计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及介质与流程

1.本发明涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及可读介质。


背景技术：

2.存储性能指标数据是衡量存储性能好坏的重要指标，为了判断某一时间段性能指标数据是否正常，有以下方式：第一种是通过人工经验判断，但此方式对运维人员的技术、经验能力及精力要求较高，且不适合应用于系统自动化识别。第二种是设置阈值，此方式需要用户提前进行大量实验或测试，方可获得阈值数据，实验测试需要消耗一定人力、财力和时间，且对测试人员的专业技术能力有一定要求，并且通过实验或测试检测的阈值数据，只对特定环境有效，当软硬件或配置等任一环境发生改变，需要重新进行实验测试，而重新实验和测试意味着需要重复投入人力、财力和时间。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及可读介质，通过使用本发明的技术方案，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，能够降低对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可以不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。
4.基于上述目的，本发明的实施例的一个方面提供了一种计算存储性能指标数据参考值的方法，包括以下步骤：
5.获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；
6.采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；
7.计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；
8.根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
9.根据本发明的一个实施例，存储性能指标数据包括iops、时延和带宽。
10.根据本发明的一个实施例，获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元包括：
11.获取存储性能指标数据中的预设时间段内的历史数据；
12.将历史数据以天为单位划分为若干周期单元。
13.根据本发明的一个实施例，采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据包括：
14.将每分钟一个历史数据设定为一个时刻的采样点；
15.设定每个时刻的采样数据的范围；
16.计算每个周期单元内每个时刻的采样数据对应的采样数据范围内的最大值或最
小值，并将最大值或最小值作为每个时刻的采样数据。
17.根据本发明的一个实施例，计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差包括：
18.计算所有周期单元内相同时刻的采样数据的样本均值和标准差。
19.根据本发明的一个实施例，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
20.响应于使用最大值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ3+k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
21.根据本发明的一个实施例，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
22.响应于使用最小值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ
3-k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
23.本发明的实施例的另一个方面，还提供了一种计算存储性能指标数据参考值的装置，装置包括：
24.划分模块，划分模块配置为获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；
25.采样模块，采样模块配置为采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；
26.第一计算模块，第一计算模块配置为计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；
27.第二计算模块，第二计算模块配置为根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
28.本发明的实施例的另一个方面，还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：
29.至少一个处理器；以及
30.存储器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机指令，指令由处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
31.本发明的实施例的另一个方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
32.本发明具有以下有益技术效果：本发明实施例提供的计算存储性能指标数据参考值的方法，通过获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值的技术方案，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，能够降低对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可以不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。
附图说明
33.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
34.图1为根据本发明一个实施例的计算存储性能指标数据参考值的方法的示意性流程图；
35.图2为根据本发明一个实施例的周期划分的示意图；
36.图3为根据本发明一个实施例的计算一个时刻的参考值的示意图；
37.图4为根据本发明一个实施例的计算每个周期每个时刻的参考值的示意图；
38.图5为根据本发明一个实施例的计算存储性能指标数据参考值的装置的示意图；
39.图6为根据本发明一个实施例的计算机设备的示意图；
40.图7为根据本发明一个实施例的计算机可读存储介质的示意图。
具体实施方式
41.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
