一种显示器芯片的测试夹具的制作方法

1.本实用新型属于芯片测试技术领域，具体为一种显示器芯片的测试夹具。


背景技术：

2.芯片测试夹具是一种对ic芯片进行测试的夹具，其能够对ic芯片进行固定，通过测试夹具与ic芯片进行通电测试，以确定ic芯片是否通电正常，以此来对ic芯片的质量进行筛选。
3.现有的芯片测试夹具在使用时一般只能对有外露引脚的芯片进行测试，对于一些特殊的芯片(如没有外露引脚的芯片)，现有的测试夹具就无法对其进行测试。


技术实现要素：

4.本实用新型目的是提供一种显示器芯片的测试夹具。
5.本实用新型提供的显示器芯片的测试夹具，包括测试座(1)、顶部设有第一凹槽(41)的承载块(4)、复数个外接引脚(5)和两组测试组件(3)；所述承载块(4)固定在所述测试座(1)上；两组所述测试组件(3)分别对称设置在所述承载块(4)两侧；两组所述测试组件(3)均设有测试块(31)和复数个测试顶针(32)；所述测试块(31)的侧面设有复数个第一通孔(311)；所述测试顶针(32)贯穿所述第一通孔(311)与所述测试块(31)相固定。
6.优选的，所述测试顶针(32)包括顶针头部(323)、与所述顶针头部(323)相配合的顶针轴筒(322)和轴套(321)；所述顶针头部(323)与所述顶针轴筒(322)滑动连接；所述顶针轴套(321)套接在所述顶针轴筒(322)上与所述测试块(31)相固定。
7.优选的，所述外接引脚(5)包括第一夹持边(51)、第二夹持边(52)和接触引针(53)；所述第一夹持边(51)和第二夹持边(52)的底端均与所述接触引针(53)相连接；所述第一夹持边(51)、第二夹持边(52)和接触引针(53)呈f形一体结构。
8.优选的，所述测试组件(3)还包括第一活动块(35)、第二活动块(34)和第一滑轨(33)；所述第一活动块(35)设置在所述第二活动块(34)顶部；所述第一活动块(35)和所述第二活动块(34)设有同轴设置的第一螺纹孔(351)；所述测试块(31)设置在所述第一活动块(35)的顶部；所述测试块(31)上设有第一固定孔(312)；所述第一活动块(35)设有与所述第一固定孔(312)位置相配合的第二螺纹孔(352)；所述第一固定孔(312)和第二螺纹孔(352)同轴设置，通过一螺丝将所述测试块(31)和所述第一活动块(35)相固定；所述第二活动块(34)的底部设有与所述滑轨相配合的滑槽(341)；所述第一滑轨(33)固定在所述测试座(1)上。
9.优选的，本实用新型所提供的显示器芯片的测试夹具，还包括两组夹紧组件(2)；两组所述夹紧组件(2)分别设置在两组所述测试组件(3)远离所述承载块(4)的一侧。
10.优选的，所述夹紧组件(2)包括夹紧座(21)和顶出杆(22)；所述夹紧座(21)的顶部设有与所述顶出杆(22)相匹配的夹紧轴套(213)；所述顶出杆(22)与所述夹紧轴套(213)滑动设置；所述第一活动块(35)远离所述承载块(4)的一侧还设有第三螺纹孔(353)；所述顶
出杆(22)的顶端设有第四螺纹孔；通过一丝杆插入所述第三螺纹孔(353)和第四螺纹孔将所述顶出杆(22)和所述第一活动块(35)相固定。
