，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasable programmable read-only memory，eprom)、一次可编程只读存储器(one-time programmable read-only memory，otprom)、电子擦除式可复写只读存储器(electrically-erasable programmable read-only memory，eeprom)、只读光盘(compact disc read-only memory，cd-rom)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。
109.作为一种实施例，至少一个处理器32是控制终端的控制核心(control unit)，通过运行或执行存储在存储器31内的程序或者模块，以及调用存储在存储器31内的数据，以执行电子设备201的各种功能和处理数据。存储器31中存储有程序代码，且至少一个处理器32可调用存储器31中存储的程序代码以执行相关的功能。在本技术的一个实施例中，存储器31存储多个指令，多个指令被至少一个处理器32所执行以实现执行步骤s401至s404、步骤s501以及步骤s601。具体地，至少一个处理器32对上述指令的具体实现方法对应实施例中相关步骤的描述，在此不赘述。
110.本技术实施例还提供一种测试系统，请参阅图12，测试系统1000包括可以作为测试设备的电子设备101和可以作为待测试设备的电子设备201。作为测试设备的电子设备101可以执行步骤s101至s104、步骤s201至步骤s202、步骤s301至步骤s302及其他步骤。作为待测试设备的电子设备201可以执行步骤s401至s404及其他步骤。
111.请参阅图13，在本实施例测试系统一个应用场景中，电子设备101与电子设备201建立通信连接后，电子设备101获取配件测试信息，配件测试信息指示待测试配件为第一端口的遥控器和第二端口的配电箱，电子设备101根据测试信息生产控制指令，接着，电子设备101向电子设备201发送该控制指令。电子设备201接收控制指令后，根据控制指令启用第一端口的遥控器和第二端口的配电箱，并停用其他端口的配件，接着，电子设备201检测各个端口的对应的在位信号，并根据检测出的第一端口和第二端口的在位信号，生成第一端口的无线接入点设备和第二端口的配电箱正启用的在位信息，最后，电子设备201将该在位信息发送给电子设备101。电子设备101将在位信息和配件测试信息进行比较，得出第一端口的无线接入点设备和第二端口的配电箱正启用的在位信息，与待测试配件为第一端口的遥控器和第二端口的配电箱的配件测试信息不一致，从而可以确定电子设备201的第一端口电连接遥控器，和第二端口电连接配电箱的测试结果为测试失败。
112.本技术实施例还提供了一种存储介质。其中，所述存储介质中存储有计算机指令，所述指令在处理器上运行时，处理器可以包括处理器22或处理器32，使得所述处理器可以执行前述实施例提供的配件在位测试方法。
113.最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本技术的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本技术进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本技术的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本技术技术方案的精神和范围。

技术特征：
1.一种配件在位测试方法，其特征在于，应用于测试设备，所述方法包括：获取配件测试信息，并根据所述配件测试信息生成控制指令，所述配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件；向所述待测试设备发送所述控制指令，所述控制指令用于，指示所述待测试设备启用各个所述端口对应的待测试配件，及停用各个所述端口对应的非待测试配件；获取所述待测试设备检测到的在位信息，所述在位信息用于指示所述待测试设备检测到的启用中的配件；根据所述在位信息与所述配件测试信息，确定所述配件测试信息对应的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述在位信息与所述配件测试信息，确定所述配件测试信息对应的测试结果，包括：当所述在位信息与所述配件测试信息相匹配时，确定所述配件测试信息对应的测试结果为测试通过；当所述在位信息与所述配件测试信息不匹配时，确定所述配件测试信息对应的测试结果为测试失败。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述待测试设备检测到的在位信息，包括：向服务器发送信息获取请求，所述信息获取请求用于请求所述服务器返回所述待测试设备上传至所述服务器的在位信息；接收所述服务器发送的在位信息。4.一种配件在位测试方法，其特征在于，应用于待测试设备，所述方法包括：接收测试设备发送的控制指令，所述控制指令携带有配件测试信息，所述配件测试信息用于指示所述待测试设备的各个端口对应的待测试配件；启用各个所述端口对应的待测试配件，停用各个所述端口对应的非待测试配件；检测各个所述端口对应的在位信号，并根据各个所述端口对应的在位信号生成在位信息；向所述测试设备发送所述在位信息，以使所述测试设备根据所述在位信息与所述配件测试信息，确定所述配件测试信息对应的测试结果。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述启用各个所述端口对应的待测试配件，停用各个所述端口对应的非待测试配件，包括：向各个所述端口对应的待测试配件发送启用指令，以及，向各个所述端口对应的非待测试配件发送静默指令；其中，所述启用指令用于指示所述待测试配件向所述待测试设备发送在位信号，所述静默指令用于指示所述非待测配件停止向所述待测试设备发送在位信号。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述启用各个所述端口对应的待测试配件，停用各个所述端口对应的非待测试配件，包括：控制各个所述端口对应连接的开关电路闭合与所述待测试配件连接的开关，以及，断开与所述非待测试配件连接的开关。7.一种电子设备，包括处理器及存储器，其特征在于，所述存储器用于存储指令，所述处理器用于调用所述存储器中的指令，使得所述电子设备执行如权利要求1至3中任一项所
述的方法。8.一种电子设备，包括处理器及存储器，其特征在于，所述电子设备包括多个端口，各个所述端口用于连接不同类型的配件，所述存储器用于存储指令，所述处理器用于调用所述存储器中的指令，使得所述电子设备执行如权利要求4至6中任一项所述的方法。9.一种测试系统，其特征在于，包括如权利要求7所述的电子设备和如权利要求8所述的电子设备。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有至少一条计算机指令，其特征在于，所述计算机指令由处理器加载并用于执行如权利要求1至6中任意一项所述的方法。

技术总结
本申请提供一种配件在位测试方法及相关设备。该方法应用于测试设备，包括：获取配件测试信息，并根据配件测试信息生成控制指令，配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件；向待测试设备发送控制指令，控制指令用于指示待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件；获取待测试设备检测到的在位信息；在位信息用于指示待测试设备检测到的启用中的配件；根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。该方法通过遍历测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰，有效节省时间和人力的投入。效节省时间和人力的投入。效节省时间和人力的投入。


技术研发人员：陈熙 王雷 吴东 安业宏
受保护的技术使用者：深圳市正浩创新科技股份有限公司
技术研发日：2023.03.31
技术公布日：2023/7/18