42.基于上述目的，本发明的实施例的第一个方面，提出了一种计算存储性能指标数据参考值的方法的一个实施例。图1示出的是该方法的示意性流程图。
43.如图1中所示，该方法可以包括以下步骤：
44.s1获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元。
45.s2采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据。
46.s3计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差。
47.s4根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
48.通过使用本发明的技术方案，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，能够降低对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可以不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。
49.在本发明的一个优选实施例中，存储性能指标数据包括iops、时延和带宽。本发明以iops为例进行描述，其他的性能指标数据可以使用相同的方法进行计算。
50.在本发明的一个优选实施例中，获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元包括：
51.获取存储性能指标数据中的预设时间段内的历史数据；
52.将历史数据以天为单位划分为若干周期单元。选取一段历史数据，将其划分若干周期单位，如选取一个月的历史数据，该数据是iops的历史数据，以天为周期单位，将该历史数据划分为30个周期单元period＝{period1,period2,
…
periodn}，本例中n＝30。
53.在本发明的一个优选实施例中，采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据包括：
54.将每分钟一个历史数据设定为一个时刻的采样点；
55.设定每个时刻的采样数据的范围；
56.计算每个周期单元内每个时刻的采样数据对应的采样数据范围内的最大值或最小值，并将最大值或最小值作为每个时刻的采样数据。每个周期单元中存在以某时间单位采取到的指标数据，如以每分钟一个指标数据点为一个时刻采样点，任意指标数据周期单元存在60分*24小时＝1440个指标数据点，即periodi＝{a1,a2,
…
am}，本例中m＝1440，因此每个周期单元中的每个时刻的采样点的历史数据如图2所示。本实施例以最大值作为采样数据进行描述，样本数据均来源于30个周期单元的同一时刻样本数据。某一周期单元内任意时刻的样本数据来源于以该时刻为中心的样本区间最大值。样本区间即时间滑动窗口大小，可根据系统指标展示粒度不同确定范围，本例以五分钟作为滑动时间窗口大小举例阐述，即设定每个时刻的采样数据的范围为五分钟，以新一周期单元(new period)第三个指标数据最大参考值计算为例(前两个或最后两个指标数据最大参考值可分别与前一周期单元和后一周期单元指标数据连接，或采用其它特殊方式计算)。如图3所示，new period周期单元a3时刻指标数据采样步骤为：任意周期单元periodi，以a3为中心，选取5分钟样本区间数据windowdata
i3
＝{a1,a2,a3,a4,a5}，并选取该区间最大值max(windowdata
i3
)作为a3时刻指标数据参考值第i个计算样本sampledatai。即：sampledatai＝max({a1,a2,a3,a4,a5})，对所有周期单元选取a3时刻指标计算样本，得到所有周期单元a3时刻指标计算样本集合:sampledata＝{sampledata1,sampledata2,
…
,sampledatan}。该样本集合为每个周期单元中的a3时刻的性能指标数据参考值，其他时刻可以使用相同的方法进行计算。
57.在本发明的一个优选实施例中，计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差包括：
58.计算所有周期单元内相同时刻的采样数据的样本均值和标准差。在上述步骤已得到所有周期单元a3时刻指标数据最大参考值计算样本集合sampledata，可直接计算得到其样本均值μ3及标准差σ3：
59.μ3＝avg(sampledata)；σ3＝samplestandarddeviation(sampledata)。
60.在本发明的一个优选实施例中，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
61.响应于使用最大值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ3+k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中eferencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。参考统计学经验法则(3-sigma法则)，并考虑到参考值上下限分别采用不同计算样本数据得到，最大或最小参考值仅采用半边经验法则方式计算，即最大参考值仅计算+σ方式，最小参考值仅计算-σ方式。根据经验法则异常数据概率，可分析得到半边经验法则检验异常数据概率，加减σ数量可根据不同系统检测异常指标数据情况考虑选取，因此a3时刻指标数据参考值的计算方式为：maxreferencevalue3＝μ3+k*σ3，其中k∈{1,2,3}，通过以上公式即可得到a3时刻指标数据maxreferencevalue3。new period周期单元所有时刻指标数据参考值计算可以参考a3时刻指标数据参考值计算方法，任意时刻指标数据参考值计算方式，随滑动窗口向下移动逐点计算，最终可得到每一时刻指标数据最大参考值，如图4所示。
62.在本发明的一个优选实施例中，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据
的参考值包括：
63.响应于使用最小值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ
3-k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
64.本发明以存储性能指标数据为iops为例进行描述，其他性能指标数据可以以相同的方式进行计算。
65.本发明的方法可通过系统自动实施计算，可作为判断性能指标是否异常的参考值，为系统自动检测异常性能指标提供了一种参考方法。另一方面，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，并且降低了对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。