11.优选的，所述夹紧组件(2)还包括一弧形连接件(23)和手柄(24)；所述夹紧座(21)的顶部还设有一三角形固定板(211)；所述三角形固定板(211)的顶部设有第二通孔(212)；所述弧形连接件(23)的两端均设有第三通孔(231)；所述顶出杆(22)远离所述第一活动块(35)的顶端设有第二凹槽(221)，且靠近端部位置设有第四通孔(222)，所述第四通孔(222)与所述第二凹槽(221)连通；所述弧形连接件(23)的一端插入所述第二凹槽(221)内与所述顶出杆(22)铰接，另一端与所述手柄(24)铰接；所述手柄(24)铰接在所述三角形固定板(211)上。
12.优选的，所述夹紧组件(2)还包括一定位底板(25)；所述定位底板(25)设置在所述测试座(1)和夹紧座(21)之间；所述夹紧座(21)、定位底板(25)和测试座(1)均设有同轴设置的第五通孔(251)。
13.优选的，所述承载块(4)的底部两侧均设有向外延伸的第一固定板(43)；所述第一固定板(43)和测试座(1)均设有同轴设置的第六通孔(42)。
14.本实用新型所提供的显示器芯片的测试夹具，测试前，将外接引脚(5)装配到测试芯片的接触点上，然后将带有外接引脚(5)的测试芯片放入第一凹槽(41)内，通过测试顶针(32)与外接引脚(5)的接触，从而对测试芯片进行测试，解决了对于特殊芯片的测试问题。
附图说明
15.图1为本实用新型所提供的显示器芯片的测试夹具的结构示意图；
16.图2为本实用新型所提供的承载块的结构示意图；
17.图3为本实用新型所提供的外接引脚的结构示意图；
18.图4为本实用新型所提供的外接引脚装配至测试芯片后的结构示意图；
19.图5为本实用新型所提供的测试顶针的结构示意图；
20.图6为本实用新型所提供的测试块的结构示意图；
21.图7为本实用新型所提供的第一滑轨的结构示意图；
22.图8为本实用新型所提供的第一活动块的结构示意图；
23.图9为本实用新型所提供的第二活动块的结构示意图；
24.图10为本实用新型所提供的夹紧组件的部分结构示意图；
25.图11为本实用新型所提供的顶出杆的结构示意图；
26.图12为本实用新型所提供的连接件的结构示意图；
27.图13为本实用新型所提供的夹紧座的结构示意图；
28.图14为本实用新型所提供的手柄的结构示意图；
29.图15为本实用新型所提供的定位底板的结构示意图；
30.图16为本实用新型所提供的测试座的结构示意图。
具体实施方式
31.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描
述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
32.如图1-16所示，本实施例提供的显示器芯片的测试夹具，包括测试座1、顶部设有第一凹槽41的承载块4、复数个外接引脚5和两组测试组件3；所述承载块4固定在所述测试座1上；两组所述测试组件3分别对称设置在所述承载块4两侧；两组所述测试组件3均设有测试块31和复数个测试顶针32；所述测试块31的侧面设有复数个第一通孔311；所述测试顶针32贯穿所述第一通孔311与所述测试块31相固定。本领域技术人员可以理解，测试前，将外接引脚5装配到测试芯片的接触点上，然后将带有外接引脚5的测试芯片放入第一凹槽41内，通过测试顶针32与外接引脚5的接触，从而对测试芯片进行测试，解决了对于特殊芯片的测试问题。
33.进一步，所述测试顶针32包括顶针头部323、与所述顶针头部323相配合的顶针轴筒322和轴套321；所述顶针头部323与所述顶针轴筒322滑动连接；所述顶针轴套321套接在所述顶针轴筒322上与所述测试块31相固定。本领域技术人员可以理解，测试顶针32的头部可在轴套321内滑动，这样可以起到缓冲的作用，从而对外接引脚5起到了保护作用。顶针头部323和顶针轴筒322采用导体材料制作而成，轴套321采用绝缘材料制作。