66.需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，上述的程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中存储介质可为磁碟、光盘、只读存储器(read-only memory，rom)或随机存取存储器(random access memory，ram)等。上述计算机程序的实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
67.此外，根据本发明实施例公开的方法还可以被实现为由cpu执行的计算机程序，该计算机程序可以存储在计算机可读存储介质中。在该计算机程序被cpu执行时，执行本发明实施例公开的方法中限定的上述功能。
68.基于上述目的，本发明的实施例的第二个方面，提出了一种计算存储性能指标数据参考值的装置，如图5所示，装置200包括：
69.划分模块，划分模块配置为获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；
70.采样模块，采样模块配置为采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；
71.第一计算模块，第一计算模块配置为计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；
72.第二计算模块，第二计算模块配置为根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
73.基于上述目的，本发明实施例的第三个方面，提出了一种计算机设备。图6示出的是本发明提供的计算机设备的实施例的示意图。如图6所示，本发明实施例包括如下装置：至少一个处理器21；以及存储器22，存储器22存储有可在处理器上运行的计算机指令23，指令由处理器执行时实现以下方法：
74.获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；
75.采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；
76.计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；
77.根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
78.在本发明的一个优选实施例中，存储性能指标数据包括iops、时延和带宽。
79.在本发明的一个优选实施例中，获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元包括：
80.获取存储性能指标数据中的预设时间段内的历史数据；
81.将历史数据以天为单位划分为若干周期单元。
82.在本发明的一个优选实施例中，采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据包括：
83.将每分钟一个历史数据设定为一个时刻的采样点；
84.设定每个时刻的采样数据的范围；
85.计算每个周期单元内每个时刻的采样数据对应的采样数据范围内的最大值或最小值，并将最大值或最小值作为每个时刻的采样数据。
86.在本发明的一个优选实施例中，计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差包括：
87.计算所有周期单元内相同时刻的采样数据的样本均值和标准差。
88.在本发明的一个优选实施例中，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
89.响应于使用最大值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ3+k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
90.在本发明的一个优选实施例中，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
91.响应于使用最小值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ
3-k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
92.基于上述目的，本发明实施例的第四个方面，提出了一种计算机可读存储介质。图7示出的是本发明提供的计算机可读存储介质的实施例的示意图。如图7所示，计算机可读存储介质31存储有被处理器执行时执行如下方法的计算机程序32：
93.获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；
94.采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；
95.计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；
96.根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
97.在本发明的一个优选实施例中，存储性能指标数据包括iops、时延和带宽。
98.在本发明的一个优选实施例中，获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元包括：
99.获取存储性能指标数据中的预设时间段内的历史数据；
100.将历史数据以天为单位划分为若干周期单元。
101.在本发明的一个优选实施例中，采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据包括：
102.将每分钟一个历史数据设定为一个时刻的采样点；
103.设定每个时刻的采样数据的范围；
104.计算每个周期单元内每个时刻的采样数据对应的采样数据范围内的最大值或最小值，并将最大值或最小值作为每个时刻的采样数据。
105.在本发明的一个优选实施例中，计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差包括：
106.计算所有周期单元内相同时刻的采样数据的样本均值和标准差。
107.在本发明的一个优选实施例中，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
108.响应于使用最大值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ3+k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
109.在本发明的一个优选实施例中，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：
110.响应于使用最小值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ
3-k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。
111.此外，根据本发明实施例公开的方法还可以被实现为由处理器执行的计算机程序，该计算机程序可以存储在计算机可读存储介质中。在该计算机程序被处理器执行时，执行本发明实施例公开的方法中限定的上述功能。
112.此外，上述方法步骤以及系统单元也可以利用控制器以及用于存储使得控制器实现上述步骤或单元功能的计算机程序的计算机可读存储介质实现。
113.本领域技术人员还将明白的是，结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地说明硬件和软件的这种可互换性，已经就各种示意性组件、方块、模块、电路和步骤的功能对其进行了一般性的描述。这种功能是被实现为软件还是被实现为硬件取决于具体应用以及施加给整个系统的设计约束。本领域技术人员可以针对每种具体应用以各种方式来实现的功能，但是这种实现决定不应被解释为导致脱离本发明实施例公开的范围。
114.在一个或多个示例性设计中，功能可以在硬件、软件、固件或其任意组合中实现。如果在软件中实现，则可以将功能作为一个或多个指令或代码存储在计算机可读介质上或通过计算机可读介质来传送。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，该通信介质包括有助于将计算机程序从一个位置传送到另一个位置的任何介质。存储介质可以是能够被通用或专用计算机访问的任何可用介质。作为例子而非限制性的，该计算机可读介质
可以包括ram、rom、eeprom、cd-rom或其它光盘存储设备、磁盘存储设备或其它磁性存储设备，或者是可以用于携带或存储形式为指令或数据结构的所需程序代码并且能够被通用或专用计算机或者通用或专用处理器访问的任何其它介质。此外，任何连接都可以适当地称为计算机可读介质。例如，如果使用同轴线缆、光纤线缆、双绞线、数字用户线路(dsl)或诸如红外线、无线电和微波的无线技术来从网站、服务器或其它远程源发送软件，则上述同轴线缆、光纤线缆、双绞线、dsl或诸如红外线、无线电和微波的无线技术均包括在介质的定义。如这里所使用的，磁盘和光盘包括压缩盘(cd)、激光盘、光盘、数字多功能盘(dvd)、软盘、蓝光盘，其中磁盘通常磁性地再现数据，而光盘利用激光光学地再现数据。上述内容的组合也应当包括在计算机可读介质的范围内。
115.以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
116.应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
117.上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
118.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
119.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

技术特征：
1.一种计算存储性能指标数据参考值的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，存储性能指标数据包括iops、时延和带宽。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元包括：获取存储性能指标数据中的预设时间段内的历史数据；将历史数据以天为单位划分为若干周期单元。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据包括：将每分钟一个历史数据设定为一个时刻的采样点；设定每个时刻的采样数据的范围；计算每个周期单元内每个时刻的采样数据对应的采样数据范围内的最大值或最小值，并将最大值或最小值作为每个时刻的采样数据。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差包括：计算所有周期单元内相同时刻的采样数据的样本均值和标准差。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：响应于使用最大值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ3+k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值包括：响应于使用最小值作为每个时刻的采样数据，使用公式referencevalue＝μ
3-k*σ3计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值，其中referencevalue为存储性能指标数据的参考值，μ3为一个时刻采样数据的样本均值，σ3为一个时刻采样数据的标准差，其中k∈{1,2,3}。8.一种计算存储性能指标数据参考值的装置，其特征在于，所述装置包括：划分模块，所述划分模块配置为获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；采样模块，所述采样模块配置为采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；第一计算模块，所述第一计算模块配置为计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；第二计算模块，所述第二计算模块配置为根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。
9.一种计算机设备，其特征在于，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。

技术总结
本发明提供了一种计算存储性能指标数据参考值的方法、装置、设备及可读介质，方法包括：获取存储性能指标数据的历史数据，并将历史数据以时间单位划分为若干周期单元；采用滑动窗口方式对每个周期单元内的历史数据进行逐点采样以得到每个周期单元每个时刻的采样数据；计算每个时刻的采样数据的样本均值和标准差；根据预设公式计算每个时刻的存储性能指标数据的参考值。通过使用本发明的方案，能够避免提前进行大量实验或测试获得阈值，能够降低对特定环境的要求，当软硬件或配置等任一环境发生改变时，可以不必重新进行实验测试，从而大量降低人力、财力和时间的耗费。财力和时间的耗费。财力和时间的耗费。


技术研发人员：郝振 郭坤 李娟
受保护的技术使用者：济南浪潮数据技术有限公司
技术研发日：2023.05.19
技术公布日：2023/8/13