34.进一步，所述外接引脚5包括第一夹持边51、第二夹持边52和接触引针53；所述第一夹持边51和第二夹持边52的底端均与所述接触引针53相连接；所述第一夹持边51、第二夹持边52和接触引针53呈f形一体结构。本领域技术人员可以理解，第一夹持边51、第二夹持边52和接触引针53围合成u形结构用于卡接在芯片上，接触引针53用于与测试顶针32相接触。
35.进一步，所述测试组件3还包括第一活动块35、第二活动块34和第一滑轨33；所述第一活动块35设置在所述第二活动块34顶部；所述第一活动块35和所述第二活动块34设有同轴设置的第一螺纹孔351；所述测试块31设置在所述第一活动块35的顶部；所述测试块31上设有第一固定孔312；所述第一活动块35设有与所述第一固定孔312位置相配合的第二螺纹孔352；所述第一固定孔312和第二螺纹孔352同轴设置，通过一螺丝将所述测试块(31)和所述第一活动块(35)相固定；所述第二活动块34的底部设有与所述第一滑轨33相配合的滑槽341；所述第一滑轨33固定在所述测试座1上。本领域技术人员可以理解，通过螺丝可将测试块31、第一活动块35和第二活动块34固定在一起，通过第二固定块在第一滑轨33上滑动，从而带动测试块31滑动，实现测试组件3与测试块31的贴合与分离。
36.进一步，本实施例所提供的显示器芯片的测试夹具，还包括两组夹紧组件2；两组所述夹紧组件2分别设置在两组所述测试组件3远离所述承载块4的一侧。
37.进一步，所述夹紧组件2包括夹紧座21和顶出杆22；所述夹紧座21的顶部设有与所述顶出杆22相匹配的夹紧轴套213；所述顶出杆22与所述夹紧轴套213滑动设置；所述第一活动块35远离所述承载块4的一侧还设有第三螺纹孔353；所述顶出杆22的顶端设有第四螺纹孔；通过一丝杆插入所述第三螺纹孔353和第四螺纹孔将所述顶出杆22和所述第一活动块35相固定。
38.进一步，所述夹紧组件2还包括一弧形连接件23和手柄24；所述夹紧座21的顶部还设有一三角形固定板211；所述三角形固定板211的顶部设有第二通孔212；所述弧形连接件
23的两端均设有第三通孔231；所述顶出杆22远离所述第一活动块35的顶端设有第二凹槽221，且靠近端部位置设有第四通孔222，所述第四通孔222与所述第二凹槽221连通；所述弧形连接件23的一端插入所述第二凹槽221内与所述顶出杆22铰接，另一端与所述手柄24铰接；所述手柄24铰接在所述三角形固定板211上。本领域技术人员可以理解，通过扳动手柄24可联动弧形连接件23与手柄24相连的一端向下运动，从而带动顶出杆22承载块4方向滑动。
39.进一步，所述夹紧组件2还包括一定位底板25；所述定位底板25设置在所述测试座1和夹紧座21之间；所述夹紧座21、定位底板25和测试座1均设有同轴设置的第五通孔251。本领域技术人员可以理解，可通过螺丝和螺帽将夹紧座21、定位底板25和测试座1固定在一起。
40.进一步，所述承载块4的底部两侧均设有向外延伸的第一固定板43；所述第一固定板43和测试座1均设有同轴设置的第六通孔42。本领域技术人员可以理解，通过螺丝和螺帽将承载台可拆卸的固定在测试座1上。
41.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

技术特征：
1.一种显示器芯片的测试夹具，其特征在于，包括测试座(1)、顶部设有第一凹槽(41)的承载块(4)、复数个外接引脚(5)和两组测试组件(3)；所述承载块(4)固定在所述测试座(1)上；两组所述测试组件(3)分别对称设置在所述承载块(4)两侧；两组所述测试组件(3)均设有测试块(31)和复数个测试顶针(32)；所述测试块(31)的侧面设有复数个第一通孔(311)；所述测试顶针(32)贯穿所述第一通孔(311)与所述测试块(31)相固定。2.如权利要求1所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，所述测试顶针(32)包括顶针头部(323)、与所述顶针头部(323)相配合的顶针轴筒(322)和轴套(321)；所述顶针头部(323)与所述顶针轴筒(322)滑动连接；所述顶针轴套(321)套接在所述顶针轴筒(322)上与所述测试块(31)相固定。3.如权利要求2所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，所述外接引脚(5)包括第一夹持边(51)、第二夹持边(52)和接触引针(53)；所述第一夹持边(51)和第二夹持边(52)的底端均与所述接触引针(53)相连接；所述第一夹持边(51)、第二夹持边(52)和接触引针(53)呈f形一体结构。4.如权利要求3所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，所述测试组件(3)还包括第一活动块(35)、第二活动块(34)和第一滑轨(33)；所述第一活动块(35)设置在所述第二活动块(34)顶部；所述第一活动块(35)和所述第二活动块(34)设有同轴设置的第一螺纹孔(351)；所述测试块(31)设置在所述第一活动块(35)的顶部；所述测试块(31)上设有第一固定孔(312)；所述第一活动块(35)设有与所述第一固定孔(312)位置相配合的第二螺纹孔(352)；所述第一固定孔(312)和第二螺纹孔(352)同轴设置，通过一螺丝将所述测试块(31)和所述第一活动块(35)相固定；所述第二活动块(34)的底部设有与所述滑轨相配合的滑槽(341)；所述第一滑轨(33)固定在所述测试座(1)上。5.如权利要求4所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，还包括两组夹紧组件(2)；两组所述夹紧组件(2)分别设置在两组所述测试组件(3)远离所述承载块(4)的一侧。6.如权利要求5所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹紧组件(2)包括夹紧座(21)和顶出杆(22)；所述夹紧座(21)的顶部设有与所述顶出杆(22)相匹配的夹紧轴套(213)；所述顶出杆(22)与所述夹紧轴套(213)滑动设置；所述第一活动块(35)远离所述承载块(4)的一侧还设有第三螺纹孔(353)；所述顶出杆(22)的顶端设有第四螺纹孔；通过一丝杆插入所述第三螺纹孔(353)和第四螺纹孔将所述顶出杆(22)和所述第一活动块(35)相固定。7.如权利要求6所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹紧组件(2)还包括一弧形连接件(23)和手柄(24)；所述夹紧座(21)的顶部还设有一三角形固定板(211)；所述三角形固定板(211)的顶部设有第二通孔(212)；所述弧形连接件(23)的两端均设有第三通孔(231)；所述顶出杆(22)远离所述第一活动块(35)的顶端设有第二凹槽(221)，且靠近端部位置设有第四通孔(222)，所述第四通孔(222)与所述第二凹槽(221)连通；所述弧形连接件(23)的一端插入所述第二凹槽(221)内与所述顶出杆(22)铰接，另一端与所述手柄(24)铰接；所述手柄(24)铰接在所述三角形固定板(211)上。8.如权利要求7所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹紧组件(2)还包括一定位底板(25)；所述定位底板(25)设置在所述测试座(1)和夹紧座(21)之间；所述夹紧座(21)、定位底板(25)和测试座(1)均设有同轴设置的第五通孔(251)。
9.如权利要求8所述的显示器芯片的测试夹具，其特征在于，所述承载块(4)的底部两侧均设有向外延伸的第一固定板(43)；所述第一固定板(43)和测试座(1)均设有同轴设置的第六通孔(42)。

技术总结
本实用新型公开了一种显示器芯片的测试夹具，其特征在于，包括测试座(1)、顶部设有第一凹槽(41)的承载块(4)、复数个外接引脚(5)和两组测试组件(3)；所述承载块(4)固定在所述测试座(1)上；两组所述测试组件(3)分别对称设置在所述承载块(4)两侧；两组所述测试组件(3)均设有测试块(31)和复数个测试顶针(32)；所述测试块(31)的侧面设有复数个第一通孔(311)；所述测试顶针(32)贯穿所述第一通孔(311)与所述测试块(31)相固定。测试块(31)相固定。测试块(31)相固定。


技术研发人员：梅崇文
受保护的技术使用者：上海新技实业有限公司
技术研发日：2023.02.27
技术公布日：2023/7